JPS61256658A - 電気絶縁性基板材料の製造方法 - Google Patents
電気絶縁性基板材料の製造方法Info
- Publication number
- JPS61256658A JPS61256658A JP60097596A JP9759685A JPS61256658A JP S61256658 A JPS61256658 A JP S61256658A JP 60097596 A JP60097596 A JP 60097596A JP 9759685 A JP9759685 A JP 9759685A JP S61256658 A JPS61256658 A JP S61256658A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- powder
- silicon carbide
- aluminum nitride
- mixture
- thermal conductivity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 22
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 14
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 22
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims abstract description 19
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims abstract description 12
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 10
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 abstract description 15
- 239000008240 homogeneous mixture Substances 0.000 abstract description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 abstract description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract description 2
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 6
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 4
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 238000007731 hot pressing Methods 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 2-iodoquinoline Chemical compound C1=CC=CC2=NC(I)=CC=C21 FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N beryllium oxide Inorganic materials O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000011812 mixed powder Substances 0.000 description 1
- 238000001272 pressureless sintering Methods 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 230000001988 toxicity Effects 0.000 description 1
- 231100000419 toxicity Toxicity 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4803—Insulating or insulated parts, e.g. mountings, containers, diamond heatsinks
- H01L21/4807—Ceramic parts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/15—Ceramic or glass substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、IC,LSI等に使用される基板材料に関し
、特に高い電気絶縁性と低い誘電率を有し、且つ高い熱
伝導率を有するセラミックス電気絶縁性基板材料に関す
る。
、特に高い電気絶縁性と低い誘電率を有し、且つ高い熱
伝導率を有するセラミックス電気絶縁性基板材料に関す
る。
従来、電気絶縁性基板にはアルミナ(AQ□0□)が広
く用いられており、また、特に熱放散性を重視する場合
には、酸化ベリリウム(Bad)系セラミックスが使用
されている。しかし、集積回路用基板は集積度が高まる
につれて、高い放熱性が要求され、アルミナ系基板は、
かかる要求を満たすことができないので、大規模集積回
路の基板としては使用し得ない。また、 BaO系基板
は、その有害性が問題となっており、安全性の面から、
その使用は著しく制限されている。
く用いられており、また、特に熱放散性を重視する場合
には、酸化ベリリウム(Bad)系セラミックスが使用
されている。しかし、集積回路用基板は集積度が高まる
