FI72211C - Foerfarande foer beaktande av straolningsbakgrunden foer bestaemning av straolningsintensiteter som uppstaor i kroppar som skall analyseras. - Google Patents
Foerfarande foer beaktande av straolningsbakgrunden foer bestaemning av straolningsintensiteter som uppstaor i kroppar som skall analyseras. Download PDFInfo
- Publication number
- FI72211C FI72211C FI830968A FI830968A FI72211C FI 72211 C FI72211 C FI 72211C FI 830968 A FI830968 A FI 830968A FI 830968 A FI830968 A FI 830968A FI 72211 C FI72211 C FI 72211C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- radiation
- som
- foer
- intensities
- uppstaor
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
1 72211
Menetelmä säteilytaustan huomioimiseksi analysoitavista kappaleista syntyvien säteilyintensiteettien määrittämise Tämä keksintö koskee menetelmää säteilytaustan huomioimiseksi analysoitavista kappaleista syntyvien säteilyintensiteettien määrittämisessä, jolloin kappaleita, kuten malmilohkareita säteilytetään yksitellen analysoinnin suorittamiseksi lajittelua varten ainakin yhdellä säteilylähteellä niin, että säteilytaustan vaikutuksen eliminoimiseksi säteilyintensiteettien lisäksi mitataan säteilyspektrin samalta kohtaa, mutta olennaisesti laajemmalta aallonpituusalueelta vastaavien säteilyjen intensiteetit ja että mitattujen intesi teet tien avulla määritetään säteilyn ja taustasäteilyn intensiteetit, joiden suhdetta käytetään valintakriteerinä kappaleita lajiteltaessa.
US-patentista 3 404 275 tunnetussa menetelmässä malmilohkareiden analysoiminen suoritetaan gammasäteilyn avulla määrittämällä fluoresenssisäteilyn K-viivan ja takaisinsironneen Compton-säteilyn intensiteetit. Mitattujen intensiteettien suhdetta käytetään suoraan hyväksi säteilytetyn lohkareen sisältämien, erityisesti lohkareen pinnassa olevien raskaiden aineiden osuuden selvittämiseksi. Takaisinsironneen Compton-säteilyn intensiteetin määrittämisessä ei kuitenkaan ole huomioitu näytteestä johtuvaa säteilypiikin muotoa, jolloin taustasäteilyn määrä vaihte-lee aallonpituuden ja näytteen funktiona.
Esilläolevan keksinnön tarkoituksena on aikaansaada tekniikan tasoon nähden luotettavampi ja toimintavarmempi menetelmä, jossa malmilohkareiden analysoinnissa syntyvien säteilyintensiteettien määrityksessä on otettu huomioon pri-määrisäteilylähteen aiheuttama taustasäteilyn vaihtelu aallonpituuden funktiona erityisesti Compton-sironneella säteilyllä. Keksinnön olennaiset tunnusmerkit selviävät oheisesta patenttivaatimuksesta 1.
Menetelmän mukaisesti lohkaremuodossa olevaa materiaalia säteilytetään yksitellen ainakin yhdellä gammasäteilylähteellä lohkareiden analysoimiseksi lajittelua varten. Säteilylähteen energia on siten valittu, että analysoitavasta lohkareesta herätetään röntgenfluoresenssisäteily. Keksinnön mukaisesti herätelähteen Compton-sironnut taustasäteily määritetään herätelähteen aiheuttaman olennaisesti röntgenfluoresenssipiikin kohdalta käyttämällä detektorissa samaa heräte-lähdettä varten kahta kanavaa, joista toisella mitataan röntgenfluoresenssisätei-lyn ja Compton-sironneen taustasäteilyn intensiteetit, kun taas toisella kanavalla 2 72211 mitataan kummankin säteilyn intensiteetit olennaisesti laajemmalta taajuusalueelta röntgenfluoresenssipiikin molemmilta puolilta. Saatujen mittausarvojen perusteella saadaan laskennallisesti määriteltyä röntgen!luoresenssisäteily ja sitä vastaava Compton-sironnut taustasäteilyintensiteetti. Jakamalla keskenään näin-saadut laskennalliset, mitattujen intensiteettien avulla määritetyt suureet saadaan tunnusarvo, joka kuvaa arvomineraalien pitoisuutta lohkareen pinnassa. Tunnusarvon ylittäessä malmilta vaadittavan kynnysarvon lajitellaan analysoitu lohkare malmiksi.
