JPS61240146A - X線による被測定物の組成分析方法 - Google Patents

X線による被測定物の組成分析方法

Info

Publication number
JPS61240146A
JPS61240146A JP60082078A JP8207885A JPS61240146A JP S61240146 A JPS61240146 A JP S61240146A JP 60082078 A JP60082078 A JP 60082078A JP 8207885 A JP8207885 A JP 8207885A JP S61240146 A JPS61240146 A JP S61240146A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measured
rays
article
collimators
composition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP60082078A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0721469B2 (ja
Inventor
Yukio Komura
幸夫 香村
Yoshimasa Masukata
舛方 義政
Hisashi Koaizawa
小相沢 久
Fumihiko Abe
文彦 安倍
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Furukawa Electric Co Ltd filed Critical Furukawa Electric Co Ltd
Priority to JP60082078A priority Critical patent/JPH0721469B2/ja
Publication of JPS61240146A publication Critical patent/JPS61240146A/ja
Publication of JPH0721469B2 publication Critical patent/JPH0721469B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 r産業上の利用分野1 本発明はX線を利用した非破壊測定手段により被測定物
の組成を分析する方法に関する。
r従来の技術j 不透明な物体の組成濃度、組成分布を放射線照射により
非破壊的に測定するとき、その線源としてアイソトープ
(Ga、Ir、Go)などのγ線、あるいはX線を用い
、放射線照射系から出射した放射線を被測定物に照射し
、その透過線の強度を検出系で測定解析するようにして
いる。
ところで、アイソトープによる非破壊測定法の場合、ア
イソトープの入手が困難であること、その強度が弱いか
または強すぎること、さらに半減期が短いこと等々の理
由により工業化がむずかしいとされており、そのため、
X線を用いる方法が普及している。
X線には白色X線、単色X線があり1例えば被測定物が
二つの元素からなる場合、通常、X線照射系と被測定物
とを相対移動させるスキャンニングにより白色xt&ま
たは単色X線を被測定物に照射し、二以上の特定波長ま
たはエネルギに関する透過線強度をその検出系により求
めた後、その測定データをもとにした多層分割法、アベ
ール変換法等の計算法により被測定物の組成分布を求め
ている。
この際、X線源の電圧は30にマ以上 その強度はX線
源の電流換算値lO■A以上がよいとされており、この
電流値が低いとX線量が小さくなり、測定に時間がかか
る。
X線の波長入(オングストローム)は、X線源にかける
管電圧にマをVとしたとき、釣人−12,4/Vである
透過線の強度は1分程度で測定するのがよく、時間が長
いほど測定精度が高まるとされている。
r発明が解決しようとする問題点j 一般に、X線走査時においてその線源を移動させるとき
、その移動設備が大がかりとなり、線源の不安定も生じ
る。
これに対処すべく被測定物を移動させるとき。
回折手段により白色X線から二種以上の単色X線を取り
出し、これを被測定物へ照射することが考えられるが、
この場合も各単色X線の光軸が一致マ しないことにより測定時間が長くなる。
その他、製造ライン上の被測定物をオンラインにより測
定しようとしても、X線走査のための被測定物移動がで
きないのでオフライン制御しか採用できず、かかるオフ
ライン制御ではリアルタイムで被測定物の組成を分析す
ることができない。
本発明は上記の問題点に鑑み、被測定物、xli源等を
