DE1296829B - Verfahren und Vorrichtungen zur Bestimmung des Gehaltes einer Probe an schweren Elementen durch Messung ihrer optisch angeregten K alfa- oder K beta-Roentgenfluoreszenzlinien - Google Patents
Verfahren und Vorrichtungen zur Bestimmung des Gehaltes einer Probe an schweren Elementen durch Messung ihrer optisch angeregten K alfa- oder K beta-RoentgenfluoreszenzlinienInfo
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Description
I 2
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur die zu analysierende ίΤ-Fluoreszenzlinie bildet.
Bestimmung des Gehaltes einer Probe an schweren Schließlich wirken sich Schwankungen im Röhren-Elementen
durch Messung ihrer optisch angeregten betrieb um so mehr auf die Intensität der zu messen-
K0- oder Ä^-Röntgenfluoreszenzlinien sowie eine den 2£-Linien aus, je mehr deren Anregungsenergie
Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens. 5 bei Werten liegt, bei denen die Zahl der zur Ver-
Die qualitative und quantitative Bestimmung von fügung stehenden Photonen mit entsprechender
Schwermetallen, wie Tantal, Wolfram, Gold, Queck- Energie sehr stark von der Röhrenspannung abhängt,
silber, Blei, Wismut und Uran, wirft häufig schwie- Die Bestimmung der schweren Elemente durch
rige Probleme auf, wenn es darum geht, diese Be- Messung der Absorption der Röntgen- oder y-Strah-
stimmung zerstörungsfrei und dabei rasch und genau io len hat bekanntlich den Vorteil, daß man die beson-
durchzuführen. ders hohen Absorptionskoeffizienten der schweren
Die Analysen müssen an Materialien unterschied- Elemente für Photonen hinreichend hoher Energie
licher geometrischer Form und sehr verschieden- ausnutzen kann. Die starken Änderungen des Gehalts
artiger Struktur ausgeführt werden, wie beispielsweise der Probe an anderen Elementen begrenzen alleran
Mineralstücken, wobei der Gehalt dieser Mate- 15 dings die Genauigkeit der Messung, und der Meßwert
rialien an anderen Bestandteilen in weiten Grenzen ist ferner eine Funktion der Probendicke. Diese Einschwanken
kann. Es kommt auch vor, daß diese flüsse spielen beispielsweise beim Sortieren von
Analysen nicht ohne weiteres durch Entnahme eines schwermetallhaltigen Mineralien eine Rolle, und es
bestimmten Anteils vorgenommen werden können, ist schwierig, beide gleichzeitig auszuschalten,
sei es, daß während der Untersuchung eine Kontrolle 20 Weiter ist ein Verfahren zur Bestimmung von der Gesamtheit des Materials erforderlich ist, sei es, Uran in Aluminium-Uran-Legierungen durch kombidaß Schwierigkeiten bestehen, eine repräsentative nierte Messung der optisch angeregten Röntgen-Probe auszuscheiden, sei es, daß eine Entnahme fluorenszenz des Urans und der Rayleigh-Streuung überhaupt unmöglich ist. bekannt, bei dem als Strahlenquelle für die anregende
sei es, daß während der Untersuchung eine Kontrolle 20 Weiter ist ein Verfahren zur Bestimmung von der Gesamtheit des Materials erforderlich ist, sei es, Uran in Aluminium-Uran-Legierungen durch kombidaß Schwierigkeiten bestehen, eine repräsentative nierte Messung der optisch angeregten Röntgen-Probe auszuscheiden, sei es, daß eine Entnahme fluorenszenz des Urans und der Rayleigh-Streuung überhaupt unmöglich ist. bekannt, bei dem als Strahlenquelle für die anregende
Schließlich muß die Messung gelegentlich auch 25 Strahlung eine Mischung aus einem ß-Strahler, wie
durch Wände hindurch ausgeführt werden, die eine Krypton-85 und Uranoxyd, verwendet wird. Dieses
hinreichende mechanische Festigkeit besitzen und Verfahren ist speziell auf die Anwendung bei AIu-
daher häufig eine Stärke von über 1 mm aufweisen. minium-Uran-Legierungen besonderer Struktur zu-
Von den bisher angewandten zerstörungsfreien geschnitten, bei denen die Rayleigh-Streuung von bePrüfverfahren
sind die Röntgenfluoreszenzanalyse 30 sonderer Bedeutung ist, und im übrigen bildet auch
und die Messung der Röntgen- oder y-Strahlen- hier die anregende Strahlung ein kontinuierliches
absorption am gebräuchlichsten. Spektrum, was, wie weiter oben bereits erwähnt
Diese Verfahren weisen jedoch verschiedene wurde, von Nachteil ist.
