DE2817742C2 - Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen technologischer Kennwerte - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen technologischer KennwerteInfo
- Publication number
- DE2817742C2 DE2817742C2 DE2817742A DE2817742A DE2817742C2 DE 2817742 C2 DE2817742 C2 DE 2817742C2 DE 2817742 A DE2817742 A DE 2817742A DE 2817742 A DE2817742 A DE 2817742A DE 2817742 C2 DE2817742 C2 DE 2817742C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- detector
- intensity
- diffraction
- ray
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 19
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 23
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 16
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 6
- 230000011514 reflex Effects 0.000 claims description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 5
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 3
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 claims description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000005097 cold rolling Methods 0.000 description 2
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 2
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 2
- LXQXZNRPTYVCNG-YPZZEJLDSA-N americium-241 Chemical compound [241Am] LXQXZNRPTYVCNG-YPZZEJLDSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000006862 quantum yield reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20091—Measuring the energy-dispersion spectrum [EDS] of diffracted radiation
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum zerstörungsfreien Bestimmen solcher technologischer Kenn
werte von kaltgewalzten und rekristallisierend geglühten Fein- und Feinstbleehbändem, die von ihrer
kristallographischen Textur abhängen, insbesondere
des Anisotropiewertes, bei dem die Bänder mit einer
einfallenden Röntgen-Primärstrahlung durchstrahlt
werden und die an Kristallgittern der Bänder unter einem bestimmten Beugungswinkel 2Θ gegenüber der
einfallenden Primärstrahlung gebeugten Röntgenstrahlen detektiert werden, indem die Intensität des von den
ίο die Orientierung der Biechebene zur Ebene des
Strahlengangs angebenden Breitenwinkel « und Azimutwinkel β abhängigen Beugungsreflexes gemessen
wird.
Durchführung des Verfahrens mit einer Röntgenstrahlenquelle und einem Detektor mit einer Meßeinrichtung
zur Messung der Intensität der gebeugten Röntgenstrahlen, die auf je einer Seite des zu messenden Bandes
angeordnet sind
Es ist bereits bekannt, die Anisotropiekennzahl r„ von
Blechen und Bändern zerstörungsfrei durch Umrechnung von Intensitätsmessungen aus röntgenographischen Reflexionstexturmessungen und den aus diesen
gewonnenen inversen Polfiguren zu bestimmen. Abge
sehen davon, daß bei diesem bekannten Verfahren ein
einzelner Meßvorgang sehr lange Zeit beansprucht, wird nur eine sehr dünne Oberflächenschicht des zu
untersuchenden Prüflings erfaßt und daher auch kein repräsentatives Ergebnis für die Gesamtdicke des
μ Prüflings erhalten; außerdem muß die Meßfläche in
aufwendiger Weise für die Messung durch Schleifen und Polieren vorbereitet werden, so daß nur einzelne
Proben erfaßbar sind. Aus diesen Gründen ist die Anwendung des bekannten Verfahrens zum Messen und
Ji Kontrollieren der Anisotropiekennzahl während des
Produktionsvorganges, d. h. während des Kaltwalzens von Stahlblechen und -bändern nicht durchführbar.
Bekannt ist es weiterhin, vgl. H. Neff »Grundlagen und Anwendung der Röntgen-Feinstruktur-Analyse«
2. Aufl., München 1962, S. 354/363. mit Hilfe der
röntgenographischen Reflexionstechnik die Lage von Kristallen in der Oberflächenschicht von Metallen zu
beschreiben. Wegen der auch dazu erforderlichen Oberflächcnpräparicrung (Schleifen, Polieren) ist eine
Überwachung von Fertigungsprozessen, wie es die Herstellung und Weiterverarbeitung von kaltgewalztem Fein- und Feinsiblechband darstellt, mit einer
Verfolgung und Feststellung (Messung) der technologischen Kennwerte nicht zu verwirklichen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein verhältnismäßig einfaches und genaues Verfahren
anzugeben, mittels dessen die Messung repräsentativer,
texturabhängiger technologischer Werte, insbesondere des Anisotropiewertes r,„ an einem kontinuierlich
durchlaufenden kaltgewalzten und rekristallisierend geglühten Band über die Gesamtdicke möglich ist.
