JPS5949524B2 - 測定システム - Google Patents

測定システム

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JPS5949524B2
JPS5949524B2 JP49142408A JP14240874A JPS5949524B2 JP S5949524 B2 JPS5949524 B2 JP S5949524B2 JP 49142408 A JP49142408 A JP 49142408A JP 14240874 A JP14240874 A JP 14240874A JP S5949524 B2 JPS5949524 B2 JP S5949524B2
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signal
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fly
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INDASUTORIARU NYUUKUREONITSUKUSU CORP
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/16Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a moving sheet or film
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、タイヤフライの補強コードの両側の材料の量
を測定する方法と装置に関し、より特定的には上記の演
淀を行なうためのバツクスキヤツタX線放射計量装置お
よび方法に関する。
自動車タイヤ製造業は鋼製ベルト付きタイヤフライを製
造する準備をしているので、鋼製コードの両側のゴムの
量を計量することに大きな利益がある。
鋼製コードの両側のゴムの量を知る必要に加えて、フラ
イ上のゴムの全量を決定し(フライの各側の計量結果を
適当に合計することによつて)フライ内の鋼製コードの
相対的位置を決定する(フライの各側の計量結果を適当
に配分づけることによつて)必要もある。タイヤフライ
内の材料の内側層の位置を測定する従来の方法および装
置は、従来技術の代表例である次の特許明細書に開示さ
れている。
米国特許第3,405,267号ウイリアムE.チヨウ
プ1968年10月8日;米国特許第3,754,13
8号カールシユテツツその他1973年8月21日;米
国特許第3,405,267号には、シート中のシート
とは別の材料製の中間層の位置を決定するためにタイヤ
フライの両側で1対のバツクスキヤツタ放射線計器を使
用することを開示している。
各バツクスキヤツタ計器は3層の繊維を検査し且つコー
ド層および表面に最近接のゴム被覆のみならず下被覆層
もまた各検知器の応答に寄与することを認識しつ\米国
特許第3,405,267号明細書に記載の方法および
装置は、各検知器がコードおよび検知器に隣接するゴム
層から後方に散乱する放射線のみを監視すると単純に仮
定して記載されている。コードが検知器の反対側のフラ
イの側部上の材料からのバツクスキヤツタ放射線を実質
的に吸収するほどの重量である場合にのみ上記の如き仮
定は有効である。より複雑な3層の応答を考慮すること
を回避するために、極めて軽量のコードのフライの検査
は避けるべきであると米国特許第3,405,267号
&詞譚している。米国特許第3,405.267号は、
フライの各側部上の材料の厚さの正確な決定よりもむし
ろ、異つた材料製の外部層の間の内部層の相対的位置の
決定に関係する。従つて、米国特許第3,405,26
7号に開示された特殊な実施例にのみ比率指示計および
偏差計が使用されている。これらの計器は、フライの中
のコードの相対的位置および中心位置からのコードの偏
差を指示するために使用できる。米国特許第3,754
,138号には、タイヤフライ内に配設された層の位置
を測定する方法と装置が開示され、これはタイヤフライ
において放射線源から放射線の方向を含んで層の螢光を
起させる。タイヤフライの両側部上の放射線検知器は該
層で生じた螢光エネルギーを感知する。検知器によつて
発生した信号を比較してタイヤフライ内の層の位置を表
示する信号を与える。本発明は、フライの各側部上に放
射線計器を使用し、これらの応答を補強コードの両側部
上の材料の層からの寄与によつて形成して、補強コード
の内部層の両側部上の材料の量を測定し且つ表示する方
法および装置を提供する点で米国特許第3,405,2
67号の方法と装置の改良である。
本発明は、向い合つた計器からの信号を組合せて、コー
ドの各側部上の材料の量を表示する変数を含む方程式の
同時解を形成する解ネツトワークを提供する。解ネツト
ワークからの1対の信号は補強コードの2つの側部上の
材料の厚さを表示する。本発明は、米国特許第3.75
4,138号の教示とは全く相違する放射線測定技術を
使用する点で上記特許と区別できる。装置に若干の種類
があるので、r覆厚さ計wと題されたオーバルL・ウッ
ドおよびホワードJ.エバンスによつて1971年9月
20日に出題され本出願人に譲渡された係属中の米国特
許出願第181,836号明細書に言及する。
しかしながら、米国特許第181,836号の発明は、
基体被覆で生ずる螢光エネルギからのエネルギーに応答
する検知器を使用して金属媒体上の被覆厚さを測定する
ことに関する。鋼製ベルト付きフライ上のゴムの量を決
定するための種々の物質相互作用方法を理論的に考察す
ると、X線バツクスキヤツタが恐らくは好ましい測定方
式であることがわかる。
これは単に、種々の測定方法の各々が一定の利点と欠点