Mängel auf: Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse wer- Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein allden
üblicherweise die Spektrallinien der L-Serie der 35 gemein anwendbares Verfahren zur Bestimmung des
gesuchten schweren Elemente angeregt, deren Energie Gehalts einer Probe an schweren Elementen zu schafrelativ
gering ist (etwa 10 keV für die La-Linien des fen. Durch die Erfindung soll ferner die zur DurchBleis)
und die daher in der zu analysierenden Probe führung des Verfahrens dienende Vorrichtung gegeneine
Absorption erfahren, die von deren Zusammen- über den üblichen Röntgenfluoreszenzanalysegeräten
Setzung abhängt, d. h. vom Gehalt der Probe an an- 40 vereinfacht werden. Die Erfindung eignet sich insderen
Elementen. Diese Absorption kann sehr vari- besondere zur Kontrolle von schweren Elementen
abel sein und die Bestimmung des schweren Elements bzw. Elementen mit hoher Ordnungszahl in einer
vollständig verfälschen, wenn man die Zusammen- Matrix mit niedriger Ordnungszahl,
setzung der »Matrix« nicht genau kennt. Die Inten- Das erfindungsgemäße Verfahren besteht darin, sität der angeregten L-Linien wird außerdem durch 45 daß man zur Anregung die monochromatische den Kornaufbau, die Dichte, die chemische Struktur y-Strahlung eines Radioisotops verwendet, deren und die Homogenität der Probe beeinflußt; ihre Mes- Energie mehrere Male höher ist als diejenige der sung bezieht sich auch nur auf ein kleines Volumen X-Strahlung des zu bestimmenden Elements und daß der Probe; es ist ferner häufig unmöglich, hinter den man sowohl die Intensität IK der angeregten X-Strah-Wänden, deren Vorhandensein im Hinblick auf den 50 lung als auch die Intensität Ic der Compton-Streuzu kontrollierenden Prozeß notwendig ist, die Kon- Strahlung bestimmt.
setzung der »Matrix« nicht genau kennt. Die Inten- Das erfindungsgemäße Verfahren besteht darin, sität der angeregten L-Linien wird außerdem durch 45 daß man zur Anregung die monochromatische den Kornaufbau, die Dichte, die chemische Struktur y-Strahlung eines Radioisotops verwendet, deren und die Homogenität der Probe beeinflußt; ihre Mes- Energie mehrere Male höher ist als diejenige der sung bezieht sich auch nur auf ein kleines Volumen X-Strahlung des zu bestimmenden Elements und daß der Probe; es ist ferner häufig unmöglich, hinter den man sowohl die Intensität IK der angeregten X-Strah-Wänden, deren Vorhandensein im Hinblick auf den 50 lung als auch die Intensität Ic der Compton-Streuzu kontrollierenden Prozeß notwendig ist, die Kon- Strahlung bestimmt.
trolle auszuführen. Die Bestimmung der schweren Das Verhältnis von IK : Ic ist dann ein Maß für
Elemente über die Intensität ihrer L-Fluorenszenz- den Gehalt der Probe an dem zu bestimmenden EIe-
linien wird daher sehr selten vorgenommen. ment, da die Intensität der angeregten K-Linie der
Die Anregung der if-Linien der schweren EIe- 55 Menge an zu bestimmendem Element entspricht und
mente hat den Vorteil, daß ihre Bestimmung durch die Intensität der rückgestreuten Compton-Strahlung
verhältnismäßig dicke Wände hindurch möglich ist der Menge der untersuchten Probe und das Verhält-
und daß der Einfluß des Grundmaterials bzw. der nis dieser beiden Werte unmittelbar dem Gehalt an
Matrix auf die Absorption der angeregten K-Linien schwerem Element unter Berücksichtigung der geo-
geringer ist. Für die Durchführung dieses Verfahrens 60 metrischen Anordnung von Strahlenquelle und De-
werden allerdings Röntgenröhren und -geräte ge- tektor proportional ist.
braucht, die mit Spannungen von wenigstens 100 kV Eine zweckmäßige Vorrichtung zur Durchführung
betrieben werden können. Solche Geräte sind teuer des erfindungsgemäßen Verfahrens umfaßt eine
und unhandlich, und außerdem wird die Empfind- monochromatische ^-Strahlenquelle in einem zur
Iichkeit und Genauigkeit der Messung durch die an 65 Ausrichtung der -/-Strahlen auf die zu analysierende
der Probe und ihrer Halterung auftretende Compton- Probe dienenden, aus Blei bestehendem ersten Kolli-Streuung
des kontinuierlichen Erregerstrahlungsspek- mator, einen vorzugsweise als Szintillationszähler austrums
begrenzt, die einen erheblichen Störpegel für gebildeten Strahlungsdetektor, der in einem zum
3 4
ersten Kollimator unter einem beispielsweise rechten die Amplitudendifferenz bzw. der Abstand D zwi-Winkel
stehenden zweiten Kollimator angebracht ist sehen den Symmetrieachsen ak und ac bzw. zwischen
und eine mit dem Detektor verbundene Zählanord- der Symmetrieachse der auf die K-Linien zurückzunung.
Der spektrale Empfindlichkeitsbereich und die führenden Spitze und der maximalen Ordinate der
Kristallgröße des Detektors sind so bemessen, daß er 5 am nahesten gelegenen, auf die Streustrahlung zufür
die Ä-Fluoreszenzstrahlung empfindlicher ist als rückzuführenden Spitze wenigstens gleich der doppelfür
die Compton-Streustrahlung. Erfindungsgemäß ten Halbwertsbreite L der auf die Jf-Linien des zu
sind ein Strahlungsfilter am Ausgang des ersten Kolli- analysierenden Elements zurückzuführenden Impulsmators
und eine Wandverkleidung an der Innenwand spitze ist.