Diese Aufgabe wird nach der Erfindung bei einem Verfahren der eingangs genannten Art dadurch gelöst,
daß der Breiten- und Azimutwinkel während der
wi Messung festgehalten wird, daß eine polychromatische
Primärstrahlung mit Energien von über 20 keV verwendet wird, daß vor der Messung der Intensität von
wenigstens zwei Beugungsreflexen die delektierten Röntgenquanten in energieproportionale Spannungsim
pulse umgewandelt und die Spannungsimpulse nach
Impulshöhe diskriminiert Werden, daß die Maxima der Häufigkeitsverteilung der Impulshöhen den im voraus
bestimmten Beugungsreflexen zugeordnet werden und
der Zusammenhang zwischen der Intensität an diesen
Maxima und dem betrachteten technologischen Kennwert angezeigt wird.
In zweckmäßiger und gleichzeitig vorteilhafter Weise wird zum Trennen zweier nebeneinander liegender
Reflexe die Primärstrahlung koHimiert,
Eine bisher nicht erreichbare Schnelligkeit der Messungen an einem Band, und zwar über die gesamte
Länge des Bandes wird erzielt, wenn die Intensität an einem durchlaufenden Band kontinuierlich gemessen
wird. Der Einfachheit der Messungen dient es, wenn die
Intensität des bei α = 0° und β = 0° liegenden Pols des
(22O)-Beugungsreflexes gemessen wird.
Die bevorzugte Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach der Erfindung ist so aufgebaut, daß die
Strahlenquelle zur Aussendung von polychromatischer Röntgenstrahlung ausgebildet und zusammen mit dem
Detektor innerhalb einer Produktionslinie angeordnet ist und daß der Detektor ein energiedispersiver
Detektor ist, an den ein Impulshöhenanaiysator und ein
Anzeigegerät angeschlossen sind, wobei bevorzugter Weise als Strahlungsquelle eine Röntgenröhre mit
Wolfram- oder Goldanode vorgesehen ist und vorteilhafter Weise auch mehrere Detektoren verwendbar
sind.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung wird als
energiedispersiver Detektor ein Halbleiterdetektor, vorzugsweise ein Reinst-Germanium-Detektor eingesetzt,
so daß eine optimale Quantenausbeute im geforderten Energiebereich ermöglicht wird.
Mit weiteren Vorteilen wie optimal angepaßter Energie für die Messung an Feinblechen bestimmter
Dicke, geringem apparativen Aufwand ist es verbunden, wenn als Strahlungsquelle ein radioaktiver Strahler,
vorzugsweise ein Americium 241-Strahler verwendet wird, wobei in einfachster Weise als Detektor ein
Auslösezählrohr vorgesehen ist.
Die Vorteile des Verfahrens nach der Erfindung sind insbesondere darin zu sehen, daß repräsentative,
texturabhängige technologische Werte, wie insbesondere die Anisotropiekennzahl rm von Bändern in verhältnismäßig
einfacher, wenig aufwendiger Weise schnell und kontinuierlich über deren Gesamtdicke während
des schnellaufenden Produktionsprozesses feststellbar sind. Insbesondere ist eine arbeits- urd zeitaufwendige
Matcrialvorbercilung vor Durchführung der Messungen nicht erforderlich. Darübcrhinaus entfällt die
aufwendige Messung (Reflexionstechnik) sowie die daran anschließende aufwendige Berechnung der
technologischen Werte, z. B. der Anisotropiekennzahl.
Ferner ist das neue Verfahren auch bei oberflächenbeschichtetcn
Bändern, wie z. B. verzinkten und verzinnten Bändern durchführbar. Nicht zuletzt wird die
Bestimmung genauer, da unterschiedliche Texturen in verschiedenen Dickcnlagen eines Bleches als Mittelwerte
gemessen werden.
Das Verfahren nach der Erfindung ist im folgenden anhand der Zeichnung in einem Ausführungsbeispiel
näher erläutert. Es zeigt
F i g. I eine Prinzipskizze der Meßeinrichtung,
Fig.2 eine Häufigkeitsverteilung der Impulshöhen einer Messung,
F ig, 3 eine (220)-Polfigw,
Ft g, 4 ein Blockschaltbild der Meßeinrichtung und
F i g, 5 ein Diagramm mit Meßwerten.
