JPH08219748A - β線膜厚計による塗膜厚測定方法 - Google Patents
β線膜厚計による塗膜厚測定方法Info
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- JPH08219748A JPH08219748A JP3086095A JP3086095A JPH08219748A JP H08219748 A JPH08219748 A JP H08219748A JP 3086095 A JP3086095 A JP 3086095A JP 3086095 A JP3086095 A JP 3086095A JP H08219748 A JPH08219748 A JP H08219748A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】β線膜厚計による塗膜厚測定方法を提供する。
【構成】β線後方散乱線強度を測定することにより塗膜
厚を測定する方法であって、塗膜を構成する塗料の物性
並びにその中の顔料の種類及び濃度（重量％）からβ線
飽和後方散乱強度（Ｉs ）を求める推定計算式を予め作
成し、この式から算出したＩs を検量線式に代入して塗
膜厚を演算する塗膜厚測定方法。 【効果】検量線作成や管理の手間、費用を削減すること
ができる。更に、精度の良い検量線を得ることができ、
高精度の塗膜厚測定も可能である。
厚を測定する方法であって、塗膜を構成する塗料の物性
並びにその中の顔料の種類及び濃度（重量％）からβ線
飽和後方散乱強度（Ｉs ）を求める推定計算式を予め作
成し、この式から算出したＩs を検量線式に代入して塗
膜厚を演算する塗膜厚測定方法。 【効果】検量線作成や管理の手間、費用を削減すること
ができる。更に、精度の良い検量線を得ることができ、
高精度の塗膜厚測定も可能である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、β線を用いて鋼板など
の表面に塗布された塗料などの膜厚を測定する塗膜厚測
定方法に関するものである。
の表面に塗布された塗料などの膜厚を測定する塗膜厚測
定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】鋼板などの表面上に有機被膜等が塗布さ
れた被覆鋼板の塗膜厚を測定する方法として、β線後方
散乱膜厚計が用いられている。通常、β線後方散乱膜厚
計は、β線を照射するためのβ線源、測定対象から後方
散乱されたβ線を測定するための電離箱などの検出器お
よび検出器出力を増幅して、その信号を処理する信号処
理装置から構成される。
れた被覆鋼板の塗膜厚を測定する方法として、β線後方
散乱膜厚計が用いられている。通常、β線後方散乱膜厚
計は、β線を照射するためのβ線源、測定対象から後方
散乱されたβ線を測定するための電離箱などの検出器お
よび検出器出力を増幅して、その信号を処理する信号処
理装置から構成される。
【０００３】測定対象が被覆鋼板の塗膜厚である場合
は、塗料を塗布する前に母材のβ線後方散乱強度を測定
し、さらに塗布後にβ線後方散乱強度を測定する。これ
らの二つの測定値の差と塗膜厚の対応から膜厚測定値を
演算する。
は、塗料を塗布する前に母材のβ線後方散乱強度を測定
し、さらに塗布後にβ線後方散乱強度を測定する。これ
らの二つの測定値の差と塗膜厚の対応から膜厚測定値を
演算する。
【０００４】二つのβ線後方散乱強度の測定値と塗膜厚
との間には、下記の検量線式（１）で表される対応関係
がある（例えば、改定工業測定便覧、1964年、コロナ社
発行、P.1084〜1086参照）。
との間には、下記の検量線式（１）で表される対応関係
がある（例えば、改定工業測定便覧、1964年、コロナ社
発行、P.1084〜1086参照）。
【０００５】 Ｉ＝Ｉs ＋（Ｉo −Ｉs ）・ｅｘｐ（−α・ｔ）………（１） ただし、Ｉ ：塗布後の後方散乱強度 Ｉo ：塗布前の母材の後方散乱強度 Ｉs ：塗料のβ線飽和後方散乱強度 α ：塗料の線吸収係数 ｔ ：塗膜厚 塗膜厚ｔを測定するには、上記検量線式（１）に含まれ
るαとＩs の値を決める必要がある。これらのうち、α
は塗膜の吸収係数に対応するものであり、塗膜の組成等
による変化はほとんどなく、一定値（0.0055）にしてお
くのが一般的である。一方、Ｉs は塗膜の組成等により
変動するため、異なる塗料を塗布するようなプロセスに
おいては、その塗料の組成毎にＩs を決定する必要があ
る。