を有していることを意味している。しかしながら、結局
、X線バツクスキヤツタがこの測定に必要な結果に対し
て最も適当な方法として浮かんでくるようである。金属
ベルトすなわちコードの位置決定のベータ・バツクスキ
ヤツタ法およびX線螢光法は一定の欠点を有している。
X線螢光法は信号対雑音の割合が不良となりやすい。比
較的低エネルギーのX線源に対しても、ゴムは良好な散
乱材である。金属コードすなわちベルトからの特性X線
の強度はかなり低いので、ゴムから散乱される放射線の
強度は一定のエネルギー選択性を有する検知器に対して
さえも測定を著しく劣化する。ベータ・バツクスキヤツ
タ法と比較すると、提案されているX線法は良好な感度
性と柔軟性を有する。バツクスキヤツタされたベータ放
射線の強度はバツクスキヤツタ媒体の原子番号にほマ比
例するが、他方、低エネルギーX線の吸収係数は原子番
号の4乗に比例する。X線法では測定厚さの範囲に対し
て最適のエネルギーを選択することができ、チユーブX
線源から得られる高強度を提供する。高強度が必要でな
い場合は、同位元素のX線、ガンマ線またはブレムスト
ラールング(Bremsstrahlung)源を、単
純化、信頼性および安定性のために使用してもよい。本
発明において、“X線8はチユーブ.X線源、同位元素
源から発生するX線、同位元素源からのガンマ線、およ
びブレムストラールング放射線を含む。また本明細書中
では、X線バツクスキヤツタとはタイヤフライの所要の
測定を行なうのに使用される方法であるとされ、その測
定を実行するシステムを開示する。本出願人の知る限り
において、鋼で補強したタイヤフライの両側部上のゴム
の厚さを正確に決定するのに適したバツクスキヤツタX
線放射技術を使用する方法は従来開発されなかつた。
従つて本発明の目的は、タイヤフライ内の鋼製補強コー
ドの両側部上のゴムの厚さを決定するための装置と方法
を提供することである。
本明細書中で便用する“ゴム”とは、両側にゴムの層を
被覆した内部補強層を有するタイヤフライを製造するの
にタイヤ工業で使用するような天然および合成のゴムの
両者を含むように一般的に使用される。本発明の他の目
的は、補強コードの材料が補強コードの両側部に塗布さ
れた別の材料の有効原子数より大きい有効原子数を有し
ている、補強コードの両側部上の材料の量を決定するた
めの方法および装置を提供することである。補強コード
が独立したコードであつても、内部布織コードからなる
布織材料であつても、本発明の範囲内である。本発明の
これらの目的および他の目的ならびに利点は以下の記載
より明らかとなるだろう。本発明は、タイヤフライの両
側部上に塗布されるゴム層の厚さを測定する装置と方法
に関する。一定の比重を有する材料の重さの測定は厚さ
の測定と等価であるから、本発明において、ゴムの測定
を記述する場合、用語“厚さ”および“重量”は交換可
能に使用される。工業技術では用語1厚ざを好んで使用
する。測定は通常、連続的に移動するフライについて、
下流側で、タイヤフライ製造工場で共通に見られるフラ
イ形成装置に近接して行なわれる。これは、正確な作動
をフライ形成装置に手動または自動で行なわしめて均一
な品質の製品とするためである。X線放射線源およびバ
ツクスキヤツタ放射線に応答する検知器からなるバツク
スキヤツタ放射線計器は、フライの両側部上の、放射線
源からの第1次放射線をフライに向ける適当位置に設置
される。
放射線がフライ中を進行すると、バツクスキヤツタ放射
線は、まず感知器に最近接する材料の層から生じ、次い
でコード間の間隙を充填する外部層からの材料を有する
補強コードの内部層から生じ、最後に感知器の反対側上
の材料の層から生ずる。放射線検知器の各々は、感知器
側の層、補強コードの層および感知器の反対側の層から
のバツクスキヤツタから生ずる成分から構成されると考
えうる信号を発する。感知器の側の層からの信号成分は
、層の厚さに感受性因子aを乗じたものと函数的に関係
づけられる。感度因子aは特定のタイヤフライに対して
は一定であり、製造すべき各種等級のフライに対する予
備フイールドテストで予め決定される。感知器の反対側
の層からの信号成分は層の厚さに感度因子bを乗じたも
のに函数的に関係づけられ、この感受性因子bもまた特
定のフライに対して一定であり、製造すべき各種等級の
フライに対する予備フイールドテストで予bめ決定され
る。
比−はコードの寸法および密度a(ClOseness
)により変化する。
コードが大寸法であり且つ各コードが接触し合うほど密
な場合は、b一はゼロに近づく。
これは、鋼製コードが感知器aの反対側からのバツクス
キヤツタ放射線を阻止するからである。
コードが小寸法で互いに離れていbるときは、−は増加
して、補強コードの両側に塗a布された材料の有効原子
番号に比して小さな有効原子番号の補強コードを有する
フライに対して1に近ずく。
内部層のバツクスキヤツタから生ずる信号成分は所定の
フライに対して一定であり、両方の検知器に対して実質
上同一である。
補強コードを被覆する材料の組成の変化に対する最適の
不感受性はX線源からの第1次放射線のエネルギー準位
を適当に選択することによつて得られる。本発明の装置
はエネルギー源の変動に対して、測定ヘツドからの信号
の安定性を確実にする手段を含んでいる。
更に、システムを基準化して、同種類のサンプルに対し
て応答の再現性を確実にする手段を含む。更に、本発明
の装置は、所定のオフセツト信号を与え、各計器からの
基準化された信号からオフセツト信号を減じる手段を含
んでいる。このようにして発生した異つた信号は可変ゲ
イン増幅器で所定のゲイン係数で増幅される。上記の如
く処理された両側の計器からの信号は解ネツトワークに
送られ、こ\で信号を操作して、フライの両側部上の材
