JPS61172002A - 赤外線式塗装膜厚み測定装置 - Google Patents
赤外線式塗装膜厚み測定装置Info
- Publication number
- JPS61172002A JPS61172002A JP1317485A JP1317485A JPS61172002A JP S61172002 A JPS61172002 A JP S61172002A JP 1317485 A JP1317485 A JP 1317485A JP 1317485 A JP1317485 A JP 1317485A JP S61172002 A JPS61172002 A JP S61172002A
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- film thickness
- coated film
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- measuring device
- coating film
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は金属粒子を含有する有機塗装膜厚みを°赤外線
で測定する測定装置の改良発明に関する。
で測定する測定装置の改良発明に関する。
(従来の技術)
従来、塗装膜厚み測定方法として赤外線を塗装板に照射
し塗装膜を透過させ、原板表面で反射して帰ってくる反
射光量を検出器によって測定することにより、塗装膜厚
みを求める赤外線式測定方法(オーム社、薄膜工学ハン
ドブック昭和39年5月25日発行)や、JIS H0
401に規程されている付着量試験(以下重量法)によ
り重量を求め、この重量より膜厚みを計算することが知
られている。これは、単位面積の塗装膜試料を採取して
、その試料の重量を測実し、その後塗装膜を剥離し、原
板の重量を測定してその重量差から塗装膜厚みを計算に
よりもとめるものである。
し塗装膜を透過させ、原板表面で反射して帰ってくる反
射光量を検出器によって測定することにより、塗装膜厚
みを求める赤外線式測定方法(オーム社、薄膜工学ハン
ドブック昭和39年5月25日発行)や、JIS H0
401に規程されている付着量試験(以下重量法)によ
り重量を求め、この重量より膜厚みを計算することが知
られている。これは、単位面積の塗装膜試料を採取して
、その試料の重量を測実し、その後塗装膜を剥離し、原
板の重量を測定してその重量差から塗装膜厚みを計算に
よりもとめるものである。
しかし金属粒子を含有する有機塗装膜厚みは、重量法で
測定した結果を真とした場合に赤外線式で測定した結果
と比較すると重量法に対して赤外線式の測定結果はばら
つきが大きく信頼性に欠け、重量法に変わる金属粒子を
含有する有機塗装膜厚みの測定手段としては適していな
かりた。
測定した結果を真とした場合に赤外線式で測定した結果
と比較すると重量法に対して赤外線式の測定結果はばら
つきが大きく信頼性に欠け、重量法に変わる金属粒子を
含有する有機塗装膜厚みの測定手段としては適していな
かりた。
(発明の目的、構成)
本発明者等は金属粒子を含む有機塗装膜厚み測定装置に
おける赤外線式塗装膜厚み測定結果のばらつきについて
種々調査・研究した結果、ばらつきは塗料に含まれる金
属粒子の成分【起因して匹ることがわかシ、その成分値
を赤外線式塗装膜厚み測定装置から得られた塗装膜厚み
信号に対し重回帰式に基く成分補正演算を行うことによ
υ重量法による金属粒子を含む有機塗装膜厚みの測定結
果とに相関が得られることを見出したものでその特徴は
、金属粒子を含む有機塗装膜厚みを測定する赤外線式塗
装膜測定装置において塗装膜中の金属粒子の種類・量ご
との成分値を保持する成分値保持器と該保持器からの各
金属粒子の成分値に基いて、補正係数、成分比率を演算
する演算処理装置と赤外線反射光量より求めた塗装膜厚
みを前記演算処理装置の出力信号で補正演算処理する信
号処理装置とにより、金属粒子を含む有機塗装膜厚みを
補正することを特徴とする赤外線式塗装膜厚み測定装置
である。
おける赤外線式塗装膜厚み測定結果のばらつきについて
種々調査・研究した結果、ばらつきは塗料に含まれる金
属粒子の成分【起因して匹ることがわかシ、その成分値
を赤外線式塗装膜厚み測定装置から得られた塗装膜厚み
信号に対し重回帰式に基く成分補正演算を行うことによ
υ重量法による金属粒子を含む有機塗装膜厚みの測定結
果とに相関が得られることを見出したものでその特徴は
、金属粒子を含む有機塗装膜厚みを測定する赤外線式塗
装膜測定装置において塗装膜中の金属粒子の種類・量ご
との成分値を保持する成分値保持器と該保持器からの各
金属粒子の成分値に基いて、補正係数、成分比率を演算
する演算処理装置と赤外線反射光量より求めた塗装膜厚
みを前記演算処理装置の出力信号で補正演算処理する信
号処理装置とにより、金属粒子を含む有機塗装膜厚みを
補正することを特徴とする赤外線式塗装膜厚み測定装置
である。
(実施例及び作用)
以下、本発明装置を図面に示す実施例装置により詳細に
説明する。
説明する。
第1図は赤外線式による測定方法の一例で1は金属板、
1′は被測定物体である金属粒子含有の有機塗装膜、2
は赤外線を発生させる光源、3は照射光、4は塗装膜を
構成する金属粒子、5は反射光、6は反射光量検出器、
7は信号処理装置、8は成分値保持器、9は演算処理装
置、10は出力表示装置である。
1′は被測定物体である金属粒子含有の有機塗装膜、2
は赤外線を発生させる光源、3は照射光、4は塗装膜を
構成する金属粒子、5は反射光、6は反射光量検出器、
7は信号処理装置、8は成分値保持器、9は演算処理装
置、10は出力表示装置である。
従来の測定装置では、被測定物体1′に光源2より照射
元(赤外線)3を照射する。照射光3は被測定物体1′
の表面で反射され、1部は被測定物体1′に入射され、
