JPS62134900A - テスト回路 - Google Patents

テスト回路

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Publication number
JPS62134900A
JPS62134900A JP60274522A JP27452285A JPS62134900A JP S62134900 A JPS62134900 A JP S62134900A JP 60274522 A JP60274522 A JP 60274522A JP 27452285 A JP27452285 A JP 27452285A JP S62134900 A JPS62134900 A JP S62134900A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
proms
reference program
programmable read
program
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60274522A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadaaki Shiiba
椎葉 忠明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60274522A priority Critical patent/JPS62134900A/ja
Publication of JPS62134900A publication Critical patent/JPS62134900A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はテスI−回路に関し、特に並列書込型のプログ
ラム可能読出専用メモリに書込まれたプログラム確認に
用いるテスト回路に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の並列書込型のプログラム可能読出専用メ
モリ(Programmab ] eRead−onl
y  memory、以下、PROMと称す〉では、書
込みは並列に複数個同時に行い、その後書込まれたプロ
グラムの確認を行う従来のテスト回路は、各−個ずつ試
験を行うようになっていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
」一連した従来のテスト回路では、プログラム書込は並
列に複数個同時に行えるにもかかわらず、その後の書込
まれたプログラムの確認は書込まれた複数個のPROM
から1個を選択し、その内容を読出し基準のプログラム
の内容と比較して一致することで正しくプログラムされ
たことを確認した後に次のP R,OMの確認を行うと
いう方式になっていて、最近のPROMの大容量化に伴
い書込まれたすべてのPROMのプログラムを確認する
には長時間を必要とするという問題点がある。
本発明の目的は、書込まれたプログラムの確認を短時間
で実施できるナス1〜回路を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明のテスト回路は、基準プログラムを発生ずる基準
プログラム発生回路と、並列書込型の複数個のプログラ
ム可能読出専用メモリと、該プログラム可能読出専用メ
モリに前記基準プログラムを書込後前記基準プログラム
発生回路と前記プログラム可能読出専用メモリとを接続
するデータバスを遮断する前記プログラム可能読出専用
メモリと同数のゲーI〜と、前記基準プログラムと前記
プログラム可能読出専用メモリから読出されたデータと
を比較し一致しないとき不一致信号を出力する前記プロ
グラム可能読出専用メモリと同数の比較器と、前記不一
致信壮に、Lリセ・ソ1〜される前記プログラム可能読
出I、l、を用メモリと同数のフリ・ツブ′フロップと
を含んでfM成される、 〔実施例〕 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例のブI″7ツタ図である。
第1図に示ずテスト回路は、l、(準プログラム発生回
路1と、並列書込をのl” 11− OM 2と、1.
(へ−!プログラム発生回路1がらの基準プログラノ\
が7%Eされるメインデータバス7とP r? (’)
 M 2との間a)接続を電気的に分離するゲート3と
、P ROM 2と基準プログラム発生回路1とをアク
セスするためのアドレスバス8と、基準プログラムとl
) ROM2から読出されたデータとを比較し、両者が
一致しないとき不一致信号13を出力する比較器4と、
不一致信号13でリセッ1へされるフリップフロップ5
とを含んて構成される。なお、第1図に点線で囲って示
す電子回路は試験されるP R,OMの数だけ存在する
ものとする。
PROM2へ基準プログラム書込み後のプログラム確認
時において、PROM2とメインデータバス7との罰の
データバス9はコントロール信号11によってゲート3
で電気的に分離される。
従って、アドレスバス8からあるアドレスデータを受領
したPI(0M2はデータバス9を介して比較器4にそ
のアドレスデータに対応する1ワードのデータを出力す
る。この時、同時に基準プロゲラl、発生回路]も同一
のアドレスデータに基づいて1ワードのデータを比較器
4に供給する。
比較器4はPROM2と基準プログラム発生回路1から
のデータをス1−ローブ信号12により比較し、もし不
一致ならば不一致信号13をフリップフロップ5に供給
し、フリップフロップ5がセットされる。
この一連の動作を基準プログラムのすべてのアドレスに
対して行うことによってPROM2に書込まれたプログ
ラムの確認試験を終了する。その後、フリップフロップ
5を調べることにより書込み不良のP R,OMがわか
り、すべてのPR,OMのプログラム確認ができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明のテスト回路は、各P RO
Mに対して比較器を接続し、基準プログラムの書込み後
各PROMと基準プログラム発生回路との間のデータバ
スを分離し、PROMと基準プログラム発生回路との同
一アドレスのデータを順次比較することによって、−回
の基準プログラムの全アドレスの読出しで、並列書込み
された複数個のPROMのプログラム確認を同時に行う
ことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロック図である。 1・・・基準プログラム発生回路、2・・・PROM、
3・・・ゲート、4・・・比較器、5・・・フリップフ
ロップ、7・・・メインデータバス、8・・・アドレス
バス、9・・・データバス、11・・・コントロール信
号、12・・・ストローブ信号、13・・・不一致信号

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  基準プログラムを発生する基準プログラム発生回路と
    、並列書込型の複数個のプログラム可能読出専用メモリ
    と、該プログラム可能読出専用メモリに前記基準プログ
    ラムを書込後前記基準プログラム発生回路と前記プログ
    ラム可能読出専用メモリとを接続するデータバスを遮断
    する前記プログラム可能読出専用メモリと同数のゲート
    と、前記基準プログラムと前記プログラム可能読出専用
    メモリから読出されたデータとを比較し一致しないとき
    不一致信号を出力する前記プログラム可能読出専用メモ
    リと同数の比較器と、前記不一致信号によりセットされ
    る前記プログラム可能読出専用メモリと同数のフリップ
    フロップとを含むことを特徴とするテスト回路。
JP60274522A 1985-12-05 1985-12-05 テスト回路 Pending JPS62134900A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60274522A JPS62134900A (ja) 1985-12-05 1985-12-05 テスト回路

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JP60274522A JPS62134900A (ja) 1985-12-05 1985-12-05 テスト回路

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Publication Number Publication Date
JPS62134900A true JPS62134900A (ja) 1987-06-17

Family

ID=17542873

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JP60274522A Pending JPS62134900A (ja) 1985-12-05 1985-12-05 テスト回路

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JP (1) JPS62134900A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0744414A (ja) * 1993-08-02 1995-02-14 Nec Corp 半導体集積回路試験装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0744414A (ja) * 1993-08-02 1995-02-14 Nec Corp 半導体集積回路試験装置

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