料の厚さに上記の処理された信号を関係づける1対の方
程式を解いて未知の厚さを求める。本発明の装置が測定
を始める前に、フライの等級に合せて多位置一等級選択
スイツチを一定値にセツトする。特定のフライに対する
等級は、フライの全厚さ、1インチ当りのワイヤの数お
よびワイヤの寸法に関係する。10のフライ等級のうち
の1等級に対して各位置で記憶入力を有する10位置−
スイツチが実例である。
等級スイツチへの入力は、装置をセツトする際に予備フ
イールドランで作製する。フライの両側部上の材料の厚
さの正確な測定を示す信号が得られたならば、比率計算
機および表示器によつて信号を組合せて、フライ内のコ
ード層の相対的位置を表示してよい。
比率が1である表示はコード層が中央に位置している状
態に対応し、1より大きいかまたは小さい比率の表示は
コード層がフライの中心の一方または他方の側に位置す
る程度を示す。補強コードの両側部上の層の全厚さは、
解ネツトワークからの2つの信号出力を加算増幅器で加
算することによつて得られる。
フライの両側部の被覆厚さの差の表示は、フライの一側
部上の厚さを表示する信号をフライの他側部上の厚さを
表示する信号から減する装置を使用することによつて得
られる。
添付の図面、特に第1図を参照すると、自動車のタイヤ
の製造に使用するカレンダ繊維を製造するための典型的
な2つのカレンダのドレンが示されている。
補強コード10、典型的には鋼製ワイヤが供給リールと
実質的に等間隔で配置された整列機構(図示せず)から
送られ、上方および下方のカレンダ・スタンドから各々
送られるゴムラバ一またはその類似物の頂部層11およ
び底部層12のあいだに平行に整列している。上方のカ
レンダ・スタンドは上方および下方のカレンダ・ロール
13および14からなる。これらのロールは相互に調整
可能であつて、該スタンドの側部上のゴムの蓄積15か
らカレンダされたゴムの頂部層11を所定の厚さにする
ために所望のロール間隔を与えることができる。同様に
、下方のカレンダzスタンドは上方および下方のカレン
ダ・ロール16および17からなり、これらは相互に調
整自在に離間されて、ゴムの底部層12が所定の厚さを
有するように所望のロール間隔を与える。補強コード1
0およびゴムの層11および12は、上方カレンダ・ス
タンドの下方ローラ14と底部カレンダ・スタンドの上
方ローラ16との間で押圧されて、ゴムの頂部および底
部層を強制的にコード10の間隙に充填させ、一体化さ
れたコード補強ゴムフライ19を形成する。このゴムフ
ライ19は更に処理を受けるために矢印の方向に浮き出
る。本発明に従うと、同一の一対のX線放射バツクスキ
ヤツタ計器20および21がコード補強フライ19の両
表面に近接して、好ましくは上方および下方の横断構体
22および27上に各々設置される。
これらの構体は公知の方法で連続的に移動するフライ1
9を走査するように構成されている。計器20および2
1は各々、高安定性のX線源からの第1次放射線を感知
する基準検知器と、フライ19からのバツクスキヤツタ
放射線を感知すソる測定検知器とを有する。
各計器20および21からの基準信号および測定信号を
、信号処理および演算装置30に送つて、一対の出力信
号を得る。一方の出力信号は補強コード10の1側部上
のゴムの厚さを表わし、他方の出力信号は補強コードの
反対側の側部上のゴムの厚さを示す。コードに塗布され
るゴムは実質的に一定の密度なので、装置30から得ら
れた信号は、一定の密度因子Pによつて補強コード10
の各々の側部上の重量と関係づけられる。フライ19の
頂部側のゴムの厚さを示す配線31によつて送られる信
号はメータ33に印加される。このメータ33はゴムの
厚さまたはゴムの重量のいずれかの単位の目盛をつけて
もよい。同様に、配線32によつて送られる、フライ1
9の底部側のゴムの厚さを示す信号はメータ34に印加
されるように図示されている。このメータ34も、ゴム
の厚さ又はゴムの全重量の単位で目盛をつけてもよい。
フライの全重量または厚さは、合計にコードの適当な重
量または厚さを加えることによつて表示できる。上記の
2つの信号を比率メータに印加してゴム内のコードの位
置を表示してもよく、または減算して補強コードの両側
部上のゴムの厚さの差を表示する平衡信号を得てもよい
。信号処理および演算装置は第3図を参照して後述する
。第2図に示すX線計器20および21は、連続ビーム
X線点源23、基準電極25を収容する基準イオン化室
24、および測定電極27を収容する測定イオン化室2
6からなる。
イオン化室24および26は個別に密閉され、各々、最
適の検知感受性を与えるように選択したアルゴン、クリ
プトンおよびクセノンの如きイオン化可能な不活性ガス
を含む。クリプトンは検知効率が高く且つ比較的安価な
ので好ましい。室24および26は、本発明で使用する
第1次およびバツクスキヤツタ放射線を実質上吸収しな
いが螢光放射線の効果から室を遮閉する薄い不鍔鋼製の
窓によつて被覆される。第2図に示す如く、上方測定ヘ
ツド20のX線源23および室24および26は、フラ
イ19の移動に対して長手方向(矢印28で示す).に
下方測定ヘツド21の同様の構成要素と位置をずらせて
いる。これは、一方のヘツドからの放射線が他方のヘツ
ドに影響を及ぼすことを防止するためである。各放射線
源23が設置されている反IU対側のフライ側部上に、
フライ19を通過する放射線を吸収するための吸収体す
なわちバツクプレート29が設けられている。
バツクプレート29は以下に述べる基準化の第2の機能
を有する。ヘツド20および21を並列して整列させて
、これらのヘツドの中心を通る線がフライの長手方向縁
部と実質的に平行な関係でフライ19を横断して移動す
るようにする。ヘツド20および21からの放射線ビー
