JPS61267923A - 磁気記憶体 - Google Patents
磁気記憶体Info
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- JPS61267923A JPS61267923A JP10866885A JP10866885A JPS61267923A JP S61267923 A JPS61267923 A JP S61267923A JP 10866885 A JP10866885 A JP 10866885A JP 10866885 A JP10866885 A JP 10866885A JP S61267923 A JPS61267923 A JP S61267923A
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Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は磁気記憶装置t(磁気ディスク装置及び磁気ド
ラム装置及び70ツビイー装置及び磁気テープ等)に用
いられる磁気記憶体に関するものである。
ラム装置及び70ツビイー装置及び磁気テープ等)に用
いられる磁気記憶体に関するものである。
(従来技術とその問題点)
χ 現在、スパッタ薄膜媒体からなる磁気
記憶体は、非磁性金属下地層のクロム・スパッタ膜上の
Co−Niスパッタ膜が実用化されている。しかし、こ
むで非磁性金属下地層として用いられるクロム畳スパッ
タ膜は突起やひび割れが多く、ヘッド・クラッシュを起
こしやすく、信頼性に欠けている。
記憶体は、非磁性金属下地層のクロム・スパッタ膜上の
Co−Niスパッタ膜が実用化されている。しかし、こ
むで非磁性金属下地層として用いられるクロム畳スパッ
タ膜は突起やひび割れが多く、ヘッド・クラッシュを起
こしやすく、信頼性に欠けている。
さらに、ひび割れから水分が浸入しやすく、十分な耐候
性を有していない欠点があった。
性を有していない欠点があった。
(発明の目的)
本発明は上述の現況に鑑がみ、上記の媒体よシはるかに
信頼性が高く、十分な耐候性を有する磁気記憶体を提供
するものである。
信頼性が高く、十分な耐候性を有する磁気記憶体を提供
するものである。
(発明の構成)
本発明の磁気記憶体は下地体の上に非磁性金属下地層と
して6a崇合金が被覆され、該非磁性金属層上に、少な
くともコバルトを含む合金薄膜媒体が被覆されて構成さ
れている。
して6a崇合金が被覆され、該非磁性金属層上に、少な
くともコバルトを含む合金薄膜媒体が被覆されて構成さ
れている。
(構成の詳細な説明)
次に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の磁気記憶体の部分断面図で下地体1は
アルミ合金又は陽極酸化アルマイト、ニッケルー燐鍍金
膜等を被覆したアルミ合金又は窒化ケイ素、酸化アルミ
、酸化アルミと炭化チタン焼結体などのセラミックス又
は811 ステンレス、チタン合金などの金属又はガラ
ス板又はプラスチックフィルムである。
アルミ合金又は陽極酸化アルマイト、ニッケルー燐鍍金
膜等を被覆したアルミ合金又は窒化ケイ素、酸化アルミ
、酸化アルミと炭化チタン焼結体などのセラミックス又
は811 ステンレス、チタン合金などの金属又はガラ
ス板又はプラスチックフィルムである。
次に、この下地体1の上に非磁性金属下地層2として6
a族合金がたとえば高周波マグネトロンスパッタ法によ
り被覆される。
a族合金がたとえば高周波マグネトロンスパッタ法によ
り被覆される。
次に上記非磁性金属下地層2の上に金属磁性媒体3とし
て少なくともコバルトを含む合金からなる合金薄膜媒体
が高周波マグネトロンスパッタ法により被覆される。こ
のようにして作られた合金薄膜媒体は保磁力(Hc)5
000e (エルステッド)以上、角形比(Br/Hg
)α75〜0.98s保磁力角形比(S*)0.75〜
0.98の範囲にあり、磁気記憶体としてflrしたヒ
ステリシス特性を示す。さらに、上記合金薄膜媒体3の
上に保護膜を被覆し、該保護膜の上に潤滑剤を塗布して
もよい。
て少なくともコバルトを含む合金からなる合金薄膜媒体
が高周波マグネトロンスパッタ法により被覆される。こ
のようにして作られた合金薄膜媒体は保磁力(Hc)5
000e (エルステッド)以上、角形比(Br/Hg
)α75〜0.98s保磁力角形比(S*)0.75〜
0.98の範囲にあり、磁気記憶体としてflrしたヒ
ステリシス特性を示す。さらに、上記合金薄膜媒体3の
上に保護膜を被覆し、該保護膜の上に潤滑剤を塗布して
もよい。
第2図は合金薄膜媒体(80Co−2ONi)の保磁力
の、非磁性金属下地層としての68族元素を2以上含む
合金及びクロム単体の厚さに対する変化を示したもので
、6a族元素を2以上含む合金の方がクロムより少ない
膜厚で高い保磁力が得られ、よシ高密度に記録できる磁
気記憶体として使用できる。またクロム、モリブデン、
タングステンの単体金属よシ、これらの合金を下地層と
して用いたほうが高い保磁力が得られ、よシ高密度に記
録できる磁気記憶体となる。
の、非磁性金属下地層としての68族元素を2以上含む
合金及びクロム単体の厚さに対する変化を示したもので
、6a族元素を2以上含む合金の方がクロムより少ない
