JPS6156555B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、文字、画像その他のパターン認識装
置に用いられる入力を正規化する装置、特にパタ
ーンの姿勢の回転正規化を行なうパターン正規化
装置に関するものである。

パターン認識装置では、入力されるパターンを
例えば予め用意されている標準パターンと比較し
て入力パターンの認識が行なわれる。かかる比較
に先立つて、入力パターンを回転させあるいは拡
大または縮小して標準パターンに対して所定の姿
勢、大きさにするための前処理が必要であり、こ
れを正規化と呼んでいる。従来、この正規化を行
うにあたり、アナログ回路を用いる方法や汎用デ
ジタル計算機でソフトウエア的に行なう方法等が
提案されている。前者は精度や実現手段に難点が
あり、後者は計算時間が遅い欠点があり、実用的
に正規化装置は未だ開発されていないのが現状で
ある。

本発明の目的は、従来のパターン認識処理過程
で不可能に近かつた二次元パターンの回転処理を
高速で大規模かつ高信頼度で行ない、以後のパタ
ーン認識処理を単純なアルゴリズムで済ませるこ
とのできるようにしたパターン正規化装置を提供
することにある。

本発明の他の目的は、回転角が微小でない場合
にも容易に正規化処理を施すことのできるパター
ン正規化装置を提供することにある。

本発明によるパターン正規化装置は、マトリツ
クス状に配置された書き換え可能なランダムアク
セスメモリと、ＸおよびＹクロツク信号を受信し
前記ランダムアクセスメモリのＸおよびＹ番地を
指定するアドレス制御回路とを具え、該アドレス
制御回路は、前記ＸおよびＹクロツク信号をそれ
ぞれカウントするＸ軸およびＹ軸カウンタと、１
回の正規化操作により回転させる微小角度を設定
する補正角指定信号により分周比が設定され、該
分周比にて前記ＸおよびＹクロツク信号をそれぞ
れ分周するＸおよＹクロツク分周手段と、該Ｘお
よびＹクロツク分周手段の出力をそれぞれカウン
トするＸおよびＹクロツクカウンタと、前記補正
角指定信号による微小角度の回転方向を示す変換
方向指定信号に応じて前記Ｘ軸カウンタのカウン
ト値には前記Ｙクロツクカウンタのカウント値
を、また前記Ｙ軸カウンタのカウント値には前記
Ｘクロツクカウンタのカウント値をそれぞれ加算
または減算することにより補正Ｘ軸およびＹ軸信
号を出力するＸ軸およびＹ軸回転補正手段と、基
準座標系に対して回転している状態で取り出され
た二次元パターンを前記ランダムアクセスメモリ
に書き込む際には前記Ｘ軸およびＹ軸カウンタの
カウント値をＸおよびＹ番地として選択し、前記
ランダムアクセスメモリに書き込まれている前記
二次元パターンを正規化のために読み出す際には
前記Ｘ軸およびＹ軸回転補正手段の出力をＸおよ
びＹ番地として選択する切換手段とから構成され
ることを特徴とするものである。