ムが個々の補強コード10を横断する際の信号の急激な
変化を最小にするために、放射線ビームは長方形よりは
むしろ円形、長円形または他の断面形状であるのが好ま
しい。コード10と平行な縁部を有する長方形のビーム
は特にコード感受性を有し、回避すべきである。これに
対して、フライ19の縁部に平行な線に沿つて中心を通
る幅がその先頭縁部および後尾縁部を通過する幅より小
さいビームはコード感受性が小さく、長方形のスポツト
よりも好ましい。円形スポツトが満足すべきものである
ことが解かり、従つて、イオン化室24は円筒形で、円
形の窓を備え、他方イオン化室26は環状で、イオン化
室24と共軸であるのが好ましい。室24および26内
の不活性ガスの密度は計器の放射線感度に影響を及ぼす
線源23からの第1次X線放射線が過剰に減衰するのを
防止するために、室24内の圧力を低くするのが好まし
い。他方、バツクスキヤツタ放射線が意味のある量で検
知されずに室内を通過するのを防止するために、測定室
内の圧力は実質的により高圧である。従つて、測定室2
6内の圧力およびガスのタイプは、第1次放射線とほゾ
同じエネルギー準位のバツクスキヤツタ放射線に対する
感度を測定室に与えるために、最適化される。X線源2
3は、良好に制御されたマシーンX線源(Machin
eX−RaySOurce)またはアイソトープ源の如
き高安定性の線源であるのが好ましい。
アイソトープ源は完全に安定であるので、基準検蝿24
は必要でない。測定をするためにアイソトープ源を使用
してもよいが、マシーンX線源は現在使用可能なアイソ
トープ源よりもずつと強力な放射線を発生できるのでマ
シーソX線源が好ましい。更に、放射線エネルギーを選
択して最適の測定感度を得るようにしてよい。迅速なシ
ステム応答と高精度を必要としない場合には、シンチレ
ーシヨン一光電子増倍管または比例計数器の如き計数タ
イプの検知器と共にアイソトープ源を用いてもよい。こ
の態様の場合には、エレクトロメータ37および比率回
路40をパルス増幅器、シユレツシユホールド検知器(
ThreshOldde一TectOr)およびパルス
平均化回路ど置換える。好ましい態様では、X線放射の
エネルギー準位は、コード10に塗布された材料の組成
変化に対する計器20および21の相対的感度を減少さ
せるべきである。エネルギーが高くなると、組成に対す
る感度は小さくなる。エネルギーはコードによる実質的
な吸収を与える。エネルギーが高くなると、吸収が大き
くなる。選択されるエネルギーは、これらの指標に従つ
て、所定の用途に応じた妥協の産物である。小さな比率
少と最小の組成変a化に対する感度で鋼製の補強コード
の両側部上のゴムの厚さを測定するのに満足なものとし
て、例えば、約25乃至60KEの範囲のエネルギー準
位が与えられる。
さて、頂部測定ヘツド20のみを考えると、選択された
エネルギー準位のX線ビームが線源23から基準室24
を通過して、次いでフライ19に衝突する。
室27内に存在する不活性ガスは、集つたポテンシヤル
(COllectingpOtentiaI)の存在下
でX線ビームから吸収したエネルギーに応答してイオン
化する。ガスは線源23からのビームのエネルギーをわ
ずかしか吸収しないので、極めてわずか減衰するだけで
ビームは室24を通過する。基準電極25は、線源23
からのビームの強度を表示する強度の信号電流を発する
。基準室24を通過した後、X線ビームはフライ19を
照射し、フライ中を進行しながらバツクスキヤツタ放射
線を生ずる。室26に入つたバツクスキヤツタ放射線は
室内のガスをイオン化し、室内のガスのイオン化の量に
比例する強度の信号電流が測定電極27に生ずる。同様
に、基準および測淀の信号電流が下方測定計器21の電
極25および27にそれぞれ生ずる。
上方ヘツド20内の電極27は室26に到達するバツク
スキヤツタエネルギ一に応答して、次式に従う出力信号
を生ずる。Imは感知器から生じた電流である。
10はコード10上のゴムの厚さがゼロのフライに対し
て感知器によつて生じた電流である。
Kは比例定数である。eは自然対数の底である。
aはコードの感知器側のゴムに対する測定の感度である
bはコードの感知器と反対側の側部のゴムに対する測定
の感度である。
Ttはコードの頂部側のゴムの厚さである。
Tbはコードの底部側のゴムの厚さである。Fは鋼製コ
ードの間のゴムを表示する因子である。Cはゴム層内の
ゴム以外の、亜鉛の如き、物質によつて変化するゴムの
組成因子である。
gは、測定単位に組成因子を関係させる因子である。
同様に、下方ヘツド21内の測定電極27は室27に到
達する放射線エネルギーに応答して、次式に従う出力信
号を生ずる。
式中の記号は上式(1)について示したものと同じであ
る。
バツクスキヤツタ計器20および21からの測定信号お
よび基準信号は、第1図に示した装置30の信号処理区
域35および36にそれぞれ送られる。
第3図を参照して、装置30の信号処理区域35および
36ならびに他の区域について説明する。第3図には第
1図の装置30のプロツク線図が示されている。上方お
よび下方測定ヘツド用の信号プロセツサ35および36
は類似であるので、上方測定ヘツド用の信号プロセツサ
のみを詳述する。下方測定ヘツド用の信号プロセツサ(
第3図のプロツク36で示す)は同じ要素で構成されて
いることは理解されるであろう。式(4)および(2)
の信号10は、線源がアイソトープ源ではなくマシーン
X線源のときは、X線源23のドリフトによる変動を受
ける。
線源23のドリフトは、供給電力が定電流のときでさえ
も生ずる。線源23のドリフトが検知器26によつて生
ずる測定信号の精度に悪影響を及ぼすのを阻止するため
に、電極25および27によつて生じた電流レベルをエ
レクトロメータ37および38によつてそれぞれ電圧レ
