JPS6064301A - 光学部品の反射防止膜とその形成方法 - Google Patents
光学部品の反射防止膜とその形成方法Info
- Publication number
- JPS6064301A JPS6064301A JP58173848A JP17384883A JPS6064301A JP S6064301 A JPS6064301 A JP S6064301A JP 58173848 A JP58173848 A JP 58173848A JP 17384883 A JP17384883 A JP 17384883A JP S6064301 A JPS6064301 A JP S6064301A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- film
- optical component
- antireflection
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B1/00—Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
- G02B1/10—Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
- G02B1/11—Anti-reflection coatings
- G02B1/113—Anti-reflection coatings using inorganic layer materials only
- G02B1/115—Multilayers
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/22—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with other inorganic material
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/3411—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials
- C03C17/3417—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials all coatings being oxide coatings
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/3411—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials
- C03C17/3429—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating
- C03C17/3435—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating comprising a nitride, oxynitride, boronitride or carbonitride
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/3411—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials
- C03C17/3429—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating
- C03C17/3447—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating comprising a halide
- C03C17/3452—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating comprising a halide comprising a fluoride
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/50—Substrate holders
- C23C14/505—Substrate holders for rotation of the substrates
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
- C03C2217/20—Materials for coating a single layer on glass
- C03C2217/29—Mixtures
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2218/00—Methods for coating glass
- C03C2218/10—Deposition methods
- C03C2218/15—Deposition methods from the vapour phase
- C03C2218/151—Deposition methods from the vapour phase by vacuum evaporation
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/31504—Composite [nonstructural laminate]
- Y10T428/31507—Of polycarbonate
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/31504—Composite [nonstructural laminate]
- Y10T428/31652—Of asbestos
- Y10T428/31667—Next to addition polymer from unsaturated monomers, or aldehyde or ketone condensation product
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Coating Of Shaped Articles Made Of Macromolecular Substances (AREA)
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光学部品の反射防止膜とその形成方法に関し、
特に反射防止膜を光学部品に加熱することなく常温で真
空蒸着により形成することを特徴とするものである。
特に反射防止膜を光学部品に加熱することなく常温で真
空蒸着により形成することを特徴とするものである。
従来、反射防止膜を光学部品に形成する場合、反射防止
膜形成用の蒸着材料を250〜400℃に加熱しながら
光学部品上に真空蒸着する方法、所謂ボットコート法が
普通に行われている。しかし、ホットコート法は後述す
る如く真空蒸着の応用範囲、生産性、特性の安定性が極
めて狭く且つ低いのが現状である。
膜形成用の蒸着材料を250〜400℃に加熱しながら
光学部品上に真空蒸着する方法、所謂ボットコート法が
普通に行われている。しかし、ホットコート法は後述す
る如く真空蒸着の応用範囲、生産性、特性の安定性が極
めて狭く且つ低いのが現状である。
たとえば、光学部品が無機ガラス基板の場合、下記の(
11〜(6)の欠点がある。
11〜(6)の欠点がある。
(11蒸着材料として金属フッ化物、金属酸化物等が用
いられるため、ホットコート法を実施すると、加熱され
たガラス基板に不所望な酸化反応を生じ、また完全に冷
却されない状態で大気に曝されて再度酸化されるので、
屈折率が変化し、これが分光反射率の絆時変化という形
になって表われる。
いられるため、ホットコート法を実施すると、加熱され
たガラス基板に不所望な酸化反応を生じ、また完全に冷
却されない状態で大気に曝されて再度酸化されるので、
屈折率が変化し、これが分光反射率の絆時変化という形
になって表われる。
(2)鉛等を含有する高屈折率ガラス基板においては、
加熱によりPb等の金属元素が基板表面に析出し易い現
象を呈する。その結果、Ph析出層と蒸着膜とよりなる
別の分光反射特性が得られ、予期した膜の分光反射特性
が得られない。
加熱によりPb等の金属元素が基板表面に析出し易い現
象を呈する。その結果、Ph析出層と蒸着膜とよりなる
別の分光反射特性が得られ、予期した膜の分光反射特性
が得られない。
(3)非常に線膨弗率の大きいPK−01等のガラスを
基板として用いる場合、蒸着時の加熱湿度を通常より低
い値に設定したり、加熱後の徐冷時間を長くしたりして
ガラス自体の割れが発生しないようにする必要がある。
基板として用いる場合、蒸着時の加熱湿度を通常より低
い値に設定したり、加熱後の徐冷時間を長くしたりして
ガラス自体の割れが発生しないようにする必要がある。
(4)真空蒸着に際しては、ガラス基板を通常金属ヤト
イに設置し、蒸着装置内のドームに仕掛ける。このよう
な状態でホットコート法を300℃前後の温度で実施し
、しかる後冷却すると、ガラスと金属ヤトイとの線詐張
率の差に応じて両者の間に収縮の差が生じる。
イに設置し、蒸着装置内のドームに仕掛ける。このよう
な状態でホットコート法を300℃前後の温度で実施し
、しかる後冷却すると、ガラスと金属ヤトイとの線詐張
率の差に応じて両者の間に収縮の差が生じる。
その結果、ガラス基板と金属ヤトイとのサイズクリアラ
ンスが非常に小さい場合、金属ヤトイがガラス基板に嵌
入してガラスが割れる不其合を生じる。
ンスが非常に小さい場合、金属ヤトイがガラス基板に嵌
入してガラスが割れる不其合を生じる。
(5)ホットコート法に用いる真空蒸着装置では、荒引
排気の時点から加熱昇温するので、チャンバー内にガス
が発生し、非常に排気時間が長くなり、また蒸着後も徐
冷時間が必要なため、総合的な排気時間が極めて長くな
る。
排気の時点から加熱昇温するので、チャンバー内にガス
が発生し、非常に排気時間が長くなり、また蒸着後も徐
冷時間が必要なため、総合的な排気時間が極めて長くな
る。
(6)蒸着装置の駆動、搬送、回転、チャンバー自体の
構造設計を含めて真空シール、潤滑、ベアリング構造に
加熱(300℃前後)による変形等の不具合を生ずる場
合がある。たとえば、駆動部にベアリングを用いてあれ
ば、これは焼き付きをおこし易く、長時間の耐久性がど
うしても満足されないのて゛、躯11部に冷却部を設け
たり、ベアリングとして特殊材料を用いるか又はベアリ
ングに特殊処理を施すため、部品コストが非常に高くな
る。また、真空シール(パツキン)にしても、耐熱性の
高い材料を用いるので、これもコス)高の一因となる。
構造設計を含めて真空シール、潤滑、ベアリング構造に
加熱(300℃前後)による変形等の不具合を生ずる場
合がある。たとえば、駆動部にベアリングを用いてあれ
ば、これは焼き付きをおこし易く、長時間の耐久性がど
うしても満足されないのて゛、躯11部に冷却部を設け
たり、ベアリングとして特殊材料を用いるか又はベアリ
ングに特殊処理を施すため、部品コストが非常に高くな
る。また、真空シール(パツキン)にしても、耐熱性の
高い材料を用いるので、これもコス)高の一因となる。
その上、搬送系、回転系を有する複雑な機構の装置を用
いたくても、加熱を行うためこれらに冷却部を設けなけ
ればならず、使用する冷却水の量が単価に影昏し、且つ
材料変形をおこさず放出ガスを少なくするよう特殊な厚
い材料を用いることにもなり、コスト高の原因となる。
いたくても、加熱を行うためこれらに冷却部を設けなけ
ればならず、使用する冷却水の量が単価に影昏し、且つ
材料変形をおこさず放出ガスを少なくするよう特殊な厚
い材料を用いることにもなり、コスト高の原因となる。
次に、光学部品が合成樹脂製の場合、ホットコート法を
適用すると次のような欠点がある。
適用すると次のような欠点がある。
光学用透明合成樹脂としては、アクリル樹脂をベースと
したジエチレングリコールビスアリルカーボネート、ポ
リカーボネートのf也、アクリル樹脂、AS(アクリロ
ニトリル・スチレン共重合体)、PS(ポリスチレン)
等がある。光学部品はこれら樹脂から注型、射出成形に
より安価に作られ、無機ガラスに比べ軽鎖で、また任意
の形状に自由に形成し得る長所がある反面、熱に弱く
(変形、材料特性劣化)、傷付き易い等の短所がある。
したジエチレングリコールビスアリルカーボネート、ポ
リカーボネートのf也、アクリル樹脂、AS(アクリロ
ニトリル・スチレン共重合体)、PS(ポリスチレン)
等がある。光学部品はこれら樹脂から注型、射出成形に
より安価に作られ、無機ガラスに比べ軽鎖で、また任意
の形状に自由に形成し得る長所がある反面、熱に弱く
(変形、材料特性劣化)、傷付き易い等の短所がある。
この熱に弱い点がホットコート法の真空蒸着により反射
防止膜を形成する際致命的な欠陥となる。すなわち、無
機ガラス基板の場合、該基板を250〜400℃に加熱
しながらこれに金属フッ化物または金jx酸化物等の付
着、硬度ともに強固な膜を容易に蒸着することができる
。しかし、合成樹脂基板の場合、80℃以上に加熱する
と、基板が変形したり、その屈折率が変化するので、こ
の上に250〜400℃で加熱しながら真空蒸着により
付着、娩度ともに強固な反射防止膜を形成することは極
めて困難である。
防止膜を形成する際致命的な欠陥となる。すなわち、無
機ガラス基板の場合、該基板を250〜400℃に加熱
しながらこれに金属フッ化物または金jx酸化物等の付
着、硬度ともに強固な膜を容易に蒸着することができる
。しかし、合成樹脂基板の場合、80℃以上に加熱する
と、基板が変形したり、その屈折率が変化するので、こ
の上に250〜400℃で加熱しながら真空蒸着により
付着、娩度ともに強固な反射防止膜を形成することは極
めて困難である。
従って、合成樹脂光学部品に反射防止膜を形成するため
に、ホットコート法に代り、後述するような種々の方法
が現在試みられている。しかし、これら方法は無機ガラ
ス上に反射防止膜を形成する場合と異なり、成膜材料、
膜構成、特性(光学特性、耐久性)を重視する各々独特
の方法であるため、後述するよう処理方法に様々な不具
合を有する。
に、ホットコート法に代り、後述するような種々の方法
が現在試みられている。しかし、これら方法は無機ガラ
ス上に反射防止膜を形成する場合と異なり、成膜材料、
膜構成、特性(光学特性、耐久性)を重視する各々独特
の方法であるため、後述するよう処理方法に様々な不具
合を有する。
(α)第1の方法は合成樹脂光学部品の表面に下地層と
してSiO!又は蒸着ガラスを0.5〜10μの厚さで
蒸着し、その上に反射防止膜を形成するものである。し
かし、この方法では、S−〇、又は蒸着ガラスの蒸着に
時間がかかるので作業生産性が悪くなる。また、SiO
2の膜厚が0.5〜10μになると、光の吸収が大きく
なり、0.1〜0.3%のリップル反射波形を呈するよ
うになる。その上、下地層の強度が大きいため、該下地
層の厚膜による応力変形を生じ、合成樹脂光学部品の成
形形状精度が保持できなくなる。
してSiO!又は蒸着ガラスを0.5〜10μの厚さで
蒸着し、その上に反射防止膜を形成するものである。し
かし、この方法では、S−〇、又は蒸着ガラスの蒸着に
時間がかかるので作業生産性が悪くなる。また、SiO
2の膜厚が0.5〜10μになると、光の吸収が大きく
なり、0.1〜0.3%のリップル反射波形を呈するよ
うになる。その上、下地層の強度が大きいため、該下地
層の厚膜による応力変形を生じ、合成樹脂光学部品の成
形形状精度が保持できなくなる。
(h)第2の方法は合成樹脂光学部品の光面にγルキル
トリアルコキシシランを主成分とするポリシロキサン系
塗料を塗布して硬化鼓膜を形成するか、または該硬化被
膜上に5tO1siot 、AL20.+等の無機酸化
物被膜を真空蒸着により形成するものである。しかし、
この方法では、ポリシロキサン系塗料を任意の形状を有
する光学部品に均一な膜jシ精度で塗布することが極め
て内縦であり、また強固な硬化被膜を短時間で形成する
手段に関係する(生産)設備費用が多大なものとなる。
トリアルコキシシランを主成分とするポリシロキサン系
塗料を塗布して硬化鼓膜を形成するか、または該硬化被
膜上に5tO1siot 、AL20.+等の無機酸化
物被膜を真空蒸着により形成するものである。しかし、
この方法では、ポリシロキサン系塗料を任意の形状を有
する光学部品に均一な膜jシ精度で塗布することが極め
て内縦であり、また強固な硬化被膜を短時間で形成する
手段に関係する(生産)設備費用が多大なものとなる。
現在、上記方法を仮状の光学部品に適用する場合、該部
品の形状精度を変化させることなく短時間で形成される
硬化被膜の膜厚精度を保持するには、該膜厚は1μ前後
が限度となる。これに対し、任意形状の合成、樹脂光学
部品に関しては、ポリシロキサン系塗料を全体的に0.
