JPS60194534A - ボンデイング装置 - Google Patents
ボンデイング装置Info
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- JPS60194534A JPS60194534A JP59050615A JP5061584A JPS60194534A JP S60194534 A JPS60194534 A JP S60194534A JP 59050615 A JP59050615 A JP 59050615A JP 5061584 A JP5061584 A JP 5061584A JP S60194534 A JPS60194534 A JP S60194534A
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- JP
- Japan
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- horn
- bonding
- blow
- ultrasonic vibrator
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- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/78—Apparatus for connecting with wire connectors
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
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- H01L2224/45001—Core members of the connector
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- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45117—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/45124—Aluminium (Al) as principal constituent
-
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- H01L2224/7825—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/783—Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
- H01L2224/78301—Capillary
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01013—Aluminum [Al]
-
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- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01082—Lead [Pb]
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明はペレットの半導体素子及びフレームのリード
を超音波発振子(以下、USホーンと称す)を用いて例
えばAu線で結線(ボンディング)してなるボンディン
グ装置に関する。
を超音波発振子(以下、USホーンと称す)を用いて例
えばAu線で結線(ボンディング)してなるボンディン
グ装置に関する。
一般に、この種のボンディング装置はまずレール10に
よって搬送されてきたフレーム11を上及び下部ヒータ
ブロック12.13で温め、次に、そのポンディング位
置でボンディング駆動機構1−4を介して駆動されるU
Sホーン15によって、クランパ一部16及びキャビラ
ー17に設置されたAu線18でペレットの半導体素子
及びフレーム11のリードを選択的にポンディングする
ようになっている。
よって搬送されてきたフレーム11を上及び下部ヒータ
ブロック12.13で温め、次に、そのポンディング位
置でボンディング駆動機構1−4を介して駆動されるU
Sホーン15によって、クランパ一部16及びキャビラ
ー17に設置されたAu線18でペレットの半導体素子
及びフレーム11のリードを選択的にポンディングする
ようになっている。
ところが、上記ポンディソゲ装置はフレーム11を上及
び下部ヒータブロック12.13によって温めながらU
Sホーン15でポンディングするように構成されること
で、その駆動にともなって上及び下部ヒータブロック1
2.13の熱がUSホーソ15に伝導される。そのため
。
び下部ヒータブロック12.13によって温めながらU
Sホーン15でポンディングするように構成されること
で、その駆動にともなって上及び下部ヒータブロック1
2.13の熱がUSホーソ15に伝導される。そのため
。
USホーン15が熱影響から歪みが生じ、ボンディング
位置をずらす如く精度が低下され、その製品及び信頼性
を低下させるとい゛う問題がある。また、これによれば
、USホーン15が熱影響から劣化して、その寿命を低
下させるという問題も有している。
位置をずらす如く精度が低下され、その製品及び信頼性
を低下させるとい゛う問題がある。また、これによれば
、USホーン15が熱影響から劣化して、その寿命を低
下させるという問題も有している。
この発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、製品の
歩留及び信頼性が向上するようにボンディング精度を向
上化し得、かつ超音波発振子の寿命を向上化するように
したボンディング装置を提供することを目的とする。
歩留及び信頼性が向上するようにボンディング精度を向
上化し得、かつ超音波発振子の寿命を向上化するように
したボンディング装置を提供することを目的とする。
すなわち、この発明はペレットの半導体素子及びフレー
ムのリードをボンディング線で結線してなる超音波発振
子を有したボンディング装置において、前記超音波発振
子に対応して該超音波発振子の温度制御を行う冷却手段
を備えたことを特徴とする。
ムのリードをボンディング線で結線してなる超音波発振
子を有したボンディング装置において、前記超音波発振
子に対応して該超音波発振子の温度制御を行う冷却手段
を備えたことを特徴とする。
以下、この発明の実施例について図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第2図はこの発明の一実施例に係るボンディング装置を
示すもので1図中第1図と同一部分については同一符号
を付して、その説明を省略する。
示すもので1図中第1図と同一部分については同一符号
を付して、その説明を省略する。
すなわち、ボンディング駆動機構ノー4によって所定の
状態に駆動されてボンディング動作を行うUSホーン1
5はその基瑞が取付プロ゛ツク19に支持されており、
その両側部にはブローパイプ20及び遮断パイプ21が
段違い状に挟装する如く(第3図(b)参照)並設され
る。これらブロー及び遮断パイプ20.21はそれぞれ
図示しない供給源から例えばN、ガス等が供給されるも
ので、その各一方端が第3図に示すように取付板22.
