JPS60221315A - 高い構造性を有する沈殿ケイ酸およびそれらの製造方法 - Google Patents

高い構造性を有する沈殿ケイ酸およびそれらの製造方法

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JPS60221315A JP59257761A JP25776184A JPS60221315A JP S60221315 A JPS60221315 A JP S60221315A JP 59257761 A JP59257761 A JP 59257761A JP 25776184 A JP25776184 A JP 25776184A JP S60221315 A JPS60221315 A JP S60221315A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ケイ酸の構造性(5truktur ) とは、その−
欠粒子の二次粒子ないし三次凝集体への凝集状態の程度
および範囲を表わすケイ酸の性質を意味する。ファーネ
スブラックの構造性の特性化に関する現在妥当する考察
によれば、沈殿ケイ酸建ついてのカボツ) (CABO
T )による[プラペンタ″−(Brabender 
)吸収値法」を用いることによって、いわゆるジブチル
フタレート吸収値(ml、/?またはチで表わされる)
と構造性との間には明確な相関関係が示される(ドイツ
特許第・1.767.332号明細書第2欄第45〜6
4行参照)。
従来技術として、その構造性に関して平均的な程度の構
造性を有する通常のケイ酸(ゴム用の補強充填物質)と
は異なる型のケイ酸が知られている。
この場合、乾燥工程の特殊な変法によってその構造性が
高められていると見される生成物が形成される沈殿ケイ
酸またはシリカゲルが重要である。これには、ケイ酸−
オルガノ−ヒドロゲルの超限界脱水(米国特許第2.2
45.767号明細書参照)により、またはケイ酸ヒド
ロゲルのジェット粉砕乾燥(ドイツ特許第 1、036.220号明細書参照)によって得られるエ
ーロゾルが属する(ウルマン編工業化学百科辞典(Ul
lmanns Engyklop’ale der t
eChnls−chen Ohsmle )第■版第1
5巻第725頁1949年発行参照)。更に、乾燥工程
前の中間ミセル性液体が有機溶剤またはそのような溶剤
と水との混合物からなるものであるようなケイ酸および
ケイ酸ゲルもまたこの群に加えるべきである(米国特許
第2.285.449号、ドイツ特許公告第1,008
,717号、およびドイツ特許第1、089.756芳
容明細書参照)。更に、加うるに噴霧乾燥されたケイ酸
類(オランダ詩吟公告第65.02791号、ドイツ特
許第2、447.613号令明細書参照)および最後に
剪断によって得られた沈殿ケイ酸類もまたこれに属する
(ドイツ特許出願F14059V工0/121゜ドイツ
特許公告第1.000.793号、ドイツ特許第1.7
67.53,2芳容明細書参照)。
下記の総括(第1表)には、平均的な構造性を有する1
通常の”沈殿ケイ酸に比較した従来技術による生成物に
関する比較データが示されている。この一覧表には更に
、本発明によるケイ酸のデータが加えられている。数値
の比較によシ、本発明によって驚くべきことには400
m2/1以上の表面積を500チ以上のDBP値と組合
せて有する高い構造性を有する沈殿ケイ酸およびケイ酸
ゲルを製造することに成功したことが立証される。
本発明は、アルカリ金属ケイ酸塩溶液を酸および/また
は酸として作用する物質とを反応させることによって、
500%以上の高いDBP値を同時に400 m2/ 
9以上の高い比表面積を有する沈殿ケイ酸を製造すると
いう課題から出発している。本発明のもう一つの目的は
、前記の物理的−化学的特性データを備えた沈殿ケイ酸
を、種々の目的の粒度分布型において製造することであ
る。
本発明の対象は、下記の物理的−化学的物質データによ
って特徴づけられる沈殿ケイ酸である: DBP値 % 320−360 従って、これらの本発明による沈殿ケイ酸の物理的−化
学的物質パラメーターは、高いDBP値と組合わされた
