JPS6129738A - 粒子解析装置及び粒子解析方法 - Google Patents
粒子解析装置及び粒子解析方法Info
- Publication number
- JPS6129738A JPS6129738A JP15064284A JP15064284A JPS6129738A JP S6129738 A JPS6129738 A JP S6129738A JP 15064284 A JP15064284 A JP 15064284A JP 15064284 A JP15064284 A JP 15064284A JP S6129738 A JPS6129738 A JP S6129738A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- particle
- intensity distribution
- detection unit
- detected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 45
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 8
- 238000005375 photometry Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000009652 hydrodynamic focusing Methods 0.000 description 5
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 3
- 239000006285 cell suspension Substances 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1429—Signal processing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/48—Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
- G01N33/50—Chemical analysis of biological material, e.g. blood, urine; Testing involving biospecific ligand binding methods; Immunological testing
- G01N33/53—Immunoassay; Biospecific binding assay; Materials therefor
- G01N33/5302—Apparatus specially adapted for immunological test procedures
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Hematology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Urology & Nephrology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Cell Biology (AREA)
- Microbiology (AREA)
- Biotechnology (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明社粒子解析装置、特に高速〜で流れる細胞浮遊溶
液を流体力学的焦点合わせ法で集束−させ該箇所にレー
ザ光を照射・、シ、前方散乱光及゛び、側方散乱光若し
くは側方での螢光散乱光を運時検出して細胞粒子の性質
、構造を解析するようにした九いわゆるフローサイトメ
ータに関する。
液を流体力学的焦点合わせ法で集束−させ該箇所にレー
ザ光を照射・、シ、前方散乱光及゛び、側方散乱光若し
くは側方での螢光散乱光を運時検出して細胞粒子の性質
、構造を解析するようにした九いわゆるフローサイトメ
ータに関する。
従来第１図、第２図に示すようにフローサイトメータに
おいては細胞浮遊溶液を）そのまわりのシース液ととも
にン、ローセル１内のフロ一部２に流し、流体力学的に
所定箇所３で集束させ、ここに入射するレーザ光４も該
箇所で光学的に集束させるよ５ＫＬ、ている。
おいては細胞浮遊溶液を）そのまわりのシース液ととも
にン、ローセル１内のフロ一部２に流し、流体力学的に
所定箇所３で集束させ、ここに入射するレーザ光４も該
箇所で光学的に集束させるよ５ＫＬ、ている。
そして前方散乱光及び、側方散乱光若しくは螢光散乱光
の受光系５乃至Ｅｌ前記集束箇Ｐｊ′ｒが時間的に変動
しないものとして固定して設けられている。
の受光系５乃至Ｅｌ前記集束箇Ｐｊ′ｒが時間的に変動
しないものとして固定して設けられている。
なお５，６はレンズ、７，８は光検知器である。
しかし流体力学的な集束箇所は時間的に変動する可能性
が高く、一方、レーザ光強度は厳密には第３図に示す如
（、レーザ入射方向と直交する方向でガラス状分布を有
