JPS6140167B2 - - Google Patents

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JPS6140167B2
JPS6140167B2 JP55055462A JP5546280A JPS6140167B2 JP S6140167 B2 JPS6140167 B2 JP S6140167B2 JP 55055462 A JP55055462 A JP 55055462A JP 5546280 A JP5546280 A JP 5546280A JP S6140167 B2 JPS6140167 B2 JP S6140167B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mold
cavity
molded product
guide hole
gas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP55055462A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS56151516A (en
Inventor
Naotake Ebina
Aizo Kaneda
Yoshiaki Wakashima
Ataru Yokono
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP5546280A priority Critical patent/JPS56151516A/ja
Publication of JPS56151516A publication Critical patent/JPS56151516A/ja
Publication of JPS6140167B2 publication Critical patent/JPS6140167B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はプラスチツク成形用金型に係り、特に
その離型方式の改良を志向したプラスチツク成形
用金型に関するものである。
従来のプラスチツク成形用金型においては、成
形品のキヤビテイよりの離型は、突出しピン方式
であつた。この方式においては、前記突出しピン
によつて成形品を突出して離型するようにしてい
るので、離型性の悪い半導体モールド品(例えば
エポキシ樹脂により半導体を封止したもの。以下
単に成形品という)の場合は、離型時に成形品の
ピン接触部のみ大きな力が加わることにより、ペ
レツトクラツク、界面はく離等成形品の破損が多
発していた。
またその他の樹脂成形品でも精密成形品では、
寸法変化、変形が発生し、前記突出しピン方式に
よる離型が不適当なものもあつた。
本発明は、上記した従来技術の欠点をなくし、
半導体モールド品の離型時の破損を無くし、歩留
りを向上するとともに、精密成形品の離型時の寸
法変化、変形を無くし、精度を向上することがで
きる、プラスチツク成形用金型の提供を、その目
的とするものである。
本発明に係るプラスチツク成形用金型の構成
は、プラスチツク成形用金型において、金型に、
キヤビテイに開口する大径部、肩部、小型部を順
に設けたガイド穴、ならびにこのガイド穴の前記
大径部と交差するガス導入孔を穿設し、前記ガイ
ド穴の大径部内を移動し、前記肩部と当接して該
ガイド穴を封止することができる皿部と、この皿
部を支持し、前記小径部内を移動するロツド部と
を有するバルブピンを設け、成形時には前記バル
ブピンの先端を前記キヤビテイのキヤビテイ面と
面一にし、離型時には前記バルブピンの皿部を前
記ガイド穴の肩部に当接させ、前記ガス導入孔と
前記キヤビテイを連通させて、成形品と前記キヤ
ビテイの壁面との間にガス圧を導入するように構
成したプラスチツク成形用金型にある。
さらに詳しくは、従来のプラスチツク成形用金
型における、成形品の突出しピンによる突出しを
廃止し、それに代えてキヤビテイに高圧ガスを送
り込むバルブピンをガスエジエクタ機構として組
込み、前記成形品をキヤビテイより離型する時は
前記バルブピンにより止められていた外部より導
入の高圧ガスを、前記バルブピンを動作させるこ
とによりキヤビテイに流入させ、キヤビテイ壁面
と前記成形品の隙間を押広げるようにしたもので
あり、この方式では成形品のせまい部分に強大な
力が加わらないのが大きな特徴である。
以下本発明を実施例によつて説明する。
第1図は、本発明の一実施例に係るプラスチツ
ク成形用金型の断面図である。
この第1図において、1は上金型、2は下金
型、3は、上金型1と下金型2とに形成されたキ
ヤビテイ、4はランナ、5はゲート、6はガスベ
ントである。
7a,7bは、キヤビテイ3と連通し、それぞ
れ金型に係る上金型1、下金型2に穿設されたガ
イド穴、8a,8bは、ガイド穴7a,7bと交
差して、それぞれ金型に係る上金型1、下金型2
に穿設されたガス導入孔、9a,9bは、それぞ
れガイド穴7a,7bをスライドする真直の丸棒
状のバルブピン、10a,10bは、それぞれガ
イド穴7a,7bに装着され、ガイド穴7a7b
とバルブピン9a,9bとの間のガスもれを防止
するとともに、バルブピン9a,9bの摺動抵抗
の軽減と、摺動部の摩耗防止を計つたガスケツト
である。
このように構成した本実施例の動作を説明す
る。
第2図は、第1図の実施例に係る、半導体モー
ルド品の離型動作を示す断面図であり、第2図1
は、成形品が充填された直後の状態を示し、第2
図2は、バルブピンを後退させて高圧ガスをキヤ
ビテイ内に導入させた状態を示し、第2図3は、
離型時の状態を示すものである。
第2図1において、上金型1、下金型2は閉じ
られており、さらにバルブピン9a,9bの先端
はキヤビテイ面と面一の所で停止している。この
時ガス導入口8a,8bに少なくとも2気圧以上
のガスを導入するが、成形段階でこのガスをガス
導入口8a,8bに満たしておいても差しつかえ
ない。このような状態で充填された樹脂は硬化収
縮反応が進む訳である。
次に工程を第2図2で説明する。硬化収縮反応