比較的高いBET−表面積によって、より高い構造性を
有する沈殿ケイ酸およびケイ酸ゲルならびにケイ酸エア
ロゲルのそれらと異なっている。それぞれ粒子分布曲線
に従って、これらの沈殿ケイ酸は、あらゆる種類の工作
材料のだめの黄重な、応用技術的に極めて有効な担体ケ
イ酸、極めて良好な透明度を有するポリプロピレン−お
よびポリエチレンフィルム用の能率のよいブロッキング
防1←剤、窩温机理されたケイ酸があまシ濃縮率を示さ
ないような一定の極性系中の濃縮ケイ酸、ラッカー用の
非常に有効なつや消し剤および有用な触媒担体ならびに
絶縁材料である。
本発明のもう一つの対象は、下記の物理的−化学的特性
データ: DBP値 % x2o−s6゜ を有する本発明による沈殿ケイ酸を製造すべく、pH値
を6〜7に一定に保ちつつ水からなる40℃〜42℃に
加温された仕込み物中に、全沈殿時間に亘って続く剪断
力の下で、水ガラス ゛溶液および硫酸を同時に供給し
、第13分目から第106分目まで90分間沈殿を中断
し、146分間の全沈殿時間の後にケイ酸の最終濃度t
46y/lK調整し、沈殿ケイ酸M燭滌を12〜17時
間熟成せしめ、フ・イルタープレスを用いて上記懸濁液
から沈殿ケイ酸を分離し、洗滌し、フィルターケーキを
、水および/または酸を用いて10〜16重量%の固形
分を有する懸濁液まで液状化し、噴霧乾燥し、次いでア
ルビーネー十字流ミル(ALP工IF!−Queret
rommMhle)で粉砕することを特徴とする沈殿ケ
イ酸の製造方法である。
このようにして得られた沈殿ケイ酸は、特許請求の範囲
第1項に記載された物理的−化学的特性データを示す。
本発明による沈殿ケイ酸を製造するだめの本発明による
方法の特別の利点−これらは本発明の新規な方法の経済
性にとって有利に影響を及はすものであるが一下記のと
おりである:〜高い比表面積を有する沈殿ケイ酸に比較
してフィルターケーキ中の16〜17重量%と旨うより
高い固形分は、この製造方法の乾燥費そして従ってエネ
ルギー消費を減少せしめる。
−高い比表面積を有する沈殿ケイ酸に比較して従来みら
れなかったような驚異的に低い洗滌時間は、洗滌水の必
要量を減少せしめ、そしてフィルタープレスの性能の著
しい向上を可能にする。
本発明によるケイ酸ならびにそれらを製造する方法を以
下の実施例において詳細に説明する。
例1(参考例) 沈殿容器として作用しそしてM工G−枠型攪拌装置およ
びエカ) (Ekato )−剪断タービンを備えた7
5m3の木製桶中に、40℃の温度の水60m3を予め
装入する。この仕込み物に市販の水ガラス(s+o2:
zaa重量%、Nano : 8−0重量%、モジュラ
ス−335)9.8m3/hを9.81Q3/hの速度
でそして濃硫酸(96チ)を0.98m” / hの速
度で同時に流入せしめる。その際、酸はタービンを経て
添加され、この夕〜ビンは沈殿の始ま9と共に運転を開
始される。この添加の間、沈殿仕込み物のpH値は、&
0に保たれる。、15分間の沈殿の後に−すなわち著し
い対照をなす粘度の上昇−水ガラスおよび酸の添加を9
0分間の間中断する。この中断期間の間、二カストター
ビンで更に剪断を行なう。
103分目から水ガラスの添加を上記の添加速度および
pH値を保ちつつ146分目まで続行する。その時、沈
殿懸濁液の固形物含有量は、46 ?/lである。温度
は、それぞれ外的温度条件に応じて42〜49℃の値に
調整されつる。
最終pH値は&0である。全部で水ガラス91m3およ
び硫酸0.91 m3が反応せしめられる。この懸濁液
を圧縮する前に中間容器内で15時間熟成させる。この
熟成期間に続いて、この懸濁液を4個のフィルタープレ
スによって濾過すムその際、充填時間は、5.5バール
の最終圧力において1時間である。僅か1.5時間の極
めて短かい洗滌時間の後の、流出したp液の伝導度は、
1050 pe であシ、4時間の洗滌時間の後の伝導
度は、280μs である。得られたフィルターケーキ
の固形分は、約1&5〜17重量%である。このフィル
ターケーキは、剪断力の影響下に水で液状化された後、
11重量−の固形分を示す。この液状化に続いて、ケイ
酸懸濁液を回転円板によって噴霧し、熱い燃焼ガスによ
って乾燥する。