Wie aus Fig. 1 hervorgeht, besteht die Meßejnriehtung, die beispielsweise in Walzrichtung hinter dem Dressiergerüst eines Kaltwalzwerkes angeordnet ist, aus der die Primärstrahlung aussendenden Strahlungsquelle, z. B, einer Röntgenröhre 1 mit Kollimationseinrichtung und einem auf der gegenüberliegenden Seite des Stahlbandes 2 angeordneten energiedispersiven Strahlungsdetektor 3. Die Röntgenröhre 1 wird mit einer elektrischen Spannung von 60 kV betrieben. Bei dieser Betriebsspannung entsteht als Primärstrahlung eine Röntgenbremsstrahlung mit einer oberen Grenzenergie von 60 keV.
Ft g, 4 ein Blockschaltbild der Meßeinrichtung und
F i g, 5 ein Diagramm mit Meßwerten.
Wie aus Fig. 1 hervorgeht, besteht die Meßejnriehtung, die beispielsweise in Walzrichtung hinter dem Dressiergerüst eines Kaltwalzwerkes angeordnet ist, aus der die Primärstrahlung aussendenden Strahlungsquelle, z. B, einer Röntgenröhre 1 mit Kollimationseinrichtung und einem auf der gegenüberliegenden Seite des Stahlbandes 2 angeordneten energiedispersiven Strahlungsdetektor 3. Die Röntgenröhre 1 wird mit einer elektrischen Spannung von 60 kV betrieben. Bei dieser Betriebsspannung entsteht als Primärstrahlung eine Röntgenbremsstrahlung mit einer oberen Grenzenergie von 60 keV.
Die aus der Röntgenröhre 1 austretende Primärstrahlung
durchstrahlt das durch- bzw. vorbeilaufende Stahlband 2 mit einer Dicke von 1 mm und trifft auf den
Strahlungsdetektor 3 unter einem Beugungswinkel
jo 2Θ = 16°. Bei dieser Winkelstellung der Strahlenquelle
1 und dem Detektor 3 zueinander tritt der Beugungsreflex (220) unter einer Strahlungsenergie von 44 keV auf,
vgl. Fi g. Z Neben dem Beugungswinkel 2Θ sind für die
Messungen der mit der Werkstoffkenngröße rm die ein
Maß für die Tiefziehbarkeit eines Bleches bzw. Bandes angibt, korrelierenden Intensität A des (220)-Beugungsreflexes
wesentlich die Winkel α und ß. Während der Winkel θ die Orientierung des Detektors 3 zur
Strahlungsquelle 1 kennzeichnet, geben der Breitenwin-
jo kel λ und der Azimutwinkel β die Orientierung der
Blechebene zur Ebene des Strahlenganges an. Zur Durchführung der verfahrensgemäßen Messung wird
α = 0° und β = 0° bzw. β = 180° eingestellt. Dabei
entspricht der Winkel von β mit 0° der Walzrichtung
ji und 180° der entgegengesetzten Richtung. In Fig.3
sind die Winkel λ und β innerhalb einer Polfigur dargestellt, wobei die Intensitäten in cps (Impulse pro
Sekunde) für die gemessenen Polbereiche angegeben sind. Die eingezeichnete Intensität A kennzeichnet die
Intensität bei α = 0" undjJ = 0°.
In dem energiedispersiven Detektor 3, vorzugsweise einem Reinst-Germanium-Detektor, werden die auftreffenden
Röntgenquanten in energieproportionale Spannungsimpulse umgewandelt. Die Spannungsimpulse
η werden nachfolgend mit Hilfe eines Vielkanalanalysators
4, dem sie über einen Verstärker 5 zugeleitet werden, nach ihrer Impulshöhe diskriminiert (Impulshöhenanalyse)
vgl. Fig.4. Die so gemessene Häufigkeitsverteilung in Abhängigkeit von der Strahlungsenergie
so zeigt F i g. 2.
Die Zuordnung der in F i g. 2 dargestellten Maxima zu den dort eingetragenen Beugungsreflexen (21t) und
(220) ist gegeben durch die Bragg'sche Gleichung.
