FI61361C - Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning - Google Patents

Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning Download PDF

Info

Publication number
FI61361C
FI61361C FI802882A FI802882A FI61361C FI 61361 C FI61361 C FI 61361C FI 802882 A FI802882 A FI 802882A FI 802882 A FI802882 A FI 802882A FI 61361 C FI61361 C FI 61361C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
radiation
analysis
scattering
sources
intensity
Prior art date
Application number
FI802882A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI61361B (fi
Inventor
Heikki Sipilae
Erkki Kiuru
Seppo Vaijaervi
Original Assignee
Outokumpu Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Outokumpu Oy filed Critical Outokumpu Oy
Priority to FI802882A priority Critical patent/FI61361C/fi
Priority to SE8105326A priority patent/SE8105326L/
Priority to ZA816268A priority patent/ZA816268B/xx
Priority to US06/301,196 priority patent/US4520267A/en
Priority to SU813337799A priority patent/SU1355111A3/ru
Priority to DE3136343A priority patent/DE3136343C2/de
Priority to CA000385782A priority patent/CA1168766A/en
Priority to ES505458A priority patent/ES8302912A1/es
Priority to AU75217/81A priority patent/AU527158B2/en
Priority to BR8105860A priority patent/BR8105860A/pt
Priority to FR8117417A priority patent/FR2490823A1/fr
Priority to GB8127849A priority patent/GB2083618B/en
Application granted granted Critical
Publication of FI61361B publication Critical patent/FI61361B/fi
Publication of FI61361C publication Critical patent/FI61361C/fi
Priority to ES515253A priority patent/ES8306257A1/es

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/05Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/05Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection
    • G01N2223/063Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection inelastic scatter, e.g. Compton effect
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/071Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission combination of measurements, at least 1 secondary emission
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/084Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission photo-electric effect
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/20Sources of radiation
    • G01N2223/206Sources of radiation sources operating at different energy levels
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/50Detectors
    • G01N2223/505Detectors scintillation

Landscapes

  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Sorting Of Articles (AREA)

