JPS61135129A - 樹脂封止型半導体装置の製造方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置の製造方法

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JPS61135129A JP59257087A JP25708784A JPS61135129A JP S61135129 A JPS61135129 A JP S61135129A JP 59257087 A JP59257087 A JP 59257087A JP 25708784 A JP25708784 A JP 25708784A JP S61135129 A JPS61135129 A JP S61135129A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用公社〕 本発明は、パワートランジスタ。電力用タ′イオード等
の樹脂封止型半導体装置の製造方法に関する。
〔従来の技術〕
電力用樹脂封止型牛尋体半導体おいて、半導体チップが
固着された支持板の裏面にも成形樹脂層を形成丁れば、
半導体装置を外部放熱体に取付ける際に従来使用してい
た絶縁薄板が不要になる。
しかし、この構造では、支持板裏面に形成される成形樹
脂層が数百μmという薄いものであるため。
この成形樹脂層が支持板から剥離してしまうことがある
。これは、成形時の樹脂の熱収縮や半導体装置がオン・
オフ動作ン繰り返丁ことによる熱ストレスに基づくもの
と考えられる。上記剥離が生じると、機械的強度の低下
はもとより、放熱特性や絶縁性の低下などの不都合が起
る。
樹脂の剥1idl防止するために、樹脂χ被着させる面
に凹凸や溝を設けることは公知である。この種の公昶技
術馨り−ドフレームに適用することも例えば実開昭57
−175448号公報で知られている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、支持板の裏面側には粥脂体Y:極めて薄く形
成する場合には、支持板の裏面側に5Itfる樹脂の流
動性が悪(なる。更に、支持板の裏面に凹凸や溝χ形成
すると、樹脂の流動性がま丁ま丁悪(なる。そこで1本
発明の目的は、支持板の裏面側に剥離し難い状態に薄い
成形樹脂体χ形成することが出来る樹脂封止型半導体装
置の製造方法?提供することにある。
〔問題点ン解決するための手段〕
上記目的乞運成するための本発明は、実施例を示す図面
の符号ン参照して説明すると、放熱機能及び電気伝導機
能ン有する支持板!27と、前記支持板(2)の一方の
主表面(2a)上に装着された半導体チップ(9)と、
前記支持板12)の一方及び他方の主表面(2a) (
2b)?:被被覆るように形成され且つ前記支持板t2
Jの一方の主表面(za) 1111が他方の主表面(
zb)Imよりも厚(なるように形成された成形樹脂体
(11と?有する樹脂封止型半導体装置の製造方法にg
いて、前記支持板(2]の他方の主表面(2b〕の少な
(とも一部に粗面a四を形成すること、前記成形樹脂体
α■を形成するための成形空所(171における前記支
持板(2)の一方の主表面(2a)側の成形空所に樹脂
の流れン抑制するような突出部(15c)’を有する樹
脂成形用型1151 uti Y用意すること、前記チ
ップ(9)が固着され且つ前記粗面μりが形成されてい
る支持板12) yyt前記樹脂成形用型(151四の
成形全所a7)P3に配置し。
前記成形空所α力の側面に設けられた注入孔−から液状
の樹脂馨圧大して前記成形樹脂体a1を形成することを
含む樹脂封止m半導体装置の製造方法に係わるものであ
る。
〔作 用〕
上記発明において、a4脂成形用型(151(1@の突
出部(15c)は、支持板+27の一方の主表面(11
(2a)における樹脂の流れを抑制し、相対的に他方の
主表面(2b)側の樹脂の流れが強(なる。この結果、
支持板(2)の他方の主表面(2b)に粗面u31設は
且っここに薄く樹脂体乞設ける場合であっても、支持&