des zweiten Kollimators aus einem die ^-Fluoreszenz- io Die Tatsache, daß beim erfindungsgemäßen Verstrahlung
des Bleis absorbierenden Material ange- fahren mit monoenergetischer /-Strahlung (mit einbracht,
und die Zählanordnung besteht aus zwei zelnen Linien) gearbeitet wird, stellt gegenüber Ver-Zählkreisen,
von denen der eine einen Einkanal-Im- fahren mit Anregung durch ein beispielsweise mit
pulshöhenselektor aufweist, der nur die der X-Linie einer Röntgenröhre erzeugtes kontinuierliches Phodes
zu analysierenden Elements entsprechenden Im- 15 tonenspektrum einen wesentlichen Vorteil dar. Hierpulse
durchläßt, und der andere einen Impulshöhen- durch erreicht man insbesondere einen sehr kleinen
diskriminator, der nur die vom Compton-Effekt her- Störuntergrund gegenüber der zu messenden Linie,
rührenden Impulse durchläßt. Weiter ist eine Vor- was eine wesentlich höhere Genauigkeit ergibt,
richtung zur Verhältnisbildung, mit der beide Zähl- Die Energie der anregenden y-Strahlung soll nicht kreise verbunden sind, vorgesehen. so zu hoch sein, da einerseits der Photoabsorptions-
richtung zur Verhältnisbildung, mit der beide Zähl- Die Energie der anregenden y-Strahlung soll nicht kreise verbunden sind, vorgesehen. so zu hoch sein, da einerseits der Photoabsorptions-
AIs y-Strahlenquelle wird insbesondere das Radio- koeffizient des schweren Elements mit zunehmender
isotop Iridium-192 verwendet. Das Strahlungsfilter Energie der Erregerstrahlung rasch abnimmt und an-
am Ausgang des ersten Kollimators und die Wand- dererseits der direkt vom Detektor aufgenommene
verkleidung an der Innenwand des zweiten Kollima- Störpegel um so größer ist, je energiereicher die von
tors besteht vorzugsweise aus Cadmium. »5 der Strahlenquelle ausgesandten y-Strahlen sind; auch
Die Erfindung ist in den Zeichnungen an Hand werden bei einer zu starken Erhöhung der y-Strah-
von Ausführungsbeispielen veranschaulicht. Es zeigt lungsenergie die Abmessungen der untersuchten Zone
F i g. 1 eine Röntgenfluoreszenzanalysenvorrich- weniger genau begrenzt,
tung, Aus all diesen Gründen verwendet man vorteilhaft
F i g. 2 ein Spektrum der beim Verfahren auf die 3° Iridium-192, das im wesentlichen zwei Gruppen von
Detektoren auftreffenden Strahlung, y-Strahlen aussendet: Die Energie der einen Gruppe
F i g. 3 ein Blockschaltbild für eine Zählanordnung, liegt um 308 keV und die Energie der anderen
F i g. 4 eine Vorrichtung zum Sortieren von Mine- Gruppe bei 470 keV. Iridium-192 läßt sich im übri-
ralien. gen leicht beschaffen und zeichnet sich durch einen
Zur Durchführung des erfindungsgemäßen Ver- 35 einfachen Transport aus. Caesium-137 kann gleichfahrens
verwendet man eine in F i g. 1 dargestellte falls verwendet werden. Es hat den Vorteil einer sehr
Vorrichtung mit Rückstreugeometrie. Eine y-Strah- langen Lebensdauer, führt jedoch zu einem höheren
lenquelle 1 bestrahlt eine Probe 2 (im Bedarfsfall Gewicht der Vorrichtung und zu einer geringeren
durch eine Halterung bzw. einen Träger 3 mit einem Empfindlichkeit der Messungen,
gewissen Absorptionsvermögen). Die dabei angeregte 40 Man eliminiert die ^-Linien des Blei oder des X-Strahlung 4 und die rückgestreute y-Strahlung 5 sonstigen die Abschirmung (oder den Kollimator) des werden vom Proportionaldetektor 6 empfangen, der die Strahlenquelle tragenden Blockes bildenden Matebeispielsweise ein Szintillationszähler sein kann. Eine rials sowie den größeren Teil der in dieser Abschir-Bleiabschirmung 7 geeigneter Abmessungen schützt mung gestreuten y-Strahlung mit Hilfe eines Schirms den Detektor 6 vor direkter Bestrahlung durch die 45 bzw. Strahlungsfilters 10, dessen Material und Dicke Strahlenquelle und begrenzt die Abmessungen des geeignet gewählt werden. Dieses Filter 10 ist am Aus-Erregerstrahlbündels. Ein beim Detektor 6 angeord- gang des (ersten) Kollimator-Trägerblockes für die neter Kollimator 8 trägt zur Begrenzung der zu ana- Strahlenquelle so angeordnet, daß die austretende lysierenden Zone 9 bei und schützt den Detektor 6 Strahlung gefiltert wird. Man eliminiert auf diese gegenüber an der Einrichtung gestreuten y-Strahlen. 50 Weise Photonen, deren Energie gleich, etwas kleiner