ベルに転換した後に、比率回路40で組合せる。エレク
トロメータ37および38は、通常の高インピーダンス
の抵抗体および低域フイルタ回路を含んで、線源23か
らのX線ビームの静的変動に応答して電極25および2
7によつて生ずる電流強度の変動を実質的に除去する。
比率回路40の出力信号は、エレクトロメータ回路37
の出力がエレクトロメータ38の出力によつて分割され
ているためにoの値が安定している点を除いては、式(
1)と同じ形式である。エレクトロメータ38からの信
号は基準検知器24によつて生じた電流1Rから派生し
ている。標準化比率回路40からの信号は、標準化のた
めに設けたセツト・アツプ増幅器41に送られる。
信号プロセツサ内の回路要素の値は経時変化するので、
システムが繰返し応答できるようにシステムを標準化す
る必要がある。第4図は、加算ネツトワーク42と、増
幅器およびポテンシヨメータ46を含む可変ゲイン増幅
回路と、加算ネツトワーク47と、第1および第2の標
準化リレK1ならびにK2とからなる本発明で使用する
のに適当な標準化回路を示す。加算回路42は、負の電
位−Eと大地に接続したポテンシヨメータ43のスライ
ダ44からの所定の負のオフセツト電圧を取り出す。可
変ゲイン増幅器45のゲインGは、ポテンシヨメータ4
6のスライダの位置を変化させることによつて調整する
。標準化を行なうのに、2種の標準サンプルを使用する
第1のサンプルは補強コードにゴムをほとんどあるいは
全く有していないフライを表わし、第2のサンプルは計
器が遭遇するであろうほマ最大の厚さのゴムのフライを
表わす。これらのサンプルが最小および最大の厚さのゴ
ムを有する補強コードの実際の部分である必要はない。
その代りに、第1のサンプルとしてバツクプレート29
を使用し、第2のサンプルとして所定の厚さの層で被覆
された鋼板を使用することが本発明に適当であることが
解つた。計器20および21は同様に標準化しなければ
ならないから、同じ対の第1サンプルを、各々の計器に
1つづ\設ける。同様に同一の対の第2のサンプルを与
える。標準化の第1段階は、測定計器20および21を
フライ19から離し、標準化リレーKlを付勢し標準化
リレーK2を減勢して、電圧E2をゼロに等しくセツト
して行なう。
次いで、各計器内の線源23からのX線ビームは反対側
の計器の第1のサンプル(すなわちバツクプレート29
)に直接に衝突する。オフセツト・セレクト・ポテンシ
ヨメータ43のスライダ44を負電圧EOFFを選択す
るまで調整する。このとき、加算ネツトワーク42によ
つて進入する信号EinからEOFFを減じると、セツ
トアツプ増幅器の出力ωをゼロと等しくさせる。標準化
の第2段階は、第2サンプルを計器20および21から
のX線ビーム内に位置させ、標準化リレK1を減勢し且
つリレーK2を付勢して行なう。
可変ゲイン増幅器のゲインをゲイン選択ポテンシヨメー
タ46によつて調整して、セツトアツプ増幅器41の出
力ωが出力応答曲線の高い端部における所定の値となる
ようにする。このため加算ネツトワーク47を設け、−
8ボルトの如き標準負電圧をK2のNO接点およびK1
のNC接点を介して加算ネツトワーク47に印加し、こ
\で−8ボルトを加算ネツトワークに印加された入力信
号e1から減じる。ポテンシヨメータ46のスライダを
調整して、加算ネツトワーク47からの出力電圧E。を
ゼロに等しくする。EOをゼ゛口にセツトして、次いで
e1をE2に等しくしなければならない。その結果E,
は8ボルトに等しくなる。第1および第2の標準化の段
階を完了したのちに、標準化リレーK1およびK2を減
勢して(をゼロに等しくする。計器20および21をフ
ライ19上に戻すと、システムの作動準備ができる。上
方および下方計器20および21の標準化の操作は同様
な方法で行なうことができる。標準化を行なう各段階を
手動で行なうことができるが、適当なタイミングおよび
サーボ手段を使用して標準化を自動的に行なうのも本発
明の範囲に含まれる。セツトアツプ増幅器41からの出
力信号を加算ネツトワーク50に送る。所定の目標厚さ
における電圧応答曲線c(第3図に示す)上の点Xに相
当するオフセツト電圧を、セツトアツプ増幅器41から
加算ネツトワーク50に送られる電圧で相殺するように
加算ネツトワーク50を設ける。オフセツト電圧選択手
段52は等級選択スイツチ54から入力を受ける。等級
選択スイツチ54は、後述の解ネツトワーク52の要素
と同様に、オフセツト電圧選択手段52およびゲイン選
択手段53を含む本発明の種々の要素に複数の選択した
入力を与えるための複数位置を有している。このオフセ
ツト選択手段52は乗算デイジタルーアナログ変換器(
MDAC)であつてもよく、MDACは一定のアナログ
入力基準電圧と、MDACへのデイジタル入力信号によ
つて選択可能な出力電圧とを有する。等級の選択はデイ
ジタル入力信号によつて達成できる。デイジタル入力信
号の各々の選択値によつて第1図に示した装置によつて
製造されるフライの選択された等級に相当する所定のオ
フセツト電圧が得られる。かくして加算増幅器50から
の出力電圧は選択した目標厚さからの電圧偏差となる。
可変ゲイン増幅器51は加算ネツトワーク50から出力
信号を受けるが、この増幅器51はシステムが感応する
電圧応答曲線C(第3図参照)上の制限範囲を選択する
ために設けられている。
正常操作状態では、選択した目標厚さからの補強コード
の各側部上のゴムの厚さの変動は余り大きくない。従つ
て、可変ゲイン増幅器51を調整して、目標厚さTTを
中心とした信号応答曲線Cの小部分に対して厚さメータ
すなわち記録計33および34のフルスケールの感度を
与えるようにする。ゲイン選択手段53はMDACであ
つてもよい。可変ゲイン増巾器51へのアナログ入力信