につれて、高い放熱性が要求され、アルミナ系基板は、
かかる要求を満たすことができないので、大規模集積回
路の基板としては使用し得ない。また、 BaO系基板
は、その有害性が問題となっており、安全性の面から、
その使用は著しく制限されている。
一般に、セラミックスは高い電気抵抗と低い誘電率を有
するが、熱伝導率が小さく、そのため、特に、最近、当
該技術分野において強く要望されているLSIや超LS
I等の基板としては不適切である。大規模集積回路用基
板は、前述の如く、高い電気絶縁性と大きな熱伝導率及
び可及的低い誘電率が要求され、これらをすべて満たし
うる材料の開発が急がれている。
するが、熱伝導率が小さく、そのため、特に、最近、当
該技術分野において強く要望されているLSIや超LS
I等の基板としては不適切である。大規模集積回路用基
板は、前述の如く、高い電気絶縁性と大きな熱伝導率及
び可及的低い誘電率が要求され、これらをすべて満たし
うる材料の開発が急がれている。
従って1本発明の目的は、セラミックスの優れた特性を
利用し、その欠点、特に熱伝導率を顕著に向上させたL
SI等に使用しうる上記性質を満たした絶縁基板を提供
するにある。また、他の目的は、ポピユラーな原料を用
いて安価に提供でき。
利用し、その欠点、特に熱伝導率を顕著に向上させたL
SI等に使用しうる上記性質を満たした絶縁基板を提供
するにある。また、他の目的は、ポピユラーな原料を用
いて安価に提供でき。
製造及び使用において安全性がそこなわれることのない
LSI等用セラミックス基板を提供することにある。
LSI等用セラミックス基板を提供することにある。
本発明者らは、上記目的を達成すべく、多くの試作研究
を行った結果、高い電気抵抗性と低い誘電性を有し、し
かも高い熱伝導率をもった実用性の優れた新規セラミッ
クスを見出した。
を行った結果、高い電気抵抗性と低い誘電性を有し、し
かも高い熱伝導率をもった実用性の優れた新規セラミッ
クスを見出した。
すなわち1本発明は、炭化けい素粉末2〜85重量%と
窒化アルミニウム粉末15〜98重量%との混合物を焼
結して成る電気絶縁性基板材料を提供する。
窒化アルミニウム粉末15〜98重量%との混合物を焼
結して成る電気絶縁性基板材料を提供する。
本発明の基板材料の形成に用いられる原料は、入手が容
易な炭化けい素及び窒化アルミニウムであって、可及的
高純度のものが使用される。
易な炭化けい素及び窒化アルミニウムであって、可及的
高純度のものが使用される。
本発明の基板材料は、炭化けい素SiC粉末2〜85重
量%と窒化アルミニウムAQN粉末98〜15重量%と
の均質混合物を成形、焼結してつくられるが、できるだ
け微細な粉末混合物が有利に用いられる。その好ましい
平均粒径は、AQN粉末が10nm以下で、 SiC粉
末は1100n以下である。
量%と窒化アルミニウムAQN粉末98〜15重量%と
の均質混合物を成形、焼結してつくられるが、できるだ
け微細な粉末混合物が有利に用いられる。その好ましい
平均粒径は、AQN粉末が10nm以下で、 SiC粉
末は1100n以下である。
炭化けい素粉末が85重量%を超えると、誘電率が10
0以上となり、また2重量%未満では、炭化けい素の特
長である熱伝導率が有効に作用しないので好ましくない
、炭化けい素と窒化アルミニウムの好ましい混合範囲割
合は70〜80重量%対20〜30重量%である。
0以上となり、また2重量%未満では、炭化けい素の特
長である熱伝導率が有効に作用しないので好ましくない
、炭化けい素と窒化アルミニウムの好ましい混合範囲割
合は70〜80重量%対20〜30重量%である。
微粉状物質混合物は1次いで1例えば2000℃以上の
高温条件で焼結される。このような高温焼結は、いわゆ
る常圧焼結のような方法を用いてもいいが、ホットプレ
スなどが有利に採用できる。焼結温度が、例えば190
0℃以下の低い温度では、焼結体の電気絶縁性が極度に
低下するので好ましくない。
高温条件で焼結される。このような高温焼結は、いわゆ
る常圧焼結のような方法を用いてもいいが、ホットプレ
スなどが有利に採用できる。焼結温度が、例えば190
0℃以下の低い温度では、焼結体の電気絶縁性が極度に
低下するので好ましくない。
また、この焼結は、焼結時の加圧条件には実質的に関係
がなく、本発明者らの研究によれば1例えば、焼結温度
を一定にして、圧力を常圧ないし200気圧の各種加圧
条件で焼結した焼結体の電気抵抗値は、圧力の大きさと
は関係がなく、はぼ一定であった。
がなく、本発明者らの研究によれば1例えば、焼結温度
を一定にして、圧力を常圧ないし200気圧の各種加圧
条件で焼結した焼結体の電気抵抗値は、圧力の大きさと
は関係がなく、はぼ一定であった。
本発明の電気絶縁性基板材料は、炭化けい素粉末と窒化
アルミニウム粉末混合物に、バインダーその他の添加物
を全く加えることなく、焼結によって容易に焼結体を製
造することができる。また。
アルミニウム粉末混合物に、バインダーその他の添加物
を全く加えることなく、焼結によって容易に焼結体を製
造することができる。また。
本発明の材料は、例えば印加電圧10Vでは、 10”
〜1016Ω・lオーダーの高い電気絶縁性、周波数I
MHzで10〜12程度の低い誘電率及び0.15Ca
Q/(M’s・℃程度以上の高い熱伝導度を有し、大規
模集積回路等の絶縁基板として好適に使用できるもので
ある。絶縁基板には、社会的要求に沿って半導体チップ
等の回路構成要素が、ますます高密度に形成されるよう
になってきたが、本発明の基板材料は、そのような要求
にも対応しうる実用性の優れたSiC/AQN系複合セ
ラミックス材料である。
〜1016Ω・lオーダーの高い電気絶縁性、周波数I
MHzで10〜12程度の低い誘電率及び0.15Ca