Keksinnön mukaisella menetelmällä aikaansaatavan tunnusarvon laskentaperusteita ja tunnusarvon määrittämiseksi mitattavien intensiteettien vaatimaa laiteratkaisua selostetaan seuraavassa viitaten oheisiin piirustuksiin, joissa kuvio 1 esittää kaavallisesti keksinnön erästä, edullista sovellutusmuotoa kuvio 2 esittää kuvion 1 mukaista sovellutusmuotoa yhdistettynä FI-patentista 61 361 tunnettuun gammasirontamenetelmään.
Kuvion 1 mukaisesti gammasäteilylähteellä 1 säteilytetään lohkaretta 2, josta herännyttä Compton-sironnutta taustasäteilyä mitataan säteilysuojassa 7 olevalla detektorilla 3, kuten energiadispersiivisellä tuikeilmaisimella. Detektorissa 3 käytetään kahta kanavaa, joista toisella mitataan röntgenfluoresenssipiikin taajuudelta herännyt röntgenfluoresenssisäteilyn F intensiteetti sekä tautasäteilyn T intensiteetti, joka pääasiassa on Compton-sironnutta säteilyä. Toisella kanavalla puolestaan mitataan röntgenfluoresenssisäteilyn F ja taustasäteilyn T intensiteetit olennaisesti laajemmalta taajuusalueelta röntgenfluoresenssipiikin molemmilta puolilta. Tällöin mittauskanavien summaintensiteetit ja I2 kanaville 1 ja 2 ovat: 11 = F + T (1) 12 = F + kT (2) jossa k on ykköstä suurempi kerroin, koska kanavalla 2 mitataan säteily kanavaa 1 laajemmalta alueelta. Vähentämällä lauseke 2 lausekkeesta 1 saadaan I2 - Il = T ( k-1 ) (3) jolloin taustasäteilylle T saadaan lauseke '2 - T - Hb-r <«·
Lausekkeista (1) ja (2) lähtien saadaan röntgenfluoresenssisäteilylle F vastaavasti lauseke 3 72211 kIi - h F = —-- (5).
k - 1
Jakamalla saadut lausekkeet (5) ja (4) keskenään saadaan keksinnön mukaisen menetelmän tunnusarvolle T0 lauseke kI1 - !2
To = --- (6), l2 " A1 joka kuvaa arvomineraalien pitoisuutta analysoitavan lohkareen 2 pinnassa. Lohkareelle määritetyn tunnusarvon Tq perusteella lajitellaan lohkare 2 joko malmiksi tai raakuksi siitä riippuen, ylittääkö vai alittaako lohkareen tunnusarvo T0 ennalta määrätyn lajitteluvaatimuksen.
Keksinnön mukaista menetelmää voidaan käyttää myös tunnettujen lajittelu- ja analysointimenetelmien, kuten FI-patentista 61 361 tunnetun gammasirontamene-teimän yhteydessä. Tällöin FI-patentin 61 361 mukaiseen menetelmään kuuluvien säteilylähteiden k, 5 läheisyyteen, edullisesti samaan säteilysuojaan 6 on sijoitettu keksinnön mukaiseen menetelmään soveltuva säteilylähde 1. Toteutettaessa keksinnön mukaista menetelmää FI-patentista 61 361 tunnetun menetelmän yhteydessä säteilytetään säteilylähteellä 1 joko pelkästään FI-patentin 61 361 mukaisella menetelmällä raakuiksi lajiteltuja lohkareita tai edullisesti myös kaikkia lohkareita, jolloin keksinnön mukaista tunnusarvoa T0 sovelletaan lohkareille, jotka FI-patentin 61 361 mukaisesti on lajiteltu raakuksi.
