DE2458947A1 - Verfahren und anordnung zur messung der dicken von materialschichten, welche auf sich gegenueberliegenden flaechen von verstaerkungsbaendern aufgebracht sind - Google Patents
Verfahren und anordnung zur messung der dicken von materialschichten, welche auf sich gegenueberliegenden flaechen von verstaerkungsbaendern aufgebracht sindInfo
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Description
Patentanwälte Dipl.-Ing. F.Ypickmann,
Dipl.-Ing. H.Weickmann, Dipl^Phys. Dr. K. Fincke
Dipl.-Ing. R A-Weickmann, Dipl.-Chem. B. Huber
8 MÜNCHEN 86, DEN D POSTFACH 860 820
MÖHLSTRASSE 22, RUFNUMMER 48 3921/22
<983921/22>
Industrial Nucleonics Corporation
650 Ackermann Road"
Columbus, Ohio 43 20?, V.St.A.
Verfahren und Anordnung zur Messung der Dicken von Materialschichten, v/elche auf sich gegenüberliegenden
Flächen von Verstärkungsbändern aufgebracht sind.
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur Messung der Dicken von Materialschichten,
insbesondere aus Gummi, v/elche auf sich gegenüberliegenden Flächen von Verstärkungsb^andern, insbesondere
aus Stahl aufgebracht sind, wobei die Ordnungszahl des Materials der Verstärkungsbänder im Vergleich zur Ordnungszahl
des Materials der Materialschichten groß ist.
Da die Herstellung von Autoreifen in Richtung auf atahlverstärkte
Reifenstrukturen geht, wird es wichtig, die Menge von auf zwei Seiten von Stahlverstärkungsbändern
aufgebrachten Gummis messen zu können. Weiterhin besteht auch die Notwendigkeit, die Gesamtmenge des Gummis in
der Reifenstruktur (durch Summierung der Ergebnisse
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der Messung auf beiden Seiten der Struktur) sowie die relative Lage der Stahlbänder in der Reifenstruktur
(durch Verhältnisbildung der Ergebnisse der Messung auf den beiden Seiten der Reifensturktur) zu bestimmen.
Bekannte Verfahren und Anordnungen zur Messung der Lage einer inneren Materialschicht in einer Reifensturktur
sind in den US-Patentschriften 3 4o5 267 und 3 754 beschrieben.
In der US-Patentschrift 3 4o5 267 ist die Verwendung '
eines Paars von Rückstrahlungs-Messvorrichtungen auf sich gegenüberliegenden Seiten einer Reifenstruktur beschrieben,
mit denen die Lage einer Schicht aus einem Material auf einer Zwischenschicht eines anderen Materials
bestimmbar ist. Zwar ist es im Prinzip möglich, daß mit derartigen Rückstrahlungsmessvorrichtungen
eine Dreischicht-Struktur erfaßt werden kann, d.h., es werden nicht nur die Verstärkungsschicht und
der nahs der Oberfläche liegende Gummiüberzug, sondern
auch tiefer liegende Teile des Überzuges erfaßt. Das Verfahren und die Anordnung gemäß der US-Patentschrift
3 4o5 267 beruhen jedoch insgesamt auf der vereinfachten Annahme, daß die Detektoren lediglich
den Teil der rückgestreuten Strahlung "sehen", welcher von der Verstärkungsschicht und derjenigen Gummischicht
ausgeht, welche der Messvorrichtung unmittelbar benachbart ist. Diese Annahme ist nur dann zulässig, wenn
die Verstärkungsbänder diejenigen Teile der rückgestreuten Strahlung erfassen können, welche von der
der Meßvofrichtung gegenüberliegenden Seite ausgehen.
Um die Messung einer komplexeren Dreischicht-Struktur nicht in Betracht ziehen zu müssen, wird in der US-
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Patentschrift 3 4o5 267 davon ausgegangen, daß Untersuchungen
bei Verstärkungsbändern Mit extrem kleinem Gewicht außer Betracht bleiben. Gemäß dieser Druckschrift
soll "weniger eine genaue Bestimmung der Dicks des liaterials
auf beiden Seiten einer Scheichtstruktur als vielmehr die Bestimmung der relativen Lage einer inneren
Schicht zwischen zwei äußeren Schichten bei unterschiedlichem Material erfolgen. Daher ist beim Gegenstand
der US-Patentschrift 3 4o5 267 eine Verhältnis-Anzeigeeinrichtung und ein Abweichungs-Meßgerät vorgesehen,
welche alternativ verwendet werden können, um die relative Lage der Verstärkungsbänder in der Schichtstruktur
und die Abweichung der Verstärkungsbänder von einer zentralen Lage anzuzeigen.
In der US-Patentschrift 3 754 138 ist ein Verfahren -und
eine Anordnung zur Messung der Lage einer Schicht innerhalb einer Reifenstruktur beschrieben, wobei aus einer
Strahlungsquelle Strahlung auf die Reifenstruktur gerichtet wird, um einen durch eine Schicht bewirkten
Fluoreszenz-Effekt hervorzurufen. Auf sich, gegenüberliegenden
Seiten der Reifenstruktur sind Strahlungsdetektoren angeordnet, welche auf die an der Schicht erzeugte
Fluoreszenz-Energie ansprechen. Durch den Detektor erzeugte Signale werden miteinander verglichen,, um ein Signal
zu erzeugen;. das ein Maß für die Lage der Schicht
innerhalb der Reifenstruktur ist.
Der vorliegenden Erfindung liegt generell die Aufgabe
zugrunde, ein Verfahren und eine Anordnung zur Bestimmung der Dicken von Gummi auf sich gegenüberliegenden
Seiten von verstärkenden Stahlbändern innerhalb einer Reifenstruktur anzugeben. Der Begriff "Gummi11 soll im
509827/Q584 "
Rahmen der vorliegenden Erfindung sowohl natürlichen als auch synthetischen Gummi umfassen, welche in der
Reifenindustrie zur Herstellung von Reifen mit verstärkenden Innenschichten verwendet werden, auf deren
sich gegenüberliegenden Seiten Gummischichten vorgesehen sind.
Weiterhin soll es mit dem Verfahren und der Anordnung
gemäß der Erfindung möglich sein, die Materialemnge auf sich gegenüberliegenden Seiten von verstärkenden
Bändern zu bestimmen, wobei es sich generell um verschiedene Materialien handelt, derart, daß das Material der
verstärkenden Bänder im Vergleich zum auf diese aufgebrachten Material eine große Ordnungszahl (Atomzahl)
besitzt. Unter dem Begriff "verstärkende Bänder" sollen dabei sowohl Einzelbänder, als auch miteinander verwobene
Bänder verstanden werden.
Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren der eingangs genannten Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die
Schichtstruktur auf Verstärkungsbändern und Materialschichten beidseitig mit Röntgenstrahlung bestrahlt wird,
daß die rückgestreuten Strahlungen zur Bildung eines ersten und zweiten Signals erfaßt werden, welche ein
Maß für die Dicke jeweils einer Materialschicht auf den Verstärkungsbändern sind, und daß das erste und zweite
Signal zur Erzeugung eines dritten und vierten Signals derart kombiniert werden, daß das dritte Signal ein Maß
für die Dicke der Materialschicht auf der einen Seite des Verstärkungsbandes unabhängig von der Dicke der
Materialschicht auf der anderen Seite des Verstärkungsbandes, und das vierte Signal ein Maß für die Dicke der
Materialschicht auf der anderen Seite des Verstärkungsbandes unabhängig von der Dicke der Materialschicht auf
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- 5 der einen Seite des Verstärkungsbandes ist.
In Weiterbildung der Erfindung ist eine Anordnung zur Durchführung des vorstehend definierten Verfahrens durch
folgende Merkmale gekennzeichnet:
Eine erste und zweite Rontgenstrahlungsguelle zur Bestrahlung
der einen bzw. der anderen Seite der Schichtstruktur aus Materialschichten und Verstärkungsbänderri,
einen ersten und zweiten Detektor zur Erfassung der von
jeweils einer Seite zurückgestreuten Strahlung und Erzeugung des ersten bzw. zweiten Signals und durch einen
Kombinationskreis zur Erzeugung des dritten und vierten
Signals.
Die Erfindung sieht dabei insbesondere ein Auflösungsnetzwerk
vor, das die von zwei sich gegenüberliegenden i'Ießdetektoren geleieferten Signale miteinander kombiniert,
um eine gleichzeitige Lösung von Gleichungen zu gewährleisten, deren Variable die Materialmenge auf den
beiden Seiten der Verstärkungsbänder repräsentieren. Ein vom Auflösungsnetzwerk geliefertes Signalpaar ist
dabei ein Maß für die Dicken des Materials auf den beiden Seiten der Verstärkungsbänder.
Vom Gegenstand der US-Patentschrift 3 754 138 unterscheiden
sich das erfindungsgemäße Verfahren und die erfindungsgemäße Anordnung durch eine anders artige Strahlungsmessung.
Aufgrund gewisser Ähnlichkeiten der Anordnungen wird im
folgenden·auf einen älteren Vorschlag der Anmelderin
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— O —
(Aktenzeichen der US-Patentanmeldung 181 336) bezug
genommen. Dieser ältere Vorschlag bezieht sich auf die
Messung von Schichtdicken auf einem Metallsubstrat, wobei ein Detektor verwendet wird, welcher auf die
vom Substratüberzug ausgehende Fluoreszenzenergie anspricht.
Theoretische Untersuchungen von auf Materialwechsel-'
wirkungenberuhenden Verfahren zur Bestimmung der Gummimenge
auf Stahlbändern haben ergeben, daß die Messungen zweckmäßig über die Rückstrahlung von Röntgenstrahlung
vorgenommen werden. Es hat sich zwar gezeigt, daß die verschiedenen Meßmöglichkeiten jeweils sowohl bestimmte
Vorteile als auch bestimmte Nachteile besitzen. Letztendlich erweist sich jedoch ein auf der Rückstreuung
von Röntgenstrahlen basierendes Meßverfahren hinsichtlich des Endergebnisses am zweckmäßigsten. Sowohl ein
auf der Rückstreuung von ß-Strahlen, als auch auf der
Röntgenstrahlen-Fluoreszenz basierendes Verfahren besitzt bei Lagemessungen von metallischen Bändern gewisse Nachteile.