さらに、本発明によるパターン正規化装置は、
マトリツクス状に配置された書き換え可能な第
１、第２ランダムアクセスメモリと、ＸおよびＹ
クロツク信号を受信し前記第１、第２ランダムア
クセスメモリのＸおよびＹ番地を指定するアドレ
ス制御回路を具え、該アドレス制御回路は、前記
ＸおよびＹクロツク信号をそれぞれカウントする
Ｘ軸およびＹ軸カウンタと、１回の正規化操作に
より回転させる微小角度を設定する補正角指定信
号により分周比が設定され、該分周比にて前記Ｘ
およびＹクロツク信号をそれぞれ分周するＸおよ
びＹクロツク分周手段と、該ＸおよびＹクロツク
分周手段の出力をそれぞれカウントするＸおよび
Ｙクロツクカウンタと、前記補正指定信号による
微小角度の回転方向を示す変換方向指定信号に応
じて前記Ｘ軸カウンタのカウント値には前記Ｙク
ロツクカウンタのカウント値を、また前記Ｙ軸カ
ウンタのカウント値には前記Ｘクロツクカウンタ
のカウント値をそれぞれ加算または減算すること
により補正Ｘ軸およびＹ軸信号を出力するＸ軸お
よびＹ軸回転補正手段と、前記第１ランダムアク
セスメモリのＸおよびＹ番地として前記Ｘ軸およ
びＹ軸カウンタのカウント値、あるいは前記Ｘ軸
およびＹ軸回転補正手段の出力を選択する切換手
段とから構成され、基準座標系に対して回転して
いる状態で取り出された二次元パターンを前記第
１ランダムアクセスメモリに書き込む際には前記
第１ランダムアクセスメモリのＸおよびＹ番地と
して前記Ｘ軸およびＹ軸カウンタのカウント値を
用い、前記第１ランダムアクセスメモリから二次
元パターンを読み出して前記第２ランダムアクセ
スメモリに書き込むときには前記第１ランダムア
クセスメモリのＸおよびＹ番地として前記Ｘ軸お
よびＹ軸回転補正手段の出力を、前記第２ランダ
ムアクセスメモリのＸおよびＹ番地として前記Ｘ
軸およびＹ軸カウンタのカウント値をそれぞれ用
い、前記第２ランダムアクセスメモリから二次元
パターンを読み出して前記第１ランダムアクセス
メモリに書き込むときには前記第１、第２ランダ
ムアクセスメモリのＸおよびＹ番地として前記Ｘ
軸およびＹ軸カウンタのカウント値をそれぞれ共
通に用い、前記２ランダムアクセスメモリに書き
込まれる二次元パターンが基準座標系に略一致す
るまで前記第１、第２ランダムアクセスメモリ間
で二次元パターンの読み出し、書き込みを繰り返
すことを特徴とするものである。

以下に図面により本発明を詳細に説明する。

まず、本発明のパターン正規化の原理を第１図
により説明する。第１図のｘ―ｙ座標系に対して
原点Ｏを中心として角θだけ回転したＸ―Ｙ座標
系があり、Ｘ―Ｙ座標系のある点Ｐ（X₁，Y₁）を
ｘ―ｙ座標系に変換してｐ（x₁，y₁）とすると、 x₁＝X₁cosθ−Y₁sinθ (1) y₁＝X₁sinθ＋Y₁cosθ (2) と表わせる。ここで角θが微小角の場合には、 cos≒１，sinθ≒tanθ となる。従つて(1)，(2)式は次のように表わせる。

x₁＝X₁−Y₁tanθ (3) y₁＝X₁tanθ＋Y₁ ＝Y₁＋X₁tanθ (4) これら(3)，(4)式を一般的に表わすと、 ｘ＝Ｘ−Ytanθ (5) ｙ＝Ｙ＋Xtanθ (6) となる。本発明ではこれら(5)，(6)式に基いて微小
角θについての座標変換の演算を行い、以つて回
転の正規化を行う。

本発明パターン正規化装置の構成の一例を第２
図に示す。第２図の装置は大別すると３つの部分
に分けられ、部分Ａは(5)式のｘ座標の演算部分、
部分Ｂは(6)式のｙ座標の演算部分、部分Ｃは部分
ＡおよびＢからのｘおよびｙ座標によりｘ−ｙ座
標空間（二次元空間）を実現するメモリー部分で
ある。

部分Ｃは２個の書換え可能なランダムアクセス
メモリー１および２より成り、第１メモリー１は
原パターンを記憶し、第２メモリー２は座標変換
して得た正規化パターンをメモリー１から読み出
して記憶する。ここで、メモリー１とメモリー２
とは同一記憶容量とし、０〜２^m+n−１番地をも
つものとする。従つてアドレス線は（ｍ＋ｎ）本
あることになる。第３図に示すように、あるパタ
ーン（第３図ではアルフアベツトのＡ）につい
て、ｘ方向を０〜２^m-1まで２^m個に分割し、ｙ方
向を０〜２^n-1まで２ⁿ個に分割して記憶するため
に、（ｍ＋ｎ）本のアドレス線のうち２^o〜２^m-1
までのｍ本のアドレス線をｘ方向に割り当てる。
また２^m〜２^m+n-1までのｎ本のアドレス線をｙ方
向に割り当てる。このようにアドレスをｘ，ｙ両
方向に割り当てることによつて、ｘ方向およびｙ
方向の番地付けを独立に行うことができる。この
ように番地付けを行なつて得たメモリー空間をｘ
−ｙ座標空間とする。なお、この番地付けは両メ
モリー１および２とも同一とする。また、メモリ
ーの書き込みや読み出しはｘ方向の走査終了後に
ｙ方向の走査を行なうか、あるいはこれとは逆
に、ｙ方向の走査を最初に行なうこともできる。