In dem Vielkanalanalysator 4 wird aus der in Fig.2 dargestellten Häufigkeitsverteilung die integrafe Intensität des (220)-Beugungsreflexes gewonnen. Der erhaltene Meßwert A wird zur Berücksichtigung unterschiedlicher Blechd'cken der Dicke nach in einem elektronischen Rechner 6, Fig.4, korrigiert. Der erhaltene lineare Zusammenhang zwischen der intensität A und der Anisotropiekennzahl rm entsprechend F i g. 5 wird in einem Anzeigegerät 7 angezeigt.
In dem Vielkanalanalysator 4 wird aus der in Fig.2 dargestellten Häufigkeitsverteilung die integrafe Intensität des (220)-Beugungsreflexes gewonnen. Der erhaltene Meßwert A wird zur Berücksichtigung unterschiedlicher Blechd'cken der Dicke nach in einem elektronischen Rechner 6, Fig.4, korrigiert. Der erhaltene lineare Zusammenhang zwischen der intensität A und der Anisotropiekennzahl rm entsprechend F i g. 5 wird in einem Anzeigegerät 7 angezeigt.
Hierzu 5 Blatt Zeichnungen
Claims (8)
1. Verfahren zum zerstörungsfreien Bestimmen
solcher technologischer Kennwerte von kaltgewalzten und rekristallisierend geglühten Fein- und
Feinstblecbbändern, die von ihrer kristallographischen Textur abhängen, insbesondere des Anisotropiewertes, bei dem die Bänder mit einer einfallenden
Röntgen-Primärstrahlung durchstrahlt werden und
die an Kristallgittern der Bänder unter einem bestimmten Beugungswinkel 2Θ gegenüber der
einfallenden Primärstrahlung gebeugten Röntgenstrahlen detektiert werden, indem die Intensität des
von den die Orientierung der Blechebene zur Ebene des Strahlengangs angebenden Breitenwinkel α und
Azimutwinkel β abhängigen Beugungsreflexes gemessen wird, dadurch gekennzeichnet,
daß der Breiten- und der Azimutwinkel während der Messung festgehalten wird, daß eine polychromatische Primärswahlung mit Energien von über 20 keV
verwendet wird, daß vor der Messung der Intensität von wenigstens zwei Beugungsreflexen die delektierten Röntgenquanten in energieproportionale
Spannungsimpulse umgewandelt und die Spannungsimpulse nach Impulshöhe diskriminiert werden, daß die Maxima der Häufigkeitsverteilung der
Impulshöhen den im voraus bestimmten Beugungsreflexen zugeordnet werden und der Zusammenhang zwischen der Intensität an diesen Maxima und
dem betrachteten technologischen Kennwert angezeigt wird.
2. Verfahren nach A/ispruct-. I, dadurch gekennzeichnet, daß die Primärsl.ahlung kollimiert wird.
3. Verfahren nach Anspruch :. dadurch gekennzeichnet, daß die Intensität an einem durchlaufenden
Band kontinuierlich gemessen wird.
4. Verfahren nach den Ansprüchen I bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Intensität des bei λ = 0"
und β = 0° liegenden Pols des (22O)-Beugungsreflcxes gemessen wird.
5. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 4 mit einer
Röntgenstrahlenquelle und einem Detektor mit
einer Meßeinrichtung zur Messung der Intensität der gebeugten Röntgenstrahlen, die auf je einer
Seite des zu messenden Bandes angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlenquelle zur
Aussendung von polychromatischer Röntgenstrahlung ausgebildet und zusammen mit dem Detektor
(3) innerhalb einer Produktionslinie angeordnet ist und daß der Detektor (3) ein energiedispersiver
Detektor ist, an den ein Impulshöhenanalysator (4) und eine Anzeigegerät (7) angeschlossen sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß als Strahlungsquelle (1) eine Röntgenröhre mit Wolfram- oder Goldanode vorgesehen ist.
7. Vorrichtung nach den Ansprüchen 5 und 6, dadurch gekennzeichnet, daß als energiedispersiver
Detektor ein Halbleiterdetektor, vorzugsweise ein Reinst-Gefffiänium-Detektor eingesetzt ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß als Detektor (3) ein Auslösezählrohr
vorgesehen ist.