Das auf der Röntgenstrahlen-Fluoreszenz beruhende Verfahren besitzt ein schlechtes Signal-Rauschverhältnis.
Selbst bei einer Röntgenstrahlungsquelle mit relativ kleiner Energie ist Gummi ein gutes Streuelement. Da
die Intensität einer von metallischen Bändern gestreuten Röntgenstrahlung klein ist, kann die Intensität der vom
Gummi gestreuten Strahlung die Messung auch 'dann nachteilig beeinflußen, wenn ein Detektor mit einem gewissen
Grad an Energieselektivität verwendet wird. Verglichen mit einem auf der Rückstreuung von ß-Strahlen beruhendem
Verfahren, besitzt ein Röntgenstrahlen-Verfahren eine
größere Empfindlichkeit und eine bessere Flexibilität.
509827/0584 . . :
Die Intensität einer Rückstreuung der ß-Strahlung
ist näherungsweise proportional zur Ordnungszahl des rückstreuenden
Mediums. Der Absorptionskoeffi;zient von Röntgenstrahlen kleiner Energie ist proportional
zur vierten Potenz der Ordnungszahl. Das Eöntgenstrahl-Verfahren
erlaubt die Wahl einer optimalen Energie für den Dicken-Bereich der Messung und die.Gewährlei-.
stung einer großen Intensität von einer Röntgenstrahlen-Röhrenquelle.
Sind große Intensitäten nicht erforderlich, so kann aus Gründen der Einfachheit,, Zuverlässigkeit und
Stabilität eine Isotopen-Röntgenstrahlen-, / -Strahlenoder
Bremsstrahlungsquelle verwendet werden. Im Rahmen der vorliegenden Erfindung umfaßt der Begriff Röntgenstrahlung Strahlungen, welche von.einer Rontgenstrahlen-Röhreiiquelle,
von einer Isotopen-Quelle, einer jr—Strahlenquelle
oder einer Bremsstrahlungsguelle ausgestrahlt werden .
Beim Verfahren und bei der Anordnung nach der Erfindung
wird also die Rückstrahlung von.Röntgenstrahlung zur
Durchführung von Messungen an Reifenstrukturen ausgenfcutzt.
Bisher bekannte Verfahren und Anordnungen machen es unter
Ausnutzung der Rückstreuung von Röntgenstrahlung nicht möglich,-die Dicken von Gummi auf sich gegenüberliegenden
Seiten einer verstärkenden Stahlreifenseele zu bestimmen.
Im Rahmen des Verfahrens und der. Anordnung gemäß vorliegender
Erfindung zur Messung der Dicken von Gummischichten auf sich gegenüberliegenden Seiten einer Reifenseele
werden die Begriff Dicke und Gewicht bei der Erläuterung
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der Messung von Gummischichten gleichwertig nebeneinander benutzt, da die Gewichtsmessung eines Materials mit
konstanter Dichte einer Dicken-Messung äquivalent ist.
Für industrielle Zwecke wird als Bezügsgröße die Dicke bevorzugt verwendet. Die Messung wird normalerweise
an einer sich kontinuierlich bewegenden Schichtstruktur auf der in Bewegungsrichtung hinteren Seite und nahe
benachbart zu einer in der Reifenindustrie gebräuchlichen ' ochichtstruktur-KerStellungsanlage durchgeführt, um zwecks
Gewährleistung einer gleichförmigen Qualität an dieser Herstellungsanlage manuelle oder automatische Korrekturen
durchführen zu können.
Auf sich gegenüberliegenden Seiten der Schichtstruktur
sind Rückstreu-Meßvorrichtungen vorgesehen, welche jeweils eine Röntgenstrahlungsguelle und einen auf die
rückgestreute Strahlung ansprechenden Detektor enthalten, wobei diese Meßvorrichtungen derart angeordnet sind., daß
von den Quellen primäre Strahlungen in die. Schichtstruktur
eingestrahlt werden. Da die Strahlungen sich durch die Schichtstruktur fortpflanzen, werden die Rückstreu-Strahlungen
zunächst an der dem Detektor nächsten Schicht, sodann an der Imienschicht aus verstärkenden Bändern mit
durch die Außenschichten aufgefüllten Zwischenräumen und schließlich an der Materialschicht auf der dein Detektor
gegenüberliegenden Seite erzeugt. Die Strahlungsdetektoren erzeugen ein Signal, das Komponenten aus der Rückstreuung
an der Schicht auf der Detektorseite, an der Schicht aus verstärkenden Bändern und an der Schicht auf der
gegenüberliegenden Seite des Sensors enthält. Die Signalkomponente von der Schicht auf der Detektorseite ist
eine Funktion des Produktes der Dicke der Schicht und einem Empfindlichkeitsfaktor α, welcher für eine be-
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stimmte Reifenstruktur konstant, ist und in Vorversuchen
für verschiedene Arten"von herzustellenden Reifen festgelegt wird. Die Signalkomponente von der Schicht, auf der
dem Detektor gegenüberliegenden Seite ist eine Funktion des Produktes der Dicke der Schicht und eines Empfindlichkeitsfaktors
b, welcher für eine bestimmte Reifenstruktur ebenfalls eine konstante ist und für verschiedene
Arten von herzustellenden Reifenstrukturen in Vorversuchen festgelegt wird. Das Verhältnis b/a ändert sich
mit der Größe und der relativen geometrischen Zuordnung der Verstärkungsbänder. Sind die Verstärkungsbänder
groß und so nahe zueinander angeordnet, daß sie sich berühren, so geht das Verhältnis b/a gegen Null, da die
Stahlbänder Rückstreustrahlungen von der dem Detektor gegenüberliegenden Seite verhindern. Sind die Bänder klein
und in größerem Abstand zueinander angeordnet, so nimmt das Verhältnis b/a zu und geht gegen Eins, wenn die Schichtstruktur
Verstärkungsbänder mit einer kleinen Ordnungszahl im Vergleich zur Ordnungszahl des auf sich gegenüberliegenden
Seiten dieser Bänder aufgebrachten Materials besitzt. Die durch die Rückstreuung an der inneren Schicht
erzeugte Signalkomponente ist für eine gegebene Schichtstruktur eine Konstante und für beide Detektoren gleich.
Eine optimale. Unabhängigkeit von Zusammensetzungsänderungen des die Verstärkungsbänder beschichtenden Materials
kann durch Wahl der Energie der von den Röntgenstrahlungsquellen ausgehenden PrimärStrahlungen erreicht werden.
Die erfindungsgemäße Anordnung enthält speziell Stabilisierungs-Kreise,
welche die von den Meßdetektoren gelieferten Signale von Schwankungen der Energiequelle
unabhängig machen. Weiterhin sind Normierungskreise vorgesehen, um ein wiederholtes Ansprechen auf dieselben
- io -"
50982770584
-Io - ·
Proben zu ermöglichen. Darüber hinaus werden vorgegebene Verschiebungssignale erzeugt, welche von den
von den I-leßvorrichtungen gelieferten IJormierungssignalen
subtrahiert werden. Die auf diese Weise erzeugten verschiedenen Signale v/erden mit Verstärkungsfaktoren von
Verstärkern mit variabler Verstärkung multipliziert. Die Signale von den sich gegenüberliegenden Meßvorrichtungen,
v/eiche in der vorbeschriebenen Weise weiter verarbeitet werden, werden in das Auflösungsnetzwerk eingespeist,
wobei ein Paar von Gleichungen lösbar ist, das die Verarbeitung der Signale für die unbekannten Dicken
mit den Material-Dicken auf sich gegenüberliegenden Seiten der Schichtstruktur in Beziehung setzt. Zur Einstellung
von konstanten Werten, welche sich mit der Art der Schichtstruktur ändern, ist ein Art Auswahlschalter mit
mehreren Schaltstellungen vorgesehen, so daß mit der erfindungsgemäßen
Anordnung verschiedene Arten von Schichtstrukturen gemessen werden können. Die Art einer speziellen
Schichtstruktur ist durch die Gesamtschichtdicke, durch die Zahl von Bändern pro Längeneinheit und die
Bandgröße gegeben. Beispielsweise bei einem Schalter mit zehn Schaltstellungen sind in jeder Schaltstellung für
jeweils eine Art von zehn Schichtstrukturarten -.Eingangsgrößen
gespeichert. Diese Eingangsgrößen'werden bei der Einrichtung der Anordnung in Vorversuchen festgelegt.
Sind Signale festgelegt, welche ein genaues Haß für die Materialdicken auf sich gegenüberliegenden Seiten der
Schichtstruktur sind, so können sie mittels eines Rechners und einer Anzeigeordnung kombiniert werden, um die
relative Lage der Schicht aus Verstärkungsbändern in der
Schichtstruktur anzuzeigen. Eine Verhältnisanzeige von eins entspricht einer■zentral liegenden Schicht aus Verstärkungs-
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bändern, während Anzeigen, welche größer oder kleiner
als eins sind, ein Maß für den Grad der Abweichung der
Schicht aas Verstärkungsbändern aus der zentralen Lage
in der Schichtstruktur sind. .
Die Gesamtdicke der Schichten auf sich gegenüberliegenden
Seiten der verstärkenden Bänder wird durch Summation der beiden Ausgangssignale des Auflösungsnetzwerkes in einem
Summationsverstärker gewonnen. '
Eine Anzeige der Differenz der Schichtdicken auf sich gegenüberliegenden Seiten der Schichtstruktur kann in der
erfindungsgemäßen Anordnung dadurch gewonnen werden, daß das ein Maß für die Dicke auf der einen Seite darstellende
Signal vom Signal, das ein Maß für die Dicke auf der anderen Seite der Schichtstruktur darstellt, subtrahiert
wird. . .