るαとＩs の値を決める必要がある。これらのうち、α
は塗膜の吸収係数に対応するものであり、塗膜の組成等
による変化はほとんどなく、一定値（0.0055）にしてお
くのが一般的である。一方、Ｉs は塗膜の組成等により
変動するため、異なる塗料を塗布するようなプロセスに
おいては、その塗料の組成毎にＩs を決定する必要があ
る。
【０００６】通常、このβ線飽和後方散乱強度（Ｉs ）
は次の二つの方法のどちらかで決定される。
は次の二つの方法のどちらかで決定される。
【０００７】一つは、十分に厚い塗膜を持つ試料を作成
し、直接その塗料のＩs を測定する方法である。この方
法の長所は正確に検量線を決定できることにある。短所
としては、多数の塗料について測定を行おうとする場
合、全ての塗料について塗膜厚の厚い試料を作成する必
要があり、非常に工数がかかるという点である。実際の
塗装プロセスの操業を考えると塗料毎にこの手順を実施
するのは、その作業量からして受け入れられないのが実
情である。
し、直接その塗料のＩs を測定する方法である。この方
法の長所は正確に検量線を決定できることにある。短所
としては、多数の塗料について測定を行おうとする場
合、全ての塗料について塗膜厚の厚い試料を作成する必
要があり、非常に工数がかかるという点である。実際の
塗装プロセスの操業を考えると塗料毎にこの手順を実施
するのは、その作業量からして受け入れられないのが実
情である。
【０００８】もう一つとしては、通常製造に供される膜
厚の試料を用いて、その試料のβ線後方散乱強度（Ｉ）
と塗布前の母材のβ線後方散乱強度（Ｉo ）から、計算
でβ線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を求める方法がある。
この従来方法を図７および図８により説明する。
厚の試料を用いて、その試料のβ線後方散乱強度（Ｉ）
と塗布前の母材のβ線後方散乱強度（Ｉo ）から、計算
でβ線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を求める方法がある。
この従来方法を図７および図８により説明する。
【０００９】図７は従来のβ線膜厚計の検量線の決定手
順と塗膜厚測定方法を示すブロックフロー図、図８(a)
は図７中に示す膜厚既知の塗膜厚の事前測定方法を示す
図、図８(b) は図７中に示す実際の測定対象の塗膜厚の
オンライン測定方法を示す図である。
順と塗膜厚測定方法を示すブロックフロー図、図８(a)
は図７中に示す膜厚既知の塗膜厚の事前測定方法を示す
図、図８(b) は図７中に示す実際の測定対象の塗膜厚の
オンライン測定方法を示す図である。
【００１０】オンライン測定で実際に使用することがで
きる検量線〔図８(b) に示す指数曲線〕を決定するに
は、まず、図７中および図８(a) に示すように塗布前と
塗布後と二つの試料を用意する必要がある。一つは測定
対象の塗膜塗料を塗布する前の母材、もう一つは塗料を
塗布した後の試料であり、この塗膜厚は他の方法で事前
に決定して既知の値としておく必要がある。二つの試料
を対象として、β線後方散乱膜厚計により塗布前の母材
のβ線後方散乱強度（Ｉo ）と塗布後のβ線後方散乱強
度（Ｉ）を測定し、それらの測定値と既知の塗膜厚とか
ら、前記の検量線式（１）によりβ線飽和後方散乱強度
（Ｉs ）の推定値を求める。
きる検量線〔図８(b) に示す指数曲線〕を決定するに
は、まず、図７中および図８(a) に示すように塗布前と
塗布後と二つの試料を用意する必要がある。一つは測定
対象の塗膜塗料を塗布する前の母材、もう一つは塗料を
塗布した後の試料であり、この塗膜厚は他の方法で事前
に決定して既知の値としておく必要がある。二つの試料
を対象として、β線後方散乱膜厚計により塗布前の母材
のβ線後方散乱強度（Ｉo ）と塗布後のβ線後方散乱強
度（Ｉ）を測定し、それらの測定値と既知の塗膜厚とか
ら、前記の検量線式（１）によりβ線飽和後方散乱強度
（Ｉs ）の推定値を求める。
【００１１】その後、図７中および図８(b) に示すよう
に、オンライン測定で前記のＩo とＩを測定し、得られ
たＩs の推定値を用いて前記の検量線式（１）により、
実際の塗膜厚ｔを算出する。
に、オンライン測定で前記のＩo とＩを測定し、得られ
たＩs の推定値を用いて前記の検量線式（１）により、
実際の塗膜厚ｔを算出する。
【００１２】この方法の長所は上述のように、ライン操
業中であっても真の膜厚が別の方法で測定可能であれ