Q/(M’s・℃程度以上の高い熱伝導度を有し、大規
模集積回路等の絶縁基板として好適に使用できるもので
ある。絶縁基板には、社会的要求に沿って半導体チップ
等の回路構成要素が、ますます高密度に形成されるよう
になってきたが、本発明の基板材料は、そのような要求
にも対応しうる実用性の優れたSiC/AQN系複合セ
ラミックス材料である。
次に、実施例により本発明を更に詳細に説明する。
実施例1
信越化学社製の炭化けい素(純度99.999%ただし
、ガス不純物は除く)微粉末24重量%と市販の窒化ア
ルミニウム粉末76重量%をボールミルを用いて2時間
混合した。得られた均質混合粉末をホットプレスにより
、200kg/atの圧力及び2300℃の温度で1時
間焼結させ、SiC/A Q N系複合焼結体を得た。
、ガス不純物は除く)微粉末24重量%と市販の窒化ア
ルミニウム粉末76重量%をボールミルを用いて2時間
混合した。得られた均質混合粉末をホットプレスにより
、200kg/atの圧力及び2300℃の温度で1時
間焼結させ、SiC/A Q N系複合焼結体を得た。
得られた焼結体は、 3.12g/ccの密度を有し。
印加電圧10Vで測定した電気抵抗は、1.OX 10
”Ω・am、IMHzで測定した誘電率は12.0、熱
伝導度は0.15CaQ/cs・S・℃で、大規模集積
回路用基板として好適に使用できるものである。
”Ω・am、IMHzで測定した誘電率は12.0、熱
伝導度は0.15CaQ/cs・S・℃で、大規模集積
回路用基板として好適に使用できるものである。
上記焼結体のX線回折によれば、その回折パターンは窒
化アルミニウム粉末と酷似し、その組織は、はぼ−相か
ら成っていて、SICとAQNとの固溶体が形成されて
いることが観察され、このような焼結状態のゆえに、焼
結体はAQNの構造をとりながら、 SiCの高い熱伝
導率特性が保持されているものと理解される。
化アルミニウム粉末と酷似し、その組織は、はぼ−相か
ら成っていて、SICとAQNとの固溶体が形成されて
いることが観察され、このような焼結状態のゆえに、焼
結体はAQNの構造をとりながら、 SiCの高い熱伝
導率特性が保持されているものと理解される。
実施例2
実施例 1の炭化けい素及び窒化アルミニウムを用い、
それらの配合割合を種々変化させた各種粉末混合物を調
製して、それぞれを2300℃の温度で常圧焼結し、各
焼結体の誘電率(IMHz)及び熱伝導率を測定した。
それらの配合割合を種々変化させた各種粉末混合物を調
製して、それぞれを2300℃の温度で常圧焼結し、各
焼結体の誘電率(IMHz)及び熱伝導率を測定した。
その結果を原料粉末組成と共に下掲第1表にまとめて示
す。
す。
また、それら各焼結体試料の電気抵抗をIOVの印加電
圧で測定した。それらの結果を添付図面第1図にグラフ
で示した。
圧で測定した。それらの結果を添付図面第1図にグラフ
で示した。
本発明の基板材料は、上記具体例における各種測定値か
ら明らかなように、LSIや超LSIに要求される諸性
能を兼備し、特に望ましい熱伝導性を有するので、その
実用的価値は極めて高く、優れた産業上の利用性を有す
る。
ら明らかなように、LSIや超LSIに要求される諸性
能を兼備し、特に望ましい熱伝導性を有するので、その
実用的価値は極めて高く、優れた産業上の利用性を有す
る。
第 1 表
試料 AΩN含有誘電率 熱伝導度
No、 率(重量%) (IMHz) (Cal/c
Ia−s ・”C)1 0.12 510
0.192 0.52 360 0.193
15.2 120 0.174 46
.0 40 0.165 61.0
20 0.156 70.0 12
0.157 76.2 12 0.158
80.0 10 0.149 98
.0 11 0.1310 100
8 0.10
Ia−s ・”C)1 0.12 510
0.192 0.52 360 0.193
15.2 120 0.174 46
.0 40 0.165 61.0
20 0.156 70.0 12
0.157 76.2 12 0.158
80.0 10 0.149 98
.0 11 0.1310 100
8 0.10
第1図は、5iC−AΩN系焼結体のIN含量(重量%
)と電気抵抗(Ω・3)との関係を示すグラフである。
)と電気抵抗(Ω・3)との関係を示すグラフである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、炭化けい素粉末2〜85重量%と窒化アルミニウム
粉末15〜98重量%との混合物を焼結して成る電気絶
縁性基板材料。 2、焼結温度が2000〜2400℃である特許請求の
範囲第1項記載の基板材料。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60097596A JPS61256658A (ja) | 1985-05-08 | 1985-05-08 | 電気絶縁性基板材料の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60097596A JPS61256658A (ja) | 1985-05-08 | 1985-05-08 | 電気絶縁性基板材料の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61256658A true JPS61256658A (ja) | 1986-11-14 |
JPH0482059B2 JPH0482059B2 (ja) | 1992-12-25 |
Family
ID=14196615