Description

r£ttr«i ΓΒ1 fn^^ULUTUSJULKAISU , . -, , Λ
JjSTfb LBJ (11) UTLÄGGN INGSSKMFT O I o 6 1 •A|S§ C (*$) rater. “I ::rrr :t‘y 12 C7 15.32 ^ T ^ (51) K».ik.3/int.ci.3 G 01 N 23/00 SUOMI—FINLAND (21) PatMttlhakamut — PMMtanaekning 802882 (22) HakamltpUvi —AiMtHuilngidag 15.09.80 ^^ (23) Alkupllvl—Glltl|h«t*daf 15.09.80 (41) Tullut JulklMktl — Bllvlt offantllf 16.0 3.82
Patentti- ja rekisterihallitus .... ...... ... . . ,. ,. , . . (44) NihUvSk»lpanon |· kuuL|ulk*laun pvm. — ,ι n: «o
Patent· och registerstyrelsen ' aimMcm uthgd och utukrift*n publicand (32)(33)(31) Pyydetty etuoikeus—B«g|rd prlorltet (71) Outokumpu Oy, Outokumpuni; Töölönkatu 00100 Helsinki 10,
Suomi-Finland(FI) (72) Heikki Sipilä, Espoo, Erkki Kiuru, Espoo, Seppo Vaijärvi, Espoo, iSuomi-Finland(FI) (7M Berggren Oy Ab (5^) Menetelmä ja laite malmin analysoimiseksi gammasäteilyä käyttäen - Förfarande och anordning för analys av malm med användning av gammasträlning
Esillä oleva keksintö kohdistuu menetelmään ja laitteeseen lohkareiden muodossa olevan malmin analysoimiseksi luokittelua varten/ jossa lohkareita säteilytetään yksitellen γ-säteilyllä ja niiden aiheuttamaa säteilyn sirontaa tutkitaan.
On ennestään tunnettua käyttää γ-säteilyä yksittäisten malmiloh-kareiden analysointia varten ennen niiden kuljettamista edelleen-käsiteltäviksi. Lohkareiden koon-, pölyisyyden jne. vaihdellessa on kuitenkin ollut vaikeata saavuttaa riittävä tarkkuus luokittelussa. Tarkkuuden parantamiseksi on tunnettua käyttää kaappausgammamenetelmää sekä puolijohdedetektoria, jonka erottelukyky on hyvä mutta joka samalla on kallis sekä vaatii erikoisjärjestelyjä sen suojaamiseksi vahingoittavalta säteilyltä.
Esillä olevan keksinnön tarkoituksena on aikaansaada γ-säteilyyn perustuva analyysimenetelmä, joka suhteellisen yksinkertaisella laitteistolla mahdollistaa hyvän ja olosuhteiden vaihteluista huolimatta luotettavan analyysituloksen. Tämän saavuttamiseksi 2 61 361 on keksinnön mukaiselle menetelmälle tunnusomaista se, mikä on esitetty oheisessa patenttivaatimuksessa 1, kun taas keksinnön mukaisen laitteen tunnusmerkit selviävät vastaavasti patenttivaatimuksesta 5.
Keksinnössä on siis olennaista kahden eri energiatasoisen säteilylähteen käyttö, millä voidaan yksinkertaisesti eliminoida lohkareiden vaihtelevien parametrien, kuten koon ja puhtauden vaihtelut samoin kuin taustasäteilyn vaihtelu.
Keksintöä selostetaan seuraavassa lähemmin esimerkin muodossa ja viitaten oheisiin piirustuksiin, joissa kuvio 1 esittää kaaviomaisesti keksinnön mukaista mittausjärjestelyä sivulta katsottuna, kuvio 2 esittää samaa järjestelyä päästä katsottuna, kuvio 3 esittää lohkokaavion muodossa keksinnön mukaiseen laitteeseen liittyvää elektroniikkayksikköä, ja kuviot 4 ja 5 esittävät mittauksen suoritukseen liittyviä juoksukaavioita.
Keksinnön mukaisen laitteen geometria on sopivasti kuvion 1 mukainen. Siinä on sijoitettu kulloinkin kaksi eri energiatasot omaavaa γ-säteilylähdettä la, lb vast. 2a, 2b olennaisesti samaan kohtaan eli samaan koloon säteilysuojaan 4. Syynä siihen, että käytetään kahta lähdeparia on se, että tällä tavalla saadaan voimakkaampi ja tasaisempi säteily kohdistumaan ohiputoa-vaan lohkareeseen 5, joka on analyysin kohde. Säteilylähteen la vast. 2a energiataso voi olla esimerkiksi noin 20-150 keV ja säteilylähteen lb vast. 2b energiataso noin 300-1500 keV. Käytännössä on käytetty säteilylähteitä Am-241 ja Cs-137, joiden intensiteetit ovat noin 60 keV ja noin 600 keV.
Symmetrisesti lähdeparien suhteen on sijoitettu detektori 6, joka tässä tapauksessa on energiadispersiivisesti toimiva tuikeilmai-sin.
Mittauksen alkukohdan määräämiseksi on hieman lähde-detektori-yhdistelmän yläpuolelle sijoitettu tavallinen valokenno 3, joka havaitsee saapuvan lohkareen 5 tämän katkaistessa valolähteen 61361 ja valokennon välisen valonsäteen.
Keksinnössä on siis olennaista se, että kiveä säteilytetään kahdella eri energiaisella γ-lähteellä. Valitaan toisen energia siten, että Compton vuorovaikutus on hallitseva. Toisen energia valitaan siten, että valosähköinen ilmiö ja Compton-ilmiö kilpailevat keskenään. Valosähköinen vuorovaikutus riippuu voimakkaasti alkuaineen järjestysluvusta, kun taas Compton vuorovaikutus on järjestysluvusta riippumaton. Mittaamalla näiden kahden eri energiaisen sironnan intensiteettien suhde saadaan tulos, joka kuvaa raskaiden aineiden osuutta kivessä. Useissa tapauksissa malmi ja raakkukivet ovat erittäin selvästi erotettavissa toisistaan. Kiven muodolla ja koolla ei ole juuri vaikutusta tulokseen. Säteilyjen energiat voidaan valita siten,että läpitunke-vuus on niin suuri, ettei kiven pinnassa oleva lika vaikuta tulokseen .
Kuviossa 3 on esitetty analysaattorin elektroniikkaosaa lohko-kaavion muodossa. Olennaista järjestelmässä on se, että kummankin lähteen (la, 2a ja Ib, 2b) osalta mitataan energiadis-persiivisen detektorin avulla sironneen säteilyn intensiteetti I vast. II. Näistä arvoista vähennetään vastaavat tausta-intensiteetit IQ ja IIo sekä muodostetaan lopuksi erotuksien suhde T. lli°
II-II
o jota käytetään suoritetun analyysin tulosarvona. Normaalitapauksessa suure T kuvaa raskaan tai raskaiden alkuaineiden osuutta lohkareessa.
Kuvioissa 4 ja 5 on lopuksi esitetty analysaattorin toimintaan liittyviä juoksukaavioita.
Kuvion 4 kaavio esittää tilannetta, joka alkaa kun uusi kivi tulee mittausalueelle. Yksinkertaisuuden vuoksi on menetelty niin, että jos edellisen kiven mittaus on vielä kesken, uusi kivi lajitellaan malmiksi.
Kuviossa 5 esitetty kellokeskeytys suoritetaan 1 ms:n välein. Analysaattorissa muodostetaan edellä mainittu testisuure t,