移動せずとも、短時間で被測定物の組成分析が行なえ、
オンライン制御も実現可能な方法を提供しようとするも
のである。
r問題点を解決するための手段1 本発明のX線による被測定物の組成分析方法は、白色X
線を被測定物の測定部間全域にわたって照射するととも
にその被測定物を透過した後の透過線を複数のコリメー
タにより分岐し、当該分岐後におけ各透過線のエネルギ
強度を各別に測定して被測定物の組成を分析することを
特徴としている。
r作用j 本発明方法の場合、白色X線を被測定物の測定部間全域
にわたって照射するから、X線源、被測定物等を移動走
査する必要がなく、また、被測定物を透過した後の透過
線を複数のコリメータにより分岐し、当該分岐後におけ
各透過線のエネルギ強度を各別に測定するから測定部間
各部の組成がわかる。
したがって、上述した走査不要、測定部間各部の組成判
明により短時間で被測定物の組成分析が行なえるように
なり、しかもX線源、被測定物のいずれをも移動走査し
ないから、製造ライン上にある被測定物であってもこれ
をオンラインで組成分析できるようになる。
r実 施 例1 以下本発明方法の実施例につき、図面を参照して説明す
る。
第1図の実施例において、lはX線源、2はマニホ・−
ルド、 3a〜3fはコリメータ、4a−4fおよび5
a〜5fは単結晶、6a〜6fはX線検出器、7はマニ
ホールド2とコリメータ3a〜3fとの間に配置された
不透明な被測定物である。
第1図において本発明方法を実施するとき、被測定物7
がマニホールド2とコリメータ3a〜3fとの間に配置
され、X線源1から出射された第2図のごとき白色X線
は、マニホールド2を通ることにより多数のビーム(直
径約1厘層程度)となり、これらビームが上記被測定物
7の幅方向全域にわたって照射される。
こうして被測定物7に照射された白色X線は、その被測
定物7を透過し、該透過X線(透過線)がコリメータ3
a〜3fをそれぞれ通る。
この際、コリメータ3a〜3fは被測定物7から反射さ
れるX線等のノイズを遮断する。
コリメータ3a〜3fを透過した透過線は単結晶4aN
4f、5a〜5fによりそれぞれラウェ条件、ブラッグ
条件で回折されて第3図のごとき特性X線となり、これ
ら特性X線がX線検出器8a〜6fへ入射される。
X線検出器6a〜6fは例えば半導体検出器、シンチレ
ーション管等からなり、上記特性X線がこれらX線検出
器6a〜6fへ入射されたとき、該各X検出器6a〜6
fは、前記被測定物7の組成分布濃度に応じた特性X線
のエネルギを測定する。
さらにX線検出器6a〜6fは、検出したX線エネルギ
の強度に応じた信号を図示しない電子計算機へ入力し、
該電子計算機はその入力信号を電気的ないし電子的に演
算して前記被測定物7の組成を解析する。
なお、白色X線を出射するための上記X線源1としては
、電圧200にマ、 350にマ程度の高圧のものが用
いられ、X線管内のターゲットとしてはタングステンが
用いられる。
マニホールド2は、前述したごとく白色X線を直径約1
層層程度のビームに分岐するが、この際、各ビームと各
コリメータ3a〜3fとの光軸を互いに一致させる。
被測定物としては5iOzとGaO2とからなる光フア
イバ用の多孔質母材をあげることができ、該被測定物7
がSi、 Geなどの二成分からなるとき、前記ビーム
数を20以上とすることにより分析精度が高、    
     まる・ 被測定物7が上記に例示したごとき二成分であるとき、
単結晶4ax4f、5a〜5fにより回折したエネルギ
E1. E2について、それぞれ所定の測定を行なう。
その他、被測定物7の測定開始前、すなわちマニホール
ド2とコリメータ3a〜3fとの間に被測定物7を配置
する前、当該被測定物7がない状態でのX線強度を測定
しておき、その後、前述した測定分析を実施する。
つぎに本発明方法の他実施例を第4図、第5図により説
明する。
この実施例では、X線源から出射された白色X線をpb
からなる遮蔽板8により絞った後、これを被測定物7へ
照射し、その後の透過線をさらにコリメータ3g〜3s
により絞って検出器8g−8gへ入射する。
この際、コリメータ3g〜3s内には第5図のごとく単
結晶9g〜8sを配置し、次式のごときラウェ条件、ブ
ラッグ条件を満たすエネルギを取り出す。
n入=2dsinθmnhc /E =2d ginθ
n:整数、hニブランク定数、C:光速、E:エネルギ
(kマ)、d:格子間隔。
第4図、第5図の実施例では、第7図のごとく一つのエ
ネルギのみが回折されるが、前記のごとく二成分からな
る被測定物7の組成を分析するときは、これら組成に応