gewissen Absorptionsvermögen). Die dabei angeregte 40 Man eliminiert die ^-Linien des Blei oder des X-Strahlung 4 und die rückgestreute y-Strahlung 5 sonstigen die Abschirmung (oder den Kollimator) des werden vom Proportionaldetektor 6 empfangen, der die Strahlenquelle tragenden Blockes bildenden Matebeispielsweise ein Szintillationszähler sein kann. Eine rials sowie den größeren Teil der in dieser Abschir-Bleiabschirmung 7 geeigneter Abmessungen schützt mung gestreuten y-Strahlung mit Hilfe eines Schirms den Detektor 6 vor direkter Bestrahlung durch die 45 bzw. Strahlungsfilters 10, dessen Material und Dicke Strahlenquelle und begrenzt die Abmessungen des geeignet gewählt werden. Dieses Filter 10 ist am Aus-Erregerstrahlbündels. Ein beim Detektor 6 angeord- gang des (ersten) Kollimator-Trägerblockes für die neter Kollimator 8 trägt zur Begrenzung der zu ana- Strahlenquelle so angeordnet, daß die austretende lysierenden Zone 9 bei und schützt den Detektor 6 Strahlung gefiltert wird. Man eliminiert auf diese gegenüber an der Einrichtung gestreuten y-Strahlen. 50 Weise Photonen, deren Energie gleich, etwas kleiner
Das /-Strahlen aussendende Isotop der Strahlen- oder etwas größer als die der X-Linie des zu analy-
quelle 1 wird so ausgewählt, daß die Hauptenergie sierenden Elements ist und die teilweise durch den
der durch den Compton-Effekt in Richtung auf den Compton-Effekt durch die Probe und ihre Halterung
Detektor gestreuten Photonen, die vom Winkel λ in Richtung auf den Detektor gestreut würden. Die
zwischen der Richtung der y-Strahlen und der Rieh- 55 Streuung in dem genannten Energiebereich erfolgt
tung der Achse des Detektors 6 abhängt, klar über ohne große Energieänderung und trägt zu dem Stör-
der Energie der K-Linien des zu analysierenden pegel unter den auf die X-Linien des zu analysieren-
schweren Elements liegt. Die der Compton-Streu- den Elements zurückzuführenden Impulsspitzen bei
strahlung entsprechende Spitze des vom Detektor ge- und beeinträchtigt daher die Genauigkeit der Mes-
lieferten Impulsspektrums ist dann deutlich von der 60 sung. Außerdem sollen die charakteristischen
Impulsspitze verschieden, die von den K-Linien des X-Linien der Elemente, die dieses Filter bilden, eine
zu analysierenden Elements herrührt. Man erkennt Energie aufweisen, die klar unter der Energie der
diese Impulsspitzen, wenn man die Verteilung der X-Linien des zu analysierenden Elements liegt, so
Impulse pro Sekunde (N/s) in einem gegebenen Am- daß sie der Detektor voneinander trennen kann. Das
plitudenintervall in Abhängigkeit von ihrer Ampli- 65 für das erwähnte Filter verwendete Material ist bei-
tude A (ausgedrückt beispielsweise in Volt) aufträgt. spielsweise Cadmium. Durch dieses Material wird in
F i g. 2 zeigt ein derartiges Strahlungsspektrum. besonders starkem Maße der Störpegel eliminiert, der
Die beiden Spitzen sind deutlich unterscheidbar, da bei der Bestimmung schwerer Elemente auftritt.
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Das Detektorelement wird so gewählt, daß es die der Gehalt an schwerem Element. Die Dichte spielt
Anzeige der zu analysierenden üC-Linien begünstigt eine kleine Rolle durch die Differenz der Absorption
und nur einen tragbaren Teil der durch den Comp- der angeregten ^-Strahlung und der gestreuten Strahton-Effekt
an der Probe und ihrer Halterung gestreu- lung vor dem Verlassen der Probe. Der Fachmann
ten y-Strahlung anzeigt. Wenn der Detektor ein Szin- 5 wird daher zweckmäßig die Tiefe abschätzen, bis zu
tillator ist, verwendet man zweckmäßig einen Kristall, der die Messung durchzuführen ist.
dessen Dicke (in Richtung der Nachweisachse) für Das gleiche Verhältnis hängt nur wenig von der
einen Nachweis der zu messenden X-Linie mit gutem Zusammensetzung der Matrix ab, da der Koeffizient μ0
Wirkungsgrad (von beispielsweise 80%), der Streu- im wesentlichen von der Energie der Photonen abstrahlung
dagegen mit kleinerem Wirkungsgrad aus- io hängt und nur wenig von der Ordnungszahl der EIereicht.
Man muß jedoch sicherstellen, daß die Dicke mente, die den Absorber bilden. Im Falle von Wasser
dieses Szintillators nicht zu gering ist, damit nicht der oder wasserstoffhaltigen Stoffen ist der Faktor μ,.
