JPS6038027B2 - 半導体素子用パツケ−ジ - Google Patents

半導体素子用パツケ−ジ

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Publication number
JPS6038027B2
JPS6038027B2 JP6884778A JP6884778A JPS6038027B2 JP S6038027 B2 JPS6038027 B2 JP S6038027B2 JP 6884778 A JP6884778 A JP 6884778A JP 6884778 A JP6884778 A JP 6884778A JP S6038027 B2 JPS6038027 B2 JP S6038027B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
package
conductor
ceramic
lid
semiconductor devices
Prior art date
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Expired
Application number
JP6884778A
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English (en)
Other versions
JPS54160171A (en
Inventor
正則 中村
尭三 戸田
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS54160171A publication Critical patent/JPS54160171A/ja
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  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Casings For Electric Apparatus (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、集積回路や、半導体素子を気密封止するため
のパッケージに関する。
集積回路や半導体素子を気密封止するパッケージには、
TO型などのカンパッケージ、及び第1図に示すような
セラミック基材を用いたセラミックパッケージがある。
第1図のセラミックパッケージは、グリーンシート(猿
結前のセラミック生シート)上にタングステンWなどか
らなる導体ペーストを所定のパターンに印刷したシート
、及びプレス加工等により所定の部分に穴開き加工した
シート等を2〜3枚(la,lb,lcで示す)積重ね
た後、高温で燐結し、所定の部分にニッケルNi及び金
Au等をメッキすることによって、セラミックパッケー
ジ1を作成し、このパッケージに半導体素子2を搭載し
てAu一Sj共晶はんだ等3によりダイボンデイングし
、Nワイヤ4によりワイヤボンディングを行ない、上面
にセラミック板5を低融点ガラス6を用いて固着するこ
とにより、気密封止したものである。このような構造で
あれば、シートla,lb,lcの積み重ね、印刷など
の工程が複雑となり、かつ使用するシートの枚数が多い
ためのパッケージの価格が高くなるという欠点を有して
いる。従来の気密封止形パッケージとして、上記例以外
に、素子を置く中心部を平坦とし、中心部のまわりを上
向きに垂直に形成し、該垂直部の上端を外方向水平に曲
成して周辺水平部を形成した形を有する一体成形による
ものがある。
しかし、このような構造のものは、前記周辺水平部にふ
たを乗せ、低融点ガラス等で封止するものであるから、
外部結線を行なうための接続部は該封止部よりさらに外
側に位置せざるを得ない。従って、周辺水平部の面積を
広くせざるを得ず、全体的な専有面積も広くならざるを
得ないという欠点がある。本発明の目的は、上記した従
来技術の欠点をなくし、原価及び製造価格を下げること
ができ、かつ専有面積の小さい気密封止形半導体素子用
パッケージを提供するにある。この目的を達成するため
に、本発明によるパッケージは、パッケージの中心部及
び全周辺部が平坦で、中心部を周辺部との中間に傾斜部
を有する形状とし、額斜部にふたの周辺が乗るようにふ
たをガラス封着したことを特徴とする。
以下本発明の一実施例を図面により説明する。
第4図は完成品を示す断面図であるが、これは第2図、
第3図の工程をへて作られる。まず、第2図に示すよう
に、平板状のグリーンシート7上にW導体ペースト8及
びアルミナAI2Q絶縁ペースト9を、所定のパターン
となるように多層印刷する。次にプレス加工により、第
3図に示すようにパッケージの外周部及び中心部にそれ
ぞれ実質的に平坦をなす部分F,,F2があり、これら
の平坦部間に傾斜部Sがあるような形状に形成し、更に
1500〜160000の高温でこれを焼結し、導体露
出部にNi及びAu等のメッキを行なう。ここで、導体
8は半導体素子と外部電極との電気接続を得るための導
体であり、誘電体9はプレス加工時の導体パターン8の
クラッチ発生を防止するため及び気密封止を容易にする
ためのものである。また導体8の露出部に施すN三およ
びAuメッキはワイヤボンディング性及びはんだ付け性
を向上させるためである。第3図のようにプレス加工に
よって曲成したパッケージの基板に対し、第4図に示す
ように、中央の導体8aにAu−Si共晶10等で半導
体素子11をダイボンデイングし、さらに、AIワイヤ
12でワイヤボンディングする。
そして周端面の傾斜しているセラミック板13をパッケ
ージ基板の額斜部Sに位置合わせし、低融点ガラス14
等を用いて封止する。以上述べたように、本発明による
半導体素子用パッケージは、パッケージの中心部と全周
辺部とを実質的に平坦表面とし、かつ中心部と全周辺部
の間に周辺側が上方に位置する煩斜部を形成し、該傾斜
部の上面とふたの周端面とをガラス封着してなる構造で
あって、基板の曲成形状がプレス加工によって得られる
という利点を具有し、製造工程の簡単化と使用材料の少
数少量化が達成されて低コストにて提供しうろことは言
うに及ばず、さらにふたの周端が傾斜面に位置している
ことから、周辺水平部は外部導体との接続に必要な面積
のみを有すればよいから、全体として専用面積が小さく
なり、パッケージの実装密度を上げることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のセラミックパッケージを示す断面図、第
2図、第3図、及び第4図は本発明によるセラミックパ
ッケージの一実施例を、製造工程の各段階において示す
断面図である。 7・・…・グリーンシート、8・・・・・・W導体、9
・・・・・・N203導体、10・…・・Au−Si共
晶、1 1・・・半導体素子、12・・・・・・ワイヤ
、13・・・・・・ふた、14・・・…低融点ガラス、
F.・・・・・・周辺水平部、F2・・・・・・中心水
平部、S・・・・・・額斜部。 第1図 第2図 第3図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 セラミツクからなるパツケージ基板及びふたとから
    なり、前記パツケージ基板は、半導体素子を搭載すべき
    中心部と全周辺部とが実質的に平坦をなし、中心部と全
    周辺部との間に周辺側が上位置に位置するような傾斜部
    を有するものであり、前記ふたは、その周端面が前記傾
    斜部の面に乗せられてガラス封着してなる半導体素子用
    パツケージ。
JP6884778A 1978-06-09 1978-06-09 半導体素子用パツケ−ジ Expired JPS6038027B2 (ja)

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JPS54160171A JPS54160171A (en) 1979-12-18
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JPH02155256A (ja) * 1988-12-08 1990-06-14 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JPH03116949A (ja) * 1989-09-29 1991-05-17 Enplas Corp Icパッケージ及びicパッケージ用ケースの製造方法

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JPS54160171A (en) 1979-12-18

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