透過光は1′に含まれる金属粒子4により反射・吸収・
散乱を受は金属板1の表面で反射し、その反射光はまた
金属粒子4により反射吸収・散乱を受けて被測定物体1
′の外へ出る。外へ出た反射光5は反射光量検出器6で
検出され、ここで電気信号〈変換し、出力信号は信号処
理装置7に入力される。信号処理装置7により反射光量
は塗装膜厚みに換算され、出力表示装置10に表示させ
るものである。
元(赤外線)3を照射する。照射光3は被測定物体1′
の表面で反射され、1部は被測定物体1′に入射され、
透過光は1′に含まれる金属粒子4により反射・吸収・
散乱を受は金属板1の表面で反射し、その反射光はまた
金属粒子4により反射吸収・散乱を受けて被測定物体1
′の外へ出る。外へ出た反射光5は反射光量検出器6で
検出され、ここで電気信号〈変換し、出力信号は信号処
理装置7に入力される。信号処理装置7により反射光量
は塗装膜厚みに換算され、出力表示装置10に表示させ
るものである。
しかし、その表示さ、れた塗装膜厚みと重量法で。
同じ塗装膜を測定した塗装膜厚みを比較してみると第2
図に示すように両者の間には相関が見られず、赤外線式
による測定結果は信頼性に欠けるものであった。そのば
らつきについて発明者等は、種々調査、研究した結果、
塗料に含まれる金属粒子の成分に起因していることがわ
かシ、第1図の点線わく内に示す補正係数を演算する手
段を測定装置に付加したもので□ある。
図に示すように両者の間には相関が見られず、赤外線式
による測定結果は信頼性に欠けるものであった。そのば
らつきについて発明者等は、種々調査、研究した結果、
塗料に含まれる金属粒子の成分に起因していることがわ
かシ、第1図の点線わく内に示す補正係数を演算する手
段を測定装置に付加したもので□ある。
被測定対象である塗装膜1′に含まれる金属粒子4によ
り反射・吸収・散乱した反射光5は反射光量検出器6で
検出され、ここで電気信号に変換された出力信号は、信
号処理装置7に入力される。
り反射・吸収・散乱した反射光5は反射光量検出器6で
検出され、ここで電気信号に変換された出力信号は、信
号処理装置7に入力される。
信号処理装置7により反射光量の電気信号は塗装ル14
(PV )に換算されるが、このときく塗膜中の金属粒
子の種類及び量からそれぞれの種類ごとの成分値をあら
かじめ設定しである成分値保持器8より演箕処理装置9
に出力し、この出力信号に基いて演算処理装置9で補正
係数、成分比率をあらかじめ求め、この補正係数、成分
比率で上記、赤外編方゛式の膜厚計で得られる塗装膜厚
み信号を重回帰式に基いて成分補正演算処理を行うこと
により金属粒子を含む有機塗装膜厚みを精度良く算出す
るものである。その結果を第3図に示す。第3図からも
わかるように補正した膜厚みは重量法による膜厚みに対
してばらつきが少なく同等の精度が得られることがわか
る。
(PV )に換算されるが、このときく塗膜中の金属粒
子の種類及び量からそれぞれの種類ごとの成分値をあら
かじめ設定しである成分値保持器8より演箕処理装置9
に出力し、この出力信号に基いて演算処理装置9で補正
係数、成分比率をあらかじめ求め、この補正係数、成分
比率で上記、赤外編方゛式の膜厚計で得られる塗装膜厚
み信号を重回帰式に基いて成分補正演算処理を行うこと
により金属粒子を含む有機塗装膜厚みを精度良く算出す
るものである。その結果を第3図に示す。第3図からも
わかるように補正した膜厚みは重量法による膜厚みに対
してばらつきが少なく同等の精度が得られることがわか
る。
信号処理装置7で行う成分補正演算重回帰式の一例を下
記に示す。
記に示す。
しかし
μ:塗装膜厚み
Pv:塗装膜厚み信号
yn:金属粒子の成分比率
1Lf1:金属粒子の各成分値に基く補正係数ρ:有機
塗料の比重 ao:定数 (発明の効果) 以上説明したように本発明は、従来の赤外線式塗装膜厚
み計を改良し、塗装膜厚み測定をオンラインで連続的に
精度良く行うことができ、又、重量法のようにサンプル
を採取してオフラインで塗装膜厚み測定をするという工
程をとらず金属板に塗料を塗布しながら、信頼性のある
塗装膜厚み管理が行えるものであり効果大なるものがあ
る。
塗料の比重 ao:定数 (発明の効果) 以上説明したように本発明は、従来の赤外線式塗装膜厚
み計を改良し、塗装膜厚み測定をオンラインで連続的に
精度良く行うことができ、又、重量法のようにサンプル
を採取してオフラインで塗装膜厚み測定をするという工
程をとらず金属板に塗料を塗布しながら、信頼性のある
塗装膜厚み管理が行えるものであり効果大なるものがあ
る。
第1図は本発明の実施例赤外線式塗装膜厚み測定装置を
示す図、 第2図は塗装膜厚みの重量法と従来法との関係を示す図
、 第3図は改良法との関係を示す図である。 1:金属板 1′:塗装膜 2:赤外線光源 3:照射光 4:金属粒子 5:反射光 6:反射光量検査器 7:信号処理装置 8:成分値保持器 9:演算処理装置 10:出力表示装置。 第1図 10:出f′I犬示式直 ζq
示す図、 第2図は塗装膜厚みの重量法と従来法との関係を示す図
、 第3図は改良法との関係を示す図である。 1:金属板 1′:塗装膜 2:赤外線光源 3:照射光 4:金属粒子 5:反射光 6:反射光量検査器 7:信号処理装置 8:成分値保持器 9:演算処理装置 10:出力表示装置。 第1図 10:出f′I犬示式直 ζq
Claims (1)
- 金属粒子を含む有機塗装膜厚みを測定する赤外線式塗装
膜測定装置において塗装膜中の金属粒子の種類、量ごと
の成分値を保持する成分値保持器と該保持器からの各金
属粒子の成分値に基いて、補正係数、成分比率を演算す
る演算処理装置と赤外線反射光量より求めた塗装膜厚み
を前記演算処理装置の出力信号で補正演算処理する信号
処理装置とにより金属粒子を含む有機塗装膜厚みを補正