次に、メモリー１および２への入力信号につい
て説明する。検査対象物のパターンを光電変換素
子により撮像して得た画像出力をAD変換し、更
に所定分解能で画像分割を行つたものを入力デー
タ１０１としてメモリー１に加える。メモリー１
には書込み信号１０２を供給し、その書込み信号
入来時に前記入力データ１０１の書込みを行う。
書込み信号１０２の生起しないときにはメモリー
１は常に読出し状態にある。メモリー１から読み
出した出力データ１０３をメモリー２に入力デー
タ１０４として加える。このメモリー２には上述
したのと同様の書込み信号１０５を加え、その非
生起時に出力データ１０６を読み出す。メモリー
１および２のアドレス制御は以下に詳述する部分
ＡおよびＢで行う。

まず部分Ａについて述べる。部分Ａはメモリー
１および２のｘ方向についてのメモリーアドレス
走査を制御する。ここで、符号３はＸ軸カウンタ
であり、入力されるクロツク信号１０７の個数を
計数するｍ桁の２進カウンタで構成する。Ｘ軸カ
ウンタ出力１０８を切替スイツチ４により直接に
またはＸ軸回転補正器５を介してメモリー１のｘ
軸アドレス入力端子１ｘに供給すると共に、メモ
リー２のｘ軸アドレス入力端子２ｘにも直接にも
直接に供給する。切替スイツチ４は、回転補正な
しに原パターンを書き込むときには位置ａを選択
し、座標変換により回転補正を行うときには位置
ｂに切り替わる。７はｐ分周器であり、その入力
信号としてのＹクロツク信号１０９を補正角指定
信号１１０により分周する可変分周回路で構成
し、例えば補正角指定信号１１０がｐであるとき
にＹクロツク信号１０９を1/pに分周する。な
お、補正角指定信号１１０は、図示しないメモリ
ー内に予め記憶させておくものとする。ｐ分周器
６の分周出力１１１を２進カウンタ７に供給し、
そのカウンタ出力１１２をＸ軸回転補正器５の一
方の入力端子に加える。このＸ軸回転補正器５の
他方の入力端子には上述したように前記Ｘ軸カウ
ンタ出力１０８を加える。このＸ軸回転補正器５
はｍ桁加減算器であり、その制御入力端子５Ｃに
加えられる信号、すなわち座標軸回転の変換方向
を指定する変換方向指定信号１１３をインバータ
８で反転して得た信号１１４が“０”のときには
座標軸が反時計方向にθ＝tan^-1１／ｐ（微小角）だけ 回転され、同じく信号１１４が“１”のときには
座標軸が時計方向にθ＝tan^-1１／ｐだけ回転される。

更に詳述すると、上記信号１１４が“０”のとき
にＸ軸カウンタ出力１０８とカウンタ出力１１２
との加算を行ない、信号１１４が“１”のときに
はＸ軸カウンタ出力１０８よりカウンタ出力１１
２を減算する。ここで(5)式の第１項ＸはＸ軸カウ
ンタ出力１０８に相当し、(5)式の第２項Ytanθ
の絶対値はカウンタ出力１１２に相当し（ここに
補正角指定信号１１０の値ｐはｐ＝１／tanθに
対応する）、このＸ軸回転補正器５より(5)式に対
応する出力１１５を取り出し、スイツチ４の位置
ｂを介して第１メモリー１のｘ軸アドレス入力端
子１ｘに供給する。なおＸクロツク信号について
は詳述する。