Keksinnön mukaisessa menetelmässä säteilylähteenä 1 voidaan käyttää edullisesti säteilylähteitä, kuten Cs-137 ja lr-192 säteilylähteiden energian vaihdellessa välillä 300 - 660 keV. FI-patentin 61 361 mukaisina säteilylähteinä ^,5 voidaan käyttää esimerkiksi Am-241 ja Cs-137, joiden intensiteetit ovat noin 60 keV ja noin 600 keV.
Vaikka tässä on esitetty eräitä keksinnön mukaisen menetelmän edullisia sovellu-tusmuotoja, on selvää, että keksinnön mukaista menetelmää voidaan soveltaa muullakin tavoin. Tällöin käytettäessä menetelmää sinänsä tunnetun analysointimenetelmän yhteydessä voidaan keksinnön mukaista menetelmää käyttää haluttaessa myös pääkriteerinä lohkareita lajiteltaessa. Lisäksi voidaan keksinnön mukainen menetelmä tunnetun analysointimenetelmän yhteydessä varustaa detektorilla tai käyttää tunnetun analysointimenetelmän kanssa samaa detektoria.
Claims (5)
1. Menetelmä säteilytaustan huomioimiseksi analysoitavista kappaleista syntyvien säteilyintensiteettien määrittämisessä kappaleiden lajittelua varten tunnet-t u siitä, että analysoitavia kappaleita (2) säteilytetään ainakin yhdellä säteily-lähteellä (1) röntgenfiuoresenssisäteilyn herättämiseksi niin, että säteily in tensi-teettipiikin Ij lisäksi mitataan detektorilla (3) säteilyspektrin samalta kohtaa, mutta olennaisesti säteilypiikkiä laajemmalta taajuusalueelta vastaava säteilyin-tensiteetti I2 ja että mitattujen intensiteettien Ij, I2 avulla määritetään röntgenfiuoresenssisäteilyn F ja taustasäteilyn T intensiteetit, joita verrataan toisiinsa kappaleiden pinnassa olevien arvomineraalipitoisuuksien selvittämiseksi.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä tunnettu siitä, että lajitte-lutulosta kuvaavaksi parametriksi, tunnusarvoksi T0, otetaan röntgenfluoresenssi-säteilyn F ja taustasäteilyn T intensiteettien välinen suhde.
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä tunnettu siitä, että detektorissa (3) käytetään kahta kanavaa, joista toiseen mitataan intensiteetti lj . ja toiseen intensiteetti I2 .
4. Patenttivaatimuksen 1, 2 tai 3 mukainen menetelmä tunnettu siitä, että detektorina (3) käytetään ainakin yhtä energiadispersiivisesti toimivaa tuikeilmai-sinta.
4 72211
5. Jonkin edelläolevan patenttivaatimuksen mukainen menetelmä tunnettu siitä, että säteilylähteen (1) energiataso on alueella 300 - 660 keV.