1〜0,3μの膜厚精度で塗布し、光学部品の形状精度
を変えることなく短時間で強固な硬化被膜にすることは
殆ど不可能である0 (tり 皓3の方法はSiOを合成樹脂光学部品に蒸着
することである。StOは抵抗加熱により蒸着すること
ができ、5iO1に比べ光学部品との密着性が良好で、
021素)の封入により屈折率を任意に変化日せること
かでき、また多層膜としての光学特性を付与することが
できる。しかし、SiO蒸着時の加熱力に対し蒸着開始
からその完了までのsio蒸発速度をJt例して制御す
ることが困難であり、また02による屈折率可変が蒸着
装置におけるチャンバー寸法、排気量、排気速度によっ
てSLOの酸化作用、すなわち屈折率の便化率の差を生
じ、これにより所望の屈折率を常に再現性良く得るのが
困難になる。
品の形状精度を変化させることなく短時間で形成される
硬化被膜の膜厚精度を保持するには、該膜厚は1μ前後
が限度となる。これに対し、任意形状の合成、樹脂光学
部品に関しては、ポリシロキサン系塗料を全体的に0.
1〜0,3μの膜厚精度で塗布し、光学部品の形状精度
を変えることなく短時間で強固な硬化被膜にすることは
殆ど不可能である0 (tり 皓3の方法はSiOを合成樹脂光学部品に蒸着
することである。StOは抵抗加熱により蒸着すること
ができ、5iO1に比べ光学部品との密着性が良好で、
021素)の封入により屈折率を任意に変化日せること
かでき、また多層膜としての光学特性を付与することが
できる。しかし、SiO蒸着時の加熱力に対し蒸着開始
からその完了までのsio蒸発速度をJt例して制御す
ることが困難であり、また02による屈折率可変が蒸着
装置におけるチャンバー寸法、排気量、排気速度によっ
てSLOの酸化作用、すなわち屈折率の便化率の差を生
じ、これにより所望の屈折率を常に再現性良く得るのが
困難になる。
従って、SLOの蒸着法は生産性(自動化、量産性)が
非常に悪く、高い効率、歩留り向上を考えた場合問題と
なる。
非常に悪く、高い効率、歩留り向上を考えた場合問題と
なる。
(d)第4の方法は合成樹脂光学部品上に化学的に安定
で吸湿性のない酸窒化硅素(5iOxNy)よりなるハ
ードコート膜を高周波イオンブレーティング法により形
成し、その上に反射防止効果を有する膜を形成するもの
である。
で吸湿性のない酸窒化硅素(5iOxNy)よりなるハ
ードコート膜を高周波イオンブレーティング法により形
成し、その上に反射防止効果を有する膜を形成するもの
である。
この場合、酸窒化硅素膜を形成するには大別して次の4
つの方法がある。
つの方法がある。
r、 s i 02とS’2Nl とを蒸着速度の比を
制御しながら同等蒸着して所望の屈折率を有する酸窒化
硅素膜を得る。
制御しながら同等蒸着して所望の屈折率を有する酸窒化
硅素膜を得る。
■、5iot−No、アンモニア等の雰囲気中で反応蒸
着する。
着する。
■1.金ssi、sioの蒸発源にAr十NO、アンモ
ニア、N2.02等のガス雰囲気中で反応性イオンプレ
ートラ施ス。
ニア、N2.02等のガス雰囲気中で反応性イオンプレ
ートラ施ス。
■、金属SiターゲットにAr十NO,アンモニア、N
2.02等の反応ガス雰囲気中でスパッタ蒸着を施す。
2.02等の反応ガス雰囲気中でスパッタ蒸着を施す。
上述したいずれの方法でも1.46〜2.00の範囲内
で任意の屈折率を有する酸窒化硅素膜を形成し得るので
、これを光学部品の屈折率に合せて該光学部品上に第1
層として被着することにより、屈折率の差により生ずる
分光反射特性のリップル波形のないシャープな硬化性反
射防止膜が再現性良く得られるとしている。しかし、か
−る反応性高周波イオンブレーティング法が適用される
合成樹脂光学部品は通常CR−39(熱硬化性樹脂)基
板である。この熱硬化性樹脂は射出成形用樹脂に比べ1
00℃の高温に耐えることができるので、上記第4の方
法を実施するに際し、実際メガネレンズに用いられるC
R=39等は蒸着開始前に予め約70℃に加熱されてい
る。
で任意の屈折率を有する酸窒化硅素膜を形成し得るので
、これを光学部品の屈折率に合せて該光学部品上に第1
層として被着することにより、屈折率の差により生ずる
分光反射特性のリップル波形のないシャープな硬化性反
射防止膜が再現性良く得られるとしている。しかし、か
−る反応性高周波イオンブレーティング法が適用される
合成樹脂光学部品は通常CR−39(熱硬化性樹脂)基
板である。この熱硬化性樹脂は射出成形用樹脂に比べ1
00℃の高温に耐えることができるので、上記第4の方
法を実施するに際し、実際メガネレンズに用いられるC
R=39等は蒸着開始前に予め約70℃に加熱されてい
る。
従って、酸窒化硅素のハードコート膜を1〜3μ厚で形
成し、さらにその上に反射防止膜を形成する際に次のよ
うな欠点が生ずる。
成し、さらにその上に反射防止膜を形成する際に次のよ
うな欠点が生ずる。
■1〜3μ厚のハードフート膜を反応性高周波イオンブ
レーティングにより蒸着するのに極めて時間がかかる。
レーティングにより蒸着するのに極めて時間がかかる。
■A rz N O% 7 > モニア、N、 、O,
等の活性又は不活性ガスを装置内に封入し、か\るガス
算囲気中で高周波イオンブレーティングにより酸窒化硅
素膜を形成する際、成膜を仕曾の屈折率で再現性良く蒸
着することは極めて困難である。
等の活性又は不活性ガスを装置内に封入し、か\るガス
算囲気中で高周波イオンブレーティングにより酸窒化硅
素膜を形成する際、成膜を仕曾の屈折率で再現性良く蒸
着することは極めて困難である。
■反応性高周波イオンブレーティングによる酸窒化硅素
の成膜法では、蒸発速度を大きくとれないので蒸着時間
が長くなりまた蒸発源からの輻射熱を回僻するため基板
までの距離を十分にとると蒸着時間が一層長くなる。と
ころで、基板は高周波プラズマ雰囲気中に曝されている
ので蒸着時間が長くかかると、基板表面の温度が常に上
昇するようになる。しかも、基板は熱に強くないので、
長時間の蒸着により該基板の形状寸法精度が低下し、最
終的には変形という不具合を生じる。
の成膜法では、蒸発速度を大きくとれないので蒸着時間
が長くなりまた蒸発源からの輻射熱を回僻するため基板
までの距離を十分にとると蒸着時間が一層長くなる。と
ころで、基板は高周波プラズマ雰囲気中に曝されている
ので蒸着時間が長くかかると、基板表面の温度が常に上
昇するようになる。しかも、基板は熱に強くないので、
長時間の蒸着により該基板の形状寸法精度が低下し、最
終的には変形という不具合を生じる。
■高周波イオンブレーティングによれば、成膜の分布領
域が狭いので量産性が極めて悪く、また用いる装置自体
が機械的に複雑なためマニュアルが困難で、コスト高と
なる。特に、プラズマ放電を利用するため、パラメータ
ーの定創、化が困難で成膜特性の再現性が著しく劣る。
域が狭いので量産性が極めて悪く、また用いる装置自体
が機械的に複雑なためマニュアルが困難で、コスト高と
なる。特に、プラズマ放電を利用するため、パラメータ
ーの定創、化が困難で成膜特性の再現性が著しく劣る。
従って、本発明の目的は上述した従来技術の諸欠点を解
消し、光学部品に加熱することなく常温で真空蒸着によ
り反射防止膜を形成した光学部品の反射防止膜並びにそ
の方法を提供せんとするにある。
消し、光学部品に加熱することなく常温で真空蒸着によ
り反射防止膜を形成した光学部品の反射防止膜並びにそ
の方法を提供せんとするにある。
すなわち、本発明の方法によれば、ガラス基板又は合成
樹脂基板(ジエチレングリコールビスアリルカーボネー
ト、射出成形用のアクリル、PC,AS、PS樹脂)上
に反射防止特性を有する蒸発材料(たとえば1.38の
M!IF、等)と10〜30%のs i O2との混合
物を単層膜として、または基板側から見て嬉1層として
フッ化物または硅素酸化物等の蒸発材料、中間層および
最終層としてフッ化物または酸化物等の蒸発材料と、こ
れら各材料に添加した10〜30%のsio、との混合
物を順次基板の加熱なしに又はArおよび/またはO7
のイオンビームを照射しつつ常温で電子ビーム加熱蒸発
により真空蒸着して反射防止膜を形成する。
樹脂基板(ジエチレングリコールビスアリルカーボネー
ト、射出成形用のアクリル、PC,AS、PS樹脂)上
に反射防止特性を有する蒸発材料(たとえば1.38の
M!IF、等)と10〜30%のs i O2との混合
物を単層膜として、または基板側から見て嬉1層として
フッ化物または硅素酸化物等の蒸発材料、中間層および
最終層としてフッ化物または酸化物等の蒸発材料と、こ
れら各材料に添加した10〜30%のsio、との混合
物を順次基板の加熱なしに又はArおよび/またはO7
のイオンビームを照射しつつ常温で電子ビーム加熱蒸発
により真空蒸着して反射防止膜を形成する。
このようにして形成した反射防止膜は基板との密着性が
極めて良く、耐擦傷性および耐候性が優れ、また反射の
低い干渉色が再現性良く得られる。
極めて良く、耐擦傷性および耐候性が優れ、また反射の
低い干渉色が再現性良く得られる。
特に、貞空蒸看時にAr若しくはO7又はA r +
02 のイオンビームを基板に照射する。
02 のイオンビームを基板に照射する。
このようにして、反射防止膜の耐久性を一層向上させる
ことができる。
ことができる。
本発明によれば、光学部品の基板としては従来用いられ
ている全てのものを使用することができ、たとえばB
K −7を始めとする光学用のあらゆるガラス、光学部
品としての機M1度を出せるジエチレングリコールビス
アリルカーボネート等のあらゆる熱硬化性樹脂、光学部
品として機械精度を付与し得るアクリル樹脂、PCSA
s、PSの如き射出成形用樹脂がある。
ている全てのものを使用することができ、たとえばB
K −7を始めとする光学用のあらゆるガラス、光学部
品としての機M1度を出せるジエチレングリコールビス
アリルカーボネート等のあらゆる熱硬化性樹脂、光学部
品として機械精度を付与し得るアクリル樹脂、PCSA
s、PSの如き射出成形用樹脂がある。
か\る基板に蒸着して反射防止膜を形成する蒸発材料と
しては、Cg FsSNdF、 、LcLF。
しては、Cg FsSNdF、 、LcLF。
、PbF2、Na、AtF6、NaF1LiF1MgF
2等の如きフッ化物、Cg Ox 、Z r Ox 、
T ’20s、TiOlAZtOm等の酸化物を用いる
。また、StO等を含む硅素酸化物も一部使用すること
ができる。
2等の如きフッ化物、Cg Ox 、Z r Ox 、
T ’20s、TiOlAZtOm等の酸化物を用いる
。また、StO等を含む硅素酸化物も一部使用すること
ができる。
M!IF、の如きフッ化物は、従来常温真空蒸着すると
基板との密着性よりも引張応力が大きくち密な膜になら
ず、すぐ剥離しがちなことが知られていたが、これに硬
度、粘性、密着効果を向上させる硅素酸化物、特にs
i atを10〜30%添加すると、常温真空蒸着後密
着性の高い蒸着膜が得られることを確めた。
基板との密着性よりも引張応力が大きくち密な膜になら
ず、すぐ剥離しがちなことが知られていたが、これに硬
度、粘性、密着効果を向上させる硅素酸化物、特にs
i atを10〜30%添加すると、常温真空蒸着後密
着性の高い蒸着膜が得られることを確めた。
従って、本発明においては、単層又は多層反射防止膜を
形成する際、上′述した蒸発材料に10〜30%のsi
o、を添加することが必須条件である。5iO1が10
%未満の場合、蒸着膜が剥離しがちなため好ましくなく
、また40%を越えると反射防止幼果が得られなくなり
好ましくない。
形成する際、上′述した蒸発材料に10〜30%のsi
