JPS61101068A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JPS61101068A
JPS61101068A JP22320584A JP22320584A JPS61101068A JP S61101068 A JPS61101068 A JP S61101068A JP 22320584 A JP22320584 A JP 22320584A JP 22320584 A JP22320584 A JP 22320584A JP S61101068 A JPS61101068 A JP S61101068A
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JP
Japan
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junction element
junction
leakage current
mirror circuit
current mirror
Prior art date
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JP22320584A
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JPH0436575B2 (ja
Inventor
Takeshi Kuwajima
桑島 健
Kazuo Tokuda
和夫 徳田
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体集積回路の構造、特にリーク電流が及
ぼす回路誤動作等を容易に低減しうる半導体集積回路の
構造に関する。
〔従来の技術〕
半導体集積回路において、従来より、例えば信号処理回
路のフィルタ用あるいは信号経路交流結合用等にPN接
合素子を利用した接合容量が使用されている。この接合
容量を使用した従来の例を第2図に示′ガ及第2図にお
いて、2,3は増幅器、5は接合容量、6は抵抗、4は
電源電圧供給点、また1、13は各々入出力端子を示し
ている。一定の逆バイアス電圧が印加された接合容量5
は、抵抗6とともにローパスフィルタを構成している。
従って、この回路は、端子1を入力し、端子13を出力
とするフィルタ回路として動作する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
かかるフィル夛回路では、接合容量5に、逆バ合面績の
大きい場合には、無視出来ない値となり、  ゛このリ
ーク電流による抵抗6での電圧降下によって、増幅器3
0入力の直流動作点が変動したシ、更には、小人力信号
に応答しない等の不具合点を生じる欠点があった。
本発明の目的は、かかる半導体集積回路の信号処理回路
等におけるPN接合素子のリーク電流による回路動作不
具合を改善した半導体集積回路を提供する墨にある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明によれば、一端が所定電位点或いはバイアス供給
回路に接続され、所定の逆バイアス電圧が印加された第
1のPN接合素子の他端に信号経路が接続されると共に
この第10PN接合素子の他端にカレントミラー回路の
出力点を接続し、このカレントミラー回路の人力点に、
第10PN接合素子と同一構造で、且つ、第10PN接
合素子と、はぼ等しい逆バイアス電圧が印加された第2
のPNN接合子子接続されている事を特徴とする半導体
集積回路が得られる。
〔作 用〕 本発明によれば、第1と第2のPN接合素子にはほぼ等
しいリーク電流が流れることとなるので、第20PN接
合素子に流れるリーク電流をカレントミラー回路を介し
て第1のPN接合素子に加えることによって、第1のP
N接合素子に流れるリーク電流が信号経路に流れること
を防止できる。
これ罠よって、信号経路は第1のPN接合素子に流れる
リーク電流に関係なく、正常動作を維持することができ
る。
〔実施例〕
次に、図面を参照して、本発明をよシ詳細に説明する。
第1図に本発明の一実施例を示す。第1図において、2
,3は増幅器5,7はPN接合素子による接合容量、6
は抵抗、8,9.10はトランジスタ、4は電源電圧供
給点及び1,13は各々入出力端子を示している。増幅
器2の出力に抵抗6を介して次段の増幅器30入力点が
接続でれると共に、所定の逆バイアス電圧が印加された
接合容量5の一端が接続されている。この接合容量5は
抵抗6と共にローパスフィルタを構成している。
一方、増幅器3の入力点には、カレントミラー回路14
を構成するトランジスタ9のコレクタが接続されると共
に、トランジスタ90ベースには、ベース・コレクタ共
通接続されたトランジスタ10のベース・コレクタ共通
接続点及びトランジスタ8のコレクタが接続される。ト
ランジスタ8のエミッタには、電源電圧供給点4との間
に、接合容量5゛と同一構造の接合容量7が接続され、
且つ、接合容量7に印加される逆バイアス゛電位が、接
合容量5に印加さnる逆バイアス電位に概略等しくなる
様にトランジスタ80ベースにはバイアス電圧供給源1
1が接続されている。
接合容量5及び7゛に印加された逆バイアス電圧により
、リーク電流が発生する。ここで、接合容量5及び7は
、概略等しい逆バイアス電圧が印加され、且つ、同一半
導体集積回路基板上に同−構−5= 造で近接配置されてい不ので、これらの接合容量5及び
7には、各々の接合面積に比例したリーク電流が流れる
と仮定出来、これらのリーク電流は等しいものとなる。
そこで、接合容量7のリーク電流を、カレントミラー回
路14の入力とし、出力よシ、接合容量5のリーク電流
に等しい電流を取り出し、このリーク電流を、増幅器3
0入力点に加えることによって、接合容量5に生じるリ
ーク電流による他の回路への影響を相殺する手ができる
。 □ 従って、所望の回路動作に対し、例えば動作点変動等の
不具合点をもたらすリーク電流が容易に補償される。筐
た、本発明によれば、接合容量5−及び7の接合面積が
等しくない場合においても、カレントミラー回路14の
入出力電流比を調整する事によυ、何ら支障なく補償効
果が得られる。
例えば第1図において、接合容量5,7の接合面積比が
n = 1である場合、カレントミラー回路14めトラ
ンジスタ9及び10のエミツタ面積比を概略1 = n
に設定すれば良い。
6一 〔発明の効果〕 このように、本発明によれば、接合容量のリーク電流が
他の回路の動作に影響することのない半導体集積回路を
得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回路図であり、第2図
は従来例を示す回路図である。 1.13・・・・・・端子、2,3・・・・・・増幅器
、4・・団・電源電圧供給点、5,7・・・・・・接合
容量、8〜1゜・・・・・・トランジスタ、11・・・
・・・バイアス供給源、12・・・・・・基準電位点、
14・・・・・・カレントミラー回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、一端が所定電位点或いはバイアス供給回路に接続さ
    れ所定の逆バイアス電圧が印加された第1のPN接合素
    子の他端に信号経路が接続されると共に、該第1のPN
    接合素子の前記他端にカレントミラー回路の出力点が接
    続され、該カレントミラー回路の入力点に、前記第1の
    PN接合素子に生じるリーク電流と等しいリーク電流が
    生じる第2のPN接合素子が接続された事を特徴とする
    半導体集積回路。 2、前記第2のPN接合素子は前記第1のPN接合素子
    と同じ構造をしており、かつ前記第1のPN接合素子に
    与えられる逆バイアス電圧と同じ逆バイアス電圧が与え
    られていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の半導体集積回路。
JP22320584A 1984-10-24 1984-10-24 半導体集積回路 Granted JPS61101068A (ja)

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JPH0436575B2 JPH0436575B2 (ja) 1992-06-16

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5475273A (en) * 1991-12-05 1995-12-12 Sgs Thomson Microelectronics Smart power integrated circuit with dynamic isolation

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