(2J□ の他方の主表面、(2b)111に樹脂が良好に充填さ
れ。
剥離し難(且つ薄い樹脂体乞形成することが出来る。
〔笑IM例〕
次に、第1図〜第8図乞参照して本発明の実施例に係わ
る樹脂封止型パワートランジスタの製造方法について述
べる。
リードフレーム山を示す第1図において、(2)はNi
僅覆Cu&から成る支持板、;4)は支持&(2」の一
端に連結された支持板接続用外部リード、 +31t5
7はチップ接続用外部リード、16)は外部リードン橋
絡するタイバー、(7)は外部リード!’に連結する共
通接続細条、(81は成形樹力旨体に販付孔?形成する
ためのU字状切欠部である。M1図にはトランジスタ1
個分のリードフレーム山が示されているが。
実際には多数個(例えば10個)分が並列配置されてい
る。支持板(2)の一方の主表面(2a)上にはパワー
トランジスタチップ(9)が半田(図示せず)で固着さ
れている。チップ(9)は、上面にベース電極及びエミ
ッタtmχ有し。下面にコレクタ電極を有する。従って
、コレクター極が支持板(2)に接続されている。チッ
プ(9)のベースtmと外部リード(31の間、及びチ
ップ(9)のエミッタ電極と外部リード(5)の間は、
それぞれAIRから成るPI!j−ドαωαDで接続さ
れている。α力はジャンクションコーチインダレジンと
呼ばれる例えばシリコン樹脂からなる保護用樹脂で、チ
ップ(9ノヲ抜覆及び保護している。
゛支持@(2)の裏面即ち他方の主表面(2b)には第
2図に示す如く帯状に粗面(131が設けられている。
この粗面(13の形成は、リードフレーム山にチップ(
9)を接着する前になされている。即ち、粗面αJの形
成は。板状部材からリードフレーム山?製作する工程に
おいて1例えば放11E7FO工技術によって粗面加工
されたプレス屋ン支持板12)の他方の主表面(2b)
に押し当て、粗面形状χ転写する圧印加工することkよ
ってた丁。なお、粗面(13は第3図に示す如く深さ又
は高さが約50μmの微細な凹凸から成り1面粗度豹5
0μmに形成されている。
支持板+27の先端5(141は、金型で支持される部
分であり1M1図に示す如く裏面側の高さ位置が高(な
るように薄く形成されている。
第1図に示すチップ・リードフレーム組立体が児成した
ら1次に、第4図及び第5図に示す如く。
上部金型[51と下部金型ルと罠よって生じる成形空所
(171円にチップ(9)、支持板(2J、及び外部リ
ード(31〜+57の一部を配置し、外部リード131
〜157 Y上下の金型α51u−で挾持する。また支
持板(2)の先端部−を金型Lシ霞から突出する円柱状
ビン(15a)(16a)によって支持する。これによ
り、支持板(2)の他方の主表面(2b)と下部金型住
eとの間に1 mm以内(flえは約0.5 mm )
の間隔を安定的に得ることが出来る。なお、ビン(16
a)は沿面距離を長くするために大径部と小径部とから
成り1段部乞有している。
また、支持板+23の先端部Iは第1−から明らかな如
(二叉に分かれているので、ビン(15a) (16a
)も2本設けられている。(lsb)は板付孔を得るた
めの円筒状ビンであり、上部金型α9から下方に延びて
下部金m(L6Iに当接している。(15c)は樹脂の
流れン抑制するための仕切状の突出部であり、上部金型
四から下方に突出している。この突出部(15c)の先
端と支持板(23との間隔は、ビン(15b)の近傍に
おける支持板(2+と金型−との間隔よりも小であるの
で、W脂の流れがここで制限される。賭は樹脂注入孔で
あり、この例では、外部リード131〜t5Jの4出側
と反対側における成形全所Uでの側面に設げられている
次に、公だのトランスファモールド法に基づいて。加熱
されて粘液状となった熱硬化性エポキシ樹脂ケε入孔α
Ijして空所叫に圧入・充填する。
金型(151(151はこの樹脂の熱硬化可能温度例え
ば180℃に加熱されてSつ、圧入・充填された樹脂は
短時間(数分以内)の内に熱硬化し、第6図及び第7図