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI830968A FI72211C (fi) | 1983-03-23 | 1983-03-23 | Foerfarande foer beaktande av straolningsbakgrunden foer bestaemning av straolningsintensiteter som uppstaor i kroppar som skall analyseras. |
| SE8401396A SE461552B (sv) | 1983-03-23 | 1984-03-13 | Saett att ta haensyn till bakgrundsstraalningen vid bestaemning av straalningsintensiteten hos analysprov foer sortering |
| US06/590,720 US4653081A (en) | 1983-03-23 | 1984-03-19 | Method for taking the radiation background into account in the determination of radiation intensities of analyzed samples |
| ZA842097A ZA842097B (en) | 1983-03-23 | 1984-03-21 | Method for taking the radiation background into account in the determination of radiation intensities of analysed samples |
| AU25932/84A AU578016B2 (en) | 1983-03-23 | 1984-03-21 | Accounting for background radiation in radiation analysis |
| CA000450135A CA1219689A (en) | 1983-03-23 | 1984-03-21 | Method for taking the radiation background into account in the determination of radiation intensities of analysed samples |
| SU843716287A SU1417802A3 (ru) | 1983-03-23 | 1984-03-22 | Способ сортировки образцов руды по содержанию в них определ емого элемента |
| BR8401416A BR8401416A (pt) | 1983-03-23 | 1984-03-23 | Metodo levando em conta a radiacao refletida para determinar intensidades de radiacoes de amostras analisadas |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI830968 | 1983-03-23 | ||
| FI830968A FI72211C (fi) | 1983-03-23 | 1983-03-23 | Foerfarande foer beaktande av straolningsbakgrunden foer bestaemning av straolningsintensiteter som uppstaor i kroppar som skall analyseras. |
Publications (4)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI830968A0 FI830968A0 (fi) | 1983-03-23 |
| FI830968L FI830968L (fi) | 1984-09-24 |
| FI72211B FI72211B (fi) | 1986-12-31 |
| FI72211C true FI72211C (fi) | 1987-04-13 |
Family
ID=8516940
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI830968A FI72211C (fi) | 1983-03-23 | 1983-03-23 | Foerfarande foer beaktande av straolningsbakgrunden foer bestaemning av straolningsintensiteter som uppstaor i kroppar som skall analyseras. |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4653081A (fi) |
| AU (1) | AU578016B2 (fi) |
| BR (1) | BR8401416A (fi) |
| CA (1) | CA1219689A (fi) |
| FI (1) | FI72211C (fi) |
| SE (1) | SE461552B (fi) |
| SU (1) | SU1417802A3 (fi) |
| ZA (1) | ZA842097B (fi) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5206699A (en) * | 1988-05-06 | 1993-04-27 | Gersan Establishment | Sensing a narrow frequency band of radiation and gemstones |
| GB2219082B (en) * | 1988-05-06 | 1992-08-26 | Gersan Ets | A method of identifying specific objects or zones |
| GB2228316B (en) * | 1989-01-19 | 1993-03-17 | De Beers Ind Diamond | Determination of background radiation |
| GB9211734D0 (en) * | 1992-06-03 | 1992-07-15 | Gersan Ets | Prospecting for diamonds |
| GB9417665D0 (en) * | 1994-09-02 | 1994-10-19 | Gersan Ets | Distinguishing natural from synthetic diamond |
| GB0011227D0 (en) * | 2000-05-11 | 2000-06-28 | Ici Plc | Density measurement method and apparatus therefor |
| US6770830B2 (en) * | 2002-08-15 | 2004-08-03 | Capintec, Inc. | Radioactive seed sorter and method for sorting radioactive seeds |
| US9392961B2 (en) * | 2003-12-17 | 2016-07-19 | Check-Cap Ltd. | Intra-lumen polyp detection |
| JP6774896B2 (ja) * | 2017-03-10 | 2020-10-28 | 日本電子株式会社 | 分析装置および分析方法 |
| JP7122739B2 (ja) * | 2018-03-13 | 2022-08-22 | 公立大学法人大阪 | 定量分析方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1389417A (fr) * | 1963-04-01 | 1965-02-19 | Commissariat Energie Atomique | Procédé de dosage et dispositifs en faisant application |
| US3655964A (en) * | 1968-05-06 | 1972-04-11 | David Laurie Slight | Ionizing radiation apparatus and method for distinguishing between materials in a mixture |
| DE2703562A1 (de) * | 1977-01-28 | 1978-08-03 | Max Planck Gesellschaft | Verfahren und einrichtung zur roentgenfluoreszenzanalyse |
| JPS5430894A (en) * | 1977-08-12 | 1979-03-07 | Hitachi Ltd | Automatic fluorescent x-ray analysis apparatus |