次に部分Ｂについて述べる。部分Ｂはメモリー
１および２のｙ方向についてのメモリーアドレス
走査を制御する。ここで、符号９はＹ軸カウンタ
を示し、入力されるＹクロツク信号１０９の個数
を計数するｎ桁の２進カウンタで構成する。Ｙ軸
カウンタ出力１１６を切替スイツチ１０により直
接にまたはＹ軸回転補正器１１を介してメモリー
１のｙ軸アドレス入力端子１ｙに供給すると共
に、メモリー２のｙ軸アドレス入力端子２ｙにも
直接に供給する。切替スイツチ１０は回転補正な
しに原パターンを書き込むときには位置ａを選択
し、座標変換により回転補正を行なうときには位
置ｂを占める。符号１２はｐ分周器を示し、その
入力信号としてのＸクロツク信号１０７を補正角
指定信号１１０により分周する可変分周器で構成
し、例えば補正角指定信号１１０がｐであるとき
にＸクロツク信号１０７を1/pに分周する。ここ
でも補正角指定信号１１０の値ｐはｐ＝１／tan
θ（微小角）に対応する。更にｐ分周器１２の分
周出力１１７を２進カウンタ１３に供給し、その
カウンタ出力１１８をＹ軸回転補正器１１の一方
の入力端子に加える。このＹ軸回転補正器１１の
他方の入力端子には上述したようにＹ軸カウンタ
出力１１６を加える。このＹ軸回転補正器１１は
ｎ桁加減算器であり、その制御入力端子１１Ｃに
は上述した変換方向指定信号１１３を供給する。
この信号１１３が“０”のときにＹ軸回転補正器
１１は加算器として作用し、座標軸が反時計方向
にθ＝tan^-1１／ｐだけ回転され、他方変換指定信号１ １３が“１”のときにはＹ軸回転補正器１１は減
算器として作用し、すなわちＹ軸カウンタ出力１
１６よりカウンタ出力１１８を減算し、座標軸が
時計方向に微小角θ＝tan^-1１／ｐだけ回転される。こ こで(6)式の第１項ＹはＹ軸カウンタ出力１１６に
相当し、(6)式の第２項Xtanθの絶対値はカウン
タ出力１１７に相当し、Ｙ軸回転補正器１１より
(6)式に対応する出力１１９を取り出し、スイツチ
１０の位置ｂを介して第１メモリー１のＹ軸アド
レス入力端子１ｙに供給する。Ｙクロツク信号１
０９にいては、Ｘクロツク信号１０７と共に第５
図を参照して次に説明する。

第５図において、第５図Ａはクロツク信号１０
７、第５図ＢはＸ軸カウンタ出力１０８、第５図
ＣはＹクロツク信号１０９および第５図ＤはＹ軸
カウンタ出力１１６を示す。Ｘクロツク信号１０
７はメモリー全面を走査するのに要する時間内に
規則的に生起する２^m+n個のパルスを含み、Ｙク
ロツク信号１０９は２^m個のＸクロツクパルスご
とに１個生起する。メモリー全面について画像の
座標変換を行なうためには、２^m+n−１個のｘ軸
アドレス指定入力および２ⁿ−１個のｙ軸アドレ
ス指定入力が必要となるが、これらアドレス指定
入力はそれぞれ上記Ｘ軸およびＹ軸カウンタ３お
よび９よりＸ軸およびＹ軸カウンタ出力１０８お
よび１１６として得られる。これら出力信号１０
８および１１６のクロツク信号１０７および１０
９に対する対応関係は第５図に示す通りである。

次にこれらクロツク信号１０７または１０９と
ｐ分周器６または１２とカウンタ７または１３と
の出力関係を、補正角指定としてｐ＝４を設定し
た場合、すなわちθ＝＝tan^-1１／４の場合を例にとつ て、第６図により説明する。図中、第６図ＡはＸ
クロツク信号１０７（またはＹクロツク信号１０
９）、第６図Ｂはｐ分周器６（または１２）の分
周出力１１１（または１１７）、第６図Ｃはカウ
ンタ７（または１３）の出力１１２（または１１
８）を示す。