o、を添加することが必須条件である。5iO1が10
%未満の場合、蒸着膜が剥離しがちなため好ましくなく
、また40%を越えると反射防止幼果が得られなくなり
好ましくない。
次に本発明を実施例につき説明する。
実施例 1
本例では、第1図に示すように光学部品の基板11上に
硬化性反射防止膜12を下記のようにして形成した。
硬化性反射防止膜12を下記のようにして形成した。
A8基板11として1.51633の屈折率(α線)を
有するBK−7ガラスを用い、これを第2図に示すよう
な常温真空蒸着装置の真空蒸着チャンバー21内の回転
ドーム23に取り付けた。一方、蒸発材料24として、
MgF2に10〜30%の5iovを添加して得た混合
物を用い、これを常温で電子銃22により加熱蒸発させ
て基板11上に蒸着した。この場合、チャンバー内の到
悸真空度は8×10°6〜2 X 1 rOrrであっ
た。このようにして得た反射防止蒸着膜12αは1.3
89の屈折率および137.5ynμの光学的膜厚を有
し、また第3図に示すような優れた分光反射特性を示し
た。
有するBK−7ガラスを用い、これを第2図に示すよう
な常温真空蒸着装置の真空蒸着チャンバー21内の回転
ドーム23に取り付けた。一方、蒸発材料24として、
MgF2に10〜30%の5iovを添加して得た混合
物を用い、これを常温で電子銃22により加熱蒸発させ
て基板11上に蒸着した。この場合、チャンバー内の到
悸真空度は8×10°6〜2 X 1 rOrrであっ
た。このようにして得た反射防止蒸着膜12αは1.3
89の屈折率および137.5ynμの光学的膜厚を有
し、また第3図に示すような優れた分光反射特性を示し
た。
次に、反射防止蒸着膜12aに対し下記に示すような耐
擦傷性試験、耐熱・耐湿性試験、耐溶剤性試験および密
着性試験を行って第1表に示すような結果を得た。
擦傷性試験、耐熱・耐湿性試験、耐溶剤性試験および密
着性試験を行って第1表に示すような結果を得た。
洗浄クロスラップ試験:
基板11の面を約1 kgの荷重下洗浄クロスで往復2
0回こすって擦傷量を目視で評価した。評価は傷が全く
発生しない状態をSとし、傷の大小によりAからEの5
段階相対評価で行った。
0回こすって擦傷量を目視で評価した。評価は傷が全く
発生しない状態をSとし、傷の大小によりAからEの5
段階相対評価で行った。
鉛筆硬度試験:
JIS K−5400に従った。
耐熱・耐湿性試験;
蒸着膜12αを一40℃〜80℃の温度、95%の湿度
の条件下で3日間くり返し試験に伽し、クランク発生を
観察した。
の条件下で3日間くり返し試験に伽し、クランク発生を
観察した。
耐溶剤性試験:
m着膜12αをエタノール又はメタノールを含浸した洗
浄クロスで10回こすり、クラック発生を観察した。
浄クロスで10回こすり、クラック発生を観察した。
密着性試験:
セロテープ(15im幅)を蒸着膜12αに十分こすり
つけて密着し、セロテープの一端を45°の角度にし、
これがら瞬時に引き剥して蒸着膜12αの剥離を目視に
より確認して密着性を評価する。
つけて密着し、セロテープの一端を45°の角度にし、
これがら瞬時に引き剥して蒸着膜12αの剥離を目視に
より確認して密着性を評価する。
第1表の結果から明らかな如く、反射防止蒸着膜12α
は優れた光学特性のほかに耐久性等のすぐれた光学部品
としての物性を有する。
は優れた光学特性のほかに耐久性等のすぐれた光学部品
としての物性を有する。
B:基板11として、BK−7の代りに1゜502の屈
折率(α線)を有するジエチレングリコールとスγリル
カーボネートを用い、これに上記A項と同じ処理を繰返
して1.389の屈折率を有する反射防止蒸着膜12A
を形成した。この蒸着膜12Aは第4図に示すようなす
ぐれた分光反射特性を示し、第1表に示すような光学部
品としてすぐれた物性を有する。
折率(α線)を有するジエチレングリコールとスγリル
カーボネートを用い、これに上記A項と同じ処理を繰返
して1.389の屈折率を有する反射防止蒸着膜12A
を形成した。この蒸着膜12Aは第4図に示すようなす
ぐれた分光反射特性を示し、第1表に示すような光学部
品としてすぐれた物性を有する。
C:基板11として、BK−7の代りに、1、499の
屈折率(α線)を有するアクリル樹脂射出成形品を用い
、これに上記A項と同じ処理を繰返して1.389の屈
折率を有する反射防止蒸着膜1?を形成した。この蒸着
膜12Cは第5図に示すようなすぐれた分光反射特性を
示し、第1表に示すような光学部品としてすぐれた物性
を有する。
屈折率(α線)を有するアクリル樹脂射出成形品を用い
、これに上記A項と同じ処理を繰返して1.389の屈
折率を有する反射防止蒸着膜1?を形成した。この蒸着
膜12Cは第5図に示すようなすぐれた分光反射特性を
示し、第1表に示すような光学部品としてすぐれた物性
を有する。
実施例 2
本例では、第6図に示すように光学部品の基板31上に
硬化性反射防止膜32を下記のようにして形成した。
硬化性反射防止膜32を下記のようにして形成した。
A:基板31として、1.51633の屈折率(α線)
を有するI3に一7ガラスを用い、これを第7図に示す
ような常温真空蒸着装置の真空蒸着チャンバー41内の
回転ドーム44に取り付けた。一方、蒸発材料45とし
てM!IF。
を有するI3に一7ガラスを用い、これを第7図に示す
ような常温真空蒸着装置の真空蒸着チャンバー41内の
回転ドーム44に取り付けた。一方、蒸発材料45とし
てM!IF。
に10〜30%の5io2を添加して得た混合物を用い
、これを常温で電子銃42により加熱蒸発させて基板3
1上に蒸着した。この場合、チャンバー41内の到達真
空度は6×10′6〜2 X ’l m’forrであ
り、2〜8 X 104Tort@封入量のArイオン
源43からArプラズマイオンビーム46を基板31に
照射した。
、これを常温で電子銃42により加熱蒸発させて基板3
1上に蒸着した。この場合、チャンバー41内の到達真
空度は6×10′6〜2 X ’l m’forrであ
り、2〜8 X 104Tort@封入量のArイオン
源43からArプラズマイオンビーム46を基板31に
照射した。
このようにして得た反射防止蒸着膜32αは1.389
の屈折率および137.5mμの光学的膜厚を有し、第
8図に示すような優れた分光反射特性を示した。
の屈折率および137.5mμの光学的膜厚を有し、第
8図に示すような優れた分光反射特性を示した。
この蒸着膜32αの物性を調べるために実施列1に記載
したと同じ試験を行って第1表に示すような結果を得た
。第1表の結果から明らかな如く、常濡次空蒸着時にA
rプラズマイオンビームを照射することにより光学部品
としての蒸着膜の耐久性がさらに向上していることがわ
かる。
したと同じ試験を行って第1表に示すような結果を得た
。第1表の結果から明らかな如く、常濡次空蒸着時にA
rプラズマイオンビームを照射することにより光学部品
としての蒸着膜の耐久性がさらに向上していることがわ
かる。
B;基板31として、BK−7の代りに、1、502の
屈折率(α線)を有するジエチレングリコールビスアリ
ルカーボネートを用い、これに上記A項と同じ処理を繰
返して1.389の屈折率を有する反射防止蒸着膜32
hを形成した。この蒸着膜32hは第9図に示すよCI
基板31として、BK−7の代りに、1、499の屈折
率(α線)を有するアクリル樹脂射出成形品を用い、こ
れに上記A項と同じ処理を繰返して、1.389の屈折
率を有する反射防止蒸着膜32Cを形成した。この蒸着
膜32eは第10図に示すような優れた分光反射特性を
示し、第1表に示すような光学部品としてすぐれた物性
を有する。
屈折率(α線)を有するジエチレングリコールビスアリ
ルカーボネートを用い、これに上記A項と同じ処理を繰
返して1.389の屈折率を有する反射防止蒸着膜32
hを形成した。この蒸着膜32hは第9図に示すよCI
基板31として、BK−7の代りに、1、499の屈折
率(α線)を有するアクリル樹脂射出成形品を用い、こ
れに上記A項と同じ処理を繰返して、1.389の屈折
率を有する反射防止蒸着膜32Cを形成した。この蒸着
膜32eは第10図に示すような優れた分光反射特性を
示し、第1表に示すような光学部品としてすぐれた物性
を有する。
実施例 3
本例では、第11図に示すように光学部品の基板51上
に硬化性反射防止膜52として第1層53、第2層54
、第3N55よりなる三層構成の膜を下記のようにして
形成した。
に硬化性反射防止膜52として第1層53、第2層54
、第3N55よりなる三層構成の膜を下記のようにして
形成した。
A;基板51として、1.51633の屈折率(α線)
を有するBK−7ガラスを用い、これを第2図に示すよ
うな常温真空蒸着装置の真空蒸着チャンバー21内の回
転ドーム23に取り付けた。一方、蒸発材料24として
、CeF、に10〜30%のsio、を添加して得た混
合物を用い、これを常温で電子銃22により加熱蒸発さ
せて基板51上に蒸着することにより1.625の屈折
率(α線)および125mμの光学的膜厚を有する嬉1
#53の膜を形成した。次に、蒸発材料として、C10
,に10〜30%のs i o、を添加して得た混合物
を用い、第1層53の形成と同じ処理を繰返して第1層
53上に2.02の屈折率および250mμの光学的膜
厚を有する第2N54の膜を形成した。さらに、蒸発材
料として、M!IF、に10〜30%のs i o、を
添加して得た混合物を用い、第1層53の形成と同じ処
理を繰返して第2層54上に1.389の屈折率および
125mμの光学的膜厚を有する第3層55の膜を形成
した。これら第1〜3層の膜を形成する常温真空蒸着処
理の間、チャンバー21内の到達真空度は6 X 1
(r’〜2 X 1 rr”Torrであった。
を有するBK−7ガラスを用い、これを第2図に示すよ
うな常温真空蒸着装置の真空蒸着チャンバー21内の回
転ドーム23に取り付けた。一方、蒸発材料24として
、CeF、に10〜30%のsio、を添加して得た混
合物を用い、これを常温で電子銃22により加熱蒸発さ
せて基板51上に蒸着することにより1.625の屈折
率(α線)および125mμの光学的膜厚を有する嬉1
#53の膜を形成した。次に、蒸発材料として、C10
,に10〜30%のs i o、を添加して得た混合物
を用い、第1層53の形成と同じ処理を繰返して第1層
53上に2.02の屈折率および250mμの光学的膜
厚を有する第2N54の膜を形成した。さらに、蒸発材
料として、M!IF、に10〜30%のs i o、を
添加して得た混合物を用い、第1層53の形成と同じ処
理を繰返して第2層54上に1.389の屈折率および
125mμの光学的膜厚を有する第3層55の膜を形成
した。これら第1〜3層の膜を形成する常温真空蒸着処
理の間、チャンバー21内の到達真空度は6 X 1
(r’〜2 X 1 rr”Torrであった。
ぐれた分光反射特性を示し、また実施列1と同じ試験を
行って得た第1表に示す結果から分るように光学部品と
してすぐれた物性を有する。
行って得た第1表に示す結果から分るように光学部品と
してすぐれた物性を有する。
B:基板51として、BK−7の代りに、1、502の
屈折率を有するジエチレングリコールビスアリルカーボ
ネートを用い、これに上記A項と同じ処理を繰返して第
1〜3層よりなる反射防止蒸着膜51を形成した。この
蒸着膜52hは第1.3図に示すようなすぐれた分光反
射特性を示し、第1表に示すような光学部品としてすぐ
れた物性を有する。
