JPS60181855A - メモリ装置の機能監視装置 - Google Patents

メモリ装置の機能監視装置

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JPS60181855A
JPS60181855A JP60019370A JP1937085A JPS60181855A JP S60181855 A JPS60181855 A JP S60181855A JP 60019370 A JP60019370 A JP 60019370A JP 1937085 A JP1937085 A JP 1937085A JP S60181855 A JPS60181855 A JP S60181855A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
sub
parity
data
memory device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60019370A
Other languages
English (en)
Inventor
ハンス・ヘンドリク・フエルヘウル
マルチヌス・ペトラス・ポウルス・デ・ウイト
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of JPS60181855A publication Critical patent/JPS60181855A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1008Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
    • G06F11/1012Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices using codes or arrangements adapted for a specific type of error
    • G06F11/1016Error in accessing a memory location, i.e. addressing error
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1008Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
    • G06F11/1012Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices using codes or arrangements adapted for a specific type of error
    • G06F11/1032Simple parity

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、それぞれmピノ) <mλ2)を有し、パリ
ティビットを含むデータワードのメモリ装置のi能監視
装置であって、データワードをn(nλ2)の′す°ブ
デークワードに分割する分割装置を有し、またメモリ装
置は、n個の・す゛ブメモリ装置を具え、これらの各ザ
ブメモリ装置はそのおのおの内にザブデータlフードを
蓄積するために、前記分割装置にそれぞれ結合されてい
るメモリ装置の機能監視装置に関するものである。
従来一般にデータワードには、1個または複数個のパリ
ティピノ1−を設置J、データワードにプロセス工程(
読出し、書込み、蓄積等)を加えた後チェックを可能と
している。プロセス工程が正しく行われるか否かによっ
て、データワード内にエラー(誤り)が導入されること
となる。この部分をチェックする装置は米国特許第3,
972,033号に開示され°ζいる。以下に記載する
ところまたはこれに類似のケースでは、この既知のチェ
ック方法はいわゆるUフールプルーフJでないごとが判
明した。レジスタにワードを導入する都度、導入ワード
のパリティをチェックする場合を考えて見ることとする
。書込み動作を中断する場合には、レジスタ内に残って
いる各データワードのパリティを再度確認し、このパリ
ティが正しい場合には、エラーが検出されずに残ってい
ることとなる。例えば、アドレスを行い、次にアドレス
されたメモリ位置を読出ず場合にも、同じ様な事態が生
ずる。
アドレスが正しくないと、当該瞬時には当該位置に存し
てはならないデータワードのパリティがチェックされ、
このパリティが正しい場合にはそのワードはパリティチ
ェックでは検知されずに通過してしまうこととなる。
本発明の目的は、書込み、蓄積及びアドレスの機能を簡
単な方法でチェックしうるようにしたメモリ装置の機能
監視装置を得るにある。
本発明による上述の装置は、ザブメモリ装置に接続され
、1つのデータワードを形成するn個の関連サブデータ
ワードのパリティをチェックするパリティチェック装置
を具えることを特徴とする。
・リーブメモリ装置は、例えば物理的に別個の回路で構
成されるので、これらが同じ瞬時に同じエラーを生ずる
危険性は極めて小であり、無視できる程度である。従っ
てこれら回路の1つの書込め、記憶また4;Iニア F
レス機能内のエラーは9!i、んど例外なく検出される
各′す°ブデータワードがm / nビットを有するよ
うにし、またザブメモリ装置の各メモリ位置も同じ< 
m / nビットを収容し得るようにすると有利である
分割装置には、1nビット位置を有するレジスタを設り
、レジスタには対応のm / nビットのザブデータワ
ー1°゛に対しn(群の)の出力を設&jるとさらに有
利である。
(実施例) 以下図面により本発明を説明する。
第1図の分割装置i!LRはデータワードD−を受信す
る入ノ月Nを有する。この分割装置Rは、より詳細には
、データワーl−のビット数、例えばm(mλ2)と同
数のピント位置を有するレジスタによって構成される。
分割装置Rはデータワード四をn個のザブデータワード
SDWに分割する。第1図のさらに詳細に関しては、m
ピッ1〜のデータワーIXがそれぞれm / 3ビット
の3個のザブデータワード、すなわち5l)L、51)
l’12.5IJHxに分割されるものとしている。デ
ータワード1川はパリティヒツトI”+(を含んでおり
、第1図の例では最終のピノt・位置を占める。このパ
リティビットを用い(rr+−1)のデータピッ1〜の
パリティが正しいか否かをチェックする。すなわちmビ
・7トのデータワードが奇数個または偶数個のl゛また
は“0゛を有しているかをチェックする。
3個(一般にn)のザブデータワードはそれぞれ対応の
出力0+、Oz、03より書込めパルスWP + 、l
nP z 。
WF2により定められる瞬時にザブレジスタSR,。
SR2,SR3に転送される。ザブレジスタ5Rt(i
・1.2.3)のそれぞれは、少くともm/n(この場
合m/3)のビット位置を有している。ザブレジスタS
R,は、例えば物理的に独立しており、それぞれ別個に
なっている回路によって形成される。またこれらは、互
いに独立した書込みパルスによって駆動される。サブレ
ジスタSR,の出力は、それ自体は従来より既知のパリ
ティチェック回路PCに接続し、このパリティチェック
回路はm−1データビツト(Sl+、よりm / n 
、 SRzよりm/n’。
Sl?、より(m/n) 1)によって生ずるパリティ
が伝送されたパリティ (SR3の最終ビン日に対応す
るか否かをチェックする。パリティチェック回路pcの
出力OUTは信号を送出し、この信号はパリティが正し
いか正しくないかを表示する。
サブレジスタSR+の1つの記録または書込み機能が故
障すると、上述の本発明回路ではパリティエラーとなっ
て現われる。これはパリティによって記録及び書込め機
能が監視されたことを意味する。
一般に第1図示の回路は、それぞれが1つのメモリ位置
を有するザブデータワードによって構成するを要〜lず
、第2図に示すようにn個のメモリ位置を有するザブメ
モリ装置旧を設けて構成できる。この場合サブデータワ
ードSDW、ば、アドレスデコーダMA、により定めら
れるメモリ位置内に導入される。アドレスデコーダ門^
8は、供給されたアドレス情報計、によってこの位置を
決定する。
サブメモリ装置M8の内の1個の記録、書込みまたはア
ドレス機能が故障すると、上述の本発明装においてパリ
ティエラーとなって現われる。即ちこれによりパリティ
を用いて記録、再込み、アドレス機能を監視し得ること
となる。
上述の実施例はデータワードをそれぞれ等しいビット数
、即ちm / nビットを有するザブデータワードにそ
れぞれ分割するものと仮定した。しかしこれは絶対的に
必要とされるものではない。本発明は他の任意の分割モ
ードを使用する実施例にも好適である。各ザブメモリ装
;σ内のメモリ位置あたりに利用できるビット数は、選
択した分割モードに適合するものとすること当然である
以上の記載において各サブレジスタまたはサブメモリ装
置は別個に発生ずる書込みパルスにより駆動されるもの
と仮定した。しかしながら、1個の書込みパルスのみを
使用することも可能であり、この場合はこの書込みパル
スを別個に監視する。
この書込みパルスを倍数化する時(一般に複数とする)
上述の監視は必要ではない。複数個のザブレジスタまた
は複数個のザブメモリへの書込みパルスの発生は、常に
少くとも2個の書込みパルスを使用する場合何等支障な
く組合せることができる。それぞれ4ビツトよりなる3
個のザブデータワードを形成すると有利である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明装置の1例回路のブロック図、第2図
は、第1図の回路に用いるザブメモリ装置の回路図であ
る。 R・・・分割装置 SR・・・す゛ブレジスク 11C・・・パリティチェック回路 H^・・・アドレスデコーダ FIG、2