に示す如く成形樹脂体重9が形成される。しかる後、金
gu51畑の型締め?解いて、リードフレームン金型u
51ubllから取り外し、成形樹脂体(ll’に完全
に熱硬化させるために更に長時間の熱処理を行い。
七の後タイバー(6)と共通接続細条(73’!−プレ
ス加工で切断除去して、第8図に示すパワートランジス
タ?完成さぜる。第8図において、[株]t2))はビ
ン(15a) K対応して形成された凹部、囚は突出部
(15c)に対応して形成された溝状の凹部である。
のはビン(15b)に対応する取付孔であり、このノ(
ワートランジスタ乞外部放熱体等に奴付けるとぎにネジ
乞通丁だめのものである。なお、第8図には示されてい
ないが、、第7図から明らかな如(。
下側のビン(161)に対応した凹部が樹脂体(L罎に
生じる。このビン(16a)に対応する凹部は段部乞有
し且つ高い位置の支持板先端部α瘤に至っているので6
樹脂体(ICJの下面から支持板t27の露出面までの
沿面距離は比戟的大きい。
この実施ガには次の作用効果がある。
(al  支持板(2)の他方の玉表面(2a)に粗面
(131形成するために樹脂の流動性が悪くなるが、成
形空所惺ηの上歯に突出f!B (15C)χ設けて上
側の樹脂の流れを制限しているので。粗面α3I奮有す
る下側にも比較的良好に樹脂が流入し、樹脂の充填圧力
の不足や樹脂の未充填が起らず、ピンホール様のものが
発生して絶縁耐圧の低い樹脂層となることが防止される
。j!IIち6粗而U澹は支持板(2)の裏面と金型贈
り間の高さ0.5 mmという狭い空間に流れ込もうと
する粘液状の樹脂に対して七の流動注乞妨げるよ5に作
用するが、金型(L51の仕切状突出部(15()が、
支持板t2+の上面側の広い空間への樹脂の流れZ抑制
し、支持板(2)0a面側の狭い空間への樹脂の訛れを
増強し、支持板t2)の上面側と裏面側での樹脂の流れ
のパランスケ収り、支持板(2)の上面側を流れる樹脂
と裏面側を流れる饗脂とが支持板(2)の右側部近傍(
外部リード4出1iIJ )でぶつかるようになり、樹
脂が良好に充填される。
(bl  粗面(t31形成したことにより、支持板(
2)の裏面の表面積が大きく増加し、支持板(2)の裏
面における成形樹脂体重湯の剥離が生じ難(なる。粗面
u1を半球状の突起と半球状のへこみの果合体(球の半
径二r)であると仮定すると、粗面の場合の表面積と完
全な平渭面の場合の表面積との比は。
2πr!/πr2=2となる。ROち、平4面を粗面と
することにより1表面積を約2倍(100%増加)にす
ることが出来る。これは、前記公開公報における20%
増加という数値例を大きく上回わるものである。なg、
支持板t2)を完全な平渭面とすることは不可能である
ので1本実施例における表面積の増力Ωは100%より
も小さくなるが、これを*慮しても、20%よりは大幅
に大さくなる。
(cl  取付孔Ωの周辺の成形樹脂体(19の支持板
12)の上側の厚みは十分に確保されており、取付ネジ
の頭部で押圧されても損傷を受は難い。部ち、取付孔の
り近傍がチップ(9)近傍よりも薄く形成されているの
は、取付ネジの頭の突出を防ぐためである。この部分を
更に薄く丁れば、結果として樹脂の流動を抑制すること
が出来る。しかし、取付孔[有]の部分をあまり薄くす
ると、取付ネジで損傷し易<なり、且つ絶縁上の問題も
生じる。これに対して1本実施例では、独立に凹部のを
設げて樹脂の流れを制御しているので、上述の如き問題
は生じない。
本発明は上述の実施例に限定されるものでなく。
例えば次の変形filが可能なものである。
(イ) 粗面C131を支持板+27の他方の主表面(
2a)の実質的に全体に形成ぜずに一部に形成してもよ
い。
この際、粗面(13を樹脂の流動方向に沿って複数本の
帯状に形成してもよい。
(ロ)面粗度を、好ましくは15〜100μm(凹凸の
深さ又は高さの平均値が15〜100μm)の範囲で種
々変えてもよい。
Pl  突出部(15c)の位置及び形状を株々変えて
もよい。例えば、ビン(15b)も樹脂の流動を抑制す