Die Erfindung wird im folgenden anhand von in den Figuren
der Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht einer Vorrichtung zur Herstellung von mit Bändern verstärkten Reifenstrukturen
sowie einer Anordnung zur Messung der Materialdicken auf sich gegenüberliegenden Seiten
der Verstärkungsbänder;
Fig. 2 eine vergrößerte Endansicht von Meßköpfen,nach
Fig. 1 mit Vertikalschnitten der rechten und linken Seiten eines oberen und eines unteren
Kopfes.; .
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Fig. 3 ein ins Einzelne gehendes Blockschaltbild einer Anordnung gemäß Fig. 1 zur Durchführung des erfindungsgemäßen
Meßverfahrens;
Fig. 4 ein Blockschaltbild eines in der Gesamtschaltung
nach Fig. 3 vorgesehenen Einstellverstärkers; und
Fig. 5 ein Diagramm der Spannungsempfindlichkeit der in der erfindungsgemäßen Anordnung vorgesehenen
Meßvorrichtungen für den FaIl7 daß bei mit Gummi
beschichteten Stahlbändern der Gummi insgesamt von der Schichtstruktur entfernt ist.
Fig. 1 zeigt eine typische Zweikalanderstraße zur Herstellung von kalandrierten Schichtstrukturen, V7elche
bei der Herstellung von Autoreifen benutzt werden..Verstärkungsbänder
1of welche typischerweise als Stahldrähte vorliegen, werden von Vorratstrommeln abgespult und durch
einen (nicht dargestellten) Führungsmechanismus parallel und in gleichem Abstand zwischen einer oberen Schicht
und einer unteren Schicht 12 aus Gummi oder entsprechendem Material durchgeführt. Diese Gummischichten werden
von einem oberen bzw. einem unteren Kalanderständer abgespult.
Der obere Kalanderständer umfaßt eine obere sowie eine untere Kalanderrolle 13 bzw. 14, welche relativ
zueinander justierbar sind, um einen gewünschten Abstand zwischen ihnen einstellen zu können. Damit wird
gewährleistet, daß die obere Gumraischciht 11, welche auf einer Seite des Ständers von einer Gummivorratsrolle
1 5 kalandriert wird, eine vorgegebene Dicke besitzt. Entsprechend umfaßt der untere Kalanderständer eine
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obere und eine untere Kalanderrolle 16 bzw. 17. deren
Abstand zueinander ebenfalls justierbar ist, um einen gewünschten Abstand zv/ischen ihnen einzustellen.
Damit wird gewährleistet, daß die untere
Gummischicht 12 eine vorgegebene Dicke besitzt. Die
Verstarkungsbander 1o sowie die Gummischichten 11
und 12 v/erden zwischen den unteren Rollen 14 des oberen
Kalanderständers und den oberen Rollen. 16 des unteren
Kalanderständers zusammengepreßt, wodurch die obere und untere Gummischicht in die Zwischenräume zwischen
den Bändern 1o gepreßt wird.DAdurch entsteht eine
einheitliche, durch Bänder verstärkte Gummistruktur 19,
welche sich in Richtung eines inFig. 1 eingetragenen großen Pfeiles zur Wexterverarbextung bewegt.
Gemäß der Erfindung ist auf sich gegenüberliegenden
Seiten der mit Bändern verstärkten Struktur 19 ein Paar von gleichartigen Röntgenstrahlungs-Rückstreu-Meßvorrichtungen
2o und 2T vorgesehen,welche vorzugsweise auf einem oberen bzw, einem unterem Querführungsmechanismus
2o bzw. 22' montiert sind. Diese lleßvorrichtungen dienen in an sich bekannter Weisezur Abtastung
der sich kontinuierlich bewegenden Struktur
Die Ileßvorrichtungen 2o und 21 besitzen jeweils einen Bezugsdetektor, welche auf die Primärstrahlungen von
einer hochstabilen Röntgenstrahlungsquelle ansprechen, sowie jeweils einen Heßdetektor, welche auf die Rückstreustrahlungen
von der Struktur 19 ansprechen. Bezugssignale
und Meßsignale von den Meßvorrichtungen 2o und 21 werden in eine Signalverarbeitung^- und Rechneranordnung
3o eingespeist, welche ein Paar von Ausgangssignalen liefert, von denen eines ein Maß für die Dicke
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des Gummis auf einer Seite der Verstärkungsbänder 1o
und das andere ein Maß für die Dicke des Gummis auf der anderen Seite der Verstärkungsbänder ist. Da der
auf die Verstärkungsbänder 1o aufgebrachte Dicke eine im wesentlichen konstante Dichte besitzt/ sind die
von der Anordnung 3o gelieferten Signale ein Maß für das Produkt aus dem Gewicht auf den entsprechenden
Seiten der Verstärkungsbänder 1o und einem konstanten Dichte-Paktor p. Das über eine Leitung 31 geführte Sig^
nal, das ein Maß für die Gummidichte auf der Oberseite
der Struktur 19 ist, wird auf ein Meßinstrument 33 gegeben, das entweder in Gummidicke-Einheiten oder Gummigewicht-Einheiten
kalibriert ist. Entsprechend wird das über eine Leitung 33 übertragene Signal, das ein
Maß für die Gummidicke auf der Unterseite der Struktur 19 ist, auf ein Meßinstrument 34 gegeben, das ebenfalls
entweder in Gummidicke-Einheiten oder in Gummigewichts-Einheiten
geeicht ist. Das Gesamtgewicht bzw. die Gesamtdicke der Struktur kann dadurch angezeigt werden, daß
der entsprechenden Summe eine Gewichts- oder Dicke-Größe für die Verstärkungsbänder hinzuaddiert wird. Die genannten
Signale können auf ein Verhältnismeßgerät gegeben werden, um eine Anzeige für die Lage der Verstärkungsbänder
innerhalb des Gummis zu gewinnen. Andererseits können sie auch voneinander subtrahiert werden,
um ein Abgleichsignal zu erzeugen, das ein Maß für die Differenz dor Gummidicke auf sich gegenüberliegenden
Seiten der Verstärkungsbänder ist. pie Signalverarbeitungs-
und Rechneranoirdnung 3o wird im folgenden anhand von Fig. 3 näher erläutert.
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5 Q 9 8 2 7 / Ö 5 8 4
Gemäß Fig, 2 umfassen die Röntgenstrahiungs-Meßvorrichtungen
2o und 21 eine kontinuierliche Strahlung liefernde Röntgenstrahlungs-Punktquelle 23, eine Bezugsionisationskammer
24, in der eine Bezugselektrode 25 vorgesehen ist, sowie eine Meßionisationskammer 26,
in der eine Meßelektrode 27 vorgesehen ist. Die Kammern
24 und 26 sind einzeln verschlossen und enthalten ein ionisierbares Inertgas, wie beispielsweise Argon, Krypton
oder Xenon. Das Gas wird im Hinblick auf optimale Meßempfindlichkeit
gewählt. Dabei ist Krypton bevorzugt, weil es einen größeren Meßwirkungsgrad besitzt und relativgeringere
Kosten verursacht. Die Kammern 24 und 26 sind durch dünne Fenster aus rostfreiem Stahl abgedeckt,*
welche im wesentlichen keine Primärstrahlung und keine
Rückstrahlung absorbieren. Diese Fenster schirmen jedoch
die Kammern gegen Fluoreszenzstrahlungen ab. Wie aus Fig. 2 zu ersehen ist, sind die Röntgenstrahlungsquellen
23 sowie die Kammern 24 und 26 der oberen ließ vor richtung 2o gegen die entsprechenden Komponenten der unteren Meßvorrichtung 21 in Längsrichtung relativ zur Bewegungsrichtung
der Struktur 19 versetzt (durch einen Pfeil 28 angezeigt), um zu vermeiden, daß die Strahlung von einer Meßvorrichtung
die andere Meßvorrichtung beeinflußt. Auf
der den Strahlungsquellen 23 abgewandten Seite der Schichtstruktur ist jeweils eine Absorber- bzw. Rückplatte
29 vorgesehen, welche Strahlungen absorbiert, die durch die Schichtstruktur 19 gestrahlt werden.
Die Rückplatten 29 dienen weiterhin zia liormierungszwekken,
was im folgenden noch genauer beschrifoeben wird.
Die Meßvorrichtungen 2o und 21 sind räumlich so angeordnet, daß eine durch ihre Mittelpunkte laufende Linie
parallel zu einer Längskante der Schichtstruktur 19 verläuft.
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- vs -
Um abrupte Signaländerungen, welche auftreten, wenn · die von den Meßvorrichtungen 2o und 21 ausgehenden
Strahlungen auf die einzelnen Verstärkungsbänder 1o auftreffen, so klein wie möglich zu halten, besitzen
die Strahlen vorzugsweise einen kreisförmigen, ovalen oder einen anderen, von einem rechteckigen Querschnitt
verschiedenen Querschnitt.. Ein rechteckiger Strahl besitzt eine Kante, welche parallel zu den Bändern 1o
verläuft, spricht speziell auch auf diese Bänder an und soll daher nicht in Betracht kommen. Kontraststrahlen,
welche längs einer Linie durch ihr Zentrum parallel zur Kante der Struktur 19 im Vergleich zur Vorder- und
Hinterkante eine kleinere Breite besitzen/ sprechen geringfügiger auf die Bänder an und sind daher gegenüber
einem rechteckigen- Querschnitt bevorzugt. Im Rahmen der Erfindung hat sich ein kreisförmiger Querschnitt als
zufriedenstellend herausgestellt. Daher ist die Ionisationskammer 24 vorzugsweise zylindrisch ausgebildet
und mit kreisförmigen Fenstern versehen, während die Ionisationskammer 26 ringförmig ausgebildet ist und koaxial
zur Ionisationskammer 24 liegt.