23を介して上記取付ブロック19に支持されている。
状態に駆動されてボンディング動作を行うUSホーン1
5はその基瑞が取付プロ゛ツク19に支持されており、
その両側部にはブローパイプ20及び遮断パイプ21が
段違い状に挟装する如く(第3図(b)参照)並設され
る。これらブロー及び遮断パイプ20.21はそれぞれ
図示しない供給源から例えばN、ガス等が供給されるも
ので、その各一方端が第3図に示すように取付板22.
23を介して上記取付ブロック19に支持されている。
そして、このうち、一方のブローパイプ20の他方端部
にはUSホーン15に対応して複数の吹出ノズル部24
が所定の間隔に形成され、他方の遮断パイプ2ノの他方
端部にはUSホーン15と上及び下部・ニータブロック
12.13の中間部に対応して複J、Tの吹出ノズル部
25が所定の間隔に形成される。
にはUSホーン15に対応して複数の吹出ノズル部24
が所定の間隔に形成され、他方の遮断パイプ2ノの他方
端部にはUSホーン15と上及び下部・ニータブロック
12.13の中間部に対応して複J、Tの吹出ノズル部
25が所定の間隔に形成される。
すなわち、上記ボンディング装置はそのボンディング駆
動機構1−4が駆動されてUSホーン15によってボン
ディングが行なわれると、そのブロー及び遮断パイプ2
0.21に例えばN。
動機構1−4が駆動されてUSホーン15によってボン
ディングが行なわれると、そのブロー及び遮断パイプ2
0.21に例えばN。
ガスが供給される。すると、これらブロー及び遮IMi
ハ4 フ、2 o 、 27の各吹出ノズル部24.
25からはUSホーン15及び該USホーン15と上及
び下部ヒータブロック12.13と(D中間部ttc
対し N 2 ガスが噴射されて、USホーン15を直
接的に冷却すると共に、上及び下部ヒータブロツ’/
J 2 、 I Jからの熱伝達を遮断する。この結果
、上記U’8ホーン15はその温度が所定の状態に保た
れながら上記ボンディング駆動機構14によって駆動さ
れて、クランパ一部16及びキャピラリー17に設置さ
れたAu線18でペレット26の半導体素子(図示せず
)とフレーム1ノのリードIL1 をボンディングする
。
ハ4 フ、2 o 、 27の各吹出ノズル部24.
25からはUSホーン15及び該USホーン15と上及
び下部ヒータブロック12.13と(D中間部ttc
対し N 2 ガスが噴射されて、USホーン15を直
接的に冷却すると共に、上及び下部ヒータブロツ’/
J 2 、 I Jからの熱伝達を遮断する。この結果
、上記U’8ホーン15はその温度が所定の状態に保た
れながら上記ボンディング駆動機構14によって駆動さ
れて、クランパ一部16及びキャピラリー17に設置さ
れたAu線18でペレット26の半導体素子(図示せず
)とフレーム1ノのリードIL1 をボンディングする
。
このように、上記ボンディング装置ではUSホーン15
に対応してブロー及び遮断パイプ20.2ノを設け、上
及び下部ヒータブロック12.13からの熱を直接的に
冷却すると共に。
に対応してブロー及び遮断パイプ20.2ノを設け、上
及び下部ヒータブロック12.13からの熱を直接的に
冷却すると共に。
その熱伝導を遮断するように構成した。これによれば、
上記USホーン16の歪みを確実に防止し得ることで、
そのボンディング精度の向上化を促進し得、製品の歩留
及び信頼性の向上に寄与できる。
上記USホーン16の歪みを確実に防止し得ることで、
そのボンディング精度の向上化を促進し得、製品の歩留
及び信頼性の向上に寄与できる。
第4図はこの発明の他の実施例を示すもので、USホー
ン15を包囲するように冷却用の箱体27を設け、この
箱体27にN2ガス等を供給して冷却を行なうように構
成したもので、略同様の効果を期待できる。
ン15を包囲するように冷却用の箱体27を設け、この
箱体27にN2ガス等を供給して冷却を行なうように構
成したもので、略同様の効果を期待できる。
なお、この発明は上記各実施例に限ることなく、例えば
USホーン15のキャピラリー17近傍に対し、直接的
にN2ガス等を噴射して冷却するように構成しても略同
様の効果を期待できる。よってこの発明の要旨を逸脱し
ない範囲で種々の変形を実施し得ることは云う迄もない
ことである。
USホーン15のキャピラリー17近傍に対し、直接的
にN2ガス等を噴射して冷却するように構成しても略同
様の効果を期待できる。よってこの発明の要旨を逸脱し
ない範囲で種々の変形を実施し得ることは云う迄もない
ことである。
以上詳述したように、この発明によれば、製品の歩留及
び信頼性が向上するようにボンディン16グ精度を向上
化し得、か超音波発振子の寿命を向上化するようにした
ボンディング装置を提供できる。
び信頼性が向上するようにボンディン16グ精度を向上
化し得、か超音波発振子の寿命を向上化するようにした
ボンディング装置を提供できる。
第1図は従来のボンディング装置を示す構成図、第2図