ば、β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を求めることが可能
である点である。短所としては、この方法では図８(a)
に示すような指数曲線を用いて測定値を外挿してＩs を
求めることになるので、β線後方散乱強度（Ｉo ）の測
定値に変動が含まれると、たとえそれが小さくても、Ｉ
s には大きな誤差が含まれるという点がある。特に、ラ
インでの操業時のような場合には誤差が大きくなり、Ｉ
s を複数回測定するとその変動幅が精度上無視できない
値になることがある。
業中であっても真の膜厚が別の方法で測定可能であれ
ば、β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を求めることが可能
である点である。短所としては、この方法では図８(a)
に示すような指数曲線を用いて測定値を外挿してＩs を
求めることになるので、β線後方散乱強度（Ｉo ）の測
定値に変動が含まれると、たとえそれが小さくても、Ｉ
s には大きな誤差が含まれるという点がある。特に、ラ
インでの操業時のような場合には誤差が大きくなり、Ｉ
s を複数回測定するとその変動幅が精度上無視できない
値になることがある。
【００１３】本発明者らは、実際にβ線後方散乱方式の
膜厚計を使用して、上記二つのβ線飽和後方散乱強度
（Ｉs ）の決定方法を検討し、後者の方法を用いること
を試みたが、Ｉs の変動幅が精度上無視できない範囲と
なり、正確な測定が困難であった。また、精度向上対策
として前者の方法を用いると、試料作成の手間と費用が
発生し、大きな負担となった。
膜厚計を使用して、上記二つのβ線飽和後方散乱強度
（Ｉs ）の決定方法を検討し、後者の方法を用いること
を試みたが、Ｉs の変動幅が精度上無視できない範囲と
なり、正確な測定が困難であった。また、精度向上対策
として前者の方法を用いると、試料作成の手間と費用が
発生し、大きな負担となった。
【００１４】特公平５−65230 号公報には、β線厚み計
を備え、その出力に対して塗料中のシンナー量で補正し
た塗膜厚み信号を用いる塗膜厚調整装置が示されてい
る。この方法では、シンナー量による検量線の変化に起
因する影響を取り除くことは可能であるが、塗料の違い
による検量線の変化は考慮されておらず、塗料ごとに検
量線の補正を行う必要がある。
を備え、その出力に対して塗料中のシンナー量で補正し
た塗膜厚み信号を用いる塗膜厚調整装置が示されてい
る。この方法では、シンナー量による検量線の変化に起
因する影響を取り除くことは可能であるが、塗料の違い
による検量線の変化は考慮されておらず、塗料ごとに検
量線の補正を行う必要がある。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、β線
後方散乱方式の膜厚計を用いる方法であって、複数の塗
料を測定する場合にも、塗料の物性（例えば、密度）
と、塗料の組成、つまり塗料中に含まれる顔料の種類お
よびその重量百分率と、β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）
とから予め回帰分析を行うことによって得られた、Ｉs
の推定計算式を用いて、Ｉs の未知な塗料についても、
その都度検量線作成作業を行うことなく、少ない手間と
費用で塗膜厚を測定することができる方法を提供するこ
とにある。
後方散乱方式の膜厚計を用いる方法であって、複数の塗
料を測定する場合にも、塗料の物性（例えば、密度）
と、塗料の組成、つまり塗料中に含まれる顔料の種類お
よびその重量百分率と、β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）
とから予め回帰分析を行うことによって得られた、Ｉs
の推定計算式を用いて、Ｉs の未知な塗料についても、
その都度検量線作成作業を行うことなく、少ない手間と
費用で塗膜厚を測定することができる方法を提供するこ
とにある。
【００１６】
【課題を解決するための手段】本発明の要旨は次の塗膜
厚測定方法にある。
厚測定方法にある。
【００１７】β線を照射してβ線後方散乱線強度を測定
することにより、塗膜厚を測定する塗膜厚測定方法であ
って、塗膜を構成する塗料の物性ならびにその中の顔料
の種類および濃度（重量百分率）からβ線飽和後方散乱
強度を求める推定計算式を予め作成し、この式から算出
したβ線飽和後方散乱強度を検量線式に代入して塗膜厚
を演算することを特徴とするβ線膜厚計による塗膜厚測
定方法。
することにより、塗膜厚を測定する塗膜厚測定方法であ
