JPS61289449A - 高速メモリ診断処理装置 - Google Patents

高速メモリ診断処理装置

Info

Publication number
JPS61289449A
JPS61289449A JP60132466A JP13246685A JPS61289449A JP S61289449 A JPS61289449 A JP S61289449A JP 60132466 A JP60132466 A JP 60132466A JP 13246685 A JP13246685 A JP 13246685A JP S61289449 A JPS61289449 A JP S61289449A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
data
exclusive
gate
bank
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60132466A
Other languages
English (en)
Inventor
Shu Itaya
板谷 周
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60132466A priority Critical patent/JPS61289449A/ja
Publication of JPS61289449A publication Critical patent/JPS61289449A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はメモリの診断に関し、特に高速メモリの診断に
使用する処理装置に関する。
(従来の技術) 従来 この種のメモリ診断装置では単位アドレスごとに
メモリへデータを書込み、胱出しを実行した後に書込み
データと読出しデータとを比較することによって診断を
実施していた。
(発明が解決しようとする問題点) 上述した従来のメモリ診断処理装置では単位アドレスご
とに診断を実行しているので、大容量メモリの診断を行
う場合には時間がかかるという欠点がある。
本発明の目的は、データ処理においてメモリ診断時に複
数のメモリバンクへデータを同時に書込み、複数のメモ
リバンクのデータを同時に読出して排他的論理和回路で
演算し、演算結果でメモリ診断を行うことKよって上記
欠点を除去し、診断処理時間を短縮できるように構成し
た高速メモリ診断処理装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明による高速メモリ診断処理装置は、記憶部と、診
断/通常モード切換えクリップフロップと、排他的論理
和ゲートと、ゲート手段とを具備して構成したものであ
る。
記憶部は複数のメモリバンクから成るものであや、診断
/通常モード切換えフリップフロップは記憶部の診断を
行う場合にのみ正論理となるものであり、排他的論理和
ゲートは記憶部の内容の演算を行うためのものである。
ゲート手段は、診断/通常モード切換えクリップフロッ
プが正論理であって、複数のメモリバンクのいずれか一
つに任意のデータを書込む場合にすべてのメモリバンク
にデータを同時に書込むとともに、複数のメモリバンク
のいずれか一つからデータを読出そうとした場合にすべ
てのメモリバンクのデータを排他的論理和ゲートで演算
し、演算した結果管データとして読出し、かつ、診断/
通常モード切換えフリップ20ツブが負論理であって、
複数のメモリバンクのいずれか一つに任意のデータを書
込む場合に、書込みを指定されたメモリバンクのみにデ
ータを書込むとともに、複数のメモリバンクのいずれか
一つからデータを読出そうとした場合に1読出しを指定
されたメモリバンクのみから実行するだめのものである
(実施例) 次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明による高速メモリ診断処理装置の一実
施例を示すブロック図である。第1図において、1はデ
ータバス、2はデコーダ、4は通常/診断モード切替え
フリップフロップ、5はANDゲート、61〜88.6
12〜614はそれぞれメモリチップ、101〜105
はそれぞれORゲート、11はANDゲート、12は排
他的論理和ゲート、151〜154はメモリバンクであ
る。
第1図において、一つのメモリバンク151は8個のメ
モリチップ61〜68から成立ち、メモリチップには1
6にビットの容量を有するメモリセルアレイが含まれて
いる。メモリバンク151は読み/書き可能なメモリの
単位である。診断/通常モード切替えクリップフロップ
4はSET信号が入力された場合に%IIを出力し、R
ESET信号が入力された場合に%Olを出力する7リ
ツ1フロツプである。
次に1動作について説明する。
メモリ診断プログラムが実行されると、まず診断/通常
モード切替えクリップフロップ4へSET信号が送出さ