Claims (9)

1. Menetelmä lohkaireiden muodossa olevan malmin analysoimiseksi luokittelua varten, jossa lohkareita säteilytetään yksitellen γ-säteilyllä ja niiden aiheuttamaa säteilyn sirontaa tutkitaan, tunn ettu siitä, että käytetään kahdella eri energiatasolla toimivaa γ-säteilylähdettä ja ainakin yhdellä detektorilla havaitaan lohkareen aiheuttamaa näiden säteilylähteiden säteilyn sirontaa, jolloin lähteiden energiatasot on valittu niin, että toisella on Compton-vuorovaikutus hallitseva ja toisella kilpailevat keskenään Compton-vuorovaikutus sekä valosähköinen vuorovaikutus, joista ensiksi mainittu on voimakkaasti riippuvainen alkuaineen järjestysluvusta, ja että verrataan toisiinsa mainitun kahden säteilylähteen aiheuttaman sironnan intensiteettejä lohkareen sisältämän raskaiden aineiden osuuden selvittämiseksi.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että luokittelutuloksen kuvaavaksi parametriksi otetaan kahden suureen muodostama suhde (T), joista ensimmäinen suure on ensimmäisen lähteen aiheuttaman sironnan intensiteetti (I) vähennettynä taustasäteilyn intensiteetillä (I ) ja toinen suure on toisen lähteen aiheuttaman sironnan intensiteetti (II) vähennettynä vastaavalla taustasäteilyn intensiteetillä (IIq) ·
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunn e t-t u siitä, että detektorina käytetään yhtä energiadispersiivi-sesti toimivaa tuikeilmaisinta.
4. Jonkin patenttivaatimuksista 1-3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että säteilylähteiden energiatasot ovat alueella noin 20-150 keV ja noin 300-1500 keV.
4 61 361 joka verrataan muistissa olevaan lajittelukynnykseen TQ ja joka määrää kiven lajittelun raakuksi tai malmiksi.
5. Laite patenttivaatimuksen 1 mukaisen menetelmän suorittamiseksi malminlohkareen analysoimiseksi γ-säteilyn avulla, tunnettu siitä, että se käsittää kaksi eri energiatasoilla toimivaa 7-säteilylähdettä (la, Ib? 2a, 2b), jotka ovat sovitetut kohdistamaan säteilyä lohkareeseen olennaisesti samanaikaisesti 61361 ja joiden energiatasot on valittu siten, että säteilyn sironnassa on toisella energiatasolla Compton-vuorovaikutus hallitseva ja toisella kilpailevat keskenään Compton-vuorovaikutus ja valosähköinen vuorovaikutus, ja että säteilyjen aiheuttaman sironnan ilmaisemiseksi on sovitettu siten sijoitettu detektori (6), että se ottaa vastaan olennaisesti vain lohkareesta (5) sironnut-ta säteilyä, jolloin detektoriin on edelleen kytketty mittauseli-met kahden säteilylähteen aiheuttaman sironnan intensiteettien vertailemiseksi toisiinsa.
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laite, tunn ettu siitä, että säteilylähteet (la, Ib; 2a, 2b) on sijoitettu olennaisesti samaan kohtaan.
7. Patenttivaatimuksen 6 mukainen laite, tunn ettu sitä, että siinä on kaksi samanlaista säteilylähdeparia (la, Ib; 2a, 2b), jotka kumpikin käsittävät eri energiatasot omaavat lähteet ja jotka on sijoitettu symmetrisesti detektorin (6) molemmin puolin.
8. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laite, tunn e ttu siitä, että detektorina (6) toimii tuikeilmaisin.
9. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laite, tunnettu siitä, että detektori (6) on kytketty elektroniseen analysointi-piiriin, joka käsittää pulssinkorkeusanalysaattorin sekä siihen liittyvän mikroprosessorin (kuvio 3). 61361 6 t
FI802882A 1980-09-15 1980-09-15 Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning FI61361C (fi)

