JPS6111088B2 - - Google Patents

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JPS6111088B2
JPS6111088B2 JP52101239A JP10123977A JPS6111088B2 JP S6111088 B2 JPS6111088 B2 JP S6111088B2 JP 52101239 A JP52101239 A JP 52101239A JP 10123977 A JP10123977 A JP 10123977A JP S6111088 B2 JPS6111088 B2 JP S6111088B2
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JP
Japan
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optical system
light
projection
refractometer
aiming
Prior art date
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JP52101239A
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English (en)
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JPS5434592A (en
Inventor
Shinji Wada
Ikuo Kitao
Yasuo Kato
Taketoshi Ishihara
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Tokyo Optical Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Optical Co Ltd
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Publication date
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Priority to US05/935,608 priority patent/US4277150A/en
Publication of JPS5434592A publication Critical patent/JPS5434592A/ja
Publication of JPS6111088B2 publication Critical patent/JPS6111088B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、被検眼の瞳孔を通して投影されたタ
ーゲツト像の網膜上における結像状態により、被
検眼の屈折力或いは必要な矯正度数を知るように
なつたレフラクトメーターに関する。
この種のレフラクトメーターは、一般に被検眼
の瞳孔を通してターゲツト像を投影する投影光学
系と、被検眼の網膜上におけるターゲツト像の結
像状態を観察する観察光学系とを包含する。
このレフラクトメーターによる測定において
は、対物レンズと被検眼との位置を適正に調整す
ることが必要である。この目的でレフラクトメー
ターには、被検眼の前眼部を観察する照準光学系
が設けられる。
このようなレフラクトメーターにおいて、投影
光学系からの投影を可視光線により行なうと、被
検眼に眩惑感を与え、測定結果に影響を与える恐
れがあるので、この投影には、赤外光を用いるこ
とが好ましい。しかし、この投影に赤外光を用い
ると、観察光学系及び照準光学系の両方に対して
撮像管等の暗視装置を用いねばならない。観察光
学系及び照準光学系の光束の両方を同一の撮像管
に導くように構成すると、レンズ及び光束の重な
りを防止するためには、それぞれの光束の結像レ
ンズへの入射角を大きくとらねばならず従つて観
察像、照準像が撮像面上で不必要に分離する不合
理が生じる。このことは目盛像についても同じで
ある。
本発明は、レフラクトメーターにおいて投影光
学系からの投影を赤外光により行ない、且つ観察
光学系及び照準光学系の光束の両方を同一の撮像
管に導びいて一個の撮像管による観察を可能にす
る場合の上述の問題を解決することをその目的と
する。
本発明の他の目的は、観察光学系の光束と照準
光学系の光束とを光量のバランス良く同一の撮像
管に導びくようにしたレフラクトメーターを提供
することである。
すなわち、本発明のレフラクトメーターは、投
影光学系を通して赤外光が投影される形式であ
り、観察光学系の光束と照準光学系の光束とを、
同一の半透過光学素子、たとえばハーフミラー又
は合わせプリズム等により、一方は透過、他方は
反射させて同一の撮像管に導びくとともに、前記
半透過光学素子としては、観察光学系の光束の50
%以上を、また照準光学系の光束の50%以下を前
記撮像管に導びくような透過率又は反射率を有す
るものを使用する。なるべくは、観察光学系の光
量は約90%を、照準光学系の効量の約10%を撮像
管に導びくようにすることが好ましい。目盛投影
系には可視光を用い、この目盛投影系の光束も同
一の撮像管に投影することも好ましい。この場
合、撮像管は可視光線のも感度を有するものを用
いることは勿論である。
以下、本発明の実施例を図について説明する。
図において、投影系は照準光源1を包含し、この
光源1からの光は赤外線透過フイルター2及びレ
ンズ3を経て平行光となりプリズム4により反射
された投影光軸5に沿つて進む。投影光軸5上に
はターゲツト6が配置されている。このターゲツ
ト6は、たとえば第6図に示すようなターゲツト
パターンを有し、かつ第4図及び第5図に示すよ
うな交差楔形プリズム7が貼付けられている。さ
らに、この投影光軸5上には、レンズ8及びペン
タプリズム9が設けられ、投影光束はプリズム9
により下向きに反射される。
投影光軸5の下方には、これと平行に観察光軸
10があり、投影光束のプリズム9による反射光
路と観察光軸10とが交差する位置に、孔あきプ