れ、診断/通常モード切替えフリップフロップ4は%1
1を出力する。次に、メモリ診断プログラムがメモリバ
ンク161のアドレス0000Bへデータ00Hを書込
む場合には、信号線31上のバンクセレクト信号の状態
は%IIとなって診断/通常モード切替えフリップフロ
ップ4の出力は%llとなるため、ANDゲート5の出
力は%11となる。ANDゲート5の出力はORゲート
10の入力となっているため、メモリバンク151〜1
54のORゲート101〜103の出力も% 1gとな
り、それぞれメモリバンク161〜154に接続された
バンクセレクト信号線32〜34の状態も%IIとなる
。データバス14へ書込みデータOOHが出力されると
、メモリチップ61.612〜614の入力端子81〜
84を通してメモリバンク151のアドレスooooH
,メモリバンク152のアドレス4000H,メモリバ
ンク153のアドレス8000H1メモリバンク154
のアドレスcoooHへ同時にデータOOHが書込まれ
る。
次に、メモリバンク151のアドレスooooHからデ
ータを読出す場合、信号lll1ll上のバンクセレク
ト信号の状態は%1 z、診断/通常モード切替えフリ
ップ70ツブ4の出力状態は%11である。また、AN
Dゲート6の出力はORゲート10の入力となっている
ため、他のORゲートの出力も111となり、メモリバ
ンク152〜154のバンクセレクト信号の状態も11
1となる。信号線32〜34上でバンクセレクト信号の
状態は%IIとなっているため、メモリテップ61の出
力端子9から出力されるデータが%OIの場合にはAN
Dゲート11の出力は%QIとなり、111の場合には
% 11となる。ANDゲート11の出力は排他的論理
和ゲート12に入力されているため、メモリバンク15
1のアドレスooooH,メモリバンク152のアドレ
ス4oooH、メモリバンク165のアドレス8000
H、メモリバンク164のアドレスc000Hより成る
データの排他的論理和が演算される。演算結果はデータ
バス14へ出力される。
メモリチップ61.612〜614の出力が正常な場合
には排他的論理和は%OIとなるため、出力されるデー
タはOOHとなる。メモリチップ61.612〜614
のいずれかが異常な場合には排他的論理和は%IIとな
るため、出力されるデータはOOHとはならない。すな
わち、出力されたデータがOOHならば正常、ooHで
なければ異常と判断することができる。これによって、
メモリバンク151のアドレス0000)!、メモリバ
ンク152のアドレス4000H,メモリバンク153
のアドレス5oooH,ならびにメモリバンク154の
アドレスcoooHのデータ00Hに対する診断が終了
する。
7’  *tOOH〜FFHに変化させて診断すること
によって、アトL/、’、0000H、4oooH。
5oooH,ならびに(!0OOHのメモリ診断が終了
する。メモリバンク151のアドレスooooH〜8F
FFHの書込み/読出しを行って診断することによって
、すべてのメモリ(アドレス0OOOH〜3FFFH)
の診断が終了する。
最後に、診断/通常モード切替えフリップフロップ4に
対してRESET信号を送出するとANDゲート6の出
力は常に%O1となるため、デコーダ2から信号線31
〜S4上に送出されるバンクセレクト信号はそのiま各
メモリバンク151〜154へ入力される。すなわち、
アドレスに一対一に対応したメモリセルヘデータが書込
まれる。
また、データを読出す場合には、指定されていないバン
クセレクト信号は一〇lであるため、指定、されていな
いANDゲート11の出力は%QIとなる。指定された
メモリバンク151〜164に接続されたANDゲート
11の出力は、データが%IIの場合には%l #、 
% Q #の場合KVi%Olとなる。排他的論理和ゲ
ート12の出力は指定されていないメモリバンクからの
出力(% 0 #)と、指定されているメモリバンクか
らの出力(%11)との排他的論理和となるため、指定
されたメモリバンク161〜164のデータがそのまま
読出せる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、データ処理においてメモ
リ診断時に複数のメモリバンクへデータを同時に書込み
、複数のメモリバンクのデータを同時に読出して排他的
論理和ゲートで演算し、演算結果でメモリを診断するこ
とによりメモリ診断時間を大幅に短縮できるという効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による高速メモリ診断処理装置の一実
施例を示すブロック図である。 1.14・・・・データバス 2・@−デコーダ 4・・・通常/診断モード切替えフリップフロップ 5.11 ・・・ANDゲート 61〜68,612〜614・・メモリチップ101〜
103φ・−ORゲート 12・・・排他的論理和ゲート 151〜154・O・メモリバンク 13.31〜34・・−信号線