る働ざがあるので、これとチップ(9)とを結ぶ直線上
には突出部(15c)を設けないようにしてもよい。
に)支持板(27が完全忙露出しない製品を希望する場
合には、凹部@の及びビン(16a)に対応する凹部に
is4脂を注入してもよい。また、支持板123の金型
のビン(151)(16a)と当接する部分にあらかじ
めポリイミド系樹脂層のよ5なiI!3酸層を形成して
Sいてもよい。
(ホ) ビン(15a)(16B)の一方又は両方を省
いて金m 賭叫で片持ち支持する場合くも適用可能であ
る。
(べ 金型tJ:部及び下部令書αシα−に2分割にぜ
ずに3分割又は4分割等としてもよい。
〔発明の効果〕
上述から明らかな如(1本発明によれば、粗面を有する
支持板の他方の主表面(裏面) tillに薄く且つ剥
離し難い樹脂体を容易且つ良好く形成することが出来る
【図面の簡単な説明】
81図は本発明の実施例に係わるパワートランジスタの
リードフレームにチップを接層し、内部リードを接続し
た組立体を示す斜視図、!2図は第1図のリードフレー
ムの底面図、第3図は支持板の一部拡大断面図、第4図
は金型に第1図の組立体を収容した状態を外部リード+
4+Kaう断面で示す断面囚、第5図は金型と第1図の
組立体とを外部リード157 K沿う断面で示す断面図
、第6図及び第7図は第4−及び第5図の空所に樹脂体
を設けたものを示す断面図、第8図は完成したトランジ
スタの斜視図である。 +11・・・リードフレーム、(2I・・・支持板、 
+31157・・・チップ接続用外部リード、(4〕・
・・支持板接続用外部リード、 (9)・−f yプ、
(ll(llI・・・内部リード、+131・・・粗面
。 11シ(18・・・金型、(15c)・・・突出部、a
7)・・・成形空所、賎・・・成形樹脂体。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)放熱機能及び電気伝導機能を有する支持板(2)
    と、前記支持板(2)の一方の主表面(2a)上に装着
    された半導体チップ(9)と、前記支持板(2)の一方
    及び他方の主表面(2a)(2b)を被覆するように形
    成され且つ前記支持板(2)の一方の主表面(2a)側
    が地方の主表面(2b)側よりも厚くなるように形成さ
    れた成形樹脂体(19)とを有する樹脂封止型半導体装
    置の製造方法において、 前記支持板(2)の他方の主表面(2b)の少なくとも
    一部に粗面(13)を形成すること。 前記成形樹脂体(19)形成するための成形空所(17
    )における前記支持板(2)の一方の主表面(2a)側
    の成形空所に樹脂の流れを抑制するような突出部(15
    c)を有する樹脂成形用型(15)(16)を用意する
    こと。 前記チップ(9)が固着され且つ前記粗面(13)が形
    成されている支持板(2)を前記樹脂成形用型(15)
    (16)の成形空所(17)内に配置し、前記成形空所
    (17)の側面に設けられた圧入孔(18)から液状の
    樹脂を注入して前記成形樹脂体(19)を形成すること
    を含む樹脂封止型半導体装置の製造方法。
JP59257087A 1984-12-05 1984-12-05 樹脂封止型半導体装置の製造方法 Granted JPS61135129A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0394432A (ja) * 1989-06-30 1991-04-19 Sanken Electric Co Ltd 樹脂封止型電子部品の製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0394432A (ja) * 1989-06-30 1991-04-19 Sanken Electric Co Ltd 樹脂封止型電子部品の製造方法

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