じた各エネルギE1. E2が測定できるよう、単結晶
9g〜3Sの角度θを交互に変える。
第8図は、前記第1図の実施例における単結晶4a−4
f、5a〜5fを回転台10a 〜l(H上に配置して
これら単結晶の角度θが変更できるように、すなわ所定
の二成分に対応したエネルギE1. E2が取り出せる
ようにしたものである。
つぎに本発明方法のより具体的な実施例につき説明する
■AD法により外径(直径) 80纜■、長さ1000
■璽の光フアイバ用多孔質母材を作製するとき、これを
被測定物として当該被測定物の組成をオンラインで分析
するようにした。
この際の測定手段は概ね第1図の通りであり、白色X線
源としては100にマのものを、マニホールドとしては
30本のX線ビームが得られるものをそれぞれ用いた。
各X線ビームは被測定物を透過後、コリメータの光軸と
一致させるようにし、コリメータの後には第8図のよう
にして単結晶を配置し、その単結晶からのエネルギが検
出器へ入射されるようにした。
単結晶支持用の回転台としては、秒単位の回転角度が精
密に制御できるターンテーブルを用い、該回転台による
各単結晶の角度θは、上記白色X線源を100にマとじ
たので、E1=50にマ、E2= 80にマのエネルギ
が取り出せるよう調整した。
上記の条件により被測定物たる光フアイバ用多孔質母材
の組成を分析したところ、その−断面の測定がわずか数
10秒で行なえ、しかも当該分析結果に基づいて多孔質
母材の合成条件を制御することにより、所望屈折率分布
の多孔質母材が得られた。
r発明の効果1 以上説明した通り2本発明方法によるときは、X線源、
被測定物の走査が不要であり、被測定物の組成が短時間
でわかり、製造ライン上にある被測定物であってもこれ
をオンラインで組成分析できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法の一実施例を略章した説明図、第2
図はその一実施例における白色X線のエネルギ特性図、
第3図はその一実施例における特性X線のエネルギ特性
図、第4図は本発明方法の他実施例を略章した説明図、
第5図はその他実施例におけるコリメータの断面図、第
6図はその他実施例における白色X線のエネルギ特性図
、第7図はその他実施例にける特性X線のエネルギ特性
図、第8図は上記一実施例における単結晶を回転台によ
り支持した例を示した略章説明図である。 1・・・・・・X線源 2・・・・・・マニホールド 3a〜3f・・・・コリメータ 3g〜3s・・拳−コリメータ づ 4a〜4f・・・・単結晶 5a〜5f・・・・単結晶 8a〜6f・・会・X線検出器 7・Φ・・・・被測定物 8φ・・・・・遮蔽板 8g〜9s*・―・単結晶 10a N10f II 6回転台 代理人 弁理士  斎 藤 義 雄 第1図 r。 第2図    第3図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)白色X線を被測定物の測定部間全域にわたって照
    射するとともにその被測定物を透過した後の透過線を複
    数のコリメータにより分岐し、当該分岐後におけ各透過
    線のエネルギ強度を各別に測定して被測定物の組成を分
    析することを特徴とするX線による被測定物の組成分析
    方法。
  2. (2)複数のコリメータにより分岐した各透過線を単結
    晶に当てて回折した後、これら透過線のエネルギ強度を
    測定する特許請求の範囲第1項記載のX線による被測定
    物の組成分析方法。
JP60082078A 1985-04-17 1985-04-17 X線による被測定物の組成分析方法 Expired - Lifetime JPH0721469B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60082078A JPH0721469B2 (ja) 1985-04-17 1985-04-17 X線による被測定物の組成分析方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60082078A JPH0721469B2 (ja) 1985-04-17 1985-04-17 X線による被測定物の組成分析方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61240146A true JPS61240146A (ja) 1986-10-25
JPH0721469B2 JPH0721469B2 (ja) 1995-03-08