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 それぞれ汀1ピッ1−(mλ2)を有し、パリテ
    ィビ、1・を含むデータワードのメモリ装置の機能監視
    装置であって、データワード”をn(n>2)のナシデ
    ータワー1′に分割する分割装置を有し、またメモリ装
    置は、n個のサブメモリ装置を具え、これらの各サブメ
    モリ装置Ltそのおのおの内にサブデータワードを蓄積
    するために、前記分割装置にそれぞれ結合されているメ
    モリ装置の機能監視装置におい−(、 本監視装置は、勺ブメモリ装置に接続され、1つのデー
    タワードを形成するn個の関連サブデータワードのパリ
    ティをチェックするパリティチェック装置を具えること
    を特徴とするメモリ装置の機能監視装置。 2、 各サブデータワードがm / nピノ1−を有し
    、す′ツメモリ装置の各メモリ装置も同じ<m/nビッ
    トを収容し得る如くした特許請求の範囲第1項記載のメ
    モリ装置の機能監視装置。 3、 分割装置は、mビット位置を有するレジスタを有
    し、該レジスタはそれぞれ対応のm/nビソトサブデー
    デーートに対しn個の出力を有することを特徴とする特
    許請求の範囲第2項記載のメモリ装置の機能監視装置。 4、m=12、n=3とする特許請求の範囲第1項また
    は第2項記載のメモリ装置の機能監視装置。
JP60019370A 1984-02-08 1985-02-05 メモリ装置の機能監視装置 Pending JPS60181855A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8400392 1984-02-08
NL8400392A NL8400392A (nl) 1984-02-08 1984-02-08 Inrichting voor de functiebewaking van een geheugeninrichting.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60181855A true JPS60181855A (ja) 1985-09-17

Family

ID=19843452

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60019370A Pending JPS60181855A (ja) 1984-02-08 1985-02-05 メモリ装置の機能監視装置

Country Status (4)

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EP (1) EP0155018A1 (ja)
JP (1) JPS60181855A (ja)
CA (1) CA1223077A (ja)
NL (1) NL8400392A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008046979A (ja) * 2006-08-18 2008-02-28 Fujitsu Ltd メモリコントローラおよびメモリ制御方法

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5325375A (en) * 1991-06-28 1994-06-28 Sun Microsystems, Inc. Method and apparatus for non-atomic level parity protection for storing data in a random access memory

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IT1002271B (it) * 1973-12-27 1976-05-20 Honeywell Inf Systems Perfezionamento ai dispositivi di controllo di parita nelle memorie a semiconduttori
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JP2008046979A (ja) * 2006-08-18 2008-02-28 Fujitsu Ltd メモリコントローラおよびメモリ制御方法

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Publication number Publication date
NL8400392A (nl) 1985-09-02
CA1223077A (en) 1987-06-16
EP0155018A1 (en) 1985-09-18

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