次に本発明パターン正規化装置の動作を第３図
および第４図の場合について説明する。すなわ
ち、第３図のようなパターン（アルフアベツトの
Ａ）を光電変換素子によつて撮像して得たパター
ンが第４図のように微小角θだけ傾いていたと仮
定する。このパターンは、縦と横が同じ比の適当
な分解能をもつ多数の小区画（画素）にメツシユ
状に分割され、すでにメモリー１に記憶されてい
るものとする。なお、このパターンの書込み時に
はスイツチ４および１０とも位置ａを占め、座標
変換されていない番地付けによりＸおよびＹクロ
ツク信号１０７および１０９により直後に指定さ
れた各アドレスに該当する小区画の画像情報が書
き込まれる訳である。次に本発明によりパターン
の正規化を行なう場合には、スイツチ４および１
０を位置ｂに切り替え、更に補正角指定信号１１
０を適当な数ｐに設定する。すなわち、角θ＝
tan^-1１／ｐだけ座標ＸおよびＹを回転させて正規化を 行なう。すなわちＸおよびＹ軸をそれぞれｘおよ
びｙ軸に合致させる。なお、ここで、角θ＝tan¹
１／ｐは微小角とする。また、正規化の方向は変換方 向指定信号１１３により指定でき、第４図の例で
は座標軸ＸおよびＹを反時計方向に回転するので
あるから、既述したように変換方向指定信号１１
３を“０”に設定する。

次にＸ軸カウンタ３、Ｙ軸カウンタ９、カウン
タ７および１３、およびｐ分周器６および１２を
リセツトし、次いで２^m+n−１個のＸクロツクパ
ルスをＸクロツク信号１０７として加え、２^m個
のＸクロツクパルス毎に２ⁿ−１個のＹクロツク
パルスをＹクロツク信号１０９として加える。な
お、ＹクロツクパルスはＸクロツクパルスをｍ分
周することにより形成される。第２メモリー２へ
の書込み信号１０５としては、２^m+n個の書込み
パルスを供給し、それに対応し、第１メモリー１
からの読出し時には、書込み信号１０２を読出し
モードにして、同様に２^m+n個の読出しパルスを
供給する。このような条件のもとで第１メモリー
１を規則的に走査して読み出すことにより、第１
メモリー１に記憶されているパターン情報を正規
化したパターン情報が出力データ１０３として時
間的に直列となつて取り出される。最も効率的な
変換の場合には２^m+n−１個のＸクロツクパルス
が加えられることにより正規化が終了する。これ
により、第２メモリー２には第４図のパターンを
第３図示のパターンのように座標変換したものが
蓄積される。この変換の一例を第７図および第８
図により説明する。ここで、第４図が第７図に、
第３図が第８図に対応する。すなわち、第７図に
は、回転していない状態で一直線上に並ぶべき画
素群例えば１―１，…，１―５，１―６，…，１
―２０がパターンの回転によりずれた状態で第１
メモリー１に書き込まれた様子を示している。第
８図は第７図のように第１メモリー１に蓄積され
ているパターン情報を正規化して読み出した場合
の各画素の配列を示し、例えば第２メモリー２へ
この状態で書き込む。なお、本例では、回転して
いるパターンが第７図のように５×５画素単位で
ずれているので、点在するハツチング付の画素部
分は第８図では圧縮されて消滅してしまい、当該
画素の情報は正規化状態では現われず、回転変換
の歪要因となるが、その影響は実用上問題になら
ず無視できる。また、第８図のハツチング部分の
画素は、第７図のあるパターンに関連する画素以
外の部分の画素に対応するものであり、正規化読
出しを行なう必要のない領域（不定領域）であ
る。第８図において斜線部分は不定領域となる
が、この部分は使用しないので特に問題とはなら
ない。

なお、上例では説明の便宜上から切替スイツチ
４および１０を機械的スイツチで示してあるが、
実際には入力条件が満足されたときに出力を生じ
る論理ゲートで構成できる。

以上では、式(5)および(6)の説明のところで述べ
た通り、角θ＝tan^-1１／ｐが微小である場合の座標変 換について述べてきたが、対象検査物のパターン
の回転の程度が微小角であるか否か不明のときに
は補正角指定量ｐを変化させ、ある範囲を包含す
るように何回か正規化を行ない、最適パターン姿
勢のときに本発明パターン正規化装置の後段たる
識別判定装置が動作するようにすることも可能で
ある。従つて、座標変換方向と補正角θの指定と
を2n回逐時的に行なうことで±ｎθの正規化が
可能となる。

以上では微小角θについての座標軸回転変換を
取扱つてきたが、大きな角αについてパターン正
規化を行ないたい場合には、微小角βについての
正規化をｃ回行ない、すなわち、α＝β・ｃとな
るまで微小角βについての正規化を繰り返し行な
つて歪の少ない回転正規化を行なうことができ
る。ここで、微小角βに対してβ＝tan^-1１／ｐとなる ような値ｐを補正角指定量として設定し第１回目
の正規化処理を行ない、第２メモリー２に微小角
βだけ正規化したパターン情報を蓄積する。かか
る第２メモリー２の記憶パターンを次に第１メモ
リー１へ通常の番地付けで転送する。転送終了後
に再び第２回目の微小角βについての正規化を行
なう。これにより第２メモリー２には角２βだけ
座標軸ＸおよびＹの回転したパターンが蓄積され
る。かかる処理をｃ回繰返すことにより座標軸Ｘ
およびＹを角αだけ回転した正規化パターンが第
２メモリー２に記憶される。

以上から明らかなように、本発明によれば２個
のメモリーとその両軸アドレス指定回路部分との
簡単な回路構成によつてパターンの正規化を行な
うことができ、またその回転補正量は微小角にと
どまらず、大きい角度の場合でも可能であり、そ
の場合には当該角度を微小角に分割して正規化処
理を繰り返し行えばよいことは上述した通りであ
る。

本発明のパターン正規化装置をパターン認識装
置やパターン検査装置と組合せることによつて、
回転について考慮した複雑なアルゴリズムを用い
ることなく、回転とは無関係な単純なアルゴリズ
ム、例えばパターンマツチング手法を用いること
により、パターンの認識や検査を実施でき、更に
回路規模も大幅に削減可能となり、これに伴つて
処理速度の向上およびコスト低減も実現できる。

また、上述した第１および第２のランダムアク
セスメモリーとして半導体メモリーを使用すれ
ば、１画素（小区画）あたりの正規化に要する時
間は最大で数十ナノ秒であり、実用上十分な高速
性が得られる。また、最近の半導体メモリーは１
個あたりの記憶容量が極めて大きくなつており、
少数の素子や部品により本発明正規化回路を構成
できる。

なお、本発明においては、パターンの分割を細
かくしていくことにより、デジタル回転に起因す
る図形歪を無視し得ることは当然である。また、
微小角の回転のみの場合には、第２メモリー２を
設けることなく、第１メモリー１の出力を後段に
おけるパターン認識や検査処理に供するのみでも
十分である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるパターン正規化の原理説
明図、第２図は本発明パターン正規化装置の構成
の一例を示すブロツク線図、第３図および第４図
は本発明によるパターン正規化の挙動を説明する
ためにパターンの一例としてアルフアベツト文字
のＡを例示したパターン図、第５図Ａ〜Ｄおよび
第６図Ａ〜Ｃは第２図示の本発明正規化装置の各
部信号のタイミングを示す信号線図、第７図およ
び第８図は本発明によるパターンの変換の様子を
画素の配列状態で示す線図である。 １，２……ランダムアクセスメモリー、１Ｘ，
２Ｘ……Ｘ軸アドレス入力端子、１ｙ，２ｙ……
ｙ軸アドレス入力端子、３……Ｘ軸カウンタ、
４，１０……切換スイツチ、５……Ｘ軸回転補正
器、６，１２……ｐ分周器、７，１３……カウン
タ、８……インバータ、９……Ｙ軸カウンタ、１
１……Ｙ軸回転補正器、１０１，１０４……入力
データ、１０２，１０５……書込み信号、１０
３，１０６……出力データ、１０７……Ｘクロツ
ク信号、１０８……Ｘ軸カウンタ出力、１０９…
…Ｙクロツク信号、１１０……補正角指定信号、
１１１，１１７……ｐ分周出力、１１２，１１８
……カウンタ出力、１１３……変換方向指定信
号、１１４……変換方向反転指定信号、１１５…
…Ｘ軸回転補正出力、１１６……Ｙ軸カウンタ出
力、１１９……Ｙ軸回転補正出力。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ マトリツクス状に配置された書き換え可能な
   ランダムアクセスメモリと、ＸおよびＹクロツク
   信号を受信し前記ランダムアクセスメモリのＸお
   よびＹ番地を指定するアドレス制御回路とを具
   え、該アドレス制御回路は、前記ＸおよびＹクロ
   ツク信号をそれぞれカウントするＸ軸およびＹ軸
   カウンタと、１回の正規化操作により回転させる
   微小角度を設定する補正角指定信号により分周比
   が設定され、該分周比にて前記ＸおよびＹクロツ
   ク信号をそれぞれ分周するＸおよびＹクロツク分
   周手段と、該ＸおよびＹクロツク分周手段の出力
   をそれぞれカウントするＸおよびＹクロツクカウ
   ンタと、前記補正角指定信号による微小角度の回
   転方向を示す変換方向指定信号に応じて前記Ｘ軸
   カウンタのカウント値には前記Ｙクロツクカウン
   タのカウント値を、また前記Ｙ軸カウンタのカウ
   ント値には前記Ｘクロツクカウンタのカウント値
   をそれぞれ加算または減算することにより補正Ｘ
   軸およびＹ軸信号を出力するＸ軸およびＹ軸回転
   補正手段と、基準座標系に対して回転している状
   態で取り出された二次元パターンを前記ランダム
   アクセスメモリに書き込む際には前記Ｘ軸および
   Ｙ軸カウンタのカウント値をＸおよびＹ番地とし
   て選択し、前記ランダムアクセスメモリに書き込
   まれている前記二次元パターンを正規化のために
   読み出す際には前記Ｘ軸およびＹ軸回転補正手段
   の出力をＸおよびＹ番地として選択する切換手段
   とから構成されることを特徴とするパターン正規
   化装置。 ２ マトリツクス状に配置された書き換え可能な
   第１、第２ランダムアクセスメモリと、Ｘおよび
   Ｙクロツク信号を受信し前記第１、第２ランダム
   アクセスメモリのＸおよびＹ番地を指定するアド
   レス制御回路とを具え、該アドレス制御回路は、
   前記ＸおよびＹクロツク信号をそれぞれカウント
   するＸ軸およびＹ軸カウンタと、１回の正規化操
   作により回転させる微小角度を設定する補正角指
   定信号により分周比が設定され、該分周比にて前
   記ＸおよびＹクロツク信号をそれぞれ分周するＸ
   およびＹクロツク分周手段と、該ＸおよびＹクロ
   ツク分周手段の出力をそれぞれカウントするＸお
   よびＹクロツクカウンタと、前記補正角指定信号
   による微小角度の回転方向を示す変換方向指定信
   号に応じて前記Ｘ軸カウンタのカウント値には前
   記Ｙクロツクカウンタのカウント値を、また前記
   Ｙ軸カウンタのカウント値には前記Ｘクロツクカ
   ウンタのカウント値をそれぞれ加算または減算す
   ることにより補正Ｘ軸およびＹ軸信号を出力する
   Ｘ軸およびＹ軸回転補正手段と、前記第１ランダ
   ムアクセスメモリのＸおよびＹ番地として前記Ｘ
   軸およびＹ軸カウンタのカウント値、あるいは前
   記Ｘ軸およびＹ軸回転補正手段の出力を選択する
   切換手段とから構成され、基準座標系に対して回
   転している状態で取り出された二次元パターンを
   前記第１ランダムアクセスメモリに書き込む際に
   は前記第１ランダムアクセスメモリのＸおよびＹ
   番地として前記Ｘ軸およびＹ軸カウンタのカウン
   ト値を用い、前記第１ランダムアクセスメモリか
   ら二次元パターンを読み出して前記第２ランダム
   アクセスメモリに書き込むときには前記第１ラン
   ダムアクセスメモリのＸおよびＹ番地として前記
   Ｘ軸およびＹ軸回転補正手段の出力を、前記第２
   ランダムアクセスメモリのＸおよびＹ番地として
   前記Ｘ軸およびＹ軸カウンタのカウント値をそれ
   ぞれ用い、前記第２ランダムアクセスメモリから
   二次元パターンを読み出して前記第１ランダムア
   クセスメモリに書き込むときには前記第１、第２
   ランダムアクセスメモリのＸおよびＹ番地として
   前記Ｘ軸およびＹ軸カウンタのカウント値をそれ
   ぞれ共通に用い、前記２ランダムアクセスメモリ
   に書き込まれる二次元パターンが基準座標系に略
   一致するまで前記第１、第２ランダムアクセスメ
   モリ間で二次元パターンの読み出し、書き込みを
   繰り返すことを特徴とするパターン正規化装置。 ３ 特許請求の範囲第２項に記載のパターン正規
   化装置において、前記補正角指定信号を可変とし
   たことを特徴とするパターン正規化装置。