するため流体力学的な集束箇所カｆレーザ入射方向と直
交する方向にａ ％ ｃの如く変位した場合、側方散乱
光若しくは螢光散乱光の受光出力更には前方散乱光の受
光出力が変化することとなる。
が高く、一方、レーザ光強度は厳密には第３図に示す如
（、レーザ入射方向と直交する方向でガラス状分布を有
するため流体力学的な集束箇所カｆレーザ入射方向と直
交する方向にａ ％ ｃの如く変位した場合、側方散乱
光若しくは螢光散乱光の受光出力更には前方散乱光の受
光出力が変化することとなる。
これを解消すべくなるべく被検粒子に照射する照射光の
強度分布を平坦化しようとすると集光エネルギー密度の
低下が生じ光源パワーの増加が必要となる〇 なお流体力学的な集束箇所がレーザ入射方向に変位する
場合は、前方散乱光及び、側方散乱光若しくは螢光散乱
光の受光出力は殆んど変化しないと考えて良い。これは
レーザ入射方向で強度が変化しないことに因る。
強度分布を平坦化しようとすると集光エネルギー密度の
低下が生じ光源パワーの増加が必要となる〇 なお流体力学的な集束箇所がレーザ入射方向に変位する
場合は、前方散乱光及び、側方散乱光若しくは螢光散乱
光の受光出力は殆んど変化しないと考えて良い。これは
レーザ入射方向で強度が変化しないことに因る。
本発明は従来例の欠点に鑑み一流体力学的な集束箇所が
レーザ入射方向と直交する方向に変位しても散乱光若し
くは螢光散乱光の受光出力に該変位が影響を与えないよ
うな又、照射光の強度分布に受光出力が影響されないよ
うな粒子解析装置を提供することを目的とする。
レーザ入射方向と直交する方向に変位しても散乱光若し
くは螢光散乱光の受光出力に該変位が影響を与えないよ
うな又、照射光の強度分布に受光出力が影響されないよ
うな粒子解析装置を提供することを目的とする。
第４図乃至第５図蝶本発明の実施例を示す。ここで既述
した符号と同一のものは同一部材を示す。
した符号と同一のものは同一部材を示す。
ここで第４図で祉側方における螢光測定の例を示してい
る。
る。
すなわち、流体力学的な集束箇所６の粒子＃ｉ特定の螢
光標識を備えており、これに照射光４が照射されるとレ
ンズ６、バリヤーフィルタ９を経て光検知器８（一般Ｋ
Ｆｉ７オトマル検知器）にて光電変換される０ なおバリヤーフィルタ９は螢光波長近傍の光を通す波長
選択フィルタである〇 一方、前方散乱光は光路中に設けられる不図示の遮光板
によりいわゆる０次光が逗幣された状態でこの遮光板を
外れてレンズ５に入射する成分が光位置検出器１０上で
積分されて検出される０なお光位置検出器１０の直前に
フローセルに対応した大きさの視野絞りを設けると良い
。
光標識を備えており、これに照射光４が照射されるとレ
ンズ６、バリヤーフィルタ９を経て光検知器８（一般Ｋ
Ｆｉ７オトマル検知器）にて光電変換される０ なおバリヤーフィルタ９は螢光波長近傍の光を通す波長
選択フィルタである〇 一方、前方散乱光は光路中に設けられる不図示の遮光板
によりいわゆる０次光が逗幣された状態でこの遮光板を
外れてレンズ５に入射する成分が光位置検出器１０上で
積分されて検出される０なお光位置検出器１０の直前に
フローセルに対応した大きさの視野絞りを設けると良い
。
さて第６図に示した如く照射ビームは一般にガウス分布
状の光強度分布をもつが、この分布状フロ一部へ粒子を
流す前に、具体的には測定の直前にレンズ５を介して光
位置検出器１０で検出されランダムアクセス型記憶素子
（以下ＲＡＭという）に記憶させてお（Ｑ 次にフロ一部へ粒子を流して測定を開始すると光位置検
出器１０上で粒子位置に対応した位置の出力が第３図に
示す如く最小となり、これより粒子位置が検出される。
状の光強度分布をもつが、この分布状フロ一部へ粒子を
流す前に、具体的には測定の直前にレンズ５を介して光
位置検出器１０で検出されランダムアクセス型記憶素子
（以下ＲＡＭという）に記憶させてお（Ｑ 次にフロ一部へ粒子を流して測定を開始すると光位置検
出器１０上で粒子位置に対応した位置の出力が第３図に
示す如く最小となり、これより粒子位置が検出される。
すなわち本実施例において光位置検出器１０＃′ｉ照射
光の強度分布の検出と、粒子位置の検出及び前方散乱光
の検出という時間的に異なる機能を具える０ なお光位置検出器１０としては、例えばＣＯＤ等の７レ
イ状光電素子が用いられる。測定に際して粒子の位置検
出がなされると、ＲＡＭに記憶した照射光の光強度分布
を基に螢光及び前方散乱光の受光出力すなわち光検知器
８及び光位置検知器１０の出力が補正される。
光の強度分布の検出と、粒子位置の検出及び前方散乱光
の検出という時間的に異なる機能を具える０ なお光位置検出器１０としては、例えばＣＯＤ等の７レ
イ状光電素子が用いられる。測定に際して粒子の位置検
出がなされると、ＲＡＭに記憶した照射光の光強度分布
を基に螢光及び前方散乱光の受光出力すなわち光検知器
８及び光位置検知器１０の出力が補正される。
こむで第５図に本発明の測光部のブロック図を示す０
先ず測定前に光位置検出器１０上の照射光の強度分布を
ＲＡＭ１２にメモリーしておく。続いて被検粒子を流し
て測光が行われるのであるが、光位置検出器１０上の粒