Nachweis bzw. Empfang gestreuter y-Strahlen eine (ausgedrückt in cm2/g) jedoch leicht erhöht. Dieses
Anhäufung von Impulsen niedriger Energie durch Verhältnis kann jedoch dadurch geändert sein, daß
unvollständige Absorption der entsprechenden Photo- 15 in der Probe Elemente vorhanden sind, die für die
elektronen im Szintillator zur Folge hat. X-Linien des zu analysierenden Elements einen er-
Die Innenseite des Kollimators, der vor dem De- höhten Photoabsorptionskoeffizienten aufweisen,
tektor angeordnet ist, sowie die Innenseite der den Bei der Analyse von Schwermetallen, die in Grund-
Detektor umgebenden Abschirmung ist mit einer materialien von geringer Ordnungszahl enthalten
Wandverkleidung 11 versehen, durch welche die ao sind, haben Änderungen der chemischen Zusammendurch
die in Richtung auf den Detektor gestreute setzung dieses Grundmaterials ebenso wie Änderuny-Strahlung
angeregten !^-Linien der die Abschir- gen seiner Dichte keinen großen Einfluß auf das urmung
bildenden schweren Elemente wieder absor- sprüngliche Verhältnis zwischen den !^-Linien und
biert werden, so daß sie der Detektor nicht nach- der durch Compton-Effekt gestreuten Strahlung,
weisen kann. Diese Vorsichtsmaßnahme dient gleich- 35 Durch die Verhältnisbildung wird die Bestimmung
falls dem Zweck, das Verhältnis zwischen Signal und des zu analysierenden Elements unabhängig von einer
Störpegel zu verbessern. Abnahme der Radioaktivität der Strahlenquelle, da
Die Bestimmung des Anteils des betreffenden die Intensität der X-Linie ebenso wie die Intensität
schweren Elements könnte zwar allein mit Hilfe der der Streustrahlung durch die sinkende Aktivität der
Intensität der entsprechenden Z-Linie vorgenommen 30 verwendeten Strahlenquelle beeinflußt wird. Auch bei
werden, sie erfolgt jedoch durch Feststellung des einem Austausch der Strahlenquelle bleibt beispiels-Verhältnisses
dieser Intensität zur Gesamtintensität weise die Eichung des Geräts weiterhin gültig, wenn
der durch Compton-Effekt gestreuten und nach- eine Strahlenquelle gleicher Art wie die vorhergewiesenen
Strahlung. Man kann ferner auch das gehende eingesetzt wird. Man kann sogar ein radio-Verhältnis
der Intensität der X-Linie des zu analy- 35 aktives Isotop mit verhältnismäßig kurzer Halbwertssierenden
Elements zur Gesamtzahl der vom Detek- zeit verwenden, unter der Voraussetzung, daß es ertor
gelieferten Impulse oder zur Maximalintensität setzt wird, sobald die statistischen Schwankungen der
der stärksten Impulsspitze der durch Compton-Effekt Zahl der vom Detektor aufgenommenen Photonen
gestreuten Strahlung bilden. Die Intensität der störend werden und die Genauigkeit beeinträchtigen,
IC-Linie wird dabei hergeleitet aus der empfangenen 40 Die Messung des erwähnten Verhältnisses ermög-Impulsrate
in einem Impulshöhenbereich geeigneter licht es, der Tatsache Rechnung zu tragen, daß der
Breite, welcher der maximalen Intensität der if-Linie Beitrag zu dem unter den Impulsspitzen liegenden
des zu analysierenden Elements entspricht. Störpegel, der auf die durch den Compton-Effekt ge-
Die Wände des Behälters oder der sonstigen Halte- streute Strahlung zurückzuführen ist, beinahe prorung
der Probe bestehen zweckmäßig aus leichten 45 portional der Gesamtstärke des Spektrums der geMaterialien,
wie Aluminium oder Kunststoffen von streuten Strahlung ist.
wenigen Millimetern Dicke; sie können jedoch auch Das erwähnte Verhältnis hängt im übrigen auch
aus anderen üblichen Metallen bestehen, sofern die nicht sehr von den Abmessungen und der Form der
Dicke gewisse Grenzen nicht übersteigt. untersuchten Probe ab; es bleibt gleich
Das erfindungsgemäße Verfahren, das sich mit 5o
einer Vorrichtung durchführen läßt, wie sie in Fig. 1 £. τω
schematisch veranschaulicht ist, weist zahlreiche Vor- μο
teile auf. Das Verhältnis der Intensität der £-Fluo-
reszenzstrahlung des zu analysierenden Elements, die selbst wenn die Probe kleiner als das von dem Gerät
man aufnimmt, zur Intensität der gestreuten und auf- 55 wahrgenommene Meßvolumen ist.
genommenen Strahlung hängt nicht oder nur wenig Die Vorteile des neuen Röntgenfluoreszenzanaly-
von der Dichte der Probe ab. Dieses Verhältnis ent- senverfahrens wurden vorstehend erläutert. Man
spricht kann die Genauigkeit der Messungen noch durch zu-
T ω sätzliche Vorsichtsmaßregeln verbessern:
k · 60 Jedesmal, wenn dies möglich ist und der Gehalt
^" an schwerem Element nicht zu groß ist, kann man
die Anordnung so treffen, daß kein Teil der Halte-
Hierbei ist k eine Konstante der Vorrichtung, die rung gleichzeitig von der Strahlungsquelle und vom
unter anderem von ihrer Geometrie abhängt; τ ist der Detektor aus »gesehen« wird. Man vermeidet auf
Photoabsorptionskoeffizient des zu analysierenden 65 diese Weise, daß die Halterung der Probe das VerElements
für die von der Strahlenquelle ausgesandte hältnis zwischen der Stärke der X-Linie und der
y-Strahlung, με ist der Compton-Absorptionskoeffi- Stärke der gestreuten Strahlung beeinflußt,
zient der Probe für die gleiche Strahlung, und ω ist Man kann ferner immer dann, wenn dies möglich
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ist, Untersuchungsproben von etwa konstanten Ab- gen, wobei das Mineral im Innern eines Rohres in
messungen wählen, die man unter gleichen geome- Suspension strömen kann.