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60097596A Granted JPS61256658A (ja) | 1985-05-08 | 1985-05-08 | 電気絶縁性基板材料の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61256658A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000327424A (ja) * | 1999-05-12 | 2000-11-28 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 窒化アルミニウム基焼結体とその製造方法及びそれを用いたサセプター |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59111978A (ja) * | 1982-12-16 | 1984-06-28 | 株式会社東芝 | 電気絶縁性放熱基板材料 |
JPS605551A (ja) * | 1983-06-23 | 1985-01-12 | Shinko Electric Ind Co Ltd | リ−ドフレ−ムの製造方法 |
JPS6027653A (ja) * | 1983-07-21 | 1985-02-12 | 株式会社日立製作所 | セラミツク抵抗材料 |
JPS6036376A (ja) * | 1983-08-08 | 1985-02-25 | 株式会社日立製作所 | 炭化ケイ素系抵抗材料及びその製造方法 |
-
1985
- 1985-05-08 JP JP60097596A patent/JPS61256658A/ja active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59111978A (ja) * | 1982-12-16 | 1984-06-28 | 株式会社東芝 | 電気絶縁性放熱基板材料 |
JPS605551A (ja) * | 1983-06-23 | 1985-01-12 | Shinko Electric Ind Co Ltd | リ−ドフレ−ムの製造方法 |
JPS6027653A (ja) * | 1983-07-21 | 1985-02-12 | 株式会社日立製作所 | セラミツク抵抗材料 |
JPS6036376A (ja) * | 1983-08-08 | 1985-02-25 | 株式会社日立製作所 | 炭化ケイ素系抵抗材料及びその製造方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000327424A (ja) * | 1999-05-12 | 2000-11-28 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 窒化アルミニウム基焼結体とその製造方法及びそれを用いたサセプター |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0482059B2 (ja) | 1992-12-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20170061755A (ko) | 알루미나 복합체 세라믹스 조성물 및 그의 제조방법 | |
JPS63190761A (ja) | 窒化アルミニウム質焼結体 | |
JPS61256658A (ja) | 電気絶縁性基板材料の製造方法 | |
JPH0616477A (ja) | 半導体装置実装用低温焼結型磁器の製造方法 | |
JPS61291480A (ja) | 窒化アルミニウム製基材の表面処理組成物 | |
KR100404815B1 (ko) | 세라믹 물질 기판 | |
JPS5891059A (ja) | 複合セラミツクス焼結体及びその製造方法 | |
JPS63265858A (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
JPS61286267A (ja) | 窒化アルミニウム質焼結体の製造方法 | |
JP2710311B2 (ja) | セラミツク絶縁材料 | |
JP3049941B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結体の製造方法 | |
JP2605045B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結体 | |
JPS61261270A (ja) | 窒化アルミニウム焼結体の製造方法 | |
JPS6236066A (ja) | 炭化珪素質焼結体およびその製造方法 | |
JPH0676255B2 (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
JP3134437B2 (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
JPS62171964A (ja) | 窒化アルミニウム系焼結体 | |
JPS6230663A (ja) | 電子回路基板用材料 | |
JP2891518B2 (ja) | 窒化アルミニウム多層配線板の製造方法 | |
JPS6369761A (ja) | 窒化アルミニウム質焼結体の製造方法 | |
CN118026648A (zh) | 一种高强度低损耗氧化铝陶瓷及其制备方法和应用 | |
JPH09124369A (ja) | 窒化アルミニウム焼結体 | |
JP3341782B2 (ja) | セラミックス基板およびその製造方法 | |
JPH05238858A (ja) | 配線用金属ペーストおよびそれを用いたセラミックス同時焼成基板の製造方法 | |
JPS5969474A (ja) | 高熱伝導性セラミツクスの製造方法 |