子位置がピーク検出部１１で検出される。ピーク検出部
１１は粒子位置で受光出力が最小となることに基づいて
粒子位置を検出する。
ＲＡＭ１２にメモリーしておく。続いて被検粒子を流し
て測光が行われるのであるが、光位置検出器１０上の粒
子位置がピーク検出部１１で検出される。ピーク検出部
１１は粒子位置で受光出力が最小となることに基づいて
粒子位置を検出する。
粒子位置が検出されるとこれに応じて几ＡＭ１２のアド
レスが指定される。この指定されたＲＡＭの内容Ｂが光
検知器８の出力Ａに補正係数として入り、補正部１６で
Ａ÷Ｂの演算が行なわれてメモリ１４に格納される。こ
の格納された情報は後に表示装置例えばＯＲＴ上に横軸
に螢光量、縦軸に頻度をとって表示することにより粒子
のヒストグラムが得られ有用な粒子解析を行なうことが
できる。
レスが指定される。この指定されたＲＡＭの内容Ｂが光
検知器８の出力Ａに補正係数として入り、補正部１６で
Ａ÷Ｂの演算が行なわれてメモリ１４に格納される。こ
の格納された情報は後に表示装置例えばＯＲＴ上に横軸
に螢光量、縦軸に頻度をとって表示することにより粒子
のヒストグラムが得られ有用な粒子解析を行なうことが
できる。
なお上述した実施例では、側方散乱光に対して補正を加
えているが、粒子の形状（大きさ等）の情報を解析する
のに重要な前方散乱光に対して補正を加えることができ
ることは勿論である。
えているが、粒子の形状（大きさ等）の情報を解析する
のに重要な前方散乱光に対して補正を加えることができ
ることは勿論である。
なお前記したＲＡＭの内容は各測定毎に書き換えて更新
するのが望ましい。次に第６図は照射光の照度分布を光
位置検出器７で検出する際、更にアライメント状態を検
出しアライメント不良の場合、警告表示をするよ５ＫＬ
、た変形例を示す。
するのが望ましい。次に第６図は照射光の照度分布を光
位置検出器７で検出する際、更にアライメント状態を検
出しアライメント不良の場合、警告表示をするよ５ＫＬ
、た変形例を示す。
すなわちフローセルの両側壁面位置ｍ 、 ｎが第６図
に示される如き光強度分布によって検出されると、光位
置検出器上ｍ、ｎの中間位置が所定基準位置０より所定
範囲外となった場合、アライメント不良と判断して警告
表示させる。
に示される如き光強度分布によって検出されると、光位
置検出器上ｍ、ｎの中間位置が所定基準位置０より所定
範囲外となった場合、アライメント不良と判断して警告
表示させる。
これはフローセルを交換した場合等にアライメント状態
を検査する際、有効である。なお、光位置検出器１０の
直前に前述したフローセルの大きさに対応した視野絞シ
を設けると両側壁面位置ｍ。
を検査する際、有効である。なお、光位置検出器１０の
直前に前述したフローセルの大きさに対応した視野絞シ
を設けると両側壁面位置ｍ。
ｎが明瞭となる。
ところで既述した実施例轄測定前の照射光の強度分布を
記憶させるものであるが光路中、照射光源とフローセル
の間にビームスプリッターヲ配シ、照射光を一部分岐さ
せて分岐された光路に光位置検出器を設は測定中の照射
光の強度分布を検出するよ５Ｋｌ、ても良い。
記憶させるものであるが光路中、照射光源とフローセル
の間にビームスプリッターヲ配シ、照射光を一部分岐さ
せて分岐された光路に光位置検出器を設は測定中の照射
光の強度分布を検出するよ５Ｋｌ、ても良い。
以上、本発明によれば、照射光の光強度分布及び測定粒
子の位置の測定を行な５ことによりその情報から測光量
の補正を行なうことによって精度の高い粒子解析を行な
うことができる。
子の位置の測定を行な５ことによりその情報から測光量
の補正を行なうことによって精度の高い粒子解析を行な
うことができる。
第１図はフローセル図、
第２図は従来例の説明図、
第６回状フロ一部内の被検粒子とレーザ光強度分布の関
係を示した図、 第４図、第５固状各々本発明の実施例の図、測光部のブ
なツク図、 第６図祉アジイメント状態を更に検出する変形例の図、 図中 ＩＦｉフローセル ２はフロ一部 ７．８轄光検知器 ９はバリヤフィルタ １０ａ光位−置検出器 １２はメモリ １３は補正部 である。
係を示した図、 第４図、第５固状各々本発明の実施例の図、測光部のブ
なツク図、 第６図祉アジイメント状態を更に検出する変形例の図、 図中 ＩＦｉフローセル ２はフロ一部 ７．８轄光検知器 ９はバリヤフィルタ １０ａ光位−置検出器 １２はメモリ １３は補正部 である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、流体中の粒子に光を照射し、その散乱光又は螢光を
受光して粒子解析を行なう装置において、照射光の強度
分布を検出する強度検出部と、粒子位置を検出する位置
検出部と、 該位置検出部で検出される粒子位置に応じて前記強度検
出部で検出される照射光の強度分布を基に前記受光され
る散乱光又は螢光の出力を補正する補正部を備えること
を特徴とする粒子解析装置。 ２、流体中の粒子に光を照射し、その散乱光又は螢光を
受光して粒子解析を行なう装置において、照射光の強度
分布を検出する強度分布検出部と、該強度分布検出部の
