JPS60250487A - 差分統計量測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、文字認識等の各種の２値図形処理に好適す
る差分統計量測定装置に関する。

〔発明の技術的背景とその間一点〕

文字認識等の各種の２値図形処理において、走査方向で
の差分統計量、即ち＠０”→”０″。

”（１”ｅ”、ｌ”（ｕＯ”−”ｌ”ｉ７’ｖＵ”ｌ”
−＋”０”）。

ｕｌ”→ｕｉ”の出現頻度をめる場合がある。

従来、この種の差分統計量は、２値図形（２値画像）を
走査方向に１画素ずつサーチし、前の画素の論理値と今
回サーチした画素の論理値とにより＆“（）”→”０”
、。０”４＋”ｌ”、またはｕ１″′→ｅ′ｌ”のいず
れであるかの判定をソフトウェア処理によつで行なうこ
とによりめられていた。このソフトウェア処理では、２
つの連続する画素の論理値をＰ、Ｑとすると。

■Ｐ＝”０”、Ｑ＝”０”？（１０”→６０”判定）■
ｐ＝１１０１５、Ｑ＝ｌｆｌｊｊ？（、ｔｌｇｆｌ、、
ＩＩ、”判定〕■Ｐ＝”ｌ”、Ｑ＝’０’？（”ｏ”＋
＋″ｌｎ判定〕■ｐ＝＝Ｊ”＋Ｑ＝＝’ｔｎｌ？’（ｅ
ｌｌｎ→″Ｔ１１５判定）の４つの判定ステップが必要
であり、差分統計量測定に時間を要する欠点があつた。

〔発明の目的〕

この発明は上記事情に電みてなされたものでその目的は
、差分統計量測定の尚速比が図れる差分統計量測定装置
を提供することにある。

〔発明の概賛〕

この発明では、第１メモリに４・６納されているオリジ
ナルの２値画像データである第１の２値画像データが、
シフト手段によって走査方向に１画素分シフトはれ、第
２の２値画像データとして第２メモリに格納される。第
１１第２メモリ内の第１．第２の２値画像データは、加
算手段により同一位置の画素同志で加算され、３値画像
データとして第３メモリに格納される。ヒストグラム演
算手段は、第３メモリ内の３値画像データに基づいて、
各走査ライン毎に同一値の画業総数を差分統計量として
める。

〔発明の実施例〕

第１図は、この発明の一実施例に係る差分統計量測定装
置の構成を示す。同一において。

１１は差分統計量の測定対象となる２値画像データ（第
１の２値画像データ）を格納する２次元の画像メモリ、
１２は画像メモリ１１のメモリ空間を走査方向（この例
では、Ｘ方向）に１画素分シフトするシフト装置である
。１３はシフト装置１２のシフト操作によって得られる
新たな２値画像データ（第２の２値画像データ）を・格
納する画像メモリ、１４は画像メモリ１１′、１３内の
２値画像データに対し、同一位置（ｘ、ｙ）の画素毎に
加算全行なう加算装置である。ノ５は加力装置１４の加
昇操作によって得られる画像データ（３値画像データ）
を格納する画像メモリ、１６はヒストグラム演算装置で
ある。ヒストグラム演算装置１６は画像メモリ１５内の
画像データに基づいて、各走査ライン（ｙ）毎にパ（）
”、パｌ″ｕ２“のデータ（画素）の個数をめる。

次に、第１図の構成の動作を第２図のデータ流れ図を参
照して説明する。今、第２図に符号２１で示される２値
画像データが画像メモリ１１に格納されているものとす
る。画像メモリ１１の第ｙｍ行のデータ列（即ち、第ｙ
ｍ走査ラインの画素列）は符号２１で示される如く、’
Ｏｌｌｌ００１０１１００” である（図示斜線部が”ｌ”）。シフト装置１２は、画
像メモリ１１に対し、全体を走査方向に１画素分だけ右
シフトし、その結果を画像メモリ１３に格納する。具捧
的には、シフト装置１２は、画像メモリ１１のｘｔ＋ｙ
ｊの位置の２値データ（画素データ）を画像メモリ１３
のＸｉ十）＋）’Ｊの位置に偽、込む動作全容位置につ
いて繰り返す。この実施例において１画像メモリ１３は
初期状態ではｕＯｙｐクリアされておシ。

したかつてシフト装置１２の動作後の画像メモリ１３の
第ｙｍ行のデータ列（第ｙｍ走査ラインの画素列）は、
第２図に符号２２で示される如く ”００１１１００１０１１０” となる。

加算装置１４は、画像メモリ１１，１３の同じ位置（Ｘ
ｉ、ｙｊ）の２値データ（画素データ）同志を加算し、
その加算結果である３値データ（ｕｏｎ、＝ｌｓ”、祉
たけ−２９９）を画像メモリ１５の同一位置（ｘｉ、ｙ
ｊ）に書き込む動作を各位置についで繰返す。この結果
、加算装飯１４の動作後の画像メモリ１５の第ｙｍ行の
データ列（第ｙｍ走査ラインの画素列）は、第２図に符
号２３で示される如く ｔ′（］ｌ２２１（ｌｉｌｌ２１０” となる。