屈折率を有するジエチレングリコールビスアリルカーボ
ネートを用い、これに上記A項と同じ処理を繰返して第
1〜3層よりなる反射防止蒸着膜51を形成した。この
蒸着膜52hは第1.3図に示すようなすぐれた分光反
射特性を示し、第1表に示すような光学部品としてすぐ
れた物性を有する。
CI基板51として、BK−7の代りに、1、499の
屈折率を有するアクリル樹脂射出成形品を用い、これに
上記A項と同じ処理を繰返して、第1〜3層よりなる反
射防止蒸着膜5?を形成した。この蒸着膜52Cは第1
4図に示すようなすぐれた分光反射特性を示し、第1表
に示すような光学部品としてすぐれた物性を有する。
屈折率を有するアクリル樹脂射出成形品を用い、これに
上記A項と同じ処理を繰返して、第1〜3層よりなる反
射防止蒸着膜5?を形成した。この蒸着膜52Cは第1
4図に示すようなすぐれた分光反射特性を示し、第1表
に示すような光学部品としてすぐれた物性を有する。
娑施例 4
本例においては、第15図に示すように光学部品の基板
61上に硬化性反射防止膜62として第1層63、第2
層64、第3層65よりなる三層構成の膜を下記のよう
にして形成した。
61上に硬化性反射防止膜62として第1層63、第2
層64、第3層65よりなる三層構成の膜を下記のよう
にして形成した。
A:基枦61として、1.51633の屈折率(α線)
を有するBK−7ガラスを用い、これを第7図に示すよ
うな常温真空蒸着装置の真空蒸着チャンバー41内の回
転ドーム44に取り付けた。一方、蒸発材料45として
Cg Fmに10〜30%のsho、を添加して得た混
合物を用い、これを常温で電子銃42により加熱蒸発さ
せて基板61上に蒸着することにより1.625の屈折
率(α線)および125mμの光学的膜厚を有する第1
N63の膜を形成した。次に、蒸発材料として、Ce0
tに10〜30%の5iovを添加して得た混合物を用
い第1層63の形成と同じ処理を繰返して第1層63上
に2.02の屈折率および250mμの光学的膜厚を有
する第2N64の膜を形成した。さらに、蒸発材料とし
て、M!IFzに10〜30%のsio、を添加して得
た混合物を用い、第1層63の形成と同じ処理を繰返し
て第2層64上に1.389の屈折率および125mμ
の光学的膜厚を有する第3層65の膜を形成した。これ
ら第1〜3層の膜を形成する常温真空処理の間、チャン
バー41内の到達真空度は6 X 10’〜2 X I
Q’torrで、2〜8×10″ITor憎封入量の
Arイオン源43からArプラズマイオンビーム46を
基板61の方に照射した。
を有するBK−7ガラスを用い、これを第7図に示すよ
うな常温真空蒸着装置の真空蒸着チャンバー41内の回
転ドーム44に取り付けた。一方、蒸発材料45として
Cg Fmに10〜30%のsho、を添加して得た混
合物を用い、これを常温で電子銃42により加熱蒸発さ
せて基板61上に蒸着することにより1.625の屈折
率(α線)および125mμの光学的膜厚を有する第1
N63の膜を形成した。次に、蒸発材料として、Ce0
tに10〜30%の5iovを添加して得た混合物を用
い第1層63の形成と同じ処理を繰返して第1層63上
に2.02の屈折率および250mμの光学的膜厚を有
する第2N64の膜を形成した。さらに、蒸発材料とし
て、M!IFzに10〜30%のsio、を添加して得
た混合物を用い、第1層63の形成と同じ処理を繰返し
て第2層64上に1.389の屈折率および125mμ
の光学的膜厚を有する第3層65の膜を形成した。これ
ら第1〜3層の膜を形成する常温真空処理の間、チャン
バー41内の到達真空度は6 X 10’〜2 X I
Q’torrで、2〜8×10″ITor憎封入量の
Arイオン源43からArプラズマイオンビーム46を
基板61の方に照射した。
このようにして得た第1〜3層よりなる反射防止蒸着膜
62cLは第16図に示すようなすぐれた分光反射特性
を示し、また実施例1と同じ試験を行って得た第1表に
示す結果から明らかな如く常温真空蒸着時にArプラズ
マイオンビームを照射することにより光学部品としての
蒸着膜の耐久性がさらに向上していることがわかる。
62cLは第16図に示すようなすぐれた分光反射特性
を示し、また実施例1と同じ試験を行って得た第1表に
示す結果から明らかな如く常温真空蒸着時にArプラズ
マイオンビームを照射することにより光学部品としての
蒸着膜の耐久性がさらに向上していることがわかる。
B:基板61として、BK−7の代りに、1、502の
屈折率を有するジエチレングリコールビスアリルカーボ
ネートを用い、これに上記A項と同じ処理を繰返して第
1〜31flよりなる反射防止蒸着膜62hを形成した
。この蒸着膜62hは第1γ図に示すようなすぐれた分
光反射特性を示し、第1表に示すような光学部品として
すぐれた物性を有する。
屈折率を有するジエチレングリコールビスアリルカーボ
ネートを用い、これに上記A項と同じ処理を繰返して第
1〜31flよりなる反射防止蒸着膜62hを形成した
。この蒸着膜62hは第1γ図に示すようなすぐれた分
光反射特性を示し、第1表に示すような光学部品として
すぐれた物性を有する。
C;基板61として、BK−7の代りに、1、499の
屈折率を有するアクリル樹脂射出成形品を用い、これに
上記A項と同じ処理を繰返して第1〜3層よりなる反射
防止蒸着膜62Cを形成した。この蒸着膜620は第1
8図に示すようなすぐれた分光反射特性を示し、第1表
に示すような光学部品としてすぐれた物性を有する。
屈折率を有するアクリル樹脂射出成形品を用い、これに
上記A項と同じ処理を繰返して第1〜3層よりなる反射
防止蒸着膜62Cを形成した。この蒸着膜620は第1
8図に示すようなすぐれた分光反射特性を示し、第1表
に示すような光学部品としてすぐれた物性を有する。
比較例 1
光学部品の基板として、AiBK−7ガラス、B+ジエ
チレングリコールビスアリルカーボネート、Cニアクリ
ル樹脂成形品を用いて実施例1に記載したと同じ処理を
繰返した。
チレングリコールビスアリルカーボネート、Cニアクリ
ル樹脂成形品を用いて実施例1に記載したと同じ処理を
繰返した。
ただし、蒸発材料として、MgF、に5%のsio宜を
添加して得た混合物を用いた。このようにして得た反射
防止蒸着膜(70α、70b、700>はそれぞれ実施
例1と同じ屈折率および光学的膜厚を有し、第19〜2
1図に示すように第3〜5図に示すものとほぼ同等の分
光反射特性を示したが、実施例1と同じ試験を行って得
た第1表に示す結果がら明らかな如くクラック発生のな
い成膜は可能でも特に密着性、耐候性、耐溶剤性が光学
部品の物性として劣ることがわかる。
添加して得た混合物を用いた。このようにして得た反射
防止蒸着膜(70α、70b、700>はそれぞれ実施
例1と同じ屈折率および光学的膜厚を有し、第19〜2
1図に示すように第3〜5図に示すものとほぼ同等の分
光反射特性を示したが、実施例1と同じ試験を行って得
た第1表に示す結果がら明らかな如くクラック発生のな
い成膜は可能でも特に密着性、耐候性、耐溶剤性が光学
部品の物性として劣ることがわかる。
比較例 2
蒸発材料としてM、7F、に40%のsio、tt添加
して得た混合物を用いて実施例1に記載したと同じ処理
を繰返してBK−7ガラス、ジエチレングリコールビス
アリルカーボネート、およびアクリル樹脂射出成形品の
基板上にそれぞれ1.406〜1.411の屈折率を有
する硬化性反射防止蒸着膜(80α、80b、80C)
を形成した。
して得た混合物を用いて実施例1に記載したと同じ処理
を繰返してBK−7ガラス、ジエチレングリコールビス
アリルカーボネート、およびアクリル樹脂射出成形品の
基板上にそれぞれ1.406〜1.411の屈折率を有
する硬化性反射防止蒸着膜(80α、80b、80C)
を形成した。
このようにして得た蒸着膜は、それぞれ第22〜24図
に示す如く、10〜30%のsiO!を添加した実施例
1のものに比べsio。
に示す如く、10〜30%のsiO!を添加した実施例
1のものに比べsio。
を40%と多量に添加しているため分光反射特性が約0
.4%高く、また分光反射特性の再現性もバラツキがあ
る。
.4%高く、また分光反射特性の再現性もバラツキがあ
る。
また、電子ビーム加熱蒸発の際、電子線強度=蒸発速度
を大きくとると、成@後チャンバーから大気に取出した
時蒸着膜にクラック発生がおこり易く、また密着性試験
でもテープ剥離を生じ易い。
を大きくとると、成@後チャンバーから大気に取出した
時蒸着膜にクラック発生がおこり易く、また密着性試験
でもテープ剥離を生じ易い。
特に大きな問題点は、蒸発材料中の5io1が40%と
多いため、熱伝導が急激に低下して蒸発速度が不安定に
なり易く、蒸発粒子の大きいトビ粒子が基板に付着し外
観上使用不可能になる。すなわち、40%のsio、を
含有する蒸発材料から得た蒸着膜の物性を測定する以前
に、成膜時の条件をコントロールすることが困難になり
、外観検査で不具合が極めて生じ易く、また光学部品と
しての物性も十分でない。
多いため、熱伝導が急激に低下して蒸発速度が不安定に
なり易く、蒸発粒子の大きいトビ粒子が基板に付着し外
観上使用不可能になる。すなわち、40%のsio、を
含有する蒸発材料から得た蒸着膜の物性を測定する以前
に、成膜時の条件をコントロールすることが困難になり
、外観検査で不具合が極めて生じ易く、また光学部品と
しての物性も十分でない。
比較例 3
蒸発材料としてM!I Ft +S t O@の混合物
の代りにM!iF!のみを用いて実施例1に記載したと
同じ処理を繰返すことにより、BK−7ガラス、ジエチ
レングリコールビスアリルカーボネートおよびアクリル
樹脂射出成形品の基板上にそれぞれ反射防止蒸着膜を形
成した。
の代りにM!iF!のみを用いて実施例1に記載したと
同じ処理を繰返すことにより、BK−7ガラス、ジエチ
レングリコールビスアリルカーボネートおよびアクリル
樹脂射出成形品の基板上にそれぞれ反射防止蒸着膜を形
成した。
このようにして得た各蒸着膜の分光反射特性は第19〜
21図に示すものとほぼ同じでまた第1表に示すように
光学部品としての物性も極めて劣る。
21図に示すものとほぼ同じでまた第1表に示すように
光学部品としての物性も極めて劣る。
比較例 4
実施例3と同じ処理を繰返してBK−7ガラス、ジエチ
レングリコールビスアリルカーボネートおよびアクリル
樹脂射出成形品の基板上にそれぞれ三層構成よりなる硬
化性反射防止蒸着1iQ(100−1100h 、 1
00 C)を形成した。ただし、蒸発材料として第1層
にはC# F、のみを、第2層にはC# O,のみを、
第3層にはM!IF!のみを用い、いずれの層にもsi
o、は添加しなかった。
レングリコールビスアリルカーボネートおよびアクリル
樹脂射出成形品の基板上にそれぞれ三層構成よりなる硬
化性反射防止蒸着1iQ(100−1100h 、 1
00 C)を形成した。ただし、蒸発材料として第1層
にはC# F、のみを、第2層にはC# O,のみを、
第3層にはM!IF!のみを用い、いずれの層にもsi
o、は添加しなかった。
このようにして得た蒸着膜(100α、100b、10
0C)はそれぞれ第25〜27図に示すような分光反射
特性を示し、第1表に示すような光学部品として極めて
劣る物性を有する。
0C)はそれぞれ第25〜27図に示すような分光反射
特性を示し、第1表に示すような光学部品として極めて
劣る物性を有する。
上述した如く、本発明によれば、反射防止特性を有する
MgF2の如き蒸発材料に10〜30%のs i o2
を添加して得た混合物を少くとも一層として光学部品の