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数のメモリバンクから成る記憶部と、前記記憶部の診
    断を行う場合にのみ正論理となる診断/通常モード切換
    えフリップフロップと、前記記憶部の内容の演算を行う
    ための排他的論理和ゲートと、前記診断/通常モード切
    換えフリップフロップが正論理であつて、前記複数のメ
    モリバンクのいずれか一つに任意のデータを書込む場合
    にすべてのメモリバンクにデータを同時に書込むととも
    に、前記複数のメモリバンクのいずれか一つからデータ
    を読出そうとした場合にすべてのメモリバンクのデータ
    を前記排他的論理和ゲートで演算し、演算した結果をデ
    ータとして読出し、かつ、前記診断/通常モード切換え
    フリップフロップが負論理であつて、前記複数のメモリ
    バンクのいずれか一つに任意のデータを書込む場合に、
    前記書込みを指定されたメモリバンクのみにデータを書
    込むとともに、前記複数のメモリバンクのいずれか一つ
    からデータを読出そうとした場合に、前記読出しを指定
    されたメモリバンクのみから実行するためのゲート手段
    とを具備して構成したこと、を特徴とする高速メモリ診
    断処理装置。
JP60132466A 1985-06-18 1985-06-18 高速メモリ診断処理装置 Pending JPS61289449A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60132466A JPS61289449A (ja) 1985-06-18 1985-06-18 高速メモリ診断処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60132466A JPS61289449A (ja) 1985-06-18 1985-06-18 高速メモリ診断処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61289449A true JPS61289449A (ja) 1986-12-19

Family

ID=15082031

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60132466A Pending JPS61289449A (ja) 1985-06-18 1985-06-18 高速メモリ診断処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61289449A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05342114A (ja) * 1992-06-05 1993-12-24 Mitsubishi Electric Corp メモリ装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05342114A (ja) * 1992-06-05 1993-12-24 Mitsubishi Electric Corp メモリ装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2538067B2 (ja) 条件書き込み手段を有するランダム・アクセス・メモリ回路
JPS605498A (ja) 連想メモリ装置
JP2549209B2 (ja) 半導体記憶装置
JPS58105366A (ja) デバツグ機能を持つマイクロコンピユ−タ
JPH06131253A (ja) メモリワードの管理回路
JP3872922B2 (ja) 半導体記憶装置及びメモリ混載ロジックlsi
JPS61289449A (ja) 高速メモリ診断処理装置
JPS58189750A (ja) メモリ装置
JPH01138694A (ja) メモリ装置
SU951399A1 (ru) Устройство дл записи информации в запоминающее устройство
US4077029A (en) Associative memory
JPS61276046A (ja) メモリ診断機能付デ−タ処理装置
SU1608754A1 (ru) Запоминающее устройство с самоконтролем
KR920008597A (ko) 마이크로 컴퓨터
JPH0235700A (ja) メモリ回路
SU696541A1 (ru) Запоминающее устройство
JPH0352160B2 (ja)
SU822293A1 (ru) Буферное запоминающее устройство
JPH06105555B2 (ja) Ram回路
JPS6122334B2 (ja)
JPH0329199A (ja) 半導体メモリ
JPS60113392A (ja) 半導体メモリ装置
JPS5927937B2 (ja) 情報処理回路
JPS6396797A (ja) 半導体メモリ
JPS6118832B2 (ja)