Priority Applications (13)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI802882A FI61361C (fi) 1980-09-15 1980-09-15 Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning
SE8105326A SE8105326L (sv) 1980-09-15 1981-09-08 Forfarande och anordning for analys av malm med anvendning av gammastralning
ZA816268A ZA816268B (en) 1980-09-15 1981-09-10 A method and apparatus for analysing ore by means of gamma radiation
US06/301,196 US4520267A (en) 1980-09-15 1981-09-11 Method and apparatus for analyzing ore by means of gamma radiation
DE3136343A DE3136343C2 (de) 1980-09-15 1981-09-14 Verfahren zum Analysieren von brockenförmigem, erzhaltigen Material
CA000385782A CA1168766A (en) 1980-09-15 1981-09-14 Method and apparatus for analysing ore by means of gamma radiation
SU813337799A SU1355111A3 (ru) 1980-09-15 1981-09-14 Устройство дл сортировки руд
ES505458A ES8302912A1 (es) 1980-09-15 1981-09-14 Un metodo para analizar trozos de mineral con fines de se- leccion
AU75217/81A AU527158B2 (en) 1980-09-15 1981-09-14 Analysing ore by means of gamma radiation
BR8105860A BR8105860A (pt) 1980-09-15 1981-09-15 Processo para analisar pedacos de minerio por meio de radiacoes gama e aparelho para o processo
FR8117417A FR2490823A1 (fr) 1980-09-15 1981-09-15 Procede et appareil pour analyser des minerais au moyen de rayons gamma
GB8127849A GB2083618B (en) 1980-09-15 1981-09-15 A method and apparatus for analysis of heavy element content of ore
ES515253A ES8306257A1 (es) 1980-09-15 1982-08-25 "un aparato para analizar trozos de mineral con fines de seleccion".

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI802882 1980-09-15
FI802882A FI61361C (fi) 1980-09-15 1980-09-15 Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FI61361B FI61361B (fi) 1982-03-31
FI61361C true FI61361C (fi) 1982-07-12

Family

ID=8513771

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI802882A FI61361C (fi) 1980-09-15 1980-09-15 Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning

Country Status (12)

Country Link
US (1) US4520267A (fi)
AU (1) AU527158B2 (fi)
BR (1) BR8105860A (fi)
CA (1) CA1168766A (fi)
DE (1) DE3136343C2 (fi)
ES (2) ES8302912A1 (fi)
FI (1) FI61361C (fi)
FR (1) FR2490823A1 (fi)
GB (1) GB2083618B (fi)
SE (1) SE8105326L (fi)
SU (1) SU1355111A3 (fi)
ZA (1) ZA816268B (fi)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI72211C (fi) * 1983-03-23 1987-04-13 Outokumpu Oy Foerfarande foer beaktande av straolningsbakgrunden foer bestaemning av straolningsintensiteter som uppstaor i kroppar som skall analyseras.
FI67626C (fi) * 1983-03-23 1985-04-10 Outokumpu Oy Foerfarande foer analysering av malmblock
US4916719A (en) * 1988-06-07 1990-04-10 Board Of Control Of Michigan Technological University On-line analysis of ash containing slurries
US5506406A (en) * 1993-05-17 1996-04-09 Atomic Energy Corporation Of South Africa Ltd. Method and apparatus for determining the concentration of a heavy element in a rock face
AUPN226295A0 (en) * 1995-04-07 1995-05-04 Technological Resources Pty Limited A method and an apparatus for analysing a material
US7075062B2 (en) * 2001-12-10 2006-07-11 Schlumberger Technology Corporation Apparatus and methods for downhole determination of characteristics of formation fluids
US9482762B2 (en) 2014-08-28 2016-11-01 Infineon Technologies Ag Gamma ray detector and method of detecting gamma rays
GB2571099B (en) * 2018-02-15 2022-12-21 Bae Systems Plc Radiation detector
EP3737972A1 (en) 2018-02-15 2020-11-18 BAE SYSTEMS plc Radiation detector
US11650338B2 (en) 2018-11-23 2023-05-16 Bae Systems Plc Scintillation detector
CA3191464A1 (en) * 2020-09-02 2022-03-10 Botswana International University Of Science And Technology Method and system for sorting of diamonds