基板上に常温で電子ビーム加熱蒸発により、所要に応じ
てArプラズマイオンビームを照射しながら真空蒸着し
て反射防止膜を形成することができるので、下記に示す
利点がある。
MgF2の如き蒸発材料に10〜30%のs i o2
を添加して得た混合物を少くとも一層として光学部品の
基板上に常温で電子ビーム加熱蒸発により、所要に応じ
てArプラズマイオンビームを照射しながら真空蒸着し
て反射防止膜を形成することができるので、下記に示す
利点がある。
(I)光学部品として用い得るガラス、熱硬化性樹脂、
射出成形用樹脂等のあらゆる基板に常温真空蒸着により
密着性の高い成膜が可能である。すなわち、成膜後のセ
ロテープ剥離試験で全く膜の剥岬を生じない。
射出成形用樹脂等のあらゆる基板に常温真空蒸着により
密着性の高い成膜が可能である。すなわち、成膜後のセ
ロテープ剥離試験で全く膜の剥岬を生じない。
■硬度が高い、すなわち耐擦傷性の高い成膜が常温真空
蒸着で可能になる。硅素酸化物(特に原子%でsi>o
のもの)は他の蒸発材料に比べ常温真空蒸着により耐久
性の高い成膜を付与する唯一の蒸発材料である。これを
良好な密着性を有するフッ化物等に10〜30%添加す
ることにより、硬度の高い(耐擦傷性のすぐれた)成膜
が常温真空蒸着により得られる。たとえば、M !IF
tに10〜30%(7) S 龜Ox ヲ添加シテ用
いることにより、光学特性および耐久性のすぐれた反射
防止膜を単層で常温真空蒸着により形成することができ
、またフッ化物、酸化物等にそれぞれ10〜30%のs
i o、を添加して用いることにより、硬化性能、密
着性および耐クラツク性もすぐれた多層構成よりなる反
射防止膜を常温真空蒸着により形成することができる。
蒸着で可能になる。硅素酸化物(特に原子%でsi>o
のもの)は他の蒸発材料に比べ常温真空蒸着により耐久
性の高い成膜を付与する唯一の蒸発材料である。これを
良好な密着性を有するフッ化物等に10〜30%添加す
ることにより、硬度の高い(耐擦傷性のすぐれた)成膜
が常温真空蒸着により得られる。たとえば、M !IF
tに10〜30%(7) S 龜Ox ヲ添加シテ用
いることにより、光学特性および耐久性のすぐれた反射
防止膜を単層で常温真空蒸着により形成することができ
、またフッ化物、酸化物等にそれぞれ10〜30%のs
i o、を添加して用いることにより、硬化性能、密
着性および耐クラツク性もすぐれた多層構成よりなる反
射防止膜を常温真空蒸着により形成することができる。
(III) 耐熱性(低温〜高温に耐える耐熱衝撃性)
および耐湿度性が高い成膜を常温真空蒸着により可能に
する。
および耐湿度性が高い成膜を常温真空蒸着により可能に
する。
MgF、のみを常温真空蒸着すると、密着性および硬度
のすぐれた膜が得られるが、脆く、低温(−40℃)〜
高温(+80’C)の変化を繰返すとクラックを発生す
る。このMyFlに10〜30%のsio、を添加する
と、常温真空蒸着後粘性の高い成膜になり、耐熱性およ
び耐湿度性が向上する。
のすぐれた膜が得られるが、脆く、低温(−40℃)〜
高温(+80’C)の変化を繰返すとクラックを発生す
る。このMyFlに10〜30%のsio、を添加する
と、常温真空蒸着後粘性の高い成膜になり、耐熱性およ
び耐湿度性が向上する。
(IV) 耐溶剤性が向上する。
耐溶剤性の悪いフッ化物、酸化物等に耐溶剤性の良いS
iO□を10〜30%添加することにより、常温真空蒸
着により形成した膜の耐溶剤性が極めて向上し、エタノ
ール、メタノール等の溶剤に対してクランク発生、劣化
による剥離が全く生じない。
iO□を10〜30%添加することにより、常温真空蒸
着により形成した膜の耐溶剤性が極めて向上し、エタノ
ール、メタノール等の溶剤に対してクランク発生、劣化
による剥離が全く生じない。
(V) 光学特性の低下がない。
単層又は多層膜に用いるフッ化物、酸化物に810(1
0〜30%)を添加しても、屈折率の変化がなく光学特
性(分光反射特性)を変えることなく耐久性を向上させ
ることができる。
0〜30%)を添加しても、屈折率の変化がなく光学特
性(分光反射特性)を変えることなく耐久性を向上させ
ることができる。
(VI) 蒸発材料に10〜30%のs i o、を添
加すトν るとにより、常m真空蒸着で従来のホットコート法に匹
敵する耐久性が得られるが、常温真空蒸着中にArイオ
ンビームを基板に照射すると、イオン結合効果が加わり
成膜の耐久性が一層大幅に向上する。
加すトν るとにより、常m真空蒸着で従来のホットコート法に匹
敵する耐久性が得られるが、常温真空蒸着中にArイオ
ンビームを基板に照射すると、イオン結合効果が加わり
成膜の耐久性が一層大幅に向上する。
箔1図は本発明に係る基板上に形成した単層反射防止膜
の一例を示す線図的断面図。第2図は本発明方法を実施
するために用いる常温真空蒸着装置の一例を示す線図、
第3〜5図はそれぞれ種々の基板に形成した第1図の単
層反射防止膜の分光反射特性図、第6図は本発明に係る
基板上に形成した単層反射防止膜の他の例を示す騨図的
断面図、陪7図は本発明方法を実施するために用いる常
温真空蒸着装置の他の例を示す線図、第8〜10図はそ
れぞれ種々の基板に形成した第6図の単層反射防止膜の
分光反射特性図、第11図は本発明に係る基板上に形成
した三層構成よりなる反射防止膜の一例を示す線図的断
面図、第12〜14図はそれぞれ種々の基板に形成した
第11図の三層構成よりなる反射防止膜の分光反射特性
図、第15図は本発明に係る基板上に形成した三層構成
よりなる反射防止膜の他の例を示す線図的断面図、第1
6〜18図はそれぞれ種々の基板に形成した第15図の
三層構成よりなる反射防止膜の分光反射特性図、第19
〜21図はそれぞれ種々の基板にM (I Ft +
5%Stewの蒸発材料より形成した単層反射防止膜の
分光反射特性図、第22〜24図はそれぞれ種々の基板
にM y Fg +40%Sin、の蒸発材料より形成
した単層反射防止膜の分光反射特性図、第25−27図
はそれぞれ種々の基板に形成したCa p s Ca
Ot−MyFlの三層構成よりなる反射防止膜の分光反
射特性図である。 21.41・・・常温真空蒸着装置の真空蒸着チャンバ
ー 22.42・・・電子銃 11.31・・e基 板 23.44・−嗜回転ドーム 24.45・・−蒸発材料 43・・・イオン源 46*φ・イオンビーも 第1図 第2図 第5図 第6図 0− 叱 犀 糾 −賠 茄 枡 第10図 第11図 第12図 第13図 ′M fン 職 等 枡 第16図 第17図 第18図 第19図 −回 算 科 第22図 第23図 0O4005006007008oOn波 長 第25図 手続補正書(自発) 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 1、事件の表示 昭和58年特許願第173848号 2、発明の名称 光学部品の反射防止膜とその形成方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都渋谷区幡ケ谷2丁目43番2号4、代理
人 6、補正の対象 明細書の「特許請求の範囲ヨおよび「発明の詳細な説明
ヨの澗 7、補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙の通り補正する。 (2)明細書第16頁第1〜2行目の記載を次の通り補
正する。 「を順次基板の加熱なしにまたはArまたはA r +
02または02のイオンビームを蒸着前、基板にプレ
スパツタ照射し、かつイオンビームを照射しつつ基板の
加熱なしに常温で」 (3)明細書第16頁第9行目の「真空蒸着時に1との
記載を「真空蒸着前(プレスパツタ効果)かつ真空蒸着
時にヨと補正する。 (4)明細書第19頁第15行目の「−40°C〜80
℃」との記載を「−408C〜+80℃1と補正する。 (5)明細書第37頁第12行目の’ S r OJ七
の記載を「5iO2Jと補正する。 8、添付書類の目録 (1)別 紙 1通 別 紙 2、特許請求の範囲 (1)光学部品の基板」二に、反射防止効果を有する蒸
発材料に5in2を添加し、生成した混合物の常温真空
蒸着膜を設けて成る光学部品の反射防止膜。 (2) 光学部品の基板上に、該基板側から見て第1層
に反射防止効果を有する蒸発材料としてのフッ化物又は
硅素酸化物、中間層並びに最終層にフッ化物又は酸化物
で、これら全てに5in2を添加し、生成した混合物の
多層の常温真空蒸着膜を設けてなる光学部品の反射防止
膜。 (3) 基板はガラス基板又は合成樹脂基板である特許
請求の範囲第1項又は第2項記載の光学部品の反射防止
膜。 (4) 合成樹脂基板は、ジエチレングリコールビスア
リルカーボネート、アクリル樹脂、PClAS又はPS
の基板である特許請求の範囲第3項記載の光学部品の反
射防止膜。 2− (5) 蒸発材料に添加する5I02は10〜30%で
ある特許請求の範囲第1項又は第2項記載の光学部品の
反射防止膜。 (6)蒸発材料としてのフッ化物がMg F 2である
特許請求の範囲第1項記載の光学部品の反射・ 防止膜
。 (7)蒸発材料としてのフッ化物がCeF3、NdF3
、P bFa、Na5AQ Fe、NaF 、、L+F
又はMgF2、酸化物がCe O2、Z r O2、T
i 203、TiO又はAQ 203である特許請求
の範囲第2記載の光学部品の反射防止膜。 (8)光学部品の基板上に反射防止膜を形成するにあた
り、反射防止効果を有する蒸発材料にSiO2を10〜
30%添加し、生成した混合物を少なくとも一層として
基板の加熱なしに常温で電子ビーム加熱蒸発により該基
板上に真空蒸着することを特徴とする光学部品の反射防
止膜を形成する方法。 (9)光学部品の基板上に反射防止膜を形成するにあた
り、反射防止効果を有する蒸発材料に5iO7を10〜
30%添加し、生成した混合物を少なくとも一層として
、基板にArまたはAr−1−02または02のイオン
ビームを蒸着前、基板にプレスパツタ照射し、かつイオ
ンビームを照射しつつ基板の加熱なしに常温で電子ヒー
ム加熱蒸発により、該基板」二に真空蒸着することを特
徴とする光学部品に反射防止膜を形成する方法。 (10) 基板は光学部品として用い得るガラス又は合
成樹脂である特許請求の範囲第8項又は第9項記載の光
学部品に反射防止膜を形成する方法。 (11)合成樹脂としてジエチレングリコ−几ヒスアリ
ルカーボネート、アクリル樹脂、PC。 AS又はPSを用いる特許請求の範囲第1O項記載の光
学部品に反射防止膜を形成する方法。 (12) 反射防止膜が単層よりなる場合、蒸発材料と
してフッ化物に10〜30%のSiC2を添加してなる
混合物を用いる特許請求の範囲第 3− 8項記載の光学部品に反射防止膜を形成する方法。 (13)フッ化物がMgF2である特許請求の範囲第1
2項記載の光学部品に反射防止膜を形成する方法。 (I4)反射防止膜が多層よりなる場合、蒸発材料とし
て基板側から見て第1層にフッ化物又は硅素酸化物、中
間層並びに最終層にフッ化物又は酸化物でこれら全てに
10〜30%のSiC2を添加してなる混合物をそれぞ
れ用いる特許請求の範囲第8項記載の光学部品に反射防
止膜を形成する方法。 (托)フッ化物としてCeF3、NdF3、L a F
3、PbF3、Na5AQ Fa、NaF%LIF又は
MgF2を用い、また酸化物としてCe O2N Z
r O2、Ti2O3、TiO又はAQ 、、03を用
いる特許端 4 −
の一例を示す線図的断面図。第2図は本発明方法を実施
するために用いる常温真空蒸着装置の一例を示す線図、