ヒストグラム演算装置１６は、画像メモリＪ５の各行の
データ列（各走査ラインの画素列〕毎に′０”、ｅ′１
”、“２ｎの出現データ数（出現画素数）分、いわゆる
ヒストグラム演算によりめる。この結果、画像メモリ１
５の例えは第７ｍ行では。

“０”のデータ数＝３ “ｌ”のデータ数＝６ ｔ１２”の′データ数＝３ がめられる。

ところで、連続する２画素の一理値會Ｐ、Ｑとすると、
ＰとＱとの加算値は ■Ｐ＝”０”、Ｑ＝”０”ノドきＩＩＯｌ）■ｐ＝＝Ｉ
ｏｎ、Ｑ＝＠１”ノドきｕｌｙｐ■Ｐ＝”ｌ”、Ｑ＝ｕ
Ｏ”のと＠＝ｌｌｎ■Ｐ：Ｉ＝”１″、Ｑ＝ｅ１１”ノ
ドき”２″となる。明らかなように、上記■はＯ”→ｅ
ｌｏ”の隣接データが存在する場合、上記■はｕｌ”→
ｕ１”の隣接データか昇任する場合である。また、上記
■はＩ′０″→ｕ１“の隣接データが存在する場合、上
記■はＩ′ｌ”→″０”の隣接データが存在する場合で
ある。

したがって、ヒスドグシム演算装置Ｊ６で不められる各
行（各走査ライン）毎の０”のデータ数は１画像メモリ
ＩＩ内の２値画隊データ（即ち、差分統計量の測定対象
となるオリジナル画像）における各行毎の′０”→００
″の隣接データ（画素）の存在する箇所数（即ち、′０
′→″ＩＯ”の出現度数）を示す。同様に６１＃のデー
タ数は１０”４＋１１”（１０”→″ｌ”またはｕｌｌ
ｊ→パ（）”）の出現度数を丞し、′２”のデータ数は
”ｌ“→“１”の出現度数を示す。即ち、この実施例に
よれば、ヒストグラム演算装置１６でのヒストグラム演
算により、オリジナル画像における各走査ライン毎の差
分統計量がめられる。例えば、第ｙｍ走査ラインでは、 ”０“→ｕＯ″の出現度数＝３ ｕｔ＋ｎ４＋“ｌ″の出現度数＝６ ＋１”→Ｉｆ１”の出現度数＝３ かめられる。但Ｉ〜、″０”→″Ｏ″の出現度数は真仙
よ、りｒｌＪたけ多くなっている。これは、各走ｉライ
ンの左端画素（先願画素）が。

加算処理を施されないことによる。このため。

もし左端画素が５１″であれば、”０”４−）’ｌ“の
出現度数が真値より「１」多くなることになる。しかし
、１走査ラインの画素数は、上記実施例と異なって一般
に極めて多いため、１画素分の誤差は何ら問題とならな
い。

なお、前記実施例では、、”０”→ｕ□ｎ、＠□ｎ４＋
″′ｌ”Ｉｔ１’−＋″ｌｅｆｉの全ての出現度数をめ
る場合について説明したが１例えばｋｌ□＃＊＋″′ｌ
”、ｌｌ”→″′１″の各出現度数だけをめるものであ
ってもよい。

〔発明の効果〕

以上詳述したようにこの発明によれば、差分統計量測定
が複雑な判定ステップを経ることなく極めて簡単に行な
える。このため差分統計量測定の高速化が図れる。また
、被雑な判定ステップが不要となり、単にデータのシフ
ト処理。

加算処理、およびヒストグラム演算処理だけで差分統計
量測定か行なえるため、ハードウェア化が可能となり、
一層の高速化が図れる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例に係る性分統計量測定装置
の構成を示すブロック図、第２図は動作を説明するため
のデータ流れ図である。 １１、１３、１５・・・画像メモリ、１２・・・シフト
装置、１４・・・加算装置、１６・・・ヒストグラム演
算装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 第１の２値画像データを格納する第１メモリと、上記第
   １の２値画像データ全体を走査方向に１画素分シフトし
   て第２の２値画像データを得るシフト手段と、上記第２
   の２値画像データを格納する第２メモリと、上記第１お
   よび第２の２値画像データを同一位置の画素同士で加算
   して３値画像データを得る加算手段と、この加算手段か
   ら出力される上記３値画像データケ格納する第３メモリ
   と、この第３メモリ内の上記３値［Ｒデータに基ついて
   、各走査ライン毎に同一値の画素総数全求めるヒストグ
   ラム演算手段とを具備し、このヒストグラム演算手段の
   演算結果が差分統計量測定すようにしたことを特徴とす
   る差分統計量測定装置。