膜厚で高い保磁力が得られ、よシ高密度に記録できる磁
気記憶体として使用できる。またクロム、モリブデン、
タングステンの単体金属よシ、これらの合金を下地層と
して用いたほうが高い保磁力が得られ、よシ高密度に記
録できる磁気記憶体となる。
次に具体的に実施例及び比較例によシ本発明を説明する
。
。
(実施例)
アルミ合金の上にニッケルー燐鍍金膜が被覆され、表面
粗さα5μmに鏡面仕上げされた下地体1の上に金属下
地層2としてモリブデン′t−5°0原子パーセント含
むクロム合金を高周波マグネトロンスパッタ法により0
.3μm被覆した。次にこの金属下地層2の上に金属磁
性媒体3として高周波マグネトロンスパッタ法によシ膜
厚gQnmのニッケルを20原子パーセント含むコバル
ト合金薄膜媒体を被覆した。さらにこの合金薄膜媒体3
の上に(Slum) ”It 30nmの膜厚に高周波
マグネトロンスパッタ法によシ被覆して磁気ディスクを
作った。
粗さα5μmに鏡面仕上げされた下地体1の上に金属下
地層2としてモリブデン′t−5°0原子パーセント含
むクロム合金を高周波マグネトロンスパッタ法により0
.3μm被覆した。次にこの金属下地層2の上に金属磁
性媒体3として高周波マグネトロンスパッタ法によシ膜
厚gQnmのニッケルを20原子パーセント含むコバル
ト合金薄膜媒体を被覆した。さらにこの合金薄膜媒体3
の上に(Slum) ”It 30nmの膜厚に高周波
マグネトロンスパッタ法によシ被覆して磁気ディスクを
作った。
保磁力Hc、残留磁束密度Br (Hs*d)はそれぞ
れs 650tle% 13KGであった。さらに構成
部分を以下のように変更した試料を作製した。なお以下
の膜厚は前述の値と同じである。
れs 650tle% 13KGであった。さらに構成
部分を以下のように変更した試料を作製した。なお以下
の膜厚は前述の値と同じである。
合金薄膜媒体3としてニッケルを30原子パーセント含
むコバルト合金薄膜媒体を被覆して、磁気ディスクを作
った。)fc%Brはそれぞれ7000e 。
むコバルト合金薄膜媒体を被覆して、磁気ディスクを作
った。)fc%Brはそれぞれ7000e 。
12500Gであった。
金属下地層2の50Mo−50Crを0.5μm被覆し
て磁気ディスクを作った。l(c、Brはそれぞれ70
00e、13KGであった。
て磁気ディスクを作った。l(c、Brはそれぞれ70
00e、13KGであった。
下地体lとしてアルミ合金を陽極酸化によシは化アルミ
ta*して磁気ディスクを作った。
ta*して磁気ディスクを作った。
保護膜としてカーボンをスパッタ法によシ被覆して磁気
ディスクを作った。
ディスクを作った。
合金薄膜媒体3として、ニッケルを40原子パーセント
含むコバルト合金薄膜媒体を被覆して磁気ディスクを作
っ九。
含むコバルト合金薄膜媒体を被覆して磁気ディスクを作
っ九。
金属薄膜媒体3として、ニッケルを30原子パーセント
及びクロムを7原子パ一セント同時に含むコバルト合金
薄膜媒体を被覆して磁気ディスクを作った。
及びクロムを7原子パ一セント同時に含むコバルト合金
薄膜媒体を被覆して磁気ディスクを作った。
合金薄膜媒体3として、ニッケルを20原子パーセント
及びモリブデンを10原子パ一セント同時に含むコバル
ト合金薄膜媒体を被覆して磁気ディスクを作った。
及びモリブデンを10原子パ一セント同時に含むコバル
ト合金薄膜媒体を被覆して磁気ディスクを作った。
合金薄膜媒体3として、ニッケルを20原子パーセント
及びタングステンを10Jgt子パーセント同時に含む
コバルト合金薄膜媒体を被覆して磁気ディスクを作った
。
及びタングステンを10Jgt子パーセント同時に含む
コバルト合金薄膜媒体を被覆して磁気ディスクを作った
。
金属下地層2として、モリブデンを50原子パーセント
含むタングステンを被覆して磁気ディスクを作り友。
含むタングステンを被覆して磁気ディスクを作り友。
全域下地層2として、クロムを50原子パーセント含む
タングステンに41覆して磁気ディスク作った。
タングステンに41覆して磁気ディスク作った。
金属下地層2として、クロムを20原子パー七ント言む
モリブデンを被覆して磁気ディスクを作った。
モリブデンを被覆して磁気ディスクを作った。
下地体lとしてポリイミドフィルムとして磁気ディスク
を作った。
を作った。
(比較例)
実施例1と同様に但し、金属下地層2として、クロムを
被覆して磁気ディスクを作った。これ以外は最先の試料
と同じ構成にした。14c、Brはそれぞれ5000e
、131(Gでhつだ。
被覆して磁気ディスクを作った。これ以外は最先の試料
と同じ構成にした。14c、Brはそれぞれ5000e
、131(Gでhつだ。
以上、実施例で示した磁気ディスクを用いて電磁変換特
性及びヘッドとの摩耗試験は2万回のコンタクト・スタ
ートストップテストを行い、ディスク表面に傷は全く見
られなかった。又、環境試験について、温度90℃、相
対湿度90%で−1か月行ったところ、エラー増加率は
変わらなかった。一方、比較例に対しても同様な摩耗試
験及び環境試験を行ったところ、コンタクト・スタート
ストップテストでは、5000回を過ぎると傷が生じ、
ヘッドクラッシュを起こしてしまった。環境試験につい
ては、クロム膜と下地体の境から浮き上がり、エラーの