って、塗膜を構成する塗料の物性ならびにその中の顔料
の種類および濃度（重量百分率）からβ線飽和後方散乱
強度を求める推定計算式を予め作成し、この式から算出
したβ線飽和後方散乱強度を検量線式に代入して塗膜厚
を演算することを特徴とするβ線膜厚計による塗膜厚測
定方法。
【００１８】
【作用】本発明方法を図１〜図３に基づいて具体的に説
明する。
明する。
【００１９】図１は、本発明方法で用いるβ線後方散乱
方式膜厚計の構成例を示す概要図である。この膜厚計で
はβ線は、適切なβ崩壊物質を封入して下面以外を鋼板
等で遮蔽したβ線源１から測定対象２に照射される。通
常、β線源にはＫr85 もしくはＰm147が用いられる。
方式膜厚計の構成例を示す概要図である。この膜厚計で
はβ線は、適切なβ崩壊物質を封入して下面以外を鋼板
等で遮蔽したβ線源１から測定対象２に照射される。通
常、β線源にはＫr85 もしくはＰm147が用いられる。
【００２０】β線源１から照射されたβ線の一部は、測
定対象２の塗装鋼板で吸収もしくは散乱を受け、散乱β
線の一部はβ線源１の周囲に設置された電離箱３に入
り、電離電流を生じさせる。この電流は増幅器４で電圧
に変換、増幅され、測定強度の電圧信号となる。この信
号をＡ／Ｄ変換器５で変換し、信号処理装置６で演算す
ることにより塗膜厚を算出する。
定対象２の塗装鋼板で吸収もしくは散乱を受け、散乱β
線の一部はβ線源１の周囲に設置された電離箱３に入
り、電離電流を生じさせる。この電流は増幅器４で電圧
に変換、増幅され、測定強度の電圧信号となる。この信
号をＡ／Ｄ変換器５で変換し、信号処理装置６で演算す
ることにより塗膜厚を算出する。
【００２１】本発明の塗膜厚測定方法で用いるβ線飽和
後方散乱強度（Ｉs ）を推定計算する式の作成は、次の
ような方法で行う。
後方散乱強度（Ｉs ）を推定計算する式の作成は、次の
ような方法で行う。
【００２２】図２は、β線後方散乱方式膜厚計の検量線
を示す図である。図１に示すβ線後方散乱方式膜厚計に
より、事前にβ線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を決定する
ことで、図２に示すような指数曲線の塗料に対する検量
線が決定できる。
を示す図である。図１に示すβ線後方散乱方式膜厚計に
より、事前にβ線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を決定する
ことで、図２に示すような指数曲線の塗料に対する検量
線が決定できる。
【００２３】図３は、本発明方法で用いるＩs の推定計
算式および検量線の決定手順と塗膜厚測定方法を示すブ
ロックフロー図であり、前述の図７に対応するものであ
る。
算式および検量線の決定手順と塗膜厚測定方法を示すブ
ロックフロー図であり、前述の図７に対応するものであ
る。
【００２４】まず、塗布する数百種類の塗料の中から塗
料樹脂の異なるもの、顔料の種類の異なるもの、顔料の
濃度（重量百分率）の異なるものが、それぞれできるだ
け偏りなく含まれるように選択し、測定塗料として抽出
する。
料樹脂の異なるもの、顔料の種類の異なるもの、顔料の
濃度（重量百分率）の異なるものが、それぞれできるだ
け偏りなく含まれるように選択し、測定塗料として抽出
する。
【００２５】この測定塗料を対象として、図１に示すβ
線後方散乱方式膜厚計を用い、β線飽和後方散乱強度
（Ｉs ）を測定する。乾燥後の塗膜厚測定を行う場合に
は、十分に厚い膜厚（通常１mm以上）となるように塗料
を塗布し乾燥させる。液体塗料の測定の場合は塗料が数
mm程度の厚さになるように皿などに入れて測定を行う。
線後方散乱方式膜厚計を用い、β線飽和後方散乱強度
（Ｉs ）を測定する。乾燥後の塗膜厚測定を行う場合に
は、十分に厚い膜厚（通常１mm以上）となるように塗料
を塗布し乾燥させる。液体塗料の測定の場合は塗料が数
mm程度の厚さになるように皿などに入れて測定を行う。
【００２６】得られた測定塗料のβ線飽和後方散乱強度
（Ｉs ）を従属変数、塗料の物性、塗料中の顔料濃度
（重量百分率）を独立変数として重回帰分析を行う。解
析結果から、従属変数に対する影響の大きな独立変数、
もしくは全ての独立変数の回帰係数を用いて下記の推定
計算式（２）を作成する。
（Ｉs ）を従属変数、塗料の物性、塗料中の顔料濃度
（重量百分率）を独立変数として重回帰分析を行う。解
析結果から、従属変数に対する影響の大きな独立変数、
もしくは全ての独立変数の回帰係数を用いて下記の推定
計算式（２）を作成する。