Die Dichte der Inert-Gase in den Kammern 24 und 26 beeinflußt
die Strahlungsempfindlichkeit der Meßvorrichtungen. Der Druck in der Zentralkammer 24 ist vorzugsweise
klein, um zu vermeiden, daß die von der Quelle stammende primäre Röntgenstrahlung wesentlich gedämpft
wird. Der Druck in der Meßkammer ist dagegen wesentlich höher, um zu vermeiden, daß die Rückstreustrahlung durch
die Kammer läuft, ohne daß einjwesentlicher Meßeffekt erzielt wird. Der Druck und das Gas in der Meßkammer sind
optimal so gewählt, daß diese Kammer auf die Rückstreustrahlung
anspricht, welche etwa den gleichen Energiewert wie die Primärstrahlung besitzt.
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Die Röntgenstrahlungsquelle 23 ist vorzugsweise eine hochstabile Quelle, wie beispielsweise eine geregelte
Röntgenstrahlungs-Maschinenquelle,eine Isotopenquelle,
usv/. Da eine Isotopenquelle vollständig stabil ist,
kann für eine derartige Quelle der Bezugsdetektor 24 entfallen. Gegenüber Isotopnenquellen zur Durchführung
der Messung sind jedoch Röntgenstrahlungs-Iiaschinenquellen bevorzugt, da sie gegenüber kommerziell erhältlichen
Isotopenquellen intensivere Strahlungen erzeugen können. Darüber hinaus kann die Strahlungsenergie im Hinblick
auf eine optimale Meßempfindlichkeit ausgewählt v/erden. In Fällen, in denenein schnelles Ansprechen und eine
große Genauigkeit nicht erforderlich sind, r können Isotopenquellen
in Verbindung mit einem Zählerdetektor, wie beispielsweise einer Scintillations-Photovervielfacherröhre
oder einem proportionalem Zähler verwendet v/erden. In diesem Fall werden ein Elektrometer 37 und
eine Verhältnisbildungsstufe 4o durch einen Impulsver- · stärker, einen Schwellwertdetektor und eine einen Impulsmittelwert
bildende Stufe ersetzt.
Gemäß einer besonderen Ausführungsform der Erfindung
wird der Energiewert der Röntgenstrahlen so gewählt,
daß die relative Empfindlichkeit der Heßvorrichtungen 2o und 21 gegenüber Änderungen der Zusammensetzung des
auf die Verstärkungsbänder 1o aufgebrachten Materials reduziert wird. Je höher dabei die Energie ist, umso
geringer ist die Empfindlichkeit in bezug auf die Zusammensetzung des Materials* Die Energie soll dabei
so gewählt sein, daß die Verstärkungsbänder zu einem beträchtlichen Äbsorptionseffekt führen. Andererseits
ist jedoch die Absorption umso größer, je !deiner die
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Energie ist. Daher mußte bei der Energiewahl von einem Kompromiß
ausgegangen werden, wobei die Gesichtspunkte für einen gegebenen Herstellungsprozeß in Betracht gezogen
v/erden. Zur Messung der Dicken von Gummi auf sich gegenüberliegenden Seiten von VerstürkungsbändernL
aus Stahl mit kleinen Verhältnissen b/a und-minimaler. Empfindlichkeit im Hinblick auf Zusammensetzungsänderungen
liegen die Eriergiewerte beispielsweise im Bereich
von etwa 25 bis 60 KeV.
Durch die Ileßvorrichtung 2o wird ein Röntgenstrahl mit
vorgegebenem Energiewert von der Quelle 23 durch die Be-. zugskammer 24 gestrahlt, bevor er auf die Struktur 19
auftrifft. Dp.s in der Kammer 24 vorhandene Inertgas
wird bei Vorhandensein eines Kollektorpotentials durch die aus der Röntgenstrahlung absorbierte Energie ionisiert.
Das Gas absorbiert lediglich einen geringen Teil der Energie des von der Quelle 23 kommenden Strahls,, so
daß der Strahl mit einem sehr geringen Dämpfungsgrad durch die Kammer.24 tritt. Die Bezugselektrode 25 liefert
einen Signalstrom, dessen Amplitude ein Maß für die Intensität des von der Quelle 23 kommenden Stroms
ist.
Nachdem der Strahl durch die Bezugskammer 24 getreten ist, trifft er auf die Struktur 19 auf, wodurch beim
Durchtreten durch diese Struktur eine Ruckstreustrahlung
erzeugt wird. Diese in die Kammer 26 eintretende Ruckstreustrahlung
ionisiert das Gas in dieser Kammer, wodurch ein über die Meßelektrode 27 fließender Signalstrom
eine Amplitude besitzt, welche proportional zum Ionisationsgrad des Gases in dieser Kammer ist.
"18 -
5 0 9827/0584
In entsprechender Weise werden ein Bezugssignalstrom und ein Meßsignalstrom über die Elektroden 25 und 27
in der unteren Meßvorrichtung 21 erzeugt.
Die Meßelektrode 27 in der oberen Meßvorrichtung 2o spricht auf die in die Kammer 26 eintretende Rückstreuenergie
auf und erzeugt ein Ausgangssignal gemäß der Gleichung:
-(at.+bt +F)
^-T- -I · 1_ / -1 _ t O
. (oben) ~ ο
Darin bedeuten:-
I der von der Meßvorrichtung gelieferte Strom,
I der von der Meßvorrichtung für eine Struktur mit der Gummidicke Null auf den Bändern 1ο gelieferte
Strom,
k eine proportionale Konstante,
e die Basis des natürlichen Logarithmus, a die Meßempfindlichkeit bei Gummiauf der Meßvorrichtungsseite der Bänder,
e die Basis des natürlichen Logarithmus, a die Meßempfindlichkeit bei Gummiauf der Meßvorrichtungsseite der Bänder,
b die Meßempfindlichkeit bei Gummi auf der, der Meßvorrichtung
abgewandten Seite;
t, die Gummidicke auf der Oberseite der Bänder,
t, die Gummidicke auf der Unterseite der Bänder, F ein Faktor, welcher ein Maß für das Gummi zwischen
den Stahlbändern' ist, . · c ein Zusammensetzungsfaktor des Gummis, welcher sich
mit Materialien in der Gummischicht ändert, die von . Gummi verschieden sind (beispielsweise Zink), und
g ein Faktor, welcher den Zusammensetzung^faktor mit
den Meßeinheiten in Beziehung setzt.
(D
509827/0584
- 19 -
Entsprechend lieferte die Meßelektrode 27 in der unteren iießvorrichtung 21 als Funktion der in die
Kammer 26 eintretenden Strahlungsenergie ein Ausgangssignal gemäß der Beziehung:
— T*
m (unten) "~ ο
-(atb+btt+F)(1-gc)
In dieser Gleichung entsprechen die Größenden in Gleichung (1) angegebenen Größen.
Die .'.xeßsignale und die Bezugssignale von den Meßvorrichtungen
2o und 21 v/erden im Signalverarbeitungsschalter 35 und 36 der Anordnung 3o nach Fig. 1 eingespeist. £ur
v/eiteren Erläuterung dieser Signalverarbeitungsschaltungen 35 und 36 sowie anderer Schaltungsteile der Anordnung
3o wird auf Fig. 3 Bezug genommen, in der die Anordnung 3o nach Fig. 1 als Blockschaltbild dargestellt
ist. Da die Signalverarbeitungsschaltungen 35 und 36 für die obere und untere Meßvorrichtung entsprechend
ausgebildet sind, wird lediglich die Signalverarbeitungsschaltung für die obere Meßvorrichtung im einzelnen
beschrieben. Die Signalverarbeitungsschaltung für die untere Iießvorrichtung (welche in Fig. 3 durch
einen Block 36 dargestellt ist), setzt sich aus entsprechenden Komponenten zusammen.
In den Gleichungen (1) und (2) ändern sich die Größen
I als Funktion von Drifterscheinungen der Röntgenstrahlungsquelle 23, wenn diese Quelle nicht als Isotopenguelle,
sondern als Röntgenstrahlungs-Maschinenguelle ausgebildet ist. Die Drifterscheinungen in den Quellen
23 treten auch auf, wenn für die Spannungsversorgung dieser Quellen eine Stromregelung vorgesehen ist.
509827/05 8/.
- 2o -
- 2ο -
Um zu vermeiden, daß Drifterscheinungen der Quellen 23 die Genauigkeit des vo:n Detektor 2G gelieferten
Ileßsignals becinflußen, v/erden die durch die /.Elektroden
25 und 27 gelieferten" "Ströme in einer Verhältnisbildungsstufe 4o kombiniert, nachdem sie durch Elektromotor
37 und 38 in entsprechende Spannungswerte überführt sind. .Diese Elektrometer 37 und 38 enthalten
einen gebräuchlichen Widerstand mit großer Impedanz sowie ein Tiefpaßfilter, das Änderungen der von den
Elektroden 25 und 27 gelieferten Stromaraplituden als Funktion von statistischen änderungen der von der Qeulle
23 gelieferten Röntgenstrahlung eliminiert. Das Ausgangssignal der Verhältnisbildungsstufe 4o liegt mit der Ausnahme
in Form der Gleichung (1) vor, daß der I-Jert von
I stabilisiert ist, v/eil das Ausgangssignal des Elektrometers 37 durch das Ausgangssignal des Elektrometers 38
dividiert ist. Das Signal des Elektrometers 38 wird vom Strom I abgeleitet, welcher'vom Bezugsdetektor 24
geliefert wird.