Family

ID=13764425

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60082078A Expired - Lifetime JPH0721469B2 (ja) 1985-04-17 1985-04-17 X線による被測定物の組成分析方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0721469B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6239747A (ja) * 1985-08-14 1987-02-20 Furukawa Electric Co Ltd:The X線による被測定物の組成分析方法
WO2014109374A1 (ja) * 2013-01-10 2014-07-17 株式会社 東芝 X線コンピュータ断層撮影装置、医用画像処理装置、および医用画像処理方法
CN104023639A (zh) * 2012-10-26 2014-09-03 株式会社东芝 X射线计算机断层摄影装置、x射线检测装置及x射线检测模块

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5622925A (en) * 1979-08-01 1981-03-04 Furukawa Electric Co Ltd:The Analytic measurement method for base material for optical fiber

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5622925A (en) * 1979-08-01 1981-03-04 Furukawa Electric Co Ltd:The Analytic measurement method for base material for optical fiber

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6239747A (ja) * 1985-08-14 1987-02-20 Furukawa Electric Co Ltd:The X線による被測定物の組成分析方法
CN104023639A (zh) * 2012-10-26 2014-09-03 株式会社东芝 X射线计算机断层摄影装置、x射线检测装置及x射线检测模块
US9693745B2 (en) 2012-10-26 2017-07-04 Toshiba Medical Systems Corporation X-ray computed tomography apparatus, x-ray detection apparatus, and x-ray detection module
WO2014109374A1 (ja) * 2013-01-10 2014-07-17 株式会社 東芝 X線コンピュータ断層撮影装置、医用画像処理装置、および医用画像処理方法
JP2014147691A (ja) * 2013-01-10 2014-08-21 Toshiba Corp X線コンピュータ断層撮影装置、医用画像処理装置、および医用画像処理プログラム
US10001568B2 (en) 2013-01-10 2018-06-19 Toshiba Medical Systems Corporation X-ray computed tomography apparatus, medical image processing apparatus and medical image processing method

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0721469B2 (ja) 1995-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0539608B1 (en) Method for obtaining internal structure image of object
US3936638A (en) Radiology
JPS61240146A (ja) X線による被測定物の組成分析方法
JP2008170236A (ja) X線及び中性子線の反射率曲線測定方法及び測定装置
JPH06503877A (ja) 物体の構造を規定するためのイメージング方法
JPS6193936A (ja) 放射線による被測定物の組成分析方法
US3816747A (en) Method and apparatus for measuring lattice parameter
JP2599368B2 (ja) X線による被測定物の非破壊測定方法
JPH0288952A (ja) 組織を分析する方法および装置
RU2119660C1 (ru) Устройство для определения состава и структуры неоднородного объекта (варианты)
JP2891780B2 (ja) エネルギ線の照射角設定方法
JP2921597B2 (ja) 全反射スペクトル測定装置
JPS61167848A (ja) X線による被測定物の組成分析方法
JP2583215B2 (ja) X線による被測定物の組成分析方法
JP2727691B2 (ja) X線吸収端微細構造分析装置
JPS61240147A (ja) X線による被測定物の組成分析方法
JPH02266249A (ja) 結晶面のx線回折測定方法
JPH071241B2 (ja) X線による被測定物の組成分析方法
JPH01196550A (ja) 骨塩定量分析装置
JPS6239747A (ja) X線による被測定物の組成分析方法
JP2002333409A (ja) X線応力測定装置
JPH0643972B2 (ja) X線による被測定物の非破壊測定方法
JPH0455743A (ja) エックス線検査装置
JPS6353457A (ja) 二次元走査型状態分析装置
SU989952A1 (ru) Способ неразрушающего контрол объектов