【００２７】ここで、塗料の物性および塗料中の顔料濃
度とβ線飽和後方散乱強度（Ｉs ）との間には、下記の
推定計算式（２）で示す関係が得られるものと推定する
必要がある。
度とβ線飽和後方散乱強度（Ｉs ）との間には、下記の
推定計算式（２）で示す関係が得られるものと推定する
必要がある。
【００２８】 Ｉs ＝a1・x1＋a2・x2＋・・・・＋a n ・ x n ………（２） ただし、x i ：塗料の物性および塗料中の顔料濃度（重
量百分率） a i ：回帰計算による係数 塗料中の顔料の種類は、大まかに分類するとチタン酸化
物、アルミニウム酸化物、鉄酸化物、鉛およびその他に
分けることができる。各塗料について顔料濃度を変化さ
せた塗料を用意して測定すれば、最も正確な上記式
（２）が得られる。
量百分率） a i ：回帰計算による係数 塗料中の顔料の種類は、大まかに分類するとチタン酸化
物、アルミニウム酸化物、鉄酸化物、鉛およびその他に
分けることができる。各塗料について顔料濃度を変化さ
せた塗料を用意して測定すれば、最も正確な上記式
（２）が得られる。
【００２９】しかし、もっと簡便に回帰分析を行うため
に、製造に供される数百種類に及ぶ塗料の中から、前述
のように顔料の種類や濃度にできるだけ偏りがないよう
に塗料を選択し、測定塗料として抽出するのである。
に、製造に供される数百種類に及ぶ塗料の中から、前述
のように顔料の種類や濃度にできるだけ偏りがないよう
に塗料を選択し、測定塗料として抽出するのである。
【００３０】このようにして得られた上記式（２）を用
いることにより、測定塗料以外の多数の塗料について
は、β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を測定することな
く、上記式（２）にその塗料の物性と塗料中の顔料濃度
を代入するだけで、β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を計
算することが可能になる。
いることにより、測定塗料以外の多数の塗料について
は、β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を測定することな
く、上記式（２）にその塗料の物性と塗料中の顔料濃度
を代入するだけで、β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を計
算することが可能になる。
【００３１】図３中に示すように、上記で得られたＩs
を前述の検量線式（１）に代入し、オンラインで実際の
塗膜厚を演算する方法で塗膜厚の測定を行う。
を前述の検量線式（１）に代入し、オンラインで実際の
塗膜厚を演算する方法で塗膜厚の測定を行う。
【００３２】
【実施例】図１に示すβ線後方散乱方式膜厚計（β線源
はＫr85 ）を用いて、次の実験を行った。
はＫr85 ）を用いて、次の実験を行った。
【００３３】製造に供される数百種類以上に及ぶ塗料の
中から、塗料物性の異なるもの、顔料の種類の異なるも
の、塗料中の顔料濃度（重量百分率）の異なるものを、
できるだけ偏りなく選択し、測定塗料として抽出した。
中から、塗料物性の異なるもの、顔料の種類の異なるも
の、塗料中の顔料濃度（重量百分率）の異なるものを、
できるだけ偏りなく選択し、測定塗料として抽出した。
【００３４】これらの塗料について、β線後方散乱方式
膜厚計を用い、β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を測定し
た。本実験では、液体塗料の測定を対象としたため、塗
料が数mm程度の厚さになるように平皿に入れて測定を行
った。
膜厚計を用い、β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を測定し
た。本実験では、液体塗料の測定を対象としたため、塗
料が数mm程度の厚さになるように平皿に入れて測定を行
った。
【００３５】得られた測定塗料のβ線飽和後方散乱強度
（Ｉs ）を従属変数、塗料の樹脂種類、顔料の濃度を独
立変数として重回帰分析を行い、この分析結果から、従
属変数対する影響の大きな独立変数もしくは全ての独立
変の回帰係数を用いて、前記式（２）を作成した。
（Ｉs ）を従属変数、塗料の樹脂種類、顔料の濃度を独
立変数として重回帰分析を行い、この分析結果から、従
属変数対する影響の大きな独立変数もしくは全ての独立
変の回帰係数を用いて、前記式（２）を作成した。
【００３６】さらに、測定塗料以外の多数の塗料につい