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2817742A DE2817742C2 (de) | 1978-04-22 | 1978-04-22 | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen technologischer Kennwerte |
| AT0149679A AT381394B (de) | 1978-04-22 | 1979-02-27 | Verfahren zum zerstoerungsfreien bestimmen technologischer kennwerte sowie vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
| GB7908877A GB2019559B (en) | 1978-04-22 | 1979-03-13 | Determination of a characteristic of metal sheet or strip |
| IT48613/79A IT1114999B (it) | 1978-04-22 | 1979-04-04 | Procedimento e dispositivo per la determinazione di caratteristiche tecnologiche ad esempio di valore di anisotropia di corpi |
| JP4731679A JPS54141695A (en) | 1978-04-22 | 1979-04-19 | Method and device for nonndestructively detecting technical characteristic value of strip |
| BE0/194724A BE875722A (fr) | 1978-04-22 | 1979-04-20 | Procede et dispositif pour la determination de caracteristiques technologiques |
| FR7910102A FR2423774A1 (fr) | 1978-04-22 | 1979-04-20 | Procede et dispositif pour la determination de caracteristiques technologiques |
| LU81170A LU81170A1 (de) | 1978-04-22 | 1979-04-20 | Verfahren und vorrichtung zum bestimmen technologischer kennwerte |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2817742A DE2817742C2 (de) | 1978-04-22 | 1978-04-22 | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen technologischer Kennwerte |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2817742B1 DE2817742B1 (de) | 1979-10-31 |
| DE2817742C2 true DE2817742C2 (de) | 1980-07-24 |
Family
ID=6037775
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2817742A Expired DE2817742C2 (de) | 1978-04-22 | 1978-04-22 | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen technologischer Kennwerte |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS54141695A (de) |
| AT (1) | AT381394B (de) |
| BE (1) | BE875722A (de) |
| DE (1) | DE2817742C2 (de) |
| FR (1) | FR2423774A1 (de) |
| GB (1) | GB2019559B (de) |
| IT (1) | IT1114999B (de) |
| LU (1) | LU81170A1 (de) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3825830A1 (de) * | 1988-07-29 | 1990-02-01 | Hoesch Stahl Ag | Verfahren und vorrichtung zur texturanalyse |
| WO2017157692A1 (de) | 2016-03-14 | 2017-09-21 | Sms Group Gmbh | Verfahren zum walzen und/oder zur wärmebehandlung eines metallischen bandes |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5381458A (en) * | 1993-02-23 | 1995-01-10 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Method and apparatus for precisely measuring accelerating voltages applied to x-ray sources |
| FR2833081B1 (fr) * | 2001-11-30 | 2004-05-07 | Centre Nat Rech Scient | Procede d'analyse volumique aux rayons x de caracteristiques cristallographiques de pieces |
| DE102017208576A1 (de) | 2016-05-25 | 2017-11-30 | Sms Group Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Ermitteln einer Mikrostruktur eines Metallprodukts sowie metallurgische Anlage |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1329695A (en) * | 1970-09-09 | 1973-09-12 | Nutter J C | Diffractometry |
| JPS5332789A (en) * | 1976-09-08 | 1978-03-28 | Hitachi Ltd | Method and apparatus for measuring of stress of white color x-ray |
-
1978
- 1978-04-22 DE DE2817742A patent/DE2817742C2/de not_active Expired
-
1979
- 1979-02-27 AT AT0149679A patent/AT381394B/de not_active IP Right Cessation
- 1979-03-13 GB GB7908877A patent/GB2019559B/en not_active Expired
- 1979-04-04 IT IT48613/79A patent/IT1114999B/it active
- 1979-04-19 JP JP4731679A patent/JPS54141695A/ja active Granted
- 1979-04-20 BE BE0/194724A patent/BE875722A/xx not_active IP Right Cessation
- 1979-04-20 FR FR7910102A patent/FR2423774A1/fr active Granted
- 1979-04-20 LU LU81170A patent/LU81170A1/de unknown
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3825830A1 (de) * | 1988-07-29 | 1990-02-01 | Hoesch Stahl Ag | Verfahren und vorrichtung zur texturanalyse |
| WO2017157692A1 (de) | 2016-03-14 | 2017-09-21 | Sms Group Gmbh | Verfahren zum walzen und/oder zur wärmebehandlung eines metallischen bandes |