irischen Bedingungen untersucht. Auch durch diese Eine weitere Anwendung des erfindungsgemäßen
Maßnahme wird die Empfindlichkeit des Geräts er- Verfahrens betrifft das automatische Sortieren von
höht. 5 Bleimineralien zum Zweck der Eliminierung von tau-
Die Querabmessungen des zur Anregung verwen- bem Gestein. Diese Bleimineralien weisen im allgedeten
r-Strahlenbündels, die durch die Abmessungen meinen eine Quarzgrundlage auf und enthalten in
der Kollimatorbohrung im Trägerblock der Strahlen- veränderlichen Anteilen Pyrit und Blende. Die Unterquelle
bestimmt werden, werden möglichst in der suchung muß den größten Teil der Gesteinsbrocken
gleichen Größenordnung wie die von einer Unter- io und nicht nur eine Oberflächenschicht erfassen,
suchung erfaßte Oberfläche der kleinsten Probe ge- Außerdem muß die gesamte Produktion überwacht
wählt, und zwar so klein wie möglich. Auf diese werden. Zur Durchführung dieser Sortierung steht
Weise läßt sich der Winkel α genauer bestimmen, und bisher nur das Flotationsverfahren zur Verfügung,
es können die /-Strahlen weitestgehend eliminiert Die in F i g. 4 in einer Aufsicht schematisch darwerden,
die durch andere Materialien als die zu unter- 15 gestellte Anordnung ermöglicht es, diese Schwierigsuchende
Probe in Richtung auf den Detektor ge- keiten zu beseitigen,
streut werden. Die Anordnung enthält zwei Meßköpfe 22, die auf
streut werden. Die Anordnung enthält zwei Meßköpfe 22, die auf
Wenn die Probe ein Störelement enthält, das die beiden Seiten einer Rinne 23 angeordnet sind, durch
X-Linien des zu analysierenden Elements stark ab- die sich die Gesteinsbrocken 24 nacheinander hinsorbiert,
so erhöht man die Genauigkeit, indem man 20 durchbewegen. Die beiden Meßköpfe sind identisch
dieses Störelement jeweils dann, wenn dies möglich und in der Art aufgebaut, wie dies vorstehend an
ist, gesondert analysiert, so daß man die Resultate Hand der F i g. 1 erläutert wurde. Die Strahlenquelle
entsprechend korrigieren kann. besteht aus Iridium-192. Die Achsen der Strahlen-Ais
Ausführungsbeispiel wird im folgenden eine quellen und der Detektoren begrenzen vier Untererfindungsgemäße
Vorrichtung erläutert, die zur 25 suchungszonen. Die Winkel zwischen den Achsen Analyse von Blei und zur Gewinnung von Bleierz der Strahlenquellen und den Achsen der beiden Dedient,
tektoren betragen 90°, so daß keine störende gegen-
Es sei angenommen, daß das Verfahren dazu Ver- seitige Beeinflussung zwischen den beiden Meßblökwendung
findet, Blei zu analysieren, das in Quarz- ken zu befürchten ist. Diese Anordnung ermöglicht
Bleiglanz-Mischungen enthalten ist. Zu diesem 30 die Untersuchung sowohl sehr großer Gesteinsbrok-Zweck
wird ein Meßkopf verwendet, wie er in F i g. 1 ken als auch Körner mittlerer Größe. An die Szintilveranschaulicht
ist. Die /-Strahlenquelle wird durch lationsdetektoren ist jeweils eine elektronische Schal-Iridium-192
in einer üblichen Form gebildet. tung entsprechend F i g. 3 angeschlossen. Die Aus-
Der Detektor 6 ist ein Szintillationszähler mit gangswerte der Vergleichseinheiten 21 der beiden
einem Natriumjodidkristall. Die Kollimatoren 7 und 8 35 Meßketten können gegebenenfalls in geeigneter
bestehen aus Blei. Der Schirm 10 sowie die Abschir- Weise kombiniert werden, um einen Mittelwert des
mung 11 werden durch Cadmiumfolien von 0,8 mm Bleigehalts des betreffenden Gesteinsbrockens zu lie-
Stärke gebildet. fern. Die Sortierschwellen zur Abscheidung des tau-
Die in F i g. 3 dargestellte elektronische Anlage ben Gesteins werden experimentell bestimmt,
enthält einen Hochspannungsgenerator 12, einen 40 Bei einer anderen Variante wird nur ein einziger Linearverstärker 13 für die Impulse, der an den De- einfacher Meßkopf mit einem einzigen Detektor betektor 14 des Meßkopfes angeschlossen ist. Ferner nutzt, an den sich daher auch nur eine Meßkette anenthält die Schaltung einen Einkanal-Impulshöhen- schließt. Diese Ausführung genügt zur Kontrolle des selektor 15, eine Zählstufe 16 und einen Integrator Bleigehalts von Gesteinsbrocken mittlerer oder klei-17. Die aus den Bauteilen 15, 16 und 17 bestehende 45 ner Größe.
enthält einen Hochspannungsgenerator 12, einen 40 Bei einer anderen Variante wird nur ein einziger Linearverstärker 13 für die Impulse, der an den De- einfacher Meßkopf mit einem einzigen Detektor betektor 14 des Meßkopfes angeschlossen ist. Ferner nutzt, an den sich daher auch nur eine Meßkette anenthält die Schaltung einen Einkanal-Impulshöhen- schließt. Diese Ausführung genügt zur Kontrolle des selektor 15, eine Zählstufe 16 und einen Integrator Bleigehalts von Gesteinsbrocken mittlerer oder klei-17. Die aus den Bauteilen 15, 16 und 17 bestehende 45 ner Größe.