号は加算ネツトワーク50からの出力信号であり、ゲイ
ンはMDACへのデイジタル入力情報によつて設定され
る。デイジタル入力情報は等級選択スイツチ54によつ
て与えられる。デイジタル入力情報が可変ゲイン増幅器
51のゲインを選択する。上方計器の信号プロセツサ3
5の可変ゲイン増幅器51からの出力電圧は次の式によ
つて表わされる。式中ELTは可変ゲイン増幅器からの
出力信号であり、Kは常数であり、 ΔTtは目標厚さからの上部のゴム層の厚さの偏差であ
り、ΔTOは目標厚さからの底部のゴム層の厚さの偏差
であり、aおよびbは式(1)に関して上述したもので
ある。
下方測定ヘツドのための信号プロセツサ36は上方測定
ヘツドのための信号プロセツサと同一で; あり、この
ために第3図でプロツク形で図示するにとどめた。信号
プロセツサ35に関して上述したと同様に、信号プロセ
ツサ36は等級選択スイツチから入力52bおよび53
bを受けて、オフセツト選択手段およびゲイン選択手段
の調整を行Oなう。下部ヘツドの信号プロセツサのオフ
セツト選択手段は、ネツトワーク50に対応する加算ネ
ツトワークにフライの底部側部(すなわち感知器の側)
上のゴムの目標厚さを表わすオフセツト電圧を与える。
信号プロセツサ35に関して上述したと同様に下部ヘツ
ドの信号プロセツサのゲイン選択手段は、製造しつ\あ
るタイヤフライの等級に基ずく特定の感度に対して、可
変ゲイン増幅器51に相当する増幅器のゲインを調整す
る。下部ヘツドの信号プロセツサ36からの出力信号は
次式で表わされる。式中、ELBは下部ヘツドの信号プ
ロセツサからの出力の電圧であり、他の信号は式(3)
について上述したとおりである。
ΔT,およびΔTbについて式(3)および(4)を同
時に解くと、ΔT,およびΔTbは次のように示すこと
ができる。たマしKは上部および下部測定ヘツドの信号
プロセツサ35および36の両者の可変ゲイン増幅器5
1にセツトしたゲイン係数であつて、次式で表わされる
式中、ERは、計器20および21が遭遇するであろう
フライ19の任意の側部上のゴム厚さの目標厚さからの
最大偏差TOに対して選択した−定の電圧応答値である
従つて、ER/ΔTOは単位厚さ当りのボルトを表示す
る一定の感度係数である。式(7)のKの値を式(5)
および(6)に代入すると次式が得られる。
” ERL″− a −一 〕解ネツト
ワーク55は、式(3)および(4)を同時に解いて、
フライ19の頂部および底部側部上のゴムの厚さに関連
する出力信号WTおよびWBを得るように設計されてい
る。
ネツトワーク55は、上部および下部測定ヘツドの信号
プロセツサ35および36の各々の出力線62および6
3をそれぞれの解ネツトワークの出力線31および32
との間に接続された1対の加算ネツトワーク56および
57を含んでいる。可変ゲインネツトワーク58および
60を設けて、対向する信号プロセツサbからの出力信
号の一倍に等しいオフセツト電圧をa加算増幅器56お
よび57の各々に供給する。
かくして加算増幅器56は次式の如き出力信号を発する
。加算増幅器57は次式の如き出力信号を発する。
可変ゲイン増幅器68のゲインは、ゲイン選択アクチユ
エータ59aで制御されるゲイン選択手段59によつて
調整される。アクチユエータ59aは等級選択スイツチ
54と関連して上述したオフセツト選択MDACの如き
型式のMDACである。同様に可変ゲイン増幅器60の
ゲインはゲイン選択手段61によつて調整する。第3図
に関して上述したシステム(青)て、配線31上の出力
信号WTは感度定数了〒;によつてゴムの上部層の厚さ
の偏差Δt1と関係づけられ、次式で表現される。
同様に、配線32上の出力信号WBは、同一の感度定数
によつてゴムの底部層の厚さの偏差Δt1と関係し、次
式で表現される。
かくして解ネツトワーク55は式(3)および(4)の
!配線62および63上の信号を表わす連立方程式を解
き、フライ19の両側部上のゴムの厚さに機能的に関係
した一対の出力信号を得るために、当業者に自明な種々
の方法で解ネツトワーク55を改変してもよい。
例えば、ゲイン増幅器51を使用して、オフセツト増幅
器50からの信号に式(7)で表わされるいくつかの定
数因子を乗算するために必要なすべてのゲインを適用す
ることは必要でない。その代りに、式(7)によつて示
される所要の定数Kの一部分に相当するゲイン係数を適
用するために、解ネツトワーク内の上部および下部測定
ヘツドの信号チヤンネルに追加のゲイン増幅器を加えて
もよい。更に、オフセツト増幅器50およびゲイン増幅
器51は共に、応答曲線の小さな実質的に線形の部分に
出力応答を制限するものであるから、これらは線形化回
路として機能することに注意すべきである。
ゲイン増幅器51は該曲線の線形化部分の傾きすなわち
感度を設定する。出力信号WTおよびWBを数種類の方
法で処理してタイヤ工業で所望される情報を得てもよい
第1に、これらの信号は第1図に示す表示器33および
34に送られ、こ\で補強コードの各側部上のゴムの頂
部および底部厚さの表示がされる。更に、これらの信号
を加算増幅器65内で組合せて、補強コードの両側部上
の層の全厚さに相当する信号WT+WBを得る。更に、
フライ19内のコードの相対的位置に相当する信号WT
/WBを発生する比率計算機66、あるいは、位相反転
直結ゲイン増幅器(Phaseinvertingun
itygainamplifier)67および加算増
幅器68からなるWT−WBに相当した出力信号を発生
する平衡計算機のいずれかを設けることも通常のぞまし
い。比率計算機66および平衡計算機の両者とも通常は
必要でないので、第3図ではこれらの点69および点7
0で交代の接続されるように図示されている。フライの
全重量は、加算ネツトワークの出力を取出し、これにコ