第3〜5図はそれぞれ種々の基板に形成した第1図の単
層反射防止膜の分光反射特性図、第6図は本発明に係る
基板上に形成した単層反射防止膜の他の例を示す騨図的
断面図、陪7図は本発明方法を実施するために用いる常
温真空蒸着装置の他の例を示す線図、第8〜10図はそ
れぞれ種々の基板に形成した第6図の単層反射防止膜の
分光反射特性図、第11図は本発明に係る基板上に形成
した三層構成よりなる反射防止膜の一例を示す線図的断
面図、第12〜14図はそれぞれ種々の基板に形成した
第11図の三層構成よりなる反射防止膜の分光反射特性
図、第15図は本発明に係る基板上に形成した三層構成
よりなる反射防止膜の他の例を示す線図的断面図、第1
6〜18図はそれぞれ種々の基板に形成した第15図の
三層構成よりなる反射防止膜の分光反射特性図、第19
〜21図はそれぞれ種々の基板にM (I Ft +
5%Stewの蒸発材料より形成した単層反射防止膜の
分光反射特性図、第22〜24図はそれぞれ種々の基板
にM y Fg +40%Sin、の蒸発材料より形成
した単層反射防止膜の分光反射特性図、第25−27図
はそれぞれ種々の基板に形成したCa p s Ca
Ot−MyFlの三層構成よりなる反射防止膜の分光反
射特性図である。 21.41・・・常温真空蒸着装置の真空蒸着チャンバ
ー 22.42・・・電子銃 11.31・・e基 板 23.44・−嗜回転ドーム 24.45・・−蒸発材料 43・・・イオン源 46*φ・イオンビーも 第1図 第2図 第5図 第6図 0− 叱 犀 糾 −賠 茄 枡 第10図 第11図 第12図 第13図 ′M fン 職 等 枡 第16図 第17図 第18図 第19図 −回 算 科 第22図 第23図 0O4005006007008oOn波 長 第25図 手続補正書(自発) 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 1、事件の表示 昭和58年特許願第173848号 2、発明の名称 光学部品の反射防止膜とその形成方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都渋谷区幡ケ谷2丁目43番2号4、代理
人 6、補正の対象 明細書の「特許請求の範囲ヨおよび「発明の詳細な説明
ヨの澗 7、補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙の通り補正する。 (2)明細書第16頁第1〜2行目の記載を次の通り補
正する。 「を順次基板の加熱なしにまたはArまたはA r +
02または02のイオンビームを蒸着前、基板にプレ
スパツタ照射し、かつイオンビームを照射しつつ基板の
加熱なしに常温で」 (3)明細書第16頁第9行目の「真空蒸着時に1との
記載を「真空蒸着前(プレスパツタ効果)かつ真空蒸着
時にヨと補正する。 (4)明細書第19頁第15行目の「−40°C〜80
℃」との記載を「−408C〜+80℃1と補正する。 (5)明細書第37頁第12行目の’ S r OJ七
の記載を「5iO2Jと補正する。 8、添付書類の目録 (1)別 紙 1通 別 紙 2、特許請求の範囲 (1)光学部品の基板」二に、反射防止効果を有する蒸
発材料に5in2を添加し、生成した混合物の常温真空
蒸着膜を設けて成る光学部品の反射防止膜。 (2) 光学部品の基板上に、該基板側から見て第1層
に反射防止効果を有する蒸発材料としてのフッ化物又は
硅素酸化物、中間層並びに最終層にフッ化物又は酸化物
で、これら全てに5in2を添加し、生成した混合物の
多層の常温真空蒸着膜を設けてなる光学部品の反射防止
膜。 (3) 基板はガラス基板又は合成樹脂基板である特許
請求の範囲第1項又は第2項記載の光学部品の反射防止
膜。 (4) 合成樹脂基板は、ジエチレングリコールビスア
リルカーボネート、アクリル樹脂、PClAS又はPS
の基板である特許請求の範囲第3項記載の光学部品の反
射防止膜。 2− (5) 蒸発材料に添加する5I02は10〜30%で
ある特許請求の範囲第1項又は第2項記載の光学部品の
反射防止膜。 (6)蒸発材料としてのフッ化物がMg F 2である
特許請求の範囲第1項記載の光学部品の反射・ 防止膜
。 (7)蒸発材料としてのフッ化物がCeF3、NdF3
、P bFa、Na5AQ Fe、NaF 、、L+F
又はMgF2、酸化物がCe O2、Z r O2、T
i 203、TiO又はAQ 203である特許請求
の範囲第2記載の光学部品の反射防止膜。 (8)光学部品の基板上に反射防止膜を形成するにあた
り、反射防止効果を有する蒸発材料にSiO2を10〜
30%添加し、生成した混合物を少なくとも一層として
基板の加熱なしに常温で電子ビーム加熱蒸発により該基
板上に真空蒸着することを特徴とする光学部品の反射防
止膜を形成する方法。 (9)光学部品の基板上に反射防止膜を形成するにあた
り、反射防止効果を有する蒸発材料に5iO7を10〜
30%添加し、生成した混合物を少なくとも一層として
、基板にArまたはAr−1−02または02のイオン
ビームを蒸着前、基板にプレスパツタ照射し、かつイオ
ンビームを照射しつつ基板の加熱なしに常温で電子ヒー
ム加熱蒸発により、該基板」二に真空蒸着することを特
徴とする光学部品に反射防止膜を形成する方法。 (10) 基板は光学部品として用い得るガラス又は合
成樹脂である特許請求の範囲第8項又は第9項記載の光
学部品に反射防止膜を形成する方法。 (11)合成樹脂としてジエチレングリコ−几ヒスアリ
ルカーボネート、アクリル樹脂、PC。 AS又はPSを用いる特許請求の範囲第1O項記載の光
学部品に反射防止膜を形成する方法。 (12) 反射防止膜が単層よりなる場合、蒸発材料と
してフッ化物に10〜30%のSiC2を添加してなる
混合物を用いる特許請求の範囲第 3− 8項記載の光学部品に反射防止膜を形成する方法。 (13)フッ化物がMgF2である特許請求の範囲第1
2項記載の光学部品に反射防止膜を形成する方法。 (I4)反射防止膜が多層よりなる場合、蒸発材料とし
て基板側から見て第1層にフッ化物又は硅素酸化物、中
間層並びに最終層にフッ化物又は酸化物でこれら全てに
10〜30%のSiC2を添加してなる混合物をそれぞ
れ用いる特許請求の範囲第8項記載の光学部品に反射防
止膜を形成する方法。 (托)フッ化物としてCeF3、NdF3、L a F
3、PbF3、Na5AQ Fa、NaF%LIF又は
MgF2を用い、また酸化物としてCe O2N Z
r O2、Ti2O3、TiO又はAQ 、、03を用
いる特許端 4 −
Claims (9)
- (1)光学部品の基板上に、反射防止効果を有する蒸発
材料にf3iQを添加し、生成した混合物の常温真空蒸
着膜を設けて成る光学部品の反射防止膜。 - (2)光学部品の基板上に、該基板側から見て第1層に
反射防止効果を有する蒸発材料としてのフッ化物又は硅
素酸化物、中間層並びに最終層にフッ化物又は酸化物で
、これら全てに5iO8を添加し、生成、した混合物の
多層の常温真空蒸着膜を設けて成る光学部品の反射防止
膜。 - (3)基板はガラス基板又は合成樹脂基板である特許請
求の範囲wS1項又は第2項記載の光学部品の反射防止
膜。 - (4)合成樹脂基板は、ジエチレングリコールビスアル
カ−ボネート、アクリル樹脂、PClAS又はPSの基
枡である特許請求の範囲筒3墳記載の光学部品の反射防
止膜。 - (5)蒸発材料に添加するsio、は10〜30%であ
る特許請求の範囲第1項又は第2項記載の光学部品の反
射防止膜。 - (6)蒸発材料としてのフッ化物がM、!7F、である
特許請求の範囲第1項記載の光学部品の反射防止膜。 - (7)蒸発材料としてのフッ化物がCg Fa 、N’
Fm、PbFs 、NGs AZFa 、NaFlLi
F又はMfF*、Eii’e化物がCeO2、ZrO2
、TL、Ol、TiO又はAZIOIである特許請求の
範囲第2項記載の光学部品の反射防止膜。 - (8)光学部品の基板上に反射防止膜を形成するにあた
り、反射防止効果を有する蒸発材料にSio、を1θ〜
30%添加し、生成した混合物を少くとも一層として基
板の加熱なしに常温で電子ビーム加熱蒸発により該基板
上に真空蒸着することを特徴とする光学部品に反射防止
膜をノヒ成する方決。 - (9)光学部品の基板上に、反射防止膜を形成するにあ
たり、反射防止効果を有する蒸発材料にStO,を10
〜30%添加し、生成した混合物を少なくとも一層とし
て、基板にArおよび/またはOlのイオンビームをf
f(t 射しつつ、基板の加熱なしに常温で電子ビーム
加熱蒸発により、該基板上に真空蒸石することを特徴と
する光学部品に反射防止膜を形成する方法。 θ0)基板は光学部品として用い得るガラス又は合成樹
脂である特#!F#求の範囲第8項又は第9項記載の方
法。 α1)合成樹脂としてジエチレングリコールビスアリル
カーボネート、アクリル樹脂、PCSAS又はPSを用
いる特許請求の範囲第10項記載の方法。 Q21反射防止膜が単層よりなる場合、蒸発材料として
フッ化物に10〜30%のsio、を添加して成る混合
物を用いる特許請求の範囲第8項記載の方法。 Q3+フフ化物がfF、である特許請求の範囲第12項
記載の方法。 a4)反射防止膜が多層よりなる場合、蒸発材料として
基板側から見て第1層にフッ化物又は硅素醇化物、中間
層並びに最終層にフッ化物又は酸化物でこれら全てに1
0〜30%の5LO2を添加してなる混合物をそれぞれ
用いる特許請求の範囲第8項記載の方法。 (15177化物として(jF、 、NdFfi 、L
’ZFs 、PbFS、Nαs AI Fa 、NαF
1LiF又はMgF2 を用い、また酸化物としてCa
O2、Zr0t 、T’s Os STi。 又はA120gを用いる特許請求の範囲第14項記載の
方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58173848A JPH0642003B2 (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | 光学部品の反射防止膜とその形成方法 |
US06/648,729 US4599272A (en) | 1983-09-20 | 1984-09-07 | Anti-reflection coating for optical component and method for forming the same |
DE3434583A DE3434583A1 (de) | 1983-09-20 | 1984-09-20 | Reflexvermindernde beschichtung fuer ein optisches bauteil und verfahren zu ihrer ausbildung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58173848A JPH0642003B2 (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | 光学部品の反射防止膜とその形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6064301A true JPS6064301A (ja) | 1985-04-12 |
JPH0642003B2 JPH0642003B2 (ja) | 1994-06-01 |
Family
ID=15968275