Das von der Verhältnisbildungsstufe 4o gelieferte Signal wird in einen zur Durchführung der Normierung vorgesehenen
Funktionsverstärker 41 eingespeist. Da die
Werte der Schaltkreiselemente in der Signalverarbeitungsschaltung sich über die Zeit ändern können, ist es notwendig,
eine Schaltung zur periodischen Normierung der Anordnung vorzusehen, um ihr Ansprechvermögen wiederholbar
zu gestalten. Fig. 4 zeigt eine im Rahmen der Erfindung verwendbare Normierungsschaltung. Diese Schaltung
enthält ein Sümmationsnetzwerk 42, ein Verstärkernetzwerk
mit variabler Verstärkung mit einem Verstärker 4 5 und einem Potentiometer 46, ein Summationsnetzwerk 47
sowie ein erstes und ein zweites Normierungsrelais K1
5098 2 7 /05 8 A '_ ?1 _
und Κ2. Das Summationsnetzwerk 42 subtrahiert eine vorgegebene
negative Verschiebungsspannung an einem Schleifer 44 eines Potentiometers 43, von der in dieses Suminationsnctzwerk
eingegebenen Eingangsgröße. Das Potentiometer 43 liegt dabei zwischen einer negativen Spannung
-E und Erde. Die Verstärkung G des Verstärkers 45 mit variabler Verstärkung wird durch Änderung der Einstellung
des Schleifrers des Potentiometers 4 6 geregelt.
Zur Durchführung der Normierung werden zwei verschiedene Normtastwerte verwendet. Der erste Tastwert repräsentiert
eine Schichtstruktur mit wenig oder keinem Gummi auf den Verstärkungsbändern, während der zweite Tastwert eine
Schichtstruktur repräsentiert, auf der näherungsweise die maximale Gummidicke vorhanden ist, welche durch die
Heßvorrichtungen erfaßt wird. Es ist dabei nicht erforderlich, daß die Tastwerte tatsächlichen Abschnitten von
Verstärkungsbändern mit minimalen und maximalen Gummidicken etnsprechen. Der Rahmen der Erfindung hat es
sich stattdessen als zweckmäßig erwiesen, die Rückplatten 29 für den ersten Tastwert und eine mit einer Mylar-Schicht
vorgegebener Dicke beschichtete Stahlplatte für den zweiten Tastwert auszunutzen. Da die Meßvorrichtungen- 2o und
21 gleich normiert werden müssen, ist ein identisches Paar von erster; Tastwerten mit jeweils einem Tastwerfc
für "eine Meßvorrichtung vorgesehen. Entsprechend ist ein identisches Paar von zweiten Tastwerten vorgesehen,
Der erste Normierungsschritt wird ausgeführt, wenn die
Meßvorrichtungen 2o und 21 von der Schichtstruktur Λ3
weggeführt sind. Dabei ist das Normierungsrelais K1
- 22 -
509827/0584
erregt und das Normierungsrelais K2 enterregt, wodurch
eine Spannung e„ gleich TTuIl eingestellt wird. Dabei
trifft dann die Röntgenstrahlung von den Quellen 23 in jeder Meßvorrichtung direkt auf ein erstes Probeelement
(die Rückplatte 29) der gegenüberliegenden Meßvorrichtung auf. Der Schleifer 24 des Verschiebungseinstellpotentioraeters
43 wird solange verschoben, bis eine negative Spannung Ξ eingestellt ist, welche
bei Subtraktion vom ankommenden Eingangssignal e. im Surnmationsnetzwerk 42 ein Ausgangssignal e
mit dem Wert Null des Funktionsverstärkers ergibt.
Der zweite Normierungsschritt wird ausgeführt, wenn ■
das zweite Probenelement in den von den Meßvorrichtungen 2o und 21 kommenden Röntgenstrahlungen liegt. Dabei ist
das Hormierungsrelais K1 enterregt und das Normierungsrelais K2 erregt. Die Verstärkung des Verstärkers 45
mit variabler Verstärkung wird solange durch das Verstärkungseinstellpotentiometer
46 geändert, bis das Ausgangssignal TJ des Funktionsverstärkers 41 auf einem
vorgegebenen Wert am oberen Ende der Ausgangs-Ansprechkurve liegt. Zu diesem Zweck ist das Summationsnetzwerk
47 vorgesehen, wobei eine negative Normspannung von beispielsweise -8V über einen kontakt NO des Relais K2
und einen Kontakt NC des Relais K1 auf das Summationsnetzwerk
47 gegeben, wird, so daß diese Spannung von dem am Summationsnotzwerk stehendenEingangssignal e..
subtrahiert wird. Der Schieber des Potentiometers 46
wird solange verschoben, bis die Ausgangsspannung e
des Summationsnetzwerkes 47 gleich Null ist. Wenn diesder Fall ist, so muß e.. gleich e„ und e.. gleich 3 V sein.
- 23 -
509827/0584
Nachdem die beiden Normierungsschritte durchgeführt
sind, werden die Normierungsrelais K1 und K2 enterregt,
so daß die Größe e„ gleich Null ist. Sodann werden die Meßvorrichtungen 2o und 21 in den Bereich über
der Schichtstruktur 19 geführt, so daß die Anordnung arbeiten kann. Die Normierungsschritte werden für die
obere und untere Meßvorrichtung 2o und 21 in gleichartiger
Weise durchgeführt. Neben einer manuellen Durchführung der liormierungsschritte kann die Normierung
im Rahmen der Erfindung auch automatisch unter Verwendung von Zeittakt- und Servoanordnungen durchgeführt
werden.
Das Ausgangssignal des Normierungsverstärkers 41 wird in ein Summationsnetzwerk 5o eingespeist. Dieses Summationsnetzwerk
So ist vorgesehen, um eine Verschiebungsspannung, welche einem Punkt X auf einer Spannungs-Ansprechkurve
C (Fig. 3) entspricht, bei einer vorgegebenen Targetdicke t™ gegen die vom Funktionsverstärker
41 in das Summationsnetzwerk 5o eingespeiste Spannung
verschieben zu können. In eine Verschiebungsspannungs*-
Äuswahlstufe 52 wird aus einer Art—Auswahlstufe 54
ein Eingangssignal eingespeist. Die Art-Auswahlstufe
54 besitzt mehrere Schaltstellungen, um verschiedene vorgegebene Eingangssignale in verschiedene Komponenten
der erfindungsgemäßen Anrodnung einspeisen zu können. Dabei handelt es sich beispielsweise um die Verschiebungsspannungs-Auswahlstufe
52, eine Verstärkungsauswahlstufe 53 sowie Komponenten eines im folgenden noch zu beschreibenden
Auflösungsnetzwerkes 55. Die Verschiebungsspannungs-Auswahlstufe
52 kann beispielsweise als multiplizierender Digital-Analog-Konverter ausgebildet sein, dem eine
konstante analoge Eingangsbezugsspannung zugeführt wird,
- 24 509827/0584
und der als Punktion dieser Eingangsspannung ein
digitales Ausgangssignal liefert. Die Art-Auswahl erfolgt durch das digitale Eignangssignal.
Jeder vorgegebene Wert des digitalen Eingangssignals
führt zu einer vorgegebenen Verschiebungsspannung,
welche einer bestimmten Art einer Schichtstruktur entspricht, die durch die Vorrichtung nach Fig. 1
hergestellt werden soll. Die Ausgangsspannung des
Summationsnetzwerkes 5o entspricht daher einer Spannungsabweichung von der vorgegebenen Targetdicks.
Ein das Ausgangssignal des Summationsnetzwerkes
aufnehmender Verstärker mit variabler Verstärkung dient zur Auswahl eines begrezten Bereiches der Spannungs-Ansprechkurve
C (Fig. 3), in dem die Anordnung ansprechen soll. Bei normalen Betriebsbedingungen ist die Abweichung
der Gummidicke auf den beiden Seiten der Verstärkungsbänder
von einer vorgegebenen Targetdicke nicht sehr groß,
so daß die Verstärkung des Verstärkers 51 mit variabler Verstärkung so eingestellt v/erden kann, daßfür einen
schmalen Bereich der Signal-Ansprechkurve C um die Targetdicke Tj. die volle Empfindlichkeit der Dickenmesser
und 34 ausgenutzt werden kann. Die Verstärkungsauswahlstufe 53 kann als Digital-Analog-Konverter ausgebildet
werden, wobei das analoge Eingangssignal gleich dem Ausgangssignal des Suni-nationsnetzwerkes 5o und die
Verstärkung durch die digitale Eingangsinformation festgelegt ist. Die digitale Eingangsinformation wird dabei
durch die Art-Äuswahlstufe 54 geliefert, über diese
digitale Eingangsinformation wird die Verstärkung des
Verstärkungssignal mit variabler Verstärkung eingestellt.
- 25 -
509827/0584
Die Ausgangsspannung des Verstärkers 51 mit variabler
Verstärkung der oberen Signalverarbeitungsschaltung
35 ist durch die folgende Gleichung gegeben:
'LT
= K
At
. +aAt,
t b
(3)
Darin bedeuten:
eTm die Ausgangsspannung des Verstärkers mit variabler
Verstärkung r
k eine Konstante,
At. die Abweichung der Dicke der oberen Gummischicht
von einer Targetdicke,
A t, die Abweichung der Dicke der unteren Gummi schicht
von einer Targetdicke, und
a und b die in Verbindung mit Gleichung (1) definierten
Größen.
Die .Signalverarbeitungsschaltung 36 für die untere Meßvorrichtung entspricht der SignalverarbeitungsscIhaX-tung
35 für die obere Meßvorrichtung, sodaß sie in Fig. 3 lediglich in Blockform dargestellt ist. Diese
Signalverarbeitungsschaltung 36 nimmt an Eingängen 52b
und 53b Eingangssignale von der Art-Auswahlschaltmag
54 auf, um entsprechend der Signalverarbeitungsschal-rtung
35 eine Verschiebungsauswahl und eine Verstärfeang/sauswahl
zu gewinnen.Durch die Verschiebungsauswahl in der Signalverarbeitungsschaltung für die untere
Meßvorrichtung wird eine Verschiebungsspannung auf ein Summationsnetzwerk gegeben, das dem Netzwerk
- 26 -
509827/0584
entspricht. Diese Verschiebungsspannung entspricht
einer Targetcicke für den Gummi aif der Unterseite (d.h. der Meßvorrichtungsseite) der Schichtstruktur
19. Durch die Verstärkungsauswahl in der Signalverarbeitungsschaltung
für die untere Meßvorrichtung wird die Verstärkung eines Verstärkers eingestellt,
welcher dem Verstärker 51 mit variabler Verstärkung entspricht. Dies erfolgt für eine spezielle Empfindlichkeit
auf der Basis der Art der hergestellten Reifenstruktur entsprechend der Signalverarbeitungsschaltung 35. ·
Das Ausgangssignal der Signalverarbeitungsschaltung der unteren Meßvorrichtung ist durch die folgende
Gleichung gegeben:
Darin bedeutet:
* ν!