| DE102016222644A1 (de) | 2016-03-14 | 2017-09-28 | Sms Group Gmbh | Verfahren zum Walzen und/oder zur Wärmebehandlung eines metallischen Produkts |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2423774B1 (de) | 1984-05-04 |
| GB2019559B (en) | 1983-01-06 |
| JPH0237539B2 (de) | 1990-08-24 |
| LU81170A1 (de) | 1979-11-07 |
| ATA149679A (de) | 1986-02-15 |
| BE875722A (fr) | 1979-10-22 |
| JPS54141695A (en) | 1979-11-05 |
| IT1114999B (it) | 1986-02-03 |
| GB2019559A (en) | 1979-10-31 |
| AT381394B (de) | 1986-10-10 |
| DE2817742B1 (de) | 1979-10-31 |
| FR2423774A1 (fr) | 1979-11-16 |
| IT7948613A0 (it) | 1979-04-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE19739321C2 (de) | Verfahren und Einrichtung zum Bestimmen der Meßunsicherheit bei Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessungen | |
| DE60003695T2 (de) | Röntgenfluoreszenzanalyse von mehrschichtigen proben | |
| DE69026748T2 (de) | Verfahren zur Messung der Plattierungsrate und der Zusammensetzung einer Plattierungsschicht eines plattierten Stahlbleches und Vorrichtung für diesen Zweck | |
| EP0465797B1 (de) | Vorrichtung zum Messen des Eisengehaltes in Zinkschichten | |
| DE68928315T2 (de) | Methode zur messung der dicke eines überzugs auf einem substrat | |
| DE2432305A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur untersuchung eines koerpers mittels durchdringender strahlung | |
| DE1296829B (de) | Verfahren und Vorrichtungen zur Bestimmung des Gehaltes einer Probe an schweren Elementen durch Messung ihrer optisch angeregten K alfa- oder K beta-Roentgenfluoreszenzlinien | |
| WO2014082795A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur durchführung einer röntgenfluoreszenzanalyse | |
| DE2636145C3 (de) | Verfahren zum Bestimmen des Legierungsgrades von feuerverzinkten Stahlblechen | |
| DE2415403A1 (de) | Vorrichtung zum messen von mechanischen spannungen auf der oberflaeche eines koerpers aus polykristallinem material | |
| DE2817742C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen technologischer Kennwerte | |
| DE69128501T2 (de) | Einrichtung zum Nachweis metallischer Unreinheiten auf der Oberfläche eines Halbleitereinkristalls mit Verwendung der Fluoreszenz-Röntgenstrahlentotalreflektion | |
| DE2831311C2 (de) | Vorrichtung zur Ermittlung innerer Körperstrukturen mittels Streustrahlung | |
| EP0352423B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Texturanalyse | |
| DE2850748A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur mikroanalyse mittels einer roentgenstrahlung | |
| DE2706629C3 (de) | Einrichtung zur Überwachung der Position und der räumlichen Verteilung eines Elektronenstrahlbündels hoher Energie | |
| EP3987279B1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum bestimmen der werkstoffeigenschaften eines polykristallinen produkts | |
| EP0070974B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur zerstörungsfreien Bestimmung der Dicke der Eisen-Zinn-Zwischenschicht an elektrolytisch verzinntem Blech | |
| DE19545340C2 (de) | Vorrichtung zur Kontrolle von Flächenmassen | |
| DE19919990B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Dicke einer Metallschicht | |
| DE3425295A1 (de) | Vorrichtung zur Messung des Dickenprofils von gewalzten Blechbaendern | |
| DE2347037B2 (de) | Meßsystem einer Bohrloch-Sonde | |
| DE2048060C3 (de) | Verfahren zur Bestimmung der axialen Lage der Wicklungen im Wicklungsblock von Großtransformatoren, sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
| DE3816081C2 (de) | ||
| AT358846B (de) | Vorrichtung zur roentgenometrischen untersuchung von proben aus kolloiden strukturen |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EGA | New person/name/address of the applicant | ||
| 8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: ESTEL HOESCH WERKE AG, 4600 DORTMUND, DE |
|
| 8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: HOESCH WERKE AG, 4600 DORTMUND, DE |
|
| 8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: HOESCH AG, 4600 DORTMUND, DE |
|
| 8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: FRIED. KRUPP AG HOESCH-KRUPP, 4300 ESSEN UND 4600 |
|
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |