JPS60163149A - メモリ検査方式 - Google Patents

メモリ検査方式

Info

Publication number
JPS60163149A
JPS60163149A JP59017702A JP1770284A JPS60163149A JP S60163149 A JPS60163149 A JP S60163149A JP 59017702 A JP59017702 A JP 59017702A JP 1770284 A JP1770284 A JP 1770284A JP S60163149 A JPS60163149 A JP S60163149A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
memory
bus
signal
memory device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59017702A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Kanda
裕司 神田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP59017702A priority Critical patent/JPS60163149A/ja
Publication of JPS60163149A publication Critical patent/JPS60163149A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、マイクロプロセッサを使用した小型の情報処
理装置において、電源投入後毎回行なう、メモリ装置の
検査方式に関する。
(2)従来技術の説明 従来、この種の簡易なメモリ装置の検査は、マイクロプ
ロセッサにより実行されるプログラムとして実施されて
い1ヒ。
プログラムとして実施する場合、1つのアドレスを検3
tする1こめには、本来必要な検光対象のメモリ装置に
対する丼き込み、読み出し動作に、加えて、命令なメモ
リ装置から読み出すためσ入続み出し動作が必要になり
、メモリ装置の読み出し回数が多(′屯τg4投入後、
情報処理装置が、メモリ検査を終了し、動作可能になる
までの時間がかかるという欠点があった。このことは、
メモリ装置の容証が大きくなるほど重大な欠点となる。
(3)発明の目的 本発明の目的は、このような欠点を除去し、電源投入後
に行なうメモリ検査を高速に行なうメモリ検査方式を提
供することにある。
(4)発明の構成 本発明によれば、メモリ装置に対してアドレス情報及び
制御信号を与え、メモリ装置の読み出し、誉ぎ込みを行
なうことの可能な直接メモリ・データ転送装置と、デー
タ発生装置とデータ比較装置とを備え、直接メモリ・デ
ータ転送装置によシ、データ発生装置で発生させたデー
タを1き込んだ後、直接メモリデータ転送装置により、
書き込まれたデータをメモリ装置から読み出し、データ
発生装置で発生させたデータと、データ比較装部、によ
シ比較し、メモリ装置の動作を検査するメモリ検貴方式
をイする。
(5)@明の実施r+j 以下、図面を好熱して、本発明の一実施例を説明する。
第1図(ユメモリ伐査を実施する情’Fif処理装置の
要部プロンク図であって、1(1マイクロプロセノザ、
2はメモリ装置、3はメモリ装置の読−家出し、書き込
みを可能とした直接メモリデータ転送装置、41−tデ
ータ発生装置、5はデータ比較装置である。
マイクロプロセッサ1とメモリ装置2りす、アドレス情
報を送るだめのアドレスバス6、データな転送するため
のデータバス7、メモリ装に2の動作をipHIllす
るtlilJ i卸信号8、によシ接続ごれている。
直接メモリ・データ転送装置3は、メモリ装置2も読み
出し、書き込みを行なうため、アドレス6、制@伯号8
に接続され、アドレス6、データバス7及び制a1+g
号8を使用することをマイクロプロセッサ1に要求rる
ためのバス使用要求信号9及び、マイクロプロセッサ1
が使用を許可するためのバス使用許可信号10によりマ
イクロプロセッサJに接続されている。
バス使用許U1′1百号10は、メ七り検査を行なうこ
とを知らせるために、データ発生装置4、データ比較装
置5にも接続されている。
データ返生装fff(41−t、、発生したデータをメ
モリ装置2に送るためデータバス7及び制御□□)信号
8と接続され、さらに、データ比較装置5に対しても発
生したデータを送るため、比較入力信号12により接続
されている。
データ比較装@5f−1、メモリ装#2から読み出され
たデータと、データ発生装置4で発生されたデータとを
比較するため、データバス7及び制御信号8に接続され
、データの不一致を知らせるため、データネ一致信号1
1でマイクロプロセッサ1と接続される。また、このデ
ータネ一致信号11は、動作を中断させるために、直接
メモリ・データ転送装置3にも接続される。これを動作
するには、直接メモリ・データ転送装置3が、マイクロ
プロセッサ1に対し、バス使用要求信号9を出力し、ア
ドレスバス6、データバス7及び制御信号8の使用を要
求する。マイクロプロセッサ1は、その時に行なわれて
いたデータ転送を終了しり後、アドレスバス6、データ
バス7及び制御信号8を直接メモリデータ転送装置3が
使用可能な状態にし、バス使用許可信号10を出力し、
動作を中断する。バス使用許可信号10をうけとった直
接メモリデータ転送装置3は、データ発生装置4にデー
タを発生させて、アドレス情報及び書き込みのだめの制
御信号を出力し、メモリ装置2に書き込む。その後間−
のアドレス情報及び読み出しのための制(財)信号を出
力し、書き込まれたデータを読み出すと同時にデータ比
較装置5で、発生されたデータと比較をする。
比較の結果データが一致している場合、アドレス情報を
更新し、同じ動作をメモリ装置2の全アドレスについて
、くシ返えす。すべてのアドレスにつき動作が終了した
彼、パス使用要求信号9を切り、マイクロプロセッサ1
の動作を再開させる。
この場合には、データネ一致信号11は出力されておら
ず、メモリ装置2が正常動作していることがわかる。
比較の結果データが不一致であった場合、データ比較装
置5は、データネ一致信号11を出力する。直接メモリ
データ転送装置3は、この信号が出力された場合、その
動作を中断し、パス使用要求信号9を切9マイクロプロ
セッサ1の動作を再開させる。この場合には、データネ
一致信号11は出力されており、メモリ装置2が誤動作
したことがわかシ、メモリ装ff1i2の検査が可能で
ある。
このように、本発明によれば、メモリ装置2の一つのア
ドレスに対して、1回の書き込み及び読み出し動作によ
シ検査することが可能になシ、マイクロプロセッサ1の
プログラムにより、メモリ装置2の検査をする場合と比
較し、読み出し動作の回数を大巾に減らすことができ、
高速にメモリ装置の検査を実施することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例を実行する情報処理装置の
要部ブロック図である。 1・・・・・・マイクロプロセッサ、2・・・・・・メ
モリ装置、2・・・・・・メモリ装置、3・・・・・・
直接メモリデータ転送装置、4・・・・・・データ発生
装置、5・・・・・・データ比較装fit、6・・・・
・・アドレス−バス、7・・・・・・データ・バス、8
・・・・・・制御信号、9・・・・・・バス使用要求信
号、10・・・・・・バス使用許可信号、11■・・・
データネ一致信号、12・・・・・・比較入力信号。 2 1 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. メモリ装置と、該メモリ装置に対して、アドレス情報及
    び制@1信号を与え、前記メモリ装置の読み出し、書き
    込みを行なうことを可能としたメモリ・データ転送装置
    と、データ発生装置と、データ比較装置とを(iMえ、
    前記メモリ・データ転送装置によりデータ発生装置で発
    生させられたデータと、前記メモリ゛・データ転送装置
    により前記メモリ装置から絖み出されたデータとを前記
    データ比較装置により比較することを特徴とするメモリ
    検査方式。
JP59017702A 1984-02-03 1984-02-03 メモリ検査方式 Pending JPS60163149A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59017702A JPS60163149A (ja) 1984-02-03 1984-02-03 メモリ検査方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59017702A JPS60163149A (ja) 1984-02-03 1984-02-03 メモリ検査方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60163149A true JPS60163149A (ja) 1985-08-26

Family

ID=11951112

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59017702A Pending JPS60163149A (ja) 1984-02-03 1984-02-03 メモリ検査方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60163149A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7469273B2 (en) Multi-processor system verification circuitry
US10061671B2 (en) Apparatus and methods for logic analysis to detect trigger conditions relating to data handling transactions in systems using transaction identifiers
JPS6222199B2 (ja)
JPS608953A (ja) プログラム・アナライザ
JPH07287054A (ja) 集積回路制御
JPS60163149A (ja) メモリ検査方式
US3618028A (en) Local storage facility
JP2000099370A (ja) 信号処理装置
JP2002132743A (ja) メモリアクセス監視装置、メモリアクセス監視方法およびメモリアクセス監視用プログラムを記録した記録媒体
JPH0581087A (ja) プロセサのモニタ方式
JPS59183443A (ja) デバツグ装置
JPH04220729A (ja) 情報処理装置
JPS59191656A (ja) メモリicシミュレ−タ
JPS638949A (ja) プログラムの検査装置
JPS60147849A (ja) マイクロプログラムのデバツグを行う方式
JPS62137626A (ja) トレ−ス装置
JPS61290543A (ja) エラ−発生装置
JPS60228973A (ja) デジタルパタ−ンテスタ
JPH0474254A (ja) マイクロプロセッサ診断方式
JPS61131128A (ja) 自己診断方式
JPH0593764A (ja) 論理回路の検査装置
JPH03142536A (ja) 記憶装置の診断方式
JPS62134900A (ja) テスト回路
JPS58129556A (ja) 中央処理装置テスト方式
JPS6019271A (ja) デ−タ・チヤネル装置