(4)
eLB die Ausgangsspannung der Signalverarbeitungsschaltung
für die untere Meßvorrichtung, wobei die übrigen Größen mit den entsprechenden Größen der Gleichung (3)
übereinstimmen. Durch gleichzeitige Lösung der Gleichungen (3) und (4) für Λ t. und At^ kann gezeigt
v/erden, daß folgende Beziehungen gelten:
2 ,2
a -b
'LT
b Έ.
LB
(5)
509827/0584
- 27 -
2 u 2 a -b
'LB
'LT
(6)
Dabei ist K ein für die Verstärker 51 mit variabler Verstärkung in der oberen bzw. unteren Signalverarbeitungsschaltung
35 und 36 gemäß der Beziehung:
K =
(7)
Darin bedeutet
E ein vorgegebener konstantes Ansprechvermögen für die maximale GummidickenabweichungA T von einer Targetdicke
auf beiden Seiten der Struktur 19, welche durch die Meßvorrichtungen 2o und 21 erfaßt wird.
Daher ist En /
T ein konstanter Empfindlichkeits-
faktor mit der Einheit Volt pro Dickeneinheit.
Wird der durch Gleichung(7) gegebene Wert von K in die Gleichungen (5) und (6) eingesetzt, so ergibt
sich:
'LT
a LB
(8)
At
b ET
'LB
a eLB
509^27/0584
(9)
- 28 -
- aer -
Das Auflösungsnetzwerk 55 dient zur gleichzeitigen Losung der Gleichungen (3) und (4), wodurch Ausgangssignal
WnUiIa W_, gewonnen werden, welche ein Maß für
1 .b
die Dicke des Gummis auf der Oberseite und der Unterseite
der Schichtstruktur 19 sind. Dieses Netzwerk 55 enthält ein Paar von Summationsnetzwerken 56 und 57,
welche zwischen Ausgangsleitungen 62 und 63 der Signalverarbeitungsschaltungen
35 und 36 sowie Ausgangsleitungen 31 und 32 geschaltet sind. Netzwerke 58 und 5o
mit variabler Verstärkung dienen zur Speisung der Summationsnetzwerke
56 und 57 mit einer Verschiebungsspannung,
welche gleich dem Produkt aus dem Verhältnis b/a und dem Ausgangssignal der abgewandten Signalverarbeitungsschaltung
ist. Das Summationsnetzwerk 56 erzeugt daher ein Ausgangssignal gemäß der Beziehung
μ s β - - e Mo)
>VT eLT a eLB , * '
Während das Summationsnetzwerk 57 ein Ausgangssignal gemäß der Beziehung:
= eLB
liefert.
Die Verstärkung des Verstärkers 58 mit variabler Verstärkung wird durch eine Verstärkungsauswahlstufe 59
eingestellt, welche ihrerseits durch eine Stufe 59a in Form eines Digital-Analog-Konverters angesteuert wird.
- 29 -
509827/0584
Dieser Digital-Analog-Konverter entspricht dem oben
in Verbindung mit der Art-Auswahlstufe 54 beschriebenen Verschiebungs-Digital-Konverters. Entsprechend wird die
Verstärkung des Vesrtärkers 6o mit variabler Verstärkung durch eine Verstärkungsauswahlstufe 61 eingestellt.
In der anhand von Fig. 3 erläuterten Anordnung hängt das auf der Leitung 31 stehende Ausgangssignal W~ mit
der Abweichung Λ. t. der Dicke der oberen Gummischicht
über die Empfindlichkeitskonstante E_/ At zusammen,
KO
sodaß die Beziehung gilt:
(12ί
Entsprechend hängt das Ausgangssignal -W auf der Leitung
32 mit der Abweichung" /\ t, der Dicke der unteren Gummi schicht
über dieselbe Empfindlichkeitskonstante über die folgende Beziehung zusammen:
WB =
B =ΟίΓ~ * A^b (131
Es zeigt sich also, daß das Auflösungsnetzwerk 55 die Gleichungen (3) und (4) gleichzeitig automatisch löst.
Das Auflösungsnetzwerk 55 kann in an sich bekannter Weise verschiedenartig abgewandelt werden, um gleichzeitig
die Gleichungen zu lösen, welche durch die Signale auf: den Leitungen 62 und 63 gegeben sind. Damit wird jeweils
ein Paar von Ausgangssignalen erzeugt, welche ein iiaß für
- 3o -
509827/0584
.die Dicke des Gummis auf sich gegenüberliegenden Seiten
der Schichtstruktur 19 sind.Es ist beispielsweise nicht
erforderlich, den Verstärker 51 vorzusehen, um diejenige
Verstärkung zu gewinnen, welche zur Mulitplikation des vom Verschiebungsverstärkers 5o kommenden Signals mit
den verschiedenen, durch die Gleichung (7) gegebenen konstanten Faktoren durchzuführen. Im Auflösungsnetzwerk
können dann zusätzlich auch Verstärker in den Kanälen für die obere und untere Meßvorrichtung vorgesehen werden,
um Verstärkungsfaktoren zu gewinnen, welche einem Teil der durch die Gleichung (7) gegebenen Konstanten ent- ·
sprechen.
Es ist weiterhin zu bemerken, daß der Verschiebungsverstärker 5o und der Verstärker 51 als Linearisierungsnetzwerk
wirken, da sie die Ausgangsansprechkurve auf einen kleinen, im wesentlichen linearen Teil der Ansprechkurve
C begrenzen. Der Verstärker 51 stellt die Steigung bzw. die Empfindlichkeit des linearisierten Teils der
Kurve her.
Die Ausgangssignale'W„ und W_ können auf verschiedene
Weise zur Erzeugung der für die Reifenindustrie erforderlichen Information weiter verarbeitet werden. Zunächst
werden die Signale in die Anzeigegeräte 33 und 34 nach Fig. 1 eingespeist, welche eine Anzeige für die Dicken
der Gummischichten auf der Oberseite und der Unterseite
der Verstärkungsbänder 1o liefern. Darüber hinaus werden
die Signale gemäß einem besonderen Merkmal der Erfindung in einem Summationsverstarker 65 kombiniert, um ein Signal
zu erzeugen, das der Summe Wm und Wnen tspricht.
- S.
ti
Damit kann ein Maß die Gesamtdicke der Schichten auf beiden Seiten der Verstärkungsbänder gewonnen v/erden.
- 31 -
50 9 827/058A
Es kann weiterhin ein Verhältnisrechner 66 vorgesehen werden, welcher ein Signal W /ViL liefert, das der
relativen L·age der Verstärkungsbänder in der Schicht
entspricht. Es kann weiterhin auch ein Abgleichrechner mit einem phaseninvertierenden Verstärker der Verstärkung
1 und einem Summationsverstärker 68 vorgesehen werden, um ein Signal entsprechend der Differenz W1. - W zu erzeugen.
Obwohl der Verhältnisrechner 66 und der Abgleichrechner gewöhnlich nicht erforderlich sind, zeigt Fig. 3
jedoch, daß sie alternativ an den Punkten 69 und 7o angekoppelt werden können. Das Gesamtgewicht der Schichtstruktur
kann dadurch angezeigt werden, daß dem Ausgangssignal des Summationsnetzwerkes 65 eine Eichgröße eines
Meßinstrumentes oder eine getrennte Eingangsgröße hinzuaddiert wird, welche dem Gewicht der Verstärkungsbänder
entspricht. In entsprechender Weise kann auch die Dikke· der Gesamtstruktur ermittelt werden, in dem dem Ausgangssignal
des Summationsnetzwerkes 65 eine der Banddicke entsprechende Größe hinzuaddiert wird. Das Gewicht
und die Dicke der Verstärkungsbänder sind Größen, welche für jede herzustellende Reifenart bekannt sind. Wie Fig.3
zeigt, liefert beispielsweise ein Summationsnetzwerk ein Ausgangssignal, das ein Maß für die Gesamtdicke bzv/.
das Gesamtgewicht der Struktur sind, wobei den Größen W , •W und W„ eine der Dicke .oder dem Gewicht der Verstärkungsbänder
entsprechende Größe hinzuaddiert wird. Das Eingangssignal W wird durch einen Signalgenerator 126
erzeugt, wobei das die Größe W^ repräsentierende Signal
für jede Reifenart durch die Attauswahlstufe 54 ausgewählt wird, was durch eine gestrichelte Linie angedeutet
ist.
