JPS60195921A - アルミ電解コンデンサ - Google Patents

アルミ電解コンデンサ

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Publication number
JPS60195921A
JPS60195921A JP5258684A JP5258684A JPS60195921A JP S60195921 A JPS60195921 A JP S60195921A JP 5258684 A JP5258684 A JP 5258684A JP 5258684 A JP5258684 A JP 5258684A JP S60195921 A JPS60195921 A JP S60195921A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
foil
cathode
separator
aluminum electrolytic
anode
Prior art date
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Pending
Application number
JP5258684A
Other languages
English (en)
Inventor
米田 一
池原 園治郎
荻野 修邦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP5258684A priority Critical patent/JPS60195921A/ja
Publication of JPS60195921A publication Critical patent/JPS60195921A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Diaphragms For Electromechanical Transducers (AREA)
  • Separation By Low-Temperature Treatments (AREA)
  • Engine Equipment That Uses Special Cycles (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は各種電子機器に利用される電解コンデンサに関
するもので、さらに詳しくは電解コンデンサのセパレー
タに関するものである。
従来例の構成とその問題点 従来のこの種のアルミニウム箔を用いるアルミ電解コン
デンサは第1図〜第3図に示すように構成されている。
すなわち、高純度アルミニウム箔を電気化学的に粗面化
することによシ表面積を拡大し、さらにこの表面に陽極
酸化により誘電体酸化皮膜を形成させた陽極箔1に陽極
内部リード線2を接続して陽極体とし同様に粗面化した
陰極箔3に陰極内部リード4を接続して陰極体として、
これら陽極体と陰極体とをセパレータ6を介して巻回し
電解液を含浸してコンデンサ素子6とする。
このようにして構成したコンデンサ素子6を主として2
つの外装方法にて組立完成している。すなわち、第2図
に示すように、コンデンサ素子6の陽極内部リード線2
.陰極内部リード線4に外部陽極リード線7.外部陰極
リード線8を接続し、有底筒状金属ケース9に収納し、
開放端に弾性封口体1oを装着し、絞り加工およびカー
リング加工を施して完成品としている。他方、第3図に
示すものは、コンデンサ素子6の陽極内部リード線2、
陰極内部リード線4會封口端子板11に固着した外部端
子12.13に接続し、有底筒状金属ケース9に収納し
、開放端全カーリング加工により封口したものである。
このような従来のアルミ電解コンデンサにおいては、小
形化や特性向上、特にjanδ値の向上のために薄いセ
パレータ5が使用されてきた。また。
陽極箔1や陰極箔3に内部リード線2,4を接続する方
法としては、溶接やカシメ等の方法が実施されているが
、これら罠より溶接パリやカシメバリが生じ、セパレー
タ6を介して巻回しているにもかかわらず、陽極箔1と
陰極箔3が接触しショート状態になる不良が生じていた
発明の目的 本発明はこのような従来の欠点を除去するもので、薄い
セパレータを用いてもショート不良が生じないアルミ電
解コンデンサを提供することを目的とするものである。
発明の構成 この目的を達成するために本発明は、陽極箔および陰極
箔を、一定間隔で高密度化若しくは厚みを厚くしたセパ
レータと共に巻回し電解液を含浸してなるコンデンサ素
子を有底筒状金属ケースに収納し、開放端を封口体で封
止するものであり。
ζらに、前記のセパレータの高密度化若しくは厚みを厚
くした部位と電極引出部位とを一致させたものである。
この構成により、陽極箔および陰極箔にそれぞれ内部リ
ード線を接続した場合に、溶接パリやカシメバリが生じ
ても、セパレータを貫通して陽極箔と陰極箔が接触して
ショート状態になることは無くなる。
実施例の説明 以下、本発明の実施例について説明する。アルミ電解コ
ンデンサの構成の基本は、m1図〜第3図で示したもの
と実質的に同一であるため、ここでは省略する。すなわ
ち、ここでは本発明の特徴とするセパレータ6について
説明する。
第4図において、1は陽極内部リード線2を溶接あるい
は鮫めにより接続した陽極箔であり、6はこの陽極箔1
と陰極内部リード線4を同様に接続した陰極箔3間に介
在させるセパレータであり。
このセパレータ6は一定間隔で高密度化もしくは厚みを
厚くした部分14をもっており、この高密度化もしくは
厚みを厚くした部分14には、上記内部リード線2,4
の接続した部分と一致させて巻回しコンデンサ素子6と
する0そのコンデンサ素子6は第2図、第3図に示すよ
うに外装されてアルミ電解コンデンサとする。
以下、本発明の詳細な説明する。
従来品とシテ、定格値10V 4700μF(φ16X
25” )用に調整した陽極箔と陰極箔をセパレータと
共に巻回しコンデンサ素子を50,000個得た。一方
、本発明品として、同様に定格値10v4了oOpy用
に調整した陰極箔と陰極箔を。
これらの箔と内部リード線とのカシメ部位で高密度化し
たセパレータと共に巻回したコンデンサ素子を50,0
00個得た。これらのコンデンサ素子のショート検査を
行った結果を下表に示した。
ショート検査 ここでショート検査とは、前記コンデンサ素子に5v印
加し、1mA以上のもれ電流不良品をショート不良とし
たものである。
発明の効果 以上のように1本発明による一部高密度化セパレータを
用いるとショート不良が激減し、その工業的価値大なる
ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はコンデンサ素子を示す斜視図、第2図。 第3因はアルミ電解コンデンサの断面図、第4図は本発
明による一部高密度化セパレータを示す部分斜視図であ
る。 1・・・・・・陽極箔、2・・・・・・陽極内部リード
線、3・・・・・・陰極箔、4・・・・・・陰極内部リ
ード線、6・・・・・セパレータ、6・・・・・・コン
デンサ素子、7・・・・・・外部陽極リード線、8・・
・・・・外部陰極リード線、9・・・・・・有底筒状金
属ケース、10・・・・・・弾性封口体、11・・・・
・・封口端子板、12.13・・・・・・外部端子、1
4・・・・・・高密度化部。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 第31!l 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)陽極箔および陰極箔を一定間隔で高密、変化もじ
    くは厚みを厚くしたセパレータと共に巻回し電解液を含
    浸してなるコンデンサ素子を有底筒状金属ケース、に収
    納すると共に、開放端を封口体で封止したアルミ電解コ
    ンデンサ。
JP5258684A 1984-03-19 1984-03-19 アルミ電解コンデンサ Pending JPS60195921A (ja)

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JP5258684A JPS60195921A (ja) 1984-03-19 1984-03-19 アルミ電解コンデンサ

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JPS60195921A true JPS60195921A (ja) 1985-10-04

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ID=12918898

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JP (1) JPS60195921A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008261339A (ja) * 1996-06-18 2008-10-30 3M Co 装着マット及び汚染制御装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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