はこの発明の一実施例に係るボンディング装置!′を示
す構成図、第3図(al 、 (blはそれぞれ第2図
の要部を示す斜視図及び正面図、第4図はこの発明の他
の実施例を示す正面図である。 10・・・レール、11・・・フレーム、12・・・土
部ヒータブロック、13・・・下部ヒータブロック、1
4・・・ボンディング駆動機構、15・・・USホーン
、16・・・クランパ一部、17・・・キヤピラリー。 18・・Au線、19・・・取付ブロック、20・・・
ブ 1゜ローパイプ、2〕・・・遮断パイプ、22.2
3・・・取付板+24.25・・・吹出ノズル部、26
・・・ペレット、27・・・箱体。 出1翰人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
はこの発明の一実施例に係るボンディング装置!′を示
す構成図、第3図(al 、 (blはそれぞれ第2図
の要部を示す斜視図及び正面図、第4図はこの発明の他
の実施例を示す正面図である。 10・・・レール、11・・・フレーム、12・・・土
部ヒータブロック、13・・・下部ヒータブロック、1
4・・・ボンディング駆動機構、15・・・USホーン
、16・・・クランパ一部、17・・・キヤピラリー。 18・・Au線、19・・・取付ブロック、20・・・
ブ 1゜ローパイプ、2〕・・・遮断パイプ、22.2
3・・・取付板+24.25・・・吹出ノズル部、26
・・・ペレット、27・・・箱体。 出1翰人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
Claims (1)
- ペレットの半導体素子及びフレームのリードをポンディ
ング線で結線してなる超音波発振子ヲ有シたボンディン
グ装置において、前記超音波発振子に対応して該超音波
発振子の温度制御を行う冷却手段を備えたことを特徴と
するボンディング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59050615A JPS60194534A (ja) | 1984-03-16 | 1984-03-16 | ボンデイング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59050615A JPS60194534A (ja) | 1984-03-16 | 1984-03-16 | ボンデイング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60194534A true JPS60194534A (ja) | 1985-10-03 |
Family
ID=12863875
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59050615A Pending JPS60194534A (ja) | 1984-03-16 | 1984-03-16 | ボンデイング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60194534A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5116783A (en) * | 1989-01-13 | 1992-05-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method of producing semiconductor device |
US5229646A (en) * | 1989-01-13 | 1993-07-20 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device with a copper wires ball bonded to aluminum electrodes |
-
1984
- 1984-03-16 JP JP59050615A patent/JPS60194534A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5116783A (en) * | 1989-01-13 | 1992-05-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method of producing semiconductor device |
US5229646A (en) * | 1989-01-13 | 1993-07-20 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device with a copper wires ball bonded to aluminum electrodes |
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