- 32 -
509827/05 8 4
— vT. ~
ii;s ist bereits ausgeführt worden, daß zur Einrichtung
der erfindungsgemäßen Anordnung Vorversuche ausgeführt
werden, um über die Art-Auswahlstufe 54für jede industriell
herzustellende Reifenart die erforderlichen Eingangssignale für die Signalverarbeitungsschaltungen 35 und 36
sowie das Auflösungsnetzwerk 55 zu erzeugen. Ist die Art-Auswahlstufe einmal entsprechend eingestellt, dann
ist es lediglich noch erforderlich, eine entsprechende
Umschaltung auf eine neu herzustellende Reifenart vorzunehmen, wenn der Reifentyp geändert vzerden soll. Die
Vorversuche machen es erforderlich, dassentsprechend den Reifenarten Prüfwerte erzeugt werden. Der Begriff "Reifenart11
umfaßt hier die Gesamtdicke der Schichtstruktur, die Anzahl der Verstarkungsbänder pro Längeneinheit und
die Größe der Verstarkungsbänder. Die Prüf v/er te für
die Reifenarten stellen bei der Durchführung der Vorversuche für die spezielle Reifenart Normgrößen dar,
welche die gesamte Dicke der Schichtstruktur, die erforderliche Anzahl von Verstärkungsbändern und die erforderliche
Größe der Verstärkungsbänder umfassen. Darüber hinaus werden die Verstärkungsbänder in der Schichtstruktur
richtig zentriert, so daß sich gleiche Gummidicken auf beiden Seiten der Schichtstruktur ergeben.
Eine Normprobe mit der gewünschten Drahtverstärkungskonfiguration
der gewünschten Gummidicke auf beiden Seiten dieser Verstärkungen wird zentral zwischen den
Meßvorrichtungen 2o und 21 in eine Meßstellung gebracht. Diese Probe kann einen beliebigen Wert von F (das
ist der Füllfaktor) und C (das ist der Zusammensetzungsfaktor) besitzen. Da die Probe die gewünschte Gummidicke
- 33 -
509827/0584
auf beiden Seiten der Struktur besitzt, ist A. t und
Δ tb gleich WuIl. Zunächst wird die erste Signalver-'
arbeitungsschaltung und sodann die andere Verarbeitungsschaltung einjustiert. Es sei zunächst die Einjustierung
der oberen Signalverarbeitungsschaltung 35 betrachtet. Die Verschiebungsspannungs-Auswahlstufe 52 wird so eingestellt,
daß eine Verschiebungsspannung E F in den Summationsverstärker
5o eingespeist wird, welche die Ausgangsspannung e des Funktionsverstärkers 41 so verschiebt,
daß die Ausgangsspannung ex_ des Verstärkers
ho
51 gleich Null ist.
Nun wird & t^ um einen bekannten Betrag· dadurch vergrößert,
daß Gummi oder Mylar auf die Oberseite der Verstärkungsbänder aufgebracht wird. Sodann wird die Verstärkung
des Verstärkers 51 so eingestellt, daß sich eine vorgegebene Empfindlichkeit für Guromi auf der
Oberseite der Verstärkungsbänder ergibt. Es kann beispielsweise erwünscht sein, daß e,™ von Null auf 4 V
ansteigt (die Hälfte des vollen Bereiches einer speziellen Meßanordnung), wenn die Dicke der Gummibelegung
auf der Oberseite der Schichtstruktur von >7ull auf 12,7 χ 1o cm erhöht wird. Für einen Wert Δ t. gleich
12,7 Jcra wird das Signal eT„ mittels Regelung durch
die Verstärkungsauswahlstufe 53 gleich 4 V gemacht. Auf
diese Weise wird der oben beschriebene Empfindlichkeitsfaktor R / A T festgelegt.
Die Signalverarbeitungsschaltung 36 für die untere Meßvorrichtung wird in entsprechender Weise dadurch ein—
justiert, daß zunächst die in den Sununationsverstärker
5o eingespeiste Verschiebungsspannung festgelegt wird,
wobei eine vorgegebene Normprobe benutzt wird. Sodaxua
\-T±y:d die Verstärkung des Verstärkers 51 mit variabler
509827/0584 - 34 "
Verstärkung eingestellt, wobei dieselbe Probe verwendet
wird, welche für die obere Signalverarbeitungsschaltung benutzt wurde. Diese Probe wird jedoch umgedreht,
so daß die zugefügte Gummimenge dem Wert Λ T1
entspricht.
Der Verstärkungsfaktor b/a in der Stufe 58 des Auflösungsnetzwerkes 55 wird so gewählt, daß bei weiterem Aufbringen
von Material mit einer Dicke von 2,54 χ 1o cm (Mylar
oder eines anderes gummiähnliches Material) auf die Unterseite der Schichtstruktur keine Änderung im Signal W
hervorruft. Entsprechend wird der Verstärkungsfaktor b/a im Netzwerk 6o so gewählt, daß bei zusätzlichem Aufbringen
von Gummi auf die Oberseite der Schichtstruktur
keine Änderung des Signales W erfolgt.
Eine Möglichkeit zur Festlegung der geeigneten Werte der Empfindlichkeitskonstanten a und b für das Auflösungsnetzwerk
55 besteht darin, die Ansprechcharakteristik einer der Meßvorrichtungen 2o oder 21 für den Fall aufzuzeichnen,
daß auf eine verstärkende Innenschicht, von welcher der gesainte Gummi entfernt wurde, sukzessive
Schichten aus Gummi mit gleicher Dicke aufgebracht werden. Die Schichten, weiche vorgegebene Schritte bekannter
Dicke repräsentieren, können gummiähnliche Schichten sein. Sie müssen insgesamt nicht aus Gummi bestehen.
Zu diesem Zweck eignen sich Kombinationen aus Gummi und Mylar, welche leichter zu handhaben sind als Schichten,
die insgesamt aus Gummi bestehen.
Zunächst wird eine Kurve der Änsprechempfindlichkeit der Meßvorrichtung mit sukzessiven Schichten auf der
Meßvorrichtungsseite der Verstärkungsbänder aufgezeichnet,
- 35 -
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wobei auf der der Meßvorrichtung abgewandten Seite kein Gummi vorhanden ist. Dieser Sachverhalt ist in Fig. 5
dargestellt. Die Kurve e' .. auf der rechten Seite der
Ordinate wird dadurch gewonnen, daß alle Punkte für jeweils eine weitere Schicht auf der Meßvorrichtungsseite
miteinander verbunden werden. Ein Punkt Y auf
der Ordinate stellt die Signalempfindlichkeitscharakteristik dar, wenn die Verstärkungsbänder frei von Gummi
sind.
Sodann wird eine Kurve der Ansprechempfindlichkeit der Meßvorrichtung gezeichnet, wenn sukzessive Schichten
auf die der Meßvorrichtung abgewandte Seite aufgebracht werden, wobei die der Meßvorrichtung benachbarte Seite
der Verstärkungsbänder frei von Gummi ist. Die Kurve e~
auf der linken Seite der Ordinate ergibt sich durch Verbinden aller Punkte, welche für die sukzessiv aufgetragenen
Schichten auf der der Meßvorrichtung abgev/andten Seite aufgetragen werden.
Das Ansprechvermögen der Meßvorrichtung kann durch folgende Gleichung angegeben werden:
e = Y e1
° L
(15)
Der Wert Y kann in einfacher Weise aus den Kurven gewonnen werden, da er das Ansprechvermögen der Meßvorrichtung
angibt, wenn die Verstärkungsbänder auf beiden Seiten nicht durch Gummi beschichtet sind. Der Wert der Proportionalitätskonstante
k kann in entsprechender Weise festgelegt werden. Die Vierte für Y und k ändern sich
für verschiedene Reifenarten nicht wesentlich, so daß sie
50982 7/05 8
- 36 -
aus der Herstellung eines bereits vorhandenen Produktes entnommen werden können.
Der Differentialquotient dar Gleichung (15) ist durch
folgende Beziehung gegeben:
= YQ k (1-gc) a e
(att+btb+F)
(17)
Da S1 die Steigung der Kurve e.. für t. = t, = C = F = 0
ist, ergibt sich:
t U
S1 =
dt.
= C = O
= Yok a
(18)
woraus folgt:
a = kY
(19)
In entsprechender Weise kann der Wert b aus folgender
Gleichung ermittelt weruen:
b = kY
(2o)
Es handelt sich dabei um Näherungsv/erte für die Größen
a und b zur Festlegung des Verhältnisses L/a im /uiflösungs-
509827/058Ü
- 37 -
.... O T3 tmm
netzwerk.
Es wird em dieser Stelle nocheinmal auf den eingangs erwähnten älteren Vorschlag der Anmelderin hingewiesen,
v/elcher eine Höntgenstrahlen-Meßvorrichtung mit Bezugsund
Ileßionisationskammern beschreibt, von denen Stromsignale
abgenommen v/erden. Zur überführung dieser Stromsignale
in Spannungssignale sind Elektrometer vorgesehen, wobei zur Elirninierung des Einflusses von Drifterscheinungen
der Rontgenstrahlungsquelle auf das Meßsignal eine Verhältnisbildungsstufe vorgesehen ist. Zur Nor-'
minierung findet eine Verschiebungsstufe und ein Verstärker
mit variabler Verstärkung Verwendung. Die Elektrometer, die Verhältnisbildungsstufe und die Normierungskomponenten gemäß diesem älteren Vorschlag entsprechen
den Elektrometern 37 und 38, der Verhältnisbildungsstufe 4o und dem Funktionsverstärker 41 gemäß vorliegender Erfindung.
Anstelle dieser Komponenten können auch andersartige entsprechende Komponenten Verwendung finden. In
der Anordnung gemäß der Erfindung kann auch ein programmierter Digitalrechner, beispielsweise zur Signalverarbeitung
zusammen mit geeigneten Sensoren verwendet v/erden.