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1389417A (fr) * 1963-04-01 1965-02-19 Commissariat Energie Atomique Procédé de dosage et dispositifs en faisant application
GB1103591A (en) * 1964-02-25 1968-02-21 Nat Res Dev Improvements in or relating to analysing and/or sorting arrangements
AU475297B2 (en) * 1972-06-09 1976-08-19 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Analysis utilizing neutron irradiation
DK134687B (da) * 1972-11-22 1976-12-20 Isotopcentralen Apparat til måling af koncentrationen af et eller flere grundstoffer i et bæremedium ved hjælp af gamma- eller rontgenstråler.
ZA766086B (en) * 1975-10-29 1977-07-27 Atomic Energy Commission Analysis of coal
DE2622175C3 (de) * 1976-05-19 1982-04-01 Gkss - Forschungszentrum Geesthacht Gmbh, 2000 Hamburg Verfahren zum Ermitteln der Volumenanteile eines Drei-Komponenten-Gemisches
GB2039363B (en) * 1979-01-12 1983-02-16 Coal Ind Determining the nature of transported material
DE2920364A1 (de) * 1979-05-19 1980-11-27 Strahlen Umweltforsch Gmbh Verfahren zur bestimmung von substanzen niederer ordnungszahl
US4314155A (en) * 1979-07-19 1982-02-02 Australian Atomic Energy Commission Method and apparatus for elemental analysis employing combination of neutron inelastic scattering and γ ray scattering
AU546141B2 (en) * 1979-12-20 1985-08-15 Australian Atomic Energy Commission Annihilation radiation analysis

Also Published As

Publication number Publication date
FR2490823B1 (fi) 1984-11-16
ES505458A0 (es) 1982-12-01
US4520267A (en) 1985-05-28
ZA816268B (en) 1983-01-26
GB2083618A (en) 1982-03-24
ES515253A0 (es) 1983-05-01
DE3136343A1 (de) 1982-06-16
GB2083618B (en) 1984-06-13
AU7521781A (en) 1982-04-08
BR8105860A (pt) 1982-06-08
DE3136343C2 (de) 1986-01-02
SU1355111A3 (ru) 1987-11-23
SE8105326L (sv) 1982-03-16
CA1168766A (en) 1984-06-05
AU527158B2 (en) 1983-02-17
FR2490823A1 (fr) 1982-03-26
ES8302912A1 (es) 1982-12-01
ES8306257A1 (es) 1983-05-01
FI61361B (fi) 1982-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI61361C (fi) Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning
CN1098457C (zh) 确定元素含量的方法与设备
JPH028653B2 (fi)
US20050084064A1 (en) X-ray grading apparatus and process
FI72211C (fi) Foerfarande foer beaktande av straolningsbakgrunden foer bestaemning av straolningsintensiteter som uppstaor i kroppar som skall analyseras.
FI80524C (fi) Foerfarande och anordning foer analysering av slamartade material.
CA2066233A1 (en) Apparatus for bulk material constituent content determination using pulsed neutron radiation and method employed
JPS6233544B2 (fi)
US3859525A (en) Method and apparatus for fluorescent x-ray analysis
GB1185783A (en) Improvements in Methods of and Apparatus for Obtaining Indications of the Amounts and Distributions of Fillers in Papers
CA2093347A1 (en) Imaging method for defining the structure of objects
FI67626C (fi) Foerfarande foer analysering av malmblock
RU2154537C1 (ru) Способ рентгенорадиометрической сепарации минерализованной массы
SU1028387A1 (ru) Устройство дл рентгенорадиометрической сортировки руд
ATE71737T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der roentgenstrahlung oder gammastrahlung.
SU1315880A1 (ru) Способ абсорбционного рентгеновского анализа руд
FI113496B (fi) Menetelmä kivien tunnistamiseksi puuvirrasta
RU1771275C (ru) Способ плотностной дефектоскопии твердых материалов
AU600461B2 (en) Neutron and gamma-ray moisture assay
SU1010528A2 (ru) Устройство дл определени содержани минералов в руде
SU958933A1 (ru) Способ флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа
Hołyńska et al. The determination of Fe, Zn and Pb in Zn-Pb ores by energy-dispersive X-ray fluorescence method
SU1762205A1 (ru) Способ контрол массовой доли нерастворимого остатка в калийных рудах
Erdil et al. ACTIVITY CONCENTRATIONS OF 210Po NEAR FERTILIZER FACTORY
GB2236177A (en) Determination of core parameters using a gamma-gamma logging technique

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed

Owner name: OUTOKUMPU OY