JPS61131128A - 自己診断方式 - Google Patents

自己診断方式

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Publication number
JPS61131128A
JPS61131128A JP25303484A JP25303484A JPS61131128A JP S61131128 A JPS61131128 A JP S61131128A JP 25303484 A JP25303484 A JP 25303484A JP 25303484 A JP25303484 A JP 25303484A JP S61131128 A JPS61131128 A JP S61131128A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
trigger signal
diagnostic
error
self
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25303484A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Nagashima
孝 長島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP25303484A priority Critical patent/JPS61131128A/ja
Publication of JPS61131128A publication Critical patent/JPS61131128A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/267Reconfiguring circuits for testing, e.g. LSSD, partitioning

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、マイクロプロセッサを使用するシステムの自
己診断処理を実行する自己診断方式に関する。
[発明の技術的背景とその問題点] 従来、マイクロプロセッサを使用した機器では、電源投
入直後の初期診断やテストプログラムによる自己診断の
機能を備えているものが多い。このような診断方式では
、プログラムによりエラーが検出された後、エラー発生
の原因となる部品等を特定することがなされる。具体的
には、II器の回路動作をロジックアナライザ(タイミ
ングアナライザ)等で解析し、エラー発生箇所を特定す
る必要がある。
ところで、上記のような診断処理の場合、エラーの発生
時にロジックアナライザに対して、回路動作の解析に必
要な信号を供給することは困難である。このため、従来
では、エラー検出時に所定のアドレスヘジャンプするプ
ログラムを用意し、そのアドレスをアクセスする際の信
号をロジックアナライザのトリガ信号として出力する方
式が開発されている。しかしながら、この方式では、全
てのアドレス線をトリガ信号発生用として設定する必要
がある。また、ジャンプ先のアドレスをリストから確認
することが必要となるため、オペレータの作業がW1雑
になり、診断処理の効率が低下する問題がある。
[発明の目的] 本発明の目的は、診断プログラムによるエラー検出時に
、ロジックアナライザ等の診断装置ヘトリガ信号を簡単
な構成で供給できるようにして、システムの自己診断処
理を高い効率で実行できる自己診断方式を提供すること
にある。
[発明の概要] 本発明は、診断プログラムによりシステムのエラー検出
を行なうエラー検出手段を備えており、このエラー検出
時に診断装置のトリガ信号を出力するトリガ信号発生手
段を有する。トリガ信号発生手段は、エラー検出手段か
ら出力されるアドレスアクセス信号等の特定アクセス信
号に応じて、トリガ信号を出力するように構成されてい
る。
このトリガ信号発生手段からのトリガ信号をシステムの
診断装置へ転送することにより、エラー検出時にシステ
ムの自己診断処理を確実に行なうことができる。
[発明の実施例] 以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。第1
図は一実施例に係わる構成を示すブロック図である。第
1図において、マイクロプロセッサ10は、システム全
体の制御を実行し、予めメモリ11に記憶された診断プ
ログラムによりシステムの自己診断処理を行なう。トリ
ガ信号発生回路12は、マイクロプロセッサ10から出
力される特定アクセス信号(例えばメモリアクセス信号
)に応じてトリガパルスPを出力する。このトリガパル
スPは、図示しない診断装置I(例えばロジックアナラ
イザ)の動作トリガ信号として転送される。
トリガ信号発生回路12は、具体的には例えば第3図に
示すように、デコーダ20を備えている。デコーダ20
は、アドレスI!21を通じてマイクロプロ    1
セツサ10からメモリ11のアドレスデータが供給され
て、そのアドレスデータをデコードして出力する。また
、デコーダ20は、マイクロプロセッサ10から出力さ
れるメモリアクセスパルスMPをデコードし、複数のデ
コード出力線22の1本からデコードパルスをトリガパ
ルスPとして出力する。
上記のような構成のシステムにおいて、一実施例に係わ
る動作を説明する。先す、システムの自己診断モードに
設定されると、マイクロプロセッサ10は、メモリ11
に記憶された診断プログラムに基□づいて自己診断処理
を実行する。即ち、例えば第2図に示すような診断プロ
グラムにより、システムのエラー検出処理(ステップ8
1)が実行される。このエラー検出処理では、例えばメ
モリ11に対してデータの1込み、読出し処理を実行し
、読出しデータと書込みデータに相当する基準データと
が比較される。この比較結果により、各データが相違し
た場合には、エラーが発生したと判定する。
上記ステップS1においてエラーが検出されると、ステ
ップS2に示すトリガ信号発生処理が実行される。トリ
ガ信号発生処理では、マイクロプロセッサ10はメモリ
11の所定のアドレスデータを内部バス13を通じてト
リガ信号発生回路12に出力する。即ち、デコーダ20
のデータ入力端子に対して、マイクロプロセッサ10か
らのアドレスデータがアドレス線21を通じて入力され
る。さらに、マイクロプロセッサ10からメモリアクセ
スパルスMPが、デコーダ20のパルス入力端子Eに供
給される。これにより、デコーダ20のデコード出力線
22からデコード結果が出力されることになる。このと
き、デコード出力線22の1本から出力される信号が、
トリガパルスPとして図示しない診断装置(例えばロジ
ックアナライザ)へ転送される。
このようにして、マイクロプロセッサ10は、システム
内のメモリ11などのエラーを検出すると、そのメモリ
11の所定のアドレスをアクセスする。
これにより、トリガ信号発生回路12であるデコーダ2
0からトリガパルスPが発生し、ロジックアナライザ等
の診断装置へ転送される。診断装置は、トリガパルスP
により動作を開始し、メモリ11等のエラー発生箇所で
ある回路の動作を解析する。
した゛がりて、マイクロプロセッサ10のエラー検出時
に、エラー発生箇所の回路動作を診断し、故障した部品
等を特定することが可能となる。
そして、例えば第2図のステップS3に示すように、診
断装置の解析結果に基づいて、マイクロプロセッサ10
はディスプレイ装置にエラー箇所を指示するエラー表示
処理を実行する。
C発明の効果] 以上詳述したように本発明によれば、簡単な構成でシス
テムのエラー検出時に、トリガパルスをロジックアナラ
イザ等の診断装置へ出力することができる。したがって
、システムのエラー発生箇所を容易に特定することがで
き、結果的にシステムの自己診断処理を高い効率で行な
うことができるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係わる構成を示すブロック
図、第2図は同実施例の動作を説明するためのフローチ
ャート、第3図は同実施例のトリガ信号発生回路の具体
的構成の一例を示すブロック図である。 10・・・マイクロプロセッサ、11・・・メモリ、1
2・・・トリガ信号発生回路、20・・・デコーダ。 第1図 第2図    第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 予め用意された診断プログラムによりシステムのエラー
    検出を行なうエラー検出手段と、このエラー検出手段に
    よりシステムのエラーが検出された際に発生する特定ア
    クセス信号に応じてトリガ信号を出力するトリガ信号発
    生手段と、このトリガ信号発生手段から出力されるトリ
    ガ信号を上記システムの診断装置へ転送するトリガ信号
    転送手段とを具備してなることを特徴とする自己診断方
    式。
JP25303484A 1984-11-30 1984-11-30 自己診断方式 Pending JPS61131128A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25303484A JPS61131128A (ja) 1984-11-30 1984-11-30 自己診断方式

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25303484A JPS61131128A (ja) 1984-11-30 1984-11-30 自己診断方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61131128A true JPS61131128A (ja) 1986-06-18

Family

ID=17245557

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25303484A Pending JPS61131128A (ja) 1984-11-30 1984-11-30 自己診断方式

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