リズム11が配置されている。孔あきプリズム1
1は、観察光軸10と同軸な孔11aと投影光束
を光軸10に沿つて前方に反射する反射面11b
とを有する。プリズム11の反射面11bにより
反射された投影光束は、投影レンズ12により被
検眼13に投影される。投影光束は、被検眼13
の瞳孔を通して網膜上にターゲツト像を結像す
る。孔あきプリズム11と投影レンズ12との間
には像回転素子14が配置されている。この像回
転素子14は、二等辺三角形プリズム14aと該
プリズムの頂点に対向して配置された平面反射鏡
14bとからなり、これらプリズム14aと反射
鏡14bとを光軸10まわりに回転させることに
より、投影されるターゲツト像が回転する。
眼底に結像されたターゲツト像は、観察光学系
により観察される。観察光学系は、孔あきプリズ
ム11により後方において、観察光軸10上に配
置されたレンズ15及び反射鏡16を有し、眼底
反射光はレンズ12及び像回転素子14、プリズ
ム11の孔11aを通り、レンズ15を経て反射
鏡16により上向きに反射される。
図示のレフラクトメーターは、レンズ12と被
検眼13との距離を正確に設定するための照準光
学系を有する。この照準光学系は、光軸10に対
し傾斜する方向対物レンズ12を通して被検眼1
3に向けられた光軸17上で、対物レンズ12の
後方に設けられたレンズ18と、レンズ12及び
18を通る光を光軸10に平行な光軸19に沿つ
て導びくプリズム20、及び該光軸19上に配置
されたレンズ21,22,23,24を包含し、
これらレンズを通つて光は反射鏡25により横方
向に反射される。
目盛投影系は、像回転素子14と連動して回転
する角度目盛26及びターゲツト7と連動して動
く度数目盛27を有し、角度目盛の投影光はレン
ズ28,29を経て反射鏡30により横方向に反
射され、さた度数目盛の投影光はプリズム31を
経て反射鏡30に達し、横方向に反射される。
第2図及び第3図に示すように、反射鏡30に
より反射された目盛投影光束は、反射鏡32によ
り上向きに反射され、さらに反射鏡33により横
方向に反射されたのち、反射鏡34により反射さ
れて、結像レンズ35を通り撮像管36の光電面
に入射する。
反射鏡25により反射された照準光学系の光束
は、反射鏡37により上向きに反射され、次いで
反射鏡38により横向きに反射されたのち、ハー
フミラー39の反射面により反射され、結像レン
ズ35を経て撮像管36に入射する。
反射鏡16により上向きに反射された観察光学
系の光束は、反射鏡40により反射され、ハーフ
ミラー39を透過し、結像レンズ35を経て撮像
管36に入射する。
投影光学系から被検眼13に投影される光は赤
外光、好ましくは近赤外光であり、したがつて観
察光学系及び照準光学系の光束は赤外光である
が、目盛投影系に用いられる光は可視光であるた
め、撮像管36には、少くとも可視光及び近赤外
光に感度を有するものを用いる。
観察光学系の光束は、眼底反射光であり、照準
光学系の光束は、まぶた、強膜、虹彩等の反射光
であるため、照準光学系の方が光量に余裕があ
る。したがつて、本発明においては、ハーフミラ
ー39の反射率を50%以下とし、光量に余裕のな
い観察光学系の光が撮像管36に到達する割合を
多くする。普通には、この反射率は10%程度とす
ることが好ましい。勿論、観察光学系の光束をハ
ーフミラーによる反射で、また照準光学系の光束
を透過で撮像管に導びく場合には、ハーフミラー
の反射率は50%以上、好ましくは90%程度とす
る。
投影光学系により網膜上に投影されたターゲツ
ト像は、被検眼が正常視の屈折力を有する場合に
は第6図のように正しく結像するが、被検眼13
が近視又は遠視の場合、ターゲツト像はたとえば
第7図に示すように割れを生ずる。この場合、タ
ーゲツト7を投影光軸5に沿つて動かして正しい
結像状態を得るようにすれば、そのときのターゲ
ツト7の位置が、目盛27上に矯正度数の形で表
示され、この矯正度数が目盛投影系により撮像管
36に写し出される。乱視検査の場合には、像回
転素子14を回転させながらターゲツト像の観察
を行ない、乱視軸の角度を検出する。このときの
乱視軸は角度目盛により表示される。
第8図は、撮像管36の入力に応じて画面に表
われる像の一例を示すもので、観察光学系からの
ターゲツト像は符号50で、照準光学系からの角
膜像は51で、目盛投影系の度数表示は52、角
度表示は53でそれぞれ示されている。撮像管
に、光電面より生じる1画面あたりの光電流を一
定にする自動感度制御装置が設けられている場合
には、主に目盛投影系によつて生ずる光電流が大
きくなるため、光電面の感度を低下させるような
働きが生じる。この結果、不足がちの観察光学系
光量が撮像管の有効感度域に達しなくなり測定が
困難になる。この不具合を避けるには、目盛の背
景を暗くし、目盛部分を透過型にすればよい。
正確な測定結果を得るには、被検眼を遠方視状
態に置くことが必要である。このため、レフラク
トメーターには注視目標系が設けられる。この注
視目標系は、光源1からの光を平行光束として光
軸41に沿つて導びくレンズ42と、光軸41上
に設けられた注視目標43、及びこの注視目標の
投影光束を導びくレンズ44、ペンタプリズム4
5,46を有し、プリズム46を出た光は、反射
鏡47により反射されてレンズ48,49及び対
物レンズ12を経て被検眼13に入射する。した
がつて、測定にあたつては、被検者にこの注視目
標43を注視させながら、上述のような測定を行
なえばよい。
本発明によるレフラクトメーターは、被検眼へ
の測定用投影光のみならず照準用投影光も赤外光
であるため、被検者に眩惑感を与えることがな
く、また観察光学系、照準光学系及び目盛投影系
の各光束が同一の撮像管に導かれるため、経済的
であるばかりでなく、テレビモニターによる両眼
観察であるため従来の単接眼レンズにより覗くも
のに較べ人間工学的にはるかに優れている。しか
も観察光学系の光束と照準光学系の光束の一方が
ハーフミラーの反射により、他方が同一ハーフミ
ラーの透過により撮像管に入射するようにしたの
で、これら光束の結像レンズへの入射角を比較的
小さく保つことができる。また、ハーフミラーの
反射率は観察光学系の光束の50%以上、照準光学