ては、β線飽和後方散乱強度（Ｉs）を測定することな
く、式（２）にその塗料の物性と顔料濃度を代入して、
β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）が計算できるようにし
た。
ては、β線飽和後方散乱強度（Ｉs）を測定することな
く、式（２）にその塗料の物性と顔料濃度を代入して、
β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）が計算できるようにし
た。
【００３７】図４は、式（２）を用いて、表１に示す種
類の樹脂に対して塗料中の顔料濃度を変更した場合のβ
線飽和後方散乱強度（Ｉs ）の変化の例を示す図であ
る。図４の結果から、塗料中の顔料濃度とβ線飽和後方
散乱強度（Ｉs ）との関係には非常によい対応があり、
１対１の対応が得られていることがわかる。
類の樹脂に対して塗料中の顔料濃度を変更した場合のβ
線飽和後方散乱強度（Ｉs ）の変化の例を示す図であ
る。図４の結果から、塗料中の顔料濃度とβ線飽和後方
散乱強度（Ｉs ）との関係には非常によい対応があり、
１対１の対応が得られていることがわかる。
【００３８】
【表１】
【００３９】図５は、２３種類の測定塗料について、β
線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を測定し、それらを重回帰
分析した結果を示す図である。図示するように、重回帰
分析による回帰係数を用いた式（２）から計算されたＩ
s 値と測定Ｉs 値との間には、非常に良好な対応関係が
得られた。
線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を測定し、それらを重回帰
分析した結果を示す図である。図示するように、重回帰
分析による回帰係数を用いた式（２）から計算されたＩ
s 値と測定Ｉs 値との間には、非常に良好な対応関係が
得られた。
【００４０】図６は、図７および図８に示す従来方法と
図５に示す回帰分析を用いた本発明方法とにおけるオン
ライン測定塗膜厚の測定精度の対応例を示す図である。
図示する測定精度σは、１０秒の一定時間間隔で測定し
たデータの標準偏差で定義したものである。
図５に示す回帰分析を用いた本発明方法とにおけるオン
ライン測定塗膜厚の測定精度の対応例を示す図である。
図示する測定精度σは、１０秒の一定時間間隔で測定し
たデータの標準偏差で定義したものである。
【００４１】図示するように、いずれの塗料について
も、本発明方法の方が従来方法よりも良好な測定精度を
示した。
も、本発明方法の方が従来方法よりも良好な測定精度を
示した。
【００４２】
【発明の効果】本発明方法によれば、少数塗料の物性お
よび塗料中の顔料濃度とβ線飽和後方散乱強度（Ｉs ）
との関係を回帰分析し、膨大な数の塗料の検量線を推定
することで、検量線作成や管理の手間および費用を大幅
に削減することができる。さらに、精度の良い検量線を
得ることができるため、高精度の塗膜厚測定も可能であ
る。
よび塗料中の顔料濃度とβ線飽和後方散乱強度（Ｉs ）
との関係を回帰分析し、膨大な数の塗料の検量線を推定
することで、検量線作成や管理の手間および費用を大幅
に削減することができる。さらに、精度の良い検量線を
得ることができるため、高精度の塗膜厚測定も可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】β線後方散乱方式膜厚計の構成例を示す概要図
である。
である。
【図２】β線後方散乱方式膜厚計の検量線を示す図であ
る。
る。
【図３】本発明の測定方法を示すブロックフロー図であ
る。
る。
【図４】式（２）を用いて、ポリエステル樹脂に対して
塗料中の顔料濃度を変更した場合のβ線飽和後方散乱強
度（Ｉs ）の変化の例を示す図である。
塗料中の顔料濃度を変更した場合のβ線飽和後方散乱強
度（Ｉs ）の変化の例を示す図である。
【図５】β線飽和後方散乱強度（Ｉs ）を測定し、それ
らを重回帰分析した結果の例を示す図である。
らを重回帰分析した結果の例を示す図である。
【図６】従来方法と本発明方法とにおける塗膜厚の測定
精度の対応例を示す図である。
精度の対応例を示す図である。
【図７】従来のβ線膜厚計による測定方法を示すブロッ
クフロー図である。
クフロー図である。
【図８】従来のβ線膜厚計による測定方法を示す図であ
る。(a) は図７に示す膜厚既知の塗膜厚の事前測定方法
を示す図、(b) は同じく実際の測定対象の塗膜厚のオン