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58173848A Expired - Lifetime JPH0642003B2 (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | 光学部品の反射防止膜とその形成方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4599272A (ja) |
JP (1) | JPH0642003B2 (ja) |
DE (1) | DE3434583A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61117503A (ja) * | 1984-11-14 | 1986-06-04 | Shinku Kikai Kogyo Kk | フツ化物被膜の形成方法 |
WO1998052074A1 (fr) * | 1997-05-16 | 1998-11-19 | Hoya Kabushiki Kaisha | Composant optique en plastique pourvu d'une pellicule empechant la reflexion et mecanisme servant a uniformiser l'epaisseur de cette pellicule |
WO2009001634A1 (ja) * | 2007-06-28 | 2008-12-31 | Sony Corporation | 低屈折率膜及びその成膜方法、並びに反射防止膜 |
Families Citing this family (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4811551A (en) * | 1985-04-30 | 1989-03-14 | Nambu Electric Co., Ltd. | Packaging apparatus for packaging eggs, etc. |
US4911546A (en) * | 1985-12-20 | 1990-03-27 | Cohen Michael L | Lens reducing visual noise for VDT viewers |
US5080688A (en) * | 1985-12-20 | 1992-01-14 | Cohen Michael L | Colored plastic lens reducing visual noise for VDT viewers |
FR2598520B1 (fr) * | 1986-01-21 | 1994-01-28 | Seiko Epson Corp | Pellicule protectrice minerale |
US5783299A (en) * | 1986-01-21 | 1998-07-21 | Seiko Epson Corporation | Polarizer plate with anti-stain layer |
US4783373A (en) * | 1986-04-18 | 1988-11-08 | Optical Coating Laboratory, Inc. | Article with thin film coating having an enhanced emissivity and reduced absorption of radiant energy |
EP0247599B1 (en) * | 1986-05-29 | 1993-08-04 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Anti-reflection plate for display device |
US5759643A (en) * | 1987-01-16 | 1998-06-02 | Seiko Epson Corporation | Polarizing plate and method of production |
US4815962A (en) * | 1987-12-11 | 1989-03-28 | Polaroid Corporation | Process for coating synthetic optical substrates |
US4980220A (en) * | 1988-01-25 | 1990-12-25 | Phillips Petroleum Company | Iridescent plastics and process for producing the same |
JPH01273001A (ja) * | 1988-04-25 | 1989-10-31 | Olympus Optical Co Ltd | 合成樹脂製光学部品の反射防止膜 |
AU652220B2 (en) * | 1991-02-15 | 1994-08-18 | Toray Industries, Inc. | Plastic optical articles |
JPH0643304A (ja) * | 1992-07-24 | 1994-02-18 | Nikon Corp | 反射防止膜及び反射防止膜付き光学部品 |
US5747152A (en) * | 1993-12-02 | 1998-05-05 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Transparent functional membrane containing functional ultrafine particles, transparent functional film, and process for producing the same |
FR2727107B1 (fr) * | 1994-11-21 | 1996-12-27 | Saint Gobain Vitrage | Vitrage muni d'au moins une couche mince et son procede d'obtention |
US5662395A (en) * | 1995-06-07 | 1997-09-02 | Nova Solutions, Inc. | Underdesk computer desk structure with antireflecting viewing window |
WO1997008357A1 (en) * | 1995-08-30 | 1997-03-06 | Nashua Corporation | Anti-reflective coating |
US5902634A (en) * | 1996-01-17 | 1999-05-11 | Courtaulds Performance Films | Permeable solar control film |
FR2745284B1 (fr) * | 1996-02-22 | 1998-04-30 | Saint Gobain Vitrage | Substrat transparent muni d'un revetement de couches minces |
US6172812B1 (en) | 1997-01-27 | 2001-01-09 | Peter D. Haaland | Anti-reflection coatings and coated articles |
ES2263184T3 (es) * | 1997-01-27 | 2006-12-01 | Peter D. Haaland | Metodos para reducir la reflexion en sustratos opticos. |
US5993898A (en) * | 1997-05-19 | 1999-11-30 | Nikon Corporation | Fabrication method and structure for multilayer optical anti-reflection coating, and optical component and optical system using multilayer optical anti-reflection coating |
EP0945254B1 (en) * | 1998-03-17 | 2004-12-22 | Chi Mei Optoelectronics Corporation | Material comprising an anti-reflective coating on a flexible glass substrate |
JP3533950B2 (ja) * | 1998-08-07 | 2004-06-07 | トヨタ自動車株式会社 | 非線形光学シリカ薄膜の製造方法及び非線形光学シリカ素子 |
CA2281265C (en) * | 1998-09-22 | 2003-12-16 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing a nonlinear optical thin film |
WO2000039626A1 (en) * | 1998-12-31 | 2000-07-06 | Optical Coating Laboratory, Inc. | Wavelength selective optical switch |
US6582823B1 (en) | 1999-04-30 | 2003-06-24 | North Carolina State University | Wear-resistant polymeric articles and methods of making the same |
JP2001295032A (ja) * | 2000-02-10 | 2001-10-26 | Itochu Fine Chemical Corp | 光学複合薄膜の形成方法およびそれを用いた光学物品 |
US6532112B2 (en) * | 2001-04-18 | 2003-03-11 | Applied Vacuum Coating Technologies Co., Ltd. | Anti-reflection conducting coating |
US6942924B2 (en) * | 2001-10-31 | 2005-09-13 | Chemat Technology, Inc. | Radiation-curable anti-reflective coating system |
US7059335B2 (en) * | 2002-01-31 | 2006-06-13 | Novartis Ag | Process for treating moulds or mould halves for the production of ophthalmic lenses |
US20040005416A1 (en) * | 2002-07-03 | 2004-01-08 | Cosmos Vacuum Technology Corporation | Method for making an anti-reflection coating on a substrate for the production of a polarizer |
DE102004027842A1 (de) * | 2004-06-08 | 2006-01-12 | Institut für Neue Materialien Gemeinnützige GmbH | Abrieb- und kratzfeste Beschichtungen mit niedriger Brechzahl auf einem Substrat |