粉砕されていないこの生成物の特性データは、第2表に
示されている。
例2(参考例) 例1に従って沈殿ケイ酸を調製する。その際、例1と異
なって熟成時間は、全部で16時間に延長され、これに
よって同じ構造性標準数値(Strukturmass
zahl ) においてBET−表面積は、低下する。
粉砕されていないこのケイ酸の特性データは、第2表に
示されている。
例3(参考例) 例1に従って沈殿ケイ酸の製造を行なう。相違点は、熟
成時間を13時間に減らし、同時に固形分を11重量%
から15重量%に高めたこと+:ある。
粉砕されていないこのケイ酸の特性データは、第2表に
示されている。
例4(参考例) 例1の諸条件を守る。奪だし、噴霧乾燥にかけられだ液
状化されたフィルターケーキの固形分は、12チに高め
られた。
粉砕されていないこのケイ酸の特性データは、第2表に
示されている。
例5(参考例゛) このケイ酸の製造は、例1に従って行なわれる。熟成時
間のみ15時間から17時間に変えられる。兜に、フィ
ルターケーキを少量の希硫酸および少量の水で液状化し
、得られた16重量%の固形分を有する懸濁液を噴霧乾
燥に力・ける。固形物に含まれた遊離の酸をアンモニア
ガスによって中和する。
粉砕されていないこのケイ酸の特性データ(ま、第2表
に示されている。
例6 例5による粉砕されていない噴霧乾燥されたケイ酸をU
P630型のアルビーネー十字流ミル(Abp工NTi
−QuerstrommHhl ) で粉砕する。その
物理的−化学的データが第2表に示されている本発明に
よる生成物が得られる。
例7 例1によって得られた噴霧乾燥された沈殿ケイ酸をUP
 630型のアルピーネ十字流ミルで粉砕する。このケ
イ酸のデータは、第2表に示されている。
例8 例3によって得られた粉砕されていない噴霧乾燥された
沈殿ケイ酸をUP630型のアルピーネ十字流ミルを用
いて粉砕する。このケイ酸の特性データは、第2表に示
されている3、イク″1 γ (ba ’A二イタリラ
この例は、本発明によるケイ酸が公知の表面積の大きな
ケイ酸に比較して、フィルタープレス上での改善された
濾過および洗滌速度の点において優れていることを示し
ている。
ドイツ特許公告第1,51ス900号明細書に従って(
第2欄第53〜68行および第3欄第1〜7行参照)、
670 m”/ Vの比表面積を有する沈殿ケイ酸を調
製する、 濾過工程のデータは、第5表に示されている。
そこにはこれらの濾過データが本発明による例6のケイ
酸の濾過データと比較されている。
これらは乾燥された沈殿ケイ酸について測定されたほぼ
同じ電導率を示す。
この比較例(寸、洗滌水およびフィルタープレス容量に
ついての驚異的に高い節約を示す。従って、本発明によ
る方法は、最も経済的な条件まで高い表面積を有する沈
殿ケイ酸の製造を可能にする。
BET−比表面積、DBP値およびかさ密度のような物
理的−化学的特性データは、DINによる方法に従って
測定される。
4チ水性分散液中の電導率は、ドイツ特許出願公開第4
628,975号明細書第16頁に従って測定される。
“アルビーネ(ALpINi )−ふるい残分“け、ふ
るい残分を測定するには、ケイ酸は、場合によっては存
在する通気節目を破壊するために500μmメツシュの
篩によって篩分けられる。
次いで、篩分けられた物質102を定められた空気流篩
にかけ、200mm水柱の減圧で篩分けする。篩分けは
、残渣が一定となったときに終了し、それは大抵流動性
の外観で見分けられる。
なお念のために、更に1分間篩分けを続ける。
一般に、篩分は工程は、5分間行なわれる。゛万一凝集
が起った場合には、篩分は工程を短時間中断し、凝集塊
を刷毛を用いて軽い加圧の下に破壊する。渣分けの後、
ふるい残分を空気流篩から慎重に叩いて除きそl−で回
収する。
D工N66161によるBET−表面積は、次のように
して測定される: BET法を使用するガス吸着による固体の比表面積の測
定法であシ、評価はBFiT法または修正BET法によ
って行なわれる。試料は、測定前に真空中で少くとも1
00℃において圧力および重量が一定になるまで脱ガス
化される。
簡易化法によれば、比表面積の測定は、あまシ正確さが
要求されない場合には、前処理ならびに測定時間の短縮