ードの重量を示すメータの較正値または別個の入力を加
えることによつて表示することができる。同様にして、
加算ネツトワーク65の出力にコードの厚さを加えるこ
とによる同様の仕方でフライの全厚さを得ることができ
る。コードの重量および厚さは製造すべきフライの各等
級に対して既知である。例えば第3図に示すように、加
算ネツトワーク125はWB,WTにコードの厚さまた
は重量を加えることによつてフライ全体の厚さまたは重
量を与える。Wc人力は信号発生器126によつて発さ
れ、点線で示す如く、各フライ毎に適当な信号Wcが等
級選択スイツチ54によつて選択されるべきである。特
定の工業プラントが製造しようとしているタイヤフライ
の各等級に対して等級スイツチ54によつて信号プロセ
ツサ35および36ならびに解ネツトワーク55に所要
の入力を与えるために、本発明の装置を設定するときに
フイールドテストが行なわれることを既に上述した。こ
のように等級スイツチ54をセツトすると、製造するフ
ライのタイプを変更したいときには、等級スイツチを製
造すべきフライの新しい等級に相当する位置に変えるこ
とだけが必要である。フイールドテストには各タイヤの
等級に応じたサンプルが必要である。本明細書中で使用
する用語“等級”とは、フライの全厚さ、1インチ当り
のコードの数およびコード寸法を決定するものである。
フイールドテストを行なうのに使用される各等級サンプ
ルは、所要のフライ全厚さ、所要のコード数および所要
なコード寸法を有する特定の等級に対する標準となる。
更に、コードはフライの中心に適当に位置づけられ、フ
ライの各側部上に等量の厚さのゴムかあるようにする。
所望のワイヤコードの形状とコードの各側部上に所望の
ゴムの厚さを有する標準サンプルをヘツド20および2
1の間の中心にある測定位置に置く。
サンプルは任意の値のF(すなわち充填因子)およびC
(組成因子)を有してよい。サンプルはフライの各側部
上に所望の厚さでゴムを有しているので、Δt1および
ΔTbはゼロに等しい。まず、一方の信号プロセツサを
調整し、他方のを調整する。まず、上方の信号プロセツ
サ35の調整を考える。オフセツト選択手段52を調整
して、加算増幅器50にオフセツト電圧EOFFをセツ
トする。このオフセツト電圧EOFFは、ゲイン増幅器
51からの出力ELBをゼロにするために、セツトアツ
プ増幅器41からの出力電圧E9を相殺する。コードの
頂部側部にゴムまたはマイラ一を加えることによつてΔ
tを既知の量だけ増加させる。次いで、増幅器51のゲ
インを調整してコードの頂部側のゴムに対して所定の感
度を与える。例えば、フライの頂部側のゴムの増分がO
から5ミルに増加したときに、ELTが0から4ボルト
(特定の記録計のフルスケールの半分)まで変化するの
が望ましいだろう。次いで、ゲイン選択手段53を調整
して5ミルに等しいΔTtに対してELTを4ボルトに
等しくさせる。上述した感度因子ER/BOはかくして
設定される。下方測定ヘツド36の信号プロセツサを同
様の方法で調整する。
すなわち、まず、選択した標準サンプルを使用して下方
測定ヘツドの信号プロセツサの加算増幅器51に印加さ
れるオフセツト電圧を調整し、次いで、上方ヘツドの信
号プロセツサのゲインの較正に使用したものと同一のサ
ンプルを使用するが、加えられたゴムの量がaΔT6に
相当するようにサンプルを回転して使用し、可変ゲイン
増幅器51のゲインを調整する。フライの底部側上に例
えば1ミル厚さの如きゴム(マイラ一またはその他の適
当なゴムの等価物をこの目的に使用してよい)の増分を
加えても信号WTに変化を起さないように、解ネツトワ
ーク55のネツトワーク58中のゲイン係数b/aを選
択する。
同様に、ネツトワーク60のゲイン係数b/aは、フラ
イの頂部側にゴムの増分を加えても信号WBに変化が生
じないように選択する。解ネツトワーク55のための感
度定数aおよびbの適当な値を決定するのに使用できる
1方法は、すべてのゴムを取除いたときの補強コードの
内部フライに等しい厚さのゴムの層を連続的に加えた場
合の計器20または21の一方の応答をプロツトとして
行なう。既知の厚さの所定増分を示す層はすべてをゴム
の層とする代りにゴムの模擬物であつてもよく、この目
的のためにはゴムとマイラ一を組合せたものが満足すべ
きものであり且つすべてをゴムの層とした場合よりも扱
い易いことが解つた。まず、第5図に示すように、感知
器とは反対の側部にゴムをつけずに、補強コードの感知
器の方の側部に増分層を加えて感知器の応答をプロツト
する。
縦軸の右手側の曲線e1″は、感知器側に各各の増分の
層を加えた時のプロツトした点を連結して作製される。
縦軸上の点YOは補強コードにゴムがついていないとき
の信号応答である。次いで、感知器に隣接する補強コー
ドの側部にゴムを付けずに、感知器の反対の側部上に増
分層を加えたときの感知器の応答をプロツトする。縦軸
の左側のカーブE2″は、感知器とは反対の側部に加え
られた各増部層に対してプロツトした点を連結して作製
する。感知器の応答は次式で表わしてよい。
YOの値は、補強コードの両側部に塗布されるゴムの層
がゼロである裸のときの感知器の応答であるから、プロ
ツトから容易に決定できる。
比例定数Kの値も決定できる。YOおよびKの値はフラ
イの等級が変化しても余り変化しないので、以前の製品
について決定した値でも満足できる。式(16)を微分
すると、ただし、Siをt1−T6−c=F−0のとき
の曲線E,の傾斜とすると、移行すると、 同様の方法でbを次式より決定できる。
これらは解ネツトワータに使用する遵を計算すaるのに
使用するaおよびbの近似値である。
こ\で、上述の係属中の米国特許出願第181,836
号について言及する。
この出願明細書中には、電流信号を与える基準および測