US20100101937A1 (en) * | 2008-10-29 | 2010-04-29 | Applied Vacuum Coating Technologies Co., Ltd. | Method of fabricating transparent conductive film |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5226237A (en) * | 1975-08-25 | 1977-02-26 | Ulvac Corp | Process for treating the surface of a lens made of synthesized plastics |
JPS5565239A (en) * | 1978-11-10 | 1980-05-16 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Method of forming film of titanium oxide on plastic base plate |
JPS566521A (en) * | 1979-06-18 | 1981-01-23 | Ibm | Voltage controlled oscillator |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2490263A (en) * | 1943-01-20 | 1949-12-06 | Libbey Owens Ford Glass Co | Method of producing low light reflecting films on glass surfaces |
US2641954A (en) * | 1950-05-06 | 1953-06-16 | Eastman Kodak Co | Protective coatings for optical elements and methods for applying them |
US3356522A (en) * | 1964-02-10 | 1967-12-05 | Mc Donnell Douglas Corp | Polycarbonate film containing an antireflection coating |
US3356523A (en) * | 1964-02-10 | 1967-12-05 | Mc Donnell Douglas Corp | Polystyrene film containing an antireflection coating |
US3958042A (en) * | 1971-04-05 | 1976-05-18 | Agency Of Industrial Science & Technology | Method for manufacture of reflection-proof film |
US3804491A (en) * | 1971-08-16 | 1974-04-16 | Olympus Optical Co | Multilayer reflection proof film |
US3984581A (en) * | 1973-02-28 | 1976-10-05 | Carl Zeiss-Stiftung | Method for the production of anti-reflection coatings on optical elements made of transparent organic polymers |
DE2457474C3 (de) * | 1974-12-05 | 1978-10-19 | Leybold-Heraeus Gmbh & Co Kg, 5000 Koeln | Verfahren zur Herstellung von reflexmindernden Mehrfachschichten und durch das Verfahren hergestellter optischer Körper |
US4108751A (en) * | 1977-06-06 | 1978-08-22 | King William J | Ion beam implantation-sputtering |
US4168113A (en) * | 1977-07-05 | 1979-09-18 | American Optical Corporation | Glass lens with ion-exchanged antireflection coating and process for manufacture thereof |
US4310614A (en) * | 1979-03-19 | 1982-01-12 | Xerox Corporation | Method and apparatus for pretreating and depositing thin films on substrates |
-
1983
- 1983-09-20 JP JP58173848A patent/JPH0642003B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1984
- 1984-09-07 US US06/648,729 patent/US4599272A/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-09-20 DE DE3434583A patent/DE3434583A1/de active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5226237A (en) * | 1975-08-25 | 1977-02-26 | Ulvac Corp | Process for treating the surface of a lens made of synthesized plastics |
JPS5565239A (en) * | 1978-11-10 | 1980-05-16 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Method of forming film of titanium oxide on plastic base plate |
JPS566521A (en) * | 1979-06-18 | 1981-01-23 | Ibm | Voltage controlled oscillator |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61117503A (ja) * | 1984-11-14 | 1986-06-04 | Shinku Kikai Kogyo Kk | フツ化物被膜の形成方法 |
JPH0552922B2 (ja) * | 1984-11-14 | 1993-08-06 | Shinku Kikai Kogyo Kk | |
WO1998052074A1 (fr) * | 1997-05-16 | 1998-11-19 | Hoya Kabushiki Kaisha | Composant optique en plastique pourvu d'une pellicule empechant la reflexion et mecanisme servant a uniformiser l'epaisseur de cette pellicule |
US6250758B1 (en) | 1997-05-16 | 2001-06-26 | Hoya Corporation | Plastic optical devices having antireflection film and mechanism for equalizing thickness of antireflection film |
WO2009001634A1 (ja) * | 2007-06-28 | 2008-12-31 | Sony Corporation | 低屈折率膜及びその成膜方法、並びに反射防止膜 |
JP2009007636A (ja) * | 2007-06-28 | 2009-01-15 | Sony Corp | 低屈折率膜及びその成膜方法、並びに反射防止膜 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3434583C2 (ja) | 1990-07-12 |
DE3434583A1 (de) | 1985-04-11 |
US4599272A (en) | 1986-07-08 |
JPH0642003B2 (ja) | 1994-06-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6064301A (ja) | 光学部品の反射防止膜とその形成方法 | |
US4979802A (en) | Synthetic resin half-mirror | |
US4944581A (en) | Rear face reflection mirror of multilayer film for synthetic resin optical parts | |
JPH03109503A (ja) | プラスチック製光学部品の反射防止膜とその形成方法 | |
JPH01273001A (ja) | 合成樹脂製光学部品の反射防止膜 | |
JP3221764B2 (ja) | 合成樹脂製光学部品の反射防止膜 | |
JPH10123301A (ja) | 反射防止層を有する光学物品 | |
JPH0461324B2 (ja) | ||
JPS60156001A (ja) | プラスチツク製光学部品の反射防止膜 | |
JPS6022101A (ja) | プラスチツク製光学部品の反射防止膜 | |
JPH0553001A (ja) | 合成樹脂製光学部品の多層反射防止膜 | |
JP2936103B2 (ja) | 酸化アルミニウム薄膜 | |
JPH04260004A (ja) | 合成樹脂製反射鏡 | |
JP2724260B2 (ja) | 反射防止膜を有する光学部材 | |
JPH06208002A (ja) | プラスチック製光学部品の反射防止膜と その形成方法 | |
JP3353944B2 (ja) | 光学部品の反射防止膜およびこの反射防止膜を形成した光学部品 | |
JPH01168443A (ja) | 高反射フイルム | |
JPH04240802A (ja) | 合成樹脂製光学部品の裏面反射鏡およびその製造方法 | |
JPH05313001A (ja) | プラスチック製光学部品の反射防止膜 | |
JPH03132601A (ja) | プラスチック製光学部品の反射防止膜とその形成方法 | |
JPS6222122B2 (ja) | ||
JPH04217203A (ja) | 合成樹脂製光学部品の多層反射防止膜とその製造方法 | |
JPH03252602A (ja) | 反射防止膜 | |
JPS60130703A (ja) | 合成樹脂基板の反射防止膜 | |
JPH06214101A (ja) | プラスチック製光学部品の反射防止膜及び光学膜用蒸 着材料 |