することを特徴とする赤外線式塗装膜厚み測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1317485A JPS61172002A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | 赤外線式塗装膜厚み測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1317485A JPS61172002A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | 赤外線式塗装膜厚み測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61172002A true JPS61172002A (ja) | 1986-08-02 |
JPH0578762B2 JPH0578762B2 (ja) | 1993-10-29 |
Family
ID=11825816
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1317485A Granted JPS61172002A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | 赤外線式塗装膜厚み測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61172002A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010025904A (ja) * | 2008-07-24 | 2010-02-04 | Central Japan Railway Co | 膜厚測定方法 |
WO2014051444A1 (en) * | 2012-09-26 | 2014-04-03 | RR DONNELLEY EUROPE - Sp. z o.o. | Method of measurement of aromatic varnish application |
WO2016006374A1 (ja) * | 2014-07-10 | 2016-01-14 | 中国塗料株式会社 | 塗料組成物および塗膜の形成方法 |
CN110926351A (zh) * | 2019-12-30 | 2020-03-27 | 中国建材检验认证集团浙江有限公司 | 一种建筑用轻钢龙骨涂层或镀层的厚度测量方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9127333B2 (en) | 2007-04-25 | 2015-09-08 | Lance Jacobsen | Liquid injection of VCL4 into superheated TiCL4 for the production of Ti-V alloy powder |
-
1985
- 1985-01-25 JP JP1317485A patent/JPS61172002A/ja active Granted
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010025904A (ja) * | 2008-07-24 | 2010-02-04 | Central Japan Railway Co | 膜厚測定方法 |
WO2014051444A1 (en) * | 2012-09-26 | 2014-04-03 | RR DONNELLEY EUROPE - Sp. z o.o. | Method of measurement of aromatic varnish application |
GB2520882A (en) * | 2012-09-26 | 2015-06-03 | Rr Donnelley Europ Sp Z O O | Method of measurement of aromatic varnish application |
US9410896B2 (en) | 2012-09-26 | 2016-08-09 | RR Donnelley Europe—SP. Z O.O. | Method of measurement of aromatic varnish application |
GB2520882B (en) * | 2012-09-26 | 2017-11-08 | Lsc Communications Europe - Sp Z O O | Method of measurement of aromatic varnish application |
DE112013004729B4 (de) * | 2012-09-26 | 2018-12-27 | LSC Communications Europe-SP. z o. o. | Verfahren zum Messen eines aromatischen Lackauftrags |
WO2016006374A1 (ja) * | 2014-07-10 | 2016-01-14 | 中国塗料株式会社 | 塗料組成物および塗膜の形成方法 |
JP2016017164A (ja) * | 2014-07-10 | 2016-02-01 | 中国塗料株式会社 | 塗料組成物および塗膜の形成方法 |
CN110926351A (zh) * | 2019-12-30 | 2020-03-27 | 中国建材检验认证集团浙江有限公司 | 一种建筑用轻钢龙骨涂层或镀层的厚度测量方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0578762B2 (ja) | 1993-10-29 |
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