| AU552202B2 (en) * | 1980-06-11 | 1986-05-22 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | Method and apparatus for material analysis |
| JPS5745481A (en) * | 1980-08-04 | 1982-03-15 | Schlumberger Overseas | Method of and apparatus for spectroscopic analysis on elements of stratum |
| FI61361C (fi) * | 1980-09-15 | 1982-07-12 | Outokumpu Oy | Foerfarande och anordning foer analys av malm med anvaendning av gammastraolning |
| JPS57179731A (en) * | 1981-04-30 | 1982-11-05 | Nippon Atom Ind Group Co Ltd | Method and apparatus for measuring concentration of element |
-
1983
- 1983-03-23 FI FI830968A patent/FI72211C/fi not_active IP Right Cessation
-
1984
- 1984-03-13 SE SE8401396A patent/SE461552B/sv not_active IP Right Cessation
- 1984-03-19 US US06/590,720 patent/US4653081A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-03-21 CA CA000450135A patent/CA1219689A/en not_active Expired
- 1984-03-21 ZA ZA842097A patent/ZA842097B/xx unknown
- 1984-03-21 AU AU25932/84A patent/AU578016B2/en not_active Ceased
- 1984-03-22 SU SU843716287A patent/SU1417802A3/ru active
- 1984-03-23 BR BR8401416A patent/BR8401416A/pt not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| SU1417802A3 (ru) | 1988-08-15 |
| FI72211B (fi) | 1986-12-31 |
| BR8401416A (pt) | 1984-11-06 |
| AU2593284A (en) | 1984-09-27 |
| SE8401396L (sv) | 1984-09-24 |
| FI830968A0 (fi) | 1983-03-23 |
| SE461552B (sv) | 1990-02-26 |
| ZA842097B (en) | 1984-10-31 |
| CA1219689A (en) | 1987-03-24 |
| FI830968L (fi) | 1984-09-24 |
| AU578016B2 (en) | 1988-10-13 |
| US4653081A (en) | 1987-03-24 |
| SE8401396D0 (sv) | 1984-03-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Markowicz | An overview of quantification methods in energy-dispersive X-ray fluorescence analysis | |
| EP1114310B1 (en) | X-ray fluorescence elemental analyzer | |
| FI72211C (fi) | Foerfarande foer beaktande av straolningsbakgrunden foer bestaemning av straolningsintensiteter som uppstaor i kroppar som skall analyseras. | |
| US4566114A (en) | X- and γ-Ray techniques for determination of the ash content of coal | |
| US3404275A (en) | Method of assaying and devices for the application of said method | |
| US4415804A (en) | Annihilation radiation analysis | |
| EP4105649A1 (en) | Quantitative analysis method, quantitative analysis program, and fluorescence x-ray analysis device | |
| US4520267A (en) | Method and apparatus for analyzing ore by means of gamma radiation | |
| US7529337B2 (en) | Energy dispersion type radiation detecting system and method of measuring content of object element | |
| US3621245A (en) | Method of x-ray fluorescence analysis of materials containing an interfering element | |
| Valkovic et al. | Review of recent applications of radioisotope excited x‐ray fluorescence | |
| CA1144660A (en) | Analysis of gold-containing materials | |
| FI67626C (fi) | Foerfarande foer analysering av malmblock | |
| Kunzendorf et al. | Determination of rare-earth elements in rocks by isotope-excited X-ray fluorescence spectrometry | |
| RU2154537C1 (ru) | Способ рентгенорадиометрической сепарации минерализованной массы | |
| Karamanova | Self-consistent empirical correction for matrix effects in X-ray analysis | |
| RU2524454C1 (ru) | Способ определения концентрации элемента в веществе сложного химического состава | |
| SU1315880A1 (ru) | Способ абсорбционного рентгеновского анализа руд | |
| Borsaru et al. | Simultaneous determination of silica and alumina in bulk bauxite samples by fast neutron activation | |
| Hołyńska et al. | Empirical method of matrix effect elimination for samples of ‘intermediate’thickness in EDXRF analysis | |
| Jakšić et al. | PIXE depth profiling | |
| RU100626U1 (ru) | Датчик для измерения и контроля эффективного атомного номера материала | |
| Holmes et al. | Grade determination of iron ore using pair production | |
| SU1702268A1 (ru) | Способ градуировки дл рентгенорадиометрического анализа | |
| SU171482A1 (fi) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM | Patent lapsed |
Owner name: OUTOKUMPU OY |