Anordnung zählt die Impulse, die in einem engen Unter Zugrundelegung des erfindungsgemäßen
Impulshöhenbereich liegen, welcher der auf die Verfahrens kann man auch eine Vorrichtung entwik-X-Linien
des Bleies zurückzuführenden Impulsspitze kein, mit der der mittlere Gehalt eines über ein
entspricht. Der Impulshöhendiskriminator 18 nimmt Transportband laufenden gebrochenen Minerals mit
alle die Impulse auf, die über einem bestimmten 50 Hilfe eines einzigen Meßkopfes bestimmt wird, der
Schwellwert liegen; diese Impulse werden bei 19 und über oder unter dem Transportband angeordnet ist,
20 gezählt und integriert; die aus den Elementen 18, wobei ferner eine automatische Wiegevorrichtung
19 und 20 bestehende Schaltungsgruppe dient zur vorgesehen ist, die das Gewicht des auf einer beBerücksichtigung
des Compton-Effekts. Die durch stimmten Länge des Transportbandes befindlichen die Elemente 17 und 20 gelieferten Werte werden 55 Materials bestimmt.
einer Vorrichtung 21 zugeführt, die das Verhältnis Eine weitere Anwendung des erfindungsgemäßen
aus beiden bildet und damit ein Maß für den Blei- Verfahrens besteht darin, das Vorhandensein von
gehalt liefert. Uran in zirkulierenden Lösungen oder Aufschläm-
Die Streuung der mit Hilfe der beschriebenen Vor- mungen mit Hilfe eines Systems zu analysieren, das
richtung erzielten Meßergebnisse zeigt, daß man den 60 der zur Analyse von Blei in Quarz-Bleiglanz-Mischun-
Bleiglanzgehalt der Proben bis auf besser als 0,5 °/o, gen verwendeten Anordnung entspricht. Die Messung
beispielsweise also zu 5 ±0,5%, bestimmen kann. kann mit einer Genauigkeit von über 0,5 % durch-
Diese Genauigkeit trägt bereits Änderungen der geführt werden.
Korngröße um einen Faktor 3 Rechnung, ferner mög- Es ist ferner möglich, in Lösungen oder Auflichen
Änderungen der Dichte um 20% sowie be- 65 schlämmungen, die von anderen Schwermetallen frei
trächtlichen Änderungen des Gehalts an Pyrit und sind, den Gehalt an Plutonium in Absolutwerten auf
Blende. über 0,5% genau zu bestimmen.
Die Analyse kann vollständig automatisch erfol- Eine andere Anwendungsmöglichkeit des erfin-
dungsgemäßen Verfahrens besteht darin, den Wolframgehalt in Stählen zu bestimmen. Die Abmessungen
der Probe oder des Teiles spielen hierbei keine Rolle. Man kann diese Analyse mit einer Genauigkeit
von über 0,5 V» vornehmen.
Weitere Anwendungsmöglichkeiten bestehen in der Bestimmung von Tantal in Tantal-Niob-Mischungen
und in Tantalstählen, ferner in der Analyse von Hafnium in Zirkonium, in der Bestimmung seltener
Erden in ihren Mineralien, von Quecksilber in seinen Mineralien usw.
Claims (2)
1. Verfahren zur Bestimmung des Gehaltes einer Probe an schweren Elementen durch
Messung ihrer optisch angeregten Ka- oder ^-RöntgenfluoreszenzHnien, dadurch gekennzeichnet,
daß man zur Anregung die so monochromatische y-Strahlung eines Radioisotops
verwendet, deren Energie mehrere Male höher ist als diejenige der !^-Strahlung des zu bestimmenden
Elements und daß man sowohl die Intensität IK der angeregten Z-Strahlung als auch die
Intensität Ic der Compton-Streustrahlung bestimmt.
2. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, mit einer monochromatischen
-/-Strahlenquelle in einem zur Ausrichtung der y-Strahlen auf die zu analysierende
Probe dienenden, aus Blei bestehenden ersten Kollimator, mit einem vorzugsweise als
Szintillationszähler ausgebildeten Strahlungsdetektor, der in einem zum ersten Kollimator unter
einem beispielsweise rechten Winkel stehenden zweiten Kollimator angebracht ist und dessen
spektraler Empfindlichkeitsbereich und Kristallgröße so bemessen sind, daß er für die üT-Fluoreszenzstrahlung
empfindlicher ist als für die Compton-Streustrahlung, und mit einer mit dem Detektor verbundenen Zählanordnung, dadurch
gekennzeichnet, daß ein Strahlungsfilter (10) am Ausgang des ersten Kollimators (7) und eine
Wandverkleidung (11) an der Innenwand des zweiten Kollimators (8) aus einem die .K-Huoreszenzstrahlung
des Bleis absorbierenden Material angebracht sind und daß die Zählanordnung aus zwei Zählkreisen (15-16-17 bzw.