が終了した時点で、バルブピン9a,9bを成形
機エジエクタプレート(図示せず)もしくはエア
シリンダ(図示せず)等により移動させ、ガス導
入孔8a,8bとキヤビテイ3を連通させて、ガ
ス導入口8a,8bに満たされていた高圧ガスを
キヤビテイ3に流入させる。高圧ガスは、成形品
13が硬化収縮し、微小隙間を生じたキヤビテイ
3と成形品13の間に浸入し始める。
次に上金型1と下金型2を開くと、さらに高圧
ガスを浸入領域を広め最終的にはパーテイング面
まで達し、第2図3で示す如く、同時に上金型
1、下金型2からの完全離型が完了する。
以上説明した第1図に係る実施例によれば、次
のような効果がある。
(イ) ガイド穴7a,7bにガスケツト10a,1
0bを、それぞれ装着するようにしたので、キ
ヤビテイ3内へ高圧ガスを導入させても、ガイ
ド穴7a,7bとバルブピン9a,9bとの間
でガスもれを生ずることはなく、前記高圧ガス
のみによつて成形品を離型することができる。
したがつて、従来必要としていた突出しピンに
よる突出し操作が不要である。
(ロ) 離型時、成形品全体に離型力が分散負荷され
るので、半導体モールド品の局部変形によるイ
ンサート(半導体のチツプもしくはフレーム)
の界面剥離がなくなり耐湿性が向上するととも
に、半導体のチツプのクラツク発生がなくな
り、成形歩留りの向上が計れる。
(ハ) 離型時、成形品全体に離型力が分散負荷され
るので、精密成形品の離型時における寸法変
化、変形がなくなり、精密成形品の精度が向上
する。
(ニ) 従来の突出しピン方式では、成形品の過大な
変形を防止するため、成形品1個に対して少な
くとも2本の突出しピンを配置する必要があつ
たが、本実施例では、バルブピンは1本で充分
である。したがつて、プラスチツク成形用金型
の簡素化、小形化が計れ、金型製作費が従来の
約2/3になる。
第3図は、本発明の他の実施例に係る、プラス
チツク成形用金型の断面図である。
この第3図において、第1図と同一番号を付し
たものは同一部分である。そして11a,11b
は、キヤビテイ3に開口する大径部、テーパ状の
肩部、小径部を順に設けたガイド穴であり、これ
らガイド穴11a,11bは、それぞれ上金型1
A、下金型2Aに穿設されている。
12a,12bは、それぞれガイド穴11a,
11bの前記大径部内を移動し、前記肩部と当接
して該ガイド穴11a,11bを封止することが
できる皿部と、この皿部を支持し、前記小径部内
を移動するロツド部とを有するバルブピンであ
り、これらバルブピン12a,12bの前記皿部
と前記ガイド穴11a,11bの肩部との当接面
は、ガス圧の導入時に気密性が保持できるように
整合されている。
このように構成した本実施例の離型動作は、第
1図に係る前記実施例と同様である。
すなわち、成形時には、バルブピン12a,1
2bの先端(皿部)をキヤビテイ面と面一にし、
離型時には、バルブピン12a,12bを後退さ
せて、該バルブピン12a,12bの前記皿部を
それぞれガイド穴11a,11bの前記肩部に当
接させ、ガス導入孔8a,8bとキヤビテイ3を
連通させて、成形品(図示せず)とキヤビテイ3
の壁面との間にガス圧を導入することによつて前
記成形品を離型する。
以上説明した第3図に係る実施例によれば、前
述した第1図に係る実施例の効果に加えて次の効
果がある。
(イ) ガイド穴11a,11bの大径部の直径を大
きくすることにより、高圧ガスによる加圧面積
が大きくなる。したがつて、離型力が大きくな
り、成形品の離型がさらに容易になる。
(ロ) ガス圧を、バルブピン12a,12bの皿部
とガイド穴11a,11bの肩部とで封止する
ようにしたので、ガスケツトが不要となり、プ
ラスチツク成形用金型の構成がさらに簡単にな
る。
以上詳細に説明したように本発明によれば、半
導体モールド品の離型時の破損をなくし、歩留り
を向上するとともに、精密成形品の離型時の寸法
変化、変形をなくし、精度を向上することができ
る、プラスチツク成形用金型を提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例に係るプラスチツ
ク成形用金型の断面図、第2図は、第1図の実施
例に係る、半導体モールド品の離型動作を示す断
面図であり、第2図1は、成形品が充填された直
後の状態を示し、第2図2は、バルブピンを後退
させて高圧ガスをキヤビテイ内に導入させた状態
を示し、第2図3は、離型時の状態を示すもので
ある。第3図は、本発明の他の実施例に係る、プ
ラスチツク成形用金型の断面図である。 1,1A……上金型、2,2A……下金型、3
……キヤビテイ、7a,7b……ガイド穴、8
a,8b……ガス導入孔、9a,9b……バルブ
ピン、11a,11b……ガイド穴、12a,1
2b……バルブピン。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 プラスチツク成形用金型において、金型に、
    キヤビテイに開口する大径部、肩部、小径部を順
    に設けたガイド穴、ならびにこのガイド穴の前記
    大径部と交差するガス導入孔を穿設し、前記ガイ
    ド穴の大径部内を移動し、前記肩部と当接して該
    ガイド穴を封止することができる皿部と、この皿
    部を支持し、前記小径部内を移動するロツド部と
    を有するバルブピンを設け、成形時には前記バル
    ブピンの先端を前記キヤビテイのキヤビテイ面と
    面一にし、離型時には前記バルブピンの皿部を前
    記ガイド穴の肩部に当接させ、前記ガス導入孔と
    前記キヤビテイを連通させて、成形品と前記キヤ
    ビテイの壁面との間にガス圧を導入するように構
    成したことを特徴とするプラスチツク成形用金
    型。
JP5546280A 1980-04-28 1980-04-28 Mold for plastic molding Granted JPS56151516A (en)

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