検出結果を記憶する記憶部と、 粒子位置を検出する位置検出部と、 該位置検出部で検出される粒子位置に応じて前記記憶部
に記憶される照射光の強度分布を基に前記受光される散
乱光又は螢光の出力を補正する補正部を備えることを特
徴とする粒子解析装置。 ３、前記強度分布検出部はアレイ型光電検出器である特
許請求の範囲第２項記載の粒子解析装置。 ４、前記記憶部はランダムアクセス型記憶素子である特
許請求の範囲第２項記載の粒子解析装置。 ５、照射光の強度分布を検出する毎にＲＡＭの内容を書
き換える特許請求の範囲第２項記載の粒子解析装置。 ６、照射光の強度分布と粒子位置の検出を同一の検出器
で時間を変えて行なう特許請求の範囲第２項記載の粒子
解析装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15064284A JPS6129738A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 粒子解析装置及び粒子解析方法 |
| US06/753,871 US4643566A (en) | 1984-07-20 | 1985-07-11 | Particle analyzing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15064284A JPS6129738A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 粒子解析装置及び粒子解析方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6129738A true JPS6129738A (ja) | 1986-02-10 |
| JPH0262179B2 JPH0262179B2 (ja) | 1990-12-25 |
Family
ID=15501308
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15064284A Granted JPS6129738A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 粒子解析装置及び粒子解析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6129738A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02310445A (ja) * | 1989-05-26 | 1990-12-26 | Fuji Electric Co Ltd | 微粒子測定における粒径分布の補正方法 |
| JP2009162660A (ja) * | 2008-01-08 | 2009-07-23 | Sony Corp | 検出方法及び検出装置 |
| WO2009098868A1 (ja) * | 2008-02-07 | 2009-08-13 | Mitsui Engineering & Shipbuilding Co., Ltd. | 蛍光検出装置及び蛍光検出方法 |
| WO2013183345A1 (ja) * | 2012-06-06 | 2013-12-12 | ソニー株式会社 | 微小粒子測定装置におけるデータ補正方法及び微小粒子測定装置 |
| JP5611493B1 (ja) * | 2012-12-03 | 2014-10-22 | 富士電機株式会社 | 粒子線成形装置 |
-
1984
- 1984-07-20 JP JP15064284A patent/JPS6129738A/ja active Granted
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02310445A (ja) * | 1989-05-26 | 1990-12-26 | Fuji Electric Co Ltd | 微粒子測定における粒径分布の補正方法 |
| JP2009162660A (ja) * | 2008-01-08 | 2009-07-23 | Sony Corp | 検出方法及び検出装置 |
| WO2009098868A1 (ja) * | 2008-02-07 | 2009-08-13 | Mitsui Engineering & Shipbuilding Co., Ltd. | 蛍光検出装置及び蛍光検出方法 |
| JP4489146B2 (ja) * | 2008-02-07 | 2010-06-23 | 三井造船株式会社 | 蛍光検出装置及び蛍光検出方法 |
| JPWO2009098868A1 (ja) * | 2008-02-07 | 2011-05-26 | 三井造船株式会社 | 蛍光検出装置及び蛍光検出方法 |
| US8049185B2 (en) | 2008-02-07 | 2011-11-01 | Mitsui Engineering & Shipbuilding Co., Ltd. | Fluorescence detection device and fluorescence detection method |