定イオン化室を有するX線計器が開示されている。エレ
クトロメータによつて検出した電流信号を電圧信号に変
換し、比率回路がX線源のドリフトが測定信号に及ぼす
影響を除去するために設けられている。基準化のために
、オフセツト手段および可変ゲイン増幅器も設けられて
いる。米国特許第181,836号に開示されているエ
レタトロメータ、比率回路および基準化のための装置は
本発明の構成要素であるエレクトロメータ37および3
8、比率回路40およびセツトアツプ増幅器41に各々
対応している。これらの構成要素は、本発明の範囲を逸
脱せずに他の要素および配列を用いることができるので
、本発明の好ましい態様に用いられるものとして記述さ
れたものである。本発明を実施するための装置は、適当
な感知器と共に、信号処理用にプログラム制御デイジタ
ルコンピユータを用いうることも認識すべきである。本
発明の好ましい態様を上述したが、他の態様も当業者に
は明らかであろう。従つて、本発明を上述の態様に限定
してはならず、特許請求の範囲内で種々の態様および均
等物が存在する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、補強コードの両側の材料の厚さを測定するコ
ードで補強したタイヤフライの製造装置の斜視図である
。 第2図は、第1図に示した測定ヘツドの拡大端面図であ
つて、頂部および底部ヘツドの右手および左手部分の垂
直断面を示している。第3図は、第1図に示したシステ
ムのプロツク線図であり、本発明の測定技術を詳細に図
示している。第4図は、第3図に示したセツトアツプ増
幅器の詳細図である。第5図は、全てのゴムを取り除い
た鋼製コードの層にゴムの層を加えたときの本発明の計
器の電圧応答を示すグラフである。10・・・・・・補
強コード、11・・・・・・ゴムの頂部層、12・・・
・・・ゴムの底部層、19・・・・・・フライ、20,
21・・・・・・X線計器、30・・・・・・信号処理
装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 第2の材料である補強コードの両面上に塗布された
    第1の材料であるプライの厚さを測定する方法であつて
    、該補強コードの材料の有効厚子番号は補強コードの両
    面上に塗布された材料の厚子番号よりも大きく、上記測
    定方法は、プライの両面にX線放射線を向け、プライの
    各面上でバツクスキヤツタされた放射線を感知してプラ
    イの或る1面から得た第1の信号とプライの他の面から
    得た第2の信号とを得てこれらの信号の両者をコードの
    両面上の上記第1材料の厚さと函数的に関連させ、これ
    らの第1および第2の信号を組合せて該コードの1面上
    の上記第1の材料の厚さを表わし該コードの他面上の上
    記第1の材料の厚さの変化とは実質的に無関係の第3の
    信号及び該コードの上記他面上の第1材料の厚さを表わ
    し該コードの上記1面上の第1材料の厚さの変化とは実
    質上無関係の第4の信号を得る測定方法に於いて、コー
    ドのバツクスキヤツタ放射線が感知される方の面上のゴ
    ム層からのバツクスキヤツタ放射線の応答に関係する所
    定の感度係数をaとし、補強コードのバツクスキヤツタ
    放射線が感知される方と反対の面上のゴム層からのバツ
    クスキヤツソ放射線の応答に関係する所定の感度係数を
    bとした場合に上記第1の信号を係数b/aと結合され
    た第2の信号と組合せて上記第3の信号を得、第2の信
    号を係数b/aと組合された第1の信号と組合せて第4
    の信号を得る事を特徴とする測定方法。 2 コードで補強されたゴムプライの両面上のゴムの長
    さを測定する装置であつて、X線放射線を該プライの1
    面に照射する第1手段と、X線放射線を該プライの反対
    面に照射する第2手段と、該プライの上記1面からのバ
    ツクスキヤツタ放射線を感知し、該コードの両面上のゴ
    ムの厚さと函数的に関係した第1の信号を発する第1検
    知手段と、該プライの上記反対面からのバツクスキヤツ
    タ放射線を感知し、該コードの両面上のゴムの厚さに函
    数的に関係した第2の信号を発する第2検知手段と、上
    記第1、第2の信号に感じて第3、第4信号を得る手段
    であつて、該第3信号は上記第1、第2信号を組合せて
    得られ、該第4信号は上記第1、第2信号を組合せて得
    られ、更に上記第3、第4信号は夫々コードの或る面上
    のゴムの厚さを表わしコードの他面上のゴムの厚さの変
    化に実質上無関係であり、又コードの他面上のゴムの厚
    さを表わしてコードの上記或る面上のゴムの厚さの変化
    に実質上無関係な信号である様な手段とから成り、然し
    て上記信号を組合せる手段はbをある一方の検知器の反
    対側にある補強コード面上のゴム層からのバツクスキヤ
    ツタ放射線に対する上記ある一方の検知器の感度に関係
    した所定の感度係数とし、aを該ある一方の検知器に隣
    接する方のコード面上のゴム層からのバツクスキヤツタ
    放射線に対する上記検知器の感度に関係する所定の感度
    係数とした場合に第1の信号を第2の信号および係数b
    /aと組合せて第3の信号を作り、第2の信号を第1の
    信号および係数b/aと組合せて第4の信号を作る手段
    であることを特徴とする測定装置。
JP49142408A 1973-12-12 1974-12-11 測定システム Expired JPS5949524B2 (ja)

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