測定が困難と;tった。
性及びヘッドとの摩耗試験は2万回のコンタクト・スタ
ートストップテストを行い、ディスク表面に傷は全く見
られなかった。又、環境試験について、温度90℃、相
対湿度90%で−1か月行ったところ、エラー増加率は
変わらなかった。一方、比較例に対しても同様な摩耗試
験及び環境試験を行ったところ、コンタクト・スタート
ストップテストでは、5000回を過ぎると傷が生じ、
ヘッドクラッシュを起こしてしまった。環境試験につい
ては、クロム膜と下地体の境から浮き上がり、エラーの
測定が困難と;tった。
また、電磁変換特性は実施例のディスクについて、30
000〜70000BPI の高密度記録ができ。
000〜70000BPI の高密度記録ができ。
かつ、30dB以上の優れたSN比が得られたが、比較
例のディスクについては20000HPIと高密度記録
は達成できず、かつ、8N比が20dBと実施例の8N
比よ#)10dBも悪かった。なお3種類の6a施金属
からなる合金も前述とかわらない効果があった。
例のディスクについては20000HPIと高密度記録
は達成できず、かつ、8N比が20dBと実施例の8N
比よ#)10dBも悪かった。なお3種類の6a施金属
からなる合金も前述とかわらない効果があった。
(発明の効果)
以上の結果から本発明の磁気記憶体は優れた耐摩耗性及
び耐環境性及び高記録密度特性を有していることがわか
った。
び耐環境性及び高記録密度特性を有していることがわか
った。
第1図は本発明の実施例を示す部分断面図である。図中
、1は下地体、2は非磁性金属下地層、3はCoを含む
合金薄膜媒体である。 第2図は合金薄膜媒体(80Co−2ONi)の保磁力
の、金属下地層の6a族元素t−2以上含む合金及びク
ロム単体の厚さに対する変化を示した特性第2図
、1は下地体、2は非磁性金属下地層、3はCoを含む
合金薄膜媒体である。 第2図は合金薄膜媒体(80Co−2ONi)の保磁力
の、金属下地層の6a族元素t−2以上含む合金及びク
ロム単体の厚さに対する変化を示した特性第2図
Claims (1)
- 下地体の上に非磁性金属下地層としてクロム、モリブデ
ン、タングステンのうちの2以上からなる合金が被覆さ
れ、該非磁性金属下地層上に少なくともコバルトを含む
合金薄膜媒体が被覆されて構成されたことを特徴とする
磁気記憶体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10866885A JPS61267923A (ja) | 1985-05-21 | 1985-05-21 | 磁気記憶体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10866885A JPS61267923A (ja) | 1985-05-21 | 1985-05-21 | 磁気記憶体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61267923A true JPS61267923A (ja) | 1986-11-27 |
Family
ID=14490649
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10866885A Pending JPS61267923A (ja) | 1985-05-21 | 1985-05-21 | 磁気記憶体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61267923A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63273208A (ja) * | 1987-04-30 | 1988-11-10 | Hoya Corp | 磁気記録媒体 |
JPH01144209A (ja) * | 1987-12-01 | 1989-06-06 | Denki Kagaku Kogyo Kk | 磁気記録媒体 |
JPH0613237A (ja) * | 1990-12-21 | 1994-01-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 磁気記録媒体及びその保磁率を増加する方法 |
-
1985
- 1985-05-21 JP JP10866885A patent/JPS61267923A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63273208A (ja) * | 1987-04-30 | 1988-11-10 | Hoya Corp | 磁気記録媒体 |
JPH01144209A (ja) * | 1987-12-01 | 1989-06-06 | Denki Kagaku Kogyo Kk | 磁気記録媒体 |
JPH0613237A (ja) * | 1990-12-21 | 1994-01-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 磁気記録媒体及びその保磁率を増加する方法 |
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