系の光束の50%以下が撮像管に導かれるようにし
たので、各光束の光量のバランスが良好になる。
尚、上記ハーフミラーに代えてプリズムを用いる
ことも勿論可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すレフラクトメ
ーターの光学系の主要部の斜視図、第2図は撮像
管への入射光路の配置を示す斜視図、第3図はそ
の平面図、第4図は第1図の光学系の平面図、第
5図はその側面図、第6図はターゲツトの一例を
示す図、第7図はターゲツトの不良結像状態を示
す第6図と同様な図、第8図は撮像管の入力に応
じてテレビ画面に表われる像を示す図である。 1……光源、5……投影光軸、6……ターゲツ
ト、11……孔あきプリズム、12……対物レン
ズ、14……像回転素子、26……角度目盛、2
7……度数目盛、36……撮像管、39……ハー
フミラー。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ターゲツトを被検眼の瞳孔を通して投影する
    投影光学系と、被検眼の網膜に結像したターゲツ
    ト像を被検眼の瞳孔を通して観察する観察光学系
    と、被検眼前眼部からの反射光により前眼部を照
    準するための照準光学系とを有するレフラクトメ
    ーターにおいて、前記投影光学系を通して赤外光
    が投影されるように赤外光源を設け、前記観察光
    学系の光束と前記照準光学系に光束とを、同一の
    半透過光学素子により一方は透過、他方は反射さ
    せて同一の撮像装置に導びくようにするととも
    に、前記半透過光学素子として前記観察光学系の
    光束の50%以上を、また前記照準光学系の50%以
    下を前記撮像装置に導びくような反射率を有する
    ものを用いたことを特徴とするレフラクトメータ
    ー。 2 前記第1項において、前記半透過光学素子は
    ハーフミラーであり、前記観察光学系の光束が該
    ハーフミラーを透過するように構成されたレフラ
    クトメーター。 3 前記第1項において、前記半透過光学素子は
    内部に反射面を有する合わせプリズムであり、前
    記観察光学系の光束が前記反射面を透過するよう
    に構成されたレフラクトメーター。 4 前記第1項ないし第3項のいずれかにおい
    て、観察光学系の光束の約90%、及び照準光学系
    の光束の約10%の撮像装置に導かれるようになつ
    たレフラクトメーター。 5 前記第1項ないし第4項のいずれかにおい
    て、投影光学系のターゲツト位置を表わす目盛を
    前記撮像装置に投影する目盛投影系が設けられた
    ことを特徴とするレフラクトメーター。 6 前記第5項において、投影光学系には投影タ
    ーゲツト像を回転させる光学素子が設けられ、こ
    の回転光学素子の回転量も前記目盛投影系により
    撮像装置上に投影されるようになつたレフラクト
    メーター。 7 前記第5項又は第6項において、撮像装置は
    可視光及び近赤外光に感度を有し、前記投影光学
    系の投影は近赤外光によりなされ、前記目盛投影
    系の投影は可視によりなされるようになつたレフ
    ラクトメーター。
JP10123977A 1977-08-24 1977-08-24 Infrared ray refractometer Granted JPS5434592A (en)

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JP10123977A JPS5434592A (en) 1977-08-24 1977-08-24 Infrared ray refractometer
US05/935,608 US4277150A (en) 1977-08-24 1978-08-21 Eye refractmeter

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JP10123977A JPS5434592A (en) 1977-08-24 1977-08-24 Infrared ray refractometer

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Publication Number Publication Date
JPS5434592A JPS5434592A (en) 1979-03-14
JPS6111088B2 true JPS6111088B2 (ja) 1986-04-01

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ID=14295338

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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5829446A (ja) * 1981-08-18 1983-02-21 キヤノン株式会社 眼科測定装置
JPS61168330A (ja) * 1985-01-22 1986-07-30 株式会社トプコン 自動眼屈折力測定装置
JPS61168329A (ja) * 1985-01-22 1986-07-30 株式会社トプコン 眼屈折力測定装置
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JPS6353433A (ja) * 1986-08-23 1988-03-07 Canon Inc 眼・レンズ屈折度測定装置
JPS6476830A (en) * 1988-08-19 1989-03-22 Topcon Corp Infrared refractometer

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JPS5434592A (en) 1979-03-14

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