によって容易化される(1点法;連続的測定)。
試料の前処理:吸着の測定前に、試料表面に吸着された
不純物、特に水蒸気を有効に除去するために、試料を1
04ないし10”Paの減圧下で通常高温で前処理する
多くの無機物質(酸化物、炭酸塩、硫酸塩等)、例えば
触媒、顔料その他の工業製品においては、窒素吸着の測
定のためには、110ないし130℃の前処理温度が適
当であシ、110℃における乾燥棚において予め比較的
長く乾燥することによって減圧処理が短縮される。有機
化合物および極めて多孔性(高活性)の物質は、事情に
よシ50℃以下の温度を必要とする。
D工N55601によるDBP値は、次のようにして測
定される: D工N53601は、カーボンブラックのジブチルフタ
レート(DBP )吸収量の測定法である。
A法に従って測定するKは、乾燥したカーボンブラック
をプラスドグ2フまたはプラストコーダーに接続された
回転数毎分125回転の特殊捏和機に入れる。この特殊
捏和機に電動フラスコビューレットから一定の速度でD
BPを滴加する。最大回転モーメントの約70チに達し
たときに、電動フラスコビューレットのスイッチを切シ
、消費量の読みからDBP−吸収量を算出する。これは
、DBP値とも呼ばれる。ジプテルフタレー) (DB
P )は、密度1.045〜1.050t/mlのもの
が使用される。
DBP−値=d/1001Fで表わしたDBP−吸収量
り工N53f94によるかさ密度は、次のようにして測
定される: 測定は、2回行なう。2回の測定に十分な量(約500
m/)の試料を加熱棚内で105±2℃で乾燥し、乾燥
器内で冷却する。乾燥した物質をふるいにかけ、メスシ
リンダー内に中空部を生じないように充填する。物質2
00±10m1を添加した後、メスシリンダーを振って
試料をα5gとする。物質の表面がほぼ水平になるまで
シリンダを軽くたたき、栓を再び閉じる。メスシリンダ
ーをかさ容積計のメスシリンダー容器に入れ、カム軸を
約1.250回転せしめて突固める。突固めた試料のか
さ容積を測定する。
かさ容積は、次式によシ算出される: かさ密度は次式によυ算出される: 上式中、 IQ =空のメスシリンダーの1で表わした重量ml 
=メスシリンダーおよび物質の2で表わした重量V =
突固めた後の物質のばて表わした容積vt=物質のat
/100 fで表わしたかさ容積Pt=物質のt/dで
表わしたかさ密度2回の測定の平均値をとる。
石子←i←← 第3表 ドイツ特許公告筒1.517.900号による
表面積の大きなケイ酸および本発明によるケイ酸の濾過
および洗滌工程 代理人 江 崎 光 好 代理人 江 崎 先 史

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、下記の物理的−化学的特性データを有することを特
    徴とする沈殿ケイ酸: 2、下記の物理的−化学的特性データ:ふるい残分″>
     63 pm i[量チ <[11を有する沈殿ケイ酸
    を製造すべく、pH値を6〜7に一定に保ちつつ水から
    なる40℃〜42℃に加温された仕込み物中に、全沈殿
    時間に亘って続く剪断力の下に、水ガラス溶液および硫
    酸を同時に供給し、第15分目から −第105分目ま
    で90分間沈殿を中断せしめ、146分間の全沈殿時間
    の後にグイ酸の最終濃度を46 f/lに調整し、沈殿
    ケイ酸懸濁液を12〜17時間熟成せしめ、フィルター
    プレスを用いて上記懸濁液から沈殿ケイ酸を分離し、洗
    滌し、フィルターケーキを水および/または酸を用いて
    10〜16重量%の固形分を有する懸濁液源で液状化し
    、噴霧乾燥し、次いでアルピーネー十字流ミル(ALP
    工NB−Queretrommuhle )で粉砕する
    ことを特徴とする、前記沈殿ケイ酸の製造方法。
JP59257761A 1981-11-07 1984-12-07 高い構造性を有する沈殿ケイ酸およびそれらの製造方法 Granted JPS60221315A (ja)

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