18-19-20) besteht, von denen der eine einen Einkanal-Impulshöhenselektor
(15) aufweist, der nur die der Jüi-Linie des zu analysierenden Elements
entsprechenden Impulse durchläßt, und der andere einen Impulshöhendiskriminator (18), der
nur die vom Compton-Effekt herrührenden Impulse durchläßt, sowie eine Vorrichtung (21) zur
Verhältnisbildung, mit der beide Zählkreise (15-16-17 bzw. 18-19-20) verbunden sind.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2727989C3 (de) * | 1977-06-22 | 1980-05-08 | Kernforschungszentrum Karlsruhe Gmbh, 7500 Karlsruhe | Einrichtung zur Bestimmung von Uran und/oder Thorium in Erzproben |
US4134012A (en) * | 1977-10-17 | 1979-01-09 | Bausch & Lomb, Inc. | X-ray analytical system |
US4362935A (en) * | 1979-02-09 | 1982-12-07 | Martin Marietta Corporation | Field portable element analysis unit |
CA1144662A (en) * | 1979-08-07 | 1983-04-12 | Dennis Page | Method and apparatus for sensing the ash content of coal |
US4431104A (en) * | 1979-11-07 | 1984-02-14 | Armour And Company | Indexing conveyor system |
FI61361C (fi) * | 1980-09-15 | 1982-07-12 | Outokumpu Oy | Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning |
ZA816802B (en) * | 1980-10-21 | 1982-09-29 | Coal Industry Patents Ltd | Probe equipment for use in underground mining |
FR2495776B1 (fr) * | 1980-12-08 | 1985-06-07 | Atomic Energy Authority Uk | Procede et appareil de determination de la teneur en or de minerais auriferes |
GB2116698A (en) * | 1982-02-26 | 1983-09-28 | Coal Ind | Coal analysis using x-rays |
FI67626C (fi) * | 1983-03-23 | 1985-04-10 | Outokumpu Oy | Foerfarande foer analysering av malmblock |
FI72211C (fi) * | 1983-03-23 | 1987-04-13 | Outokumpu Oy | Foerfarande foer beaktande av straolningsbakgrunden foer bestaemning av straolningsintensiteter som uppstaor i kroppar som skall analyseras. |
DE3312884C1 (de) * | 1983-04-11 | 1984-06-14 | Preussag Ag Metall, 3380 Goslar | Sonde zur Einführung in Bohrlöcher zum Zwecke der Erkundung von Erzlagerstätten |
DE3312883C1 (de) * | 1983-04-11 | 1984-08-02 | Preussag Ag Metall, 3380 Goslar | Sonde zur Einfuehrung in Bohrloecher zum Zwecke der Erkundung von Erzlagerstaetten |
US4612660A (en) * | 1985-05-17 | 1986-09-16 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Time resolved extended X-ray absorption fine structure spectrometer |
US4799247A (en) * | 1986-06-20 | 1989-01-17 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray imaging particularly adapted for low Z materials |
GB8621983D0 (en) * | 1986-09-12 | 1986-10-22 | K X Technology Ltd | Ore analysis |
JPH082604Y2 (ja) * | 1989-08-03 | 1996-01-29 | 理学電機工業株式会社 | 特性x線検出装置 |
US7200200B2 (en) * | 2001-09-04 | 2007-04-03 | Quality Control, Inc. | X-ray fluorescence measuring system and methods for trace elements |
DE102005046878A1 (de) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Katz, Elisabeth | Vorrichtung und Verfahren zur Schnell- oder Online-Bestimmung der Komponenten eines Zwei- oder Mehrstoffsystems |
US7916834B2 (en) * | 2007-02-12 | 2011-03-29 | Thermo Niton Analyzers Llc | Small spot X-ray fluorescence (XRF) analyzer |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2711480A (en) * | 1948-06-29 | 1955-06-21 | Friedman Herbert | Method of measuring thickness of thin layers |
US2923824A (en) * | 1953-08-10 | 1960-02-02 | Philip W Martin | X-ray analysis of geological formations |
US3102952A (en) * | 1954-05-27 | 1963-09-03 | Philips Corp | X-ray fluorescence analysis of multi-component systems |
NL238481A (de) * | 1955-04-12 | |||
US2950393A (en) * | 1956-11-20 | 1960-08-23 | Bendix Corp | Gamma compensated neutron detector |
US3046402A (en) * | 1960-04-28 | 1962-07-24 | Norman H Cherry | Multiple thickness times density gamma gauge |
-
1963
- 1963-04-01 FR FR930019A patent/FR1389417A/fr not_active Expired
-
1964
- 1964-03-30 US US355760A patent/US3404275A/en not_active Expired - Lifetime
- 1964-03-31 ES ES0298196A patent/ES298196A1/es not_active Expired
- 1964-03-31 BE BE645935A patent/BE645935A/xx unknown
- 1964-03-31 LU LU45778D patent/LU45778A1/xx unknown
- 1964-04-01 GB GB13519/64A patent/GB1042992A/en not_active Expired
- 1964-04-01 NL NL6403478A patent/NL6403478A/xx unknown
- 1964-04-01 DE DEC32536A patent/DE1296829B/de active Pending
- 1964-04-01 CH CH413464A patent/CH412403A/fr unknown
- 1964-04-02 OA OA50050A patent/OA00017A/xx unknown
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1042992A (en) | 1966-09-21 |
CH412403A (fr) | 1966-04-30 |
LU45778A1 (de) | 1964-06-01 |
US3404275A (en) | 1968-10-01 |
BE645935A (de) | 1964-07-16 |
FR1389417A (fr) | 1965-02-19 |
ES298196A1 (es) | 1964-09-01 |
NL6403478A (de) | 1964-10-02 |
OA00017A (fr) | 1966-01-15 |
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