Patentansprüche -
509827/058 4 -38-
Claims (22)
1. Verfahren zur Messung der Dicken von Materialschichten,
insbesondere aus Gummi, welche auf sich gegenüberliegenden Flächen von Verstärkungsbändern, insbesondere
aus Stahl, aufgebracht sind, wobei die Ordnungszahl'des
Materials der Verstärkungsbänder im Vergleich zur Ordnungszahl des Materials der Materialschichtcn groß ist,
dadurch gekennzeichnet, daß die Schichtstruktur aus Verstärkungsbändern und Materialschichten beidseitig
mit Röntgenstrahlung bestrahlt wird, daß die rückgestreuten Strahlungen zur Bildung eines ersten und zweiten
Signals erfaßt werden, welche ein Maß für die Dicke jeweils einer Haterialschicht auf den Verstärkungsbändern
sind, und daß das erste und zweite Signal zur Erzeugung eines dritten und vierten Signals derart kombiniert
werden, daß das dritte Signal ein Maß für die Dicke der Materialschicht auf der einen Seite des Verstärkungsbandes unabhängig von der Dicke der Materialschicht
auf der anderen Seite des Verstärkungsbandes und das vierte Signal ein Maß für die Dicke der Materialschicht
auf der anderen Seite des Verstärkungsbandes unabhängig 'von der Dicke der Materialschicht auf der einen Seite
des Verstärkungsbandes ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Energiewert der Röntgenstrahlung so gewählt ist,
.daß der Einfluß von Änderungen in der Materialzusammensetzung auf das erste und zweite Signal minimal ist, und
daß ins Gewicht fallende Absorption der Strahlungen durch die Verstärkungsbänder vorhanden ist.
- 39 -
509827/0B8A
3. Verfahren nach Anspruch 1 und/oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das erste und zweite Signal zur Erzeugung
des dritten Signals über einenFaktor b/a und das zweite und erste Signal zur Erzeugung des vierten
Signals ebenfalls über den Faktor b/a miteinander kombiniert v/erden, wobei a einen vorgegebenen Empfindlichkeitsfaktor
in bezug auf das Ansprechvermögen auf Rückstreustrahlungen von der Materialschicht auf der
einen Seite des Verstärkerbandes, auf der die Rückstrahlung erfaßt wird, und b einen vorgegebenen Empfindlichkeitsfaktor
in bezug auf das Ansprechvermögen auf Rückstrahlungen von der 'Materialschicht auf der Seite
des Verstärkerbandes, v/elche der Erfassungsseite gegenüberliegt,
bedeutet.
4. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der
Ansprüche 1 bis 3, gekennzeichnet durch eine erste und zweite Röntgenstrahlungsquelle (23) zur Bestrahlung der
einen bzw. der anderen Seite der Schichtstruktur (19) aus Materialschicht (11,12) und Verstärkungsbändern (1o),
einen ersten und zweiten Detektor (26) zur Erfassung der von jeweils einer Seite zurückgestreuten Strahlung und
Erzeugung des ersten bzw. zweiten Signals und durch ein Kombinationsnetzwerk (55) zur Erzeugung des dritten und
vierten Signals.
5. Anordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
durch das Kombinationsnetzwerk (55) eine Kombination das
ersten und zweiten Signals zur Erzeugung des dritten Signals über den Faktor b/a und des zweiten und des ersten
Signals zur Erzeugung des vierten Signals ebenfalls über den Faktor b/a erfolgt.
- 4o -
509827 /0584
6. Anordnung nach Anspruch 4 und 57 dadurch gekennzeichnet,
daß das Kombinationsnetzwerk (55) ein Auflösungsnetzwerk ist, das eine Schaltung (52, 56, 58, 59) zur Verschiebung
des weiter verarbeiteten zweiten Signals gegen das weiter verarbeitete erste Signal um den Faktor b/a
zwecks Erzeugung des dritten Signals sowie eine Schaltung (52, 57, 6o, 61) des weiter verarbeiteten ersten
Signals gegen das weiter verarbeitete zweite Signal um den Faktor b/a zwecks Erzeugung des vierten Signals
umfaßt.
7. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Röntgenstrahlungsquelle (23) sowie der erste Detektor (26) in einer ersten, auf der
einen Seite der Schichtstruktur (19) angeordneten Meßvorrichtung
(2o) und die zweite Röntgenstrahlungsquelle
(23) sowie der zweite Detektor (26) in einer zweiten,
auf der anderen Seite der Schichtstruktur (19) vorgesehenen
Meßvorrichtung (21) jeweils zusammen mit einer Einrichtung (24) zur Querbestrahlung der Schichtstruktur
ι (19) vorgesehen sind.
8. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet,
daß der ersteund zweite Detektor (26)
' gleichartig ausgebildet sind und durch eine, ein unter
Druck stehendes ionisierbares Gas enthaltende Kammer mit einer darin hefindlichen Heßelektrode (27) umfassen,
und daß das Gas und der Gasdruck so gewählt sind, daß sich eine optimale Empfindlichkeit für die von der
Schichtstruktur (19) rückgestreute Röntgenstrahlung ergibt.
- 41 -
509827/0584
9. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß die Ionisationskammern (26) mit der Schichtstruktur zugewandten Fenstern versehen sind,
die für Rückstreustrahlung von der Schichtstruktür (19) durchlässig und für Fluoreszenzstrahlung von der Schichtstruktur
(19) undurchlässig sind.
10. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 9, dadurch gekennzeichnet,
daß die Röntgenstrahlungsquellen (23) Isotopenquellen sind.
11. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 1o, dadurch
gekennzeichnet, daß die Röntgenstrahlungsquellen (23) geregelte Röhrenquellen sind, daß zwischen den Röntgenstrahlungsquellen
(23) und der Schichtstruktur (19) jeweils eine geschlossene Bezugsionisationskammer (24)
angeordnet ist, v/elche ein ionisierbares Gas und eine
Bezugssignalelektrode (25) enthält, und mit einem Fenster versehen ist, das für die von der Röntgenstrahlungsquelle
(23) abgestrahlte Strahlung durchlässig ist.
12. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 11, dadurch gekennzeichnet,
daß die Meßionisationskamraern (26) die Bezugsionisationskammern
(24) koaxial umgeben.
13. Anordnung nach einem der Ansprüche/bis 12, dadurch gekennzeichnet,
daß die Schichtstruktur (19) ein sich
kontinuierlich bewegendes, von einer Formvorrichtung ausgehendes Band ist.
- 42 -
509 82 7/0584
14. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis- 13, dadurch,
gekennzeichnet, daß die Verstärkungsbänder (1ο) in
Längsrichtung durch das Schichtstrukturband verlaufen, daß die i-Ießvorrichtungen (2o, 21) quer zu den Verstärkungsbändern
(1o) hin- und herbewegbar sind, und daß wenigstens eines der Fenster eine solche Gestalt besitzt,
daß der durch dieses Fenster tretende Röntgenstrahl in durch das Strahlenzentrum verlaufender Längsrichtung
der Schichtstruktur (19) eine kleinere Breite und an der
Vorder- und Hinterkante in Abtastrichtung eine größere
Breite besitzt.
15. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 14, dadurch
gekennzeichnet, daß das Fenster kreisförmig ausgebildet ist.
16. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 15, dadurch
gekennzeichnet, daß die Meßvorrichtung (2o, 21) in Längsrichtung der Schichtstruktur (1o) gegeneinander
versetzt sind.
17. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 16,.
gekennzeichnet durch Signalverarbeitungsschaltungen (35, 36) für das erste und zweite Signal mit jeweils
■ einem Stabilisierungskreis (37, 38, 4o) zur Stabilisierung
des ersten und zweiten Signals gegen Schwankungen der Intensität der Röntgenstrahlungsquellen (23), mit jeweils
einem Normierungskreis (Fig. 4) zur Normierung der stabilisierten Signale auf vorgegebenen Normproben
und durch einen Verschiebungs- und Linearisierungskreis (5o, 51, 52, 53) zur Verschiebung und Linearisierung
der stabilisierten und normierten Signale.
- 43 -
509827/058A
18. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 17, dadurch
gekennzeichnet, daß der Verschiebungs- und Linearisierungskreis (5o, 51, 52, 53) ein Sumnationsnetzwerk
(5o) zur Verschiebung der normierten Signale um einen vorgegebenen Verschiebungsspannungswert, v/elcher ein Maß
für eine Targetdicke einer die Verstärkungsbänder (1o) auf der ließvorrichtungsseite bedeckenden Gummischicht
ist, eine Verschiebungsspannungs-Auswahlstufe (52) zur
Auswahl der vorgegebenen Verschiebungsspannung für verschiedene Schichtstrukturarten, einen Verstärker (51)
mit ariabler Verstärkung zur Multiplikation der Ver- · Schiebungsspannung mit einem vorgegebenen Verstärkungsfaktor,
sowie eine Verstärkungsauswahlstufe (53) zur Regelung der Verstärkung des Verstärkers (51) für
verschiedene Schichtstrukturarten aufweist.
19. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 18, gekennzeichnet
durch einen Art-Auswahlschalter (54) mit mehreren Schaltstellungen, in dem für unterschiedliche Schichtstrukturarten
in den verschiedenen Schaltstellungen Informationen gespeichert sind, die Verschiebungsfaktoren,
welche ein Maß für die Targetdicke von Gummischichten auf den beiden Seiten der Verstärkungsbänder (1o) darstellende
Verschiebungsfaktoren, die Verstärkungsfak-
■ toren der Verstärker (51) mit variabler Verstärkung und den Faktor b/a umfassen.
20. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 19, dadurch gekennzeichnet,
daß das Kombinationsnetzwerk (55) ein aus dem Vergleich des dritten und vierten Signals gewonnenes
Signal liefert, das ein I-Iaß für die Lage der
Verstärkungsbänder (1o) in der Schichtstruktur (19) ist.
- 44 -
5 0-9 827/0584
21. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 2o, dadurch .gekennzeichnet/
daß das Kornbinationsnetzwerk (55) ein aus der Addition des dritten und vierten Signals
gewonnenes Signal liefetc, das ein Haß für die Gesamtdicke von Gummi in der Schichtstruktur (19) ist.
22. Anordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 21, dadurch gekennzeichnet,
daß das Kombinationsnetzwerk (55) ein aus der Addition des dritten und vierten Signals sowie eines
weiteren, ein Haß für die Dicke der Verstärkungsbänder (1o)
darstellendes Signal liefert, das. ein Maß für die Gesamtdicke der Schichtstruktur (19) ist.
509827/058Ä
Applications Claiming Priority (1)
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ID=23680711
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Date | Code | Title | Description |
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8131 | Rejection |