ライン測定方法を示す図である。
る。(a) は図７に示す膜厚既知の塗膜厚の事前測定方法
を示す図、(b) は同じく実際の測定対象の塗膜厚のオン
ライン測定方法を示す図である。
１：β線源、 ２：測定対象（塗装鋼板）、 ３：電離
箱、４：増幅器、 ５：Ａ／Ｄ変換器、 ６：
信号処理装置
箱、４：増幅器、 ５：Ａ／Ｄ変換器、 ６：
信号処理装置
Claims (1)
- 【請求項１】β線を照射してβ線後方散乱線強度を測定
することにより、塗膜厚を測定する塗膜厚測定方法であ
って、塗膜を構成する塗料の物性ならびにその中の顔料
の種類および濃度（重量百分率）からβ線飽和後方散乱
強度を求める推定計算式を予め作成し、この式から算出
したβ線飽和後方散乱強度を検量線式に代入して塗膜厚
を演算することを特徴とするβ線膜厚計による塗膜厚測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3086095A JPH08219748A (ja) | 1995-02-20 | 1995-02-20 | β線膜厚計による塗膜厚測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3086095A JPH08219748A (ja) | 1995-02-20 | 1995-02-20 | β線膜厚計による塗膜厚測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08219748A true JPH08219748A (ja) | 1996-08-30 |
Family
ID=12315486
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3086095A Pending JPH08219748A (ja) | 1995-02-20 | 1995-02-20 | β線膜厚計による塗膜厚測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08219748A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103022232A (zh) * | 2011-09-23 | 2013-04-03 | 吉富新能源科技(上海)有限公司 | 特殊刀片去除pin薄膜以量测膜厚并改善薄膜制程 |
| US9028922B2 (en) | 2009-07-24 | 2015-05-12 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Deposition quantity measuring apparatus, deposition quantity measuring method, and method for manufacturing electrode for electrochemical element |
| CN106840052A (zh) * | 2017-03-21 | 2017-06-13 | 广州中国科学院沈阳自动化研究所分所 | 极片涂层厚度在线检测系统及检测方法 |
-
1995
- 1995-02-20 JP JP3086095A patent/JPH08219748A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9028922B2 (en) | 2009-07-24 | 2015-05-12 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Deposition quantity measuring apparatus, deposition quantity measuring method, and method for manufacturing electrode for electrochemical element |
| CN103022232A (zh) * | 2011-09-23 | 2013-04-03 | 吉富新能源科技(上海)有限公司 | 特殊刀片去除pin薄膜以量测膜厚并改善薄膜制程 |
| CN106840052A (zh) * | 2017-03-21 | 2017-06-13 | 广州中国科学院沈阳自动化研究所分所 | 极片涂层厚度在线检测系统及检测方法 |
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