| WO2013183345A1 (ja) * | 2012-06-06 | 2013-12-12 | ソニー株式会社 | 微小粒子測定装置におけるデータ補正方法及び微小粒子測定装置 |
| CN104321635A (zh) * | 2012-06-06 | 2015-01-28 | 索尼公司 | 微粒测量装置中的数据校正方法和微粒测量装置 |
| JPWO2013183345A1 (ja) * | 2012-06-06 | 2016-01-28 | ソニー株式会社 | 微小粒子測定装置におけるデータ補正方法及び微小粒子測定装置 |
| JP2018025559A (ja) * | 2012-06-06 | 2018-02-15 | ソニー株式会社 | 微小粒子測定装置におけるデータ補正方法及び微小粒子測定装置 |
| CN104321635B (zh) * | 2012-06-06 | 2018-06-05 | 索尼公司 | 微粒测量装置中的数据校正方法和微粒测量装置 |
| US10371632B2 (en) | 2012-06-06 | 2019-08-06 | Sony Corporation | Data correction method in fine particle measuring device and fine particle measuring device |
| JP5611493B1 (ja) * | 2012-12-03 | 2014-10-22 | 富士電機株式会社 | 粒子線成形装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0262179B2 (ja) | 1990-12-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4643566A (en) | Particle analyzing apparatus | |
| US5194909A (en) | Apparatus and method for measuring volume and hemoglobin concentration of red blood cells | |
| JPH0810188B2 (ja) | 粒子状物質分析装置及び分析方法並びに超純水製造装置、半導体製造装置、高純度気体製造装置 | |
| JPS6129738A (ja) | 粒子解析装置及び粒子解析方法 | |
| JP4132692B2 (ja) | 粒径分布測定装置 | |
| JPH0843292A (ja) | コロイド状の媒体の薄層による散乱光の光度を測定する検知器 | |
| JPH03235037A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JP3151036B2 (ja) | サブミクロン粒子の検出方法および装置 | |
| JPH0564291B2 (ja) | ||
| JPH0213830A (ja) | 粒子測定装置 | |
| JPH0262178B2 (ja) | ||
| US6452676B1 (en) | Method for measuring a scattered light and method of urinalysis using the same | |
| JPH0277636A (ja) | 粒子測定装置 | |
| JPH0792076A (ja) | 粒子解析装置 | |
| EP1464966A1 (en) | Apparatus and method for determining the concentration and motility of light scattering particles | |
| US5126581A (en) | Particle measurement method and apparatus for determining corrected particle diameter | |
| JPS63201554A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPS61128140A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPH0372245A (ja) | 蛍光試薬で処理した試料を分析するための測定法および測光装置 | |
| JPH0783819A (ja) | 粒子測定装置 | |
| US6446020B1 (en) | Method of calibrating the sample height in a sample analyzer | |
| JPH0262180B2 (ja) | ||
| JPS6314295B2 (ja) | ||
| JPS6244649A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPS6151541A (ja) | 粒子解析用光学系 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |