JPS60151505A - 二層メツキ鋼板のメツキ皮膜の定量方法 - Google Patents
二層メツキ鋼板のメツキ皮膜の定量方法Info
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- JPS60151505A JPS60151505A JP826784A JP826784A JPS60151505A JP S60151505 A JPS60151505 A JP S60151505A JP 826784 A JP826784 A JP 826784A JP 826784 A JP826784 A JP 826784A JP S60151505 A JPS60151505 A JP S60151505A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、上層Ｆｅメッキ、下層Ｎｉ、−Ｚｎ合金メ
ッキの二層メッキ皮膜をもつメッキ鋼板の各メッキ皮膜
の付着量および下層のメッキ組成を螢光Ｘ線分析により
定量する方法に関する、 近時、Ｚｎメッキ鋼板より一段と耐食性のすぐれたもの
として、Ｎｉ−Ｚｎ合金メッキ鋼板が開発されだが、最
近になって更に、これをベースに表層としてＦｅメッキ
をｆ＝１与してなる二層メッキ鋼板の有効性が明らかに
された。この上層Ｆｅメッキ、下層Ｎｉ−Ｚｎ合金メッ
キのメッキ鋼Ｖ；！（以下、Ｆｅ／Ｎｉ −Ｚｎメッキ
鋼板と云う）は、Ｎｉ−Ｚｎ合金メッギ＃１板本来のす
ぐれた耐食性とともに良好な塗装性を備えており、現在
とくに自動沖車体用途への適用がＡ（二められている。
ッキの二層メッキ皮膜をもつメッキ鋼板の各メッキ皮膜
の付着量および下層のメッキ組成を螢光Ｘ線分析により
定量する方法に関する、 近時、Ｚｎメッキ鋼板より一段と耐食性のすぐれたもの
として、Ｎｉ−Ｚｎ合金メッキ鋼板が開発されだが、最
近になって更に、これをベースに表層としてＦｅメッキ
をｆ＝１与してなる二層メッキ鋼板の有効性が明らかに
された。この上層Ｆｅメッキ、下層Ｎｉ−Ｚｎ合金メッ
キのメッキ鋼Ｖ；！（以下、Ｆｅ／Ｎｉ −Ｚｎメッキ
鋼板と云う）は、Ｎｉ−Ｚｎ合金メッギ＃１板本来のす
ぐれた耐食性とともに良好な塗装性を備えており、現在
とくに自動沖車体用途への適用がＡ（二められている。
ところで、メッキ鋼板の耐食性、その他諸性能は、メッ
キ付着量やメッキ組成に依存するのは云う迄もないこと
であり、したがってその製造においてこれらメッキ付着
量、組成を管理すると・とけ、是非とも必要なことであ
る。メッキは着量、組成を管理しようとすればまず、そ
れらを非破壊的に定量すること（以下、単に「メッキの
定量」と云えばこれを指す）が不可欠となるが、現在の
ところ、上記したような２層ンツギ鋼板については、そ
のメッキ定量の有効な手法が知られていないのが実状で
ある。すなわち、Ｚｎ 、 Ｓｎ等の単体金属、更には
Ｎｉ−Ｚｎ 、 Ｆｅ−Ｚｎ 、 Ｐｈ−８ｎ等の合金
でも、とにかくメッキが単層のものならば、いわゆる螢
光Ｘ線分析によりメッキの定量は用能である。つまり、
付着量を螢光Ｘ線の減衰の程度により、まだ組成（合金
メッキの場合）については各成分に関する螢光Ｘ線強度
の比率により、それぞれ定量する技術が知られている。
キ付着量やメッキ組成に依存するのは云う迄もないこと
であり、したがってその製造においてこれらメッキ付着
量、組成を管理すると・とけ、是非とも必要なことであ
る。メッキは着量、組成を管理しようとすればまず、そ
れらを非破壊的に定量すること（以下、単に「メッキの
定量」と云えばこれを指す）が不可欠となるが、現在の
ところ、上記したような２層ンツギ鋼板については、そ
のメッキ定量の有効な手法が知られていないのが実状で
ある。すなわち、Ｚｎ 、 Ｓｎ等の単体金属、更には
Ｎｉ−Ｚｎ 、 Ｆｅ−Ｚｎ 、 Ｐｈ−８ｎ等の合金
でも、とにかくメッキが単層のものならば、いわゆる螢
光Ｘ線分析によりメッキの定量は用能である。つまり、
付着量を螢光Ｘ線の減衰の程度により、まだ組成（合金
メッキの場合）については各成分に関する螢光Ｘ線強度
の比率により、それぞれ定量する技術が知られている。
しかるに、複層のメッキについては、単層のときのよう
に螢光Ｘ線強度と上、下、各層の付着量や組成との間に
特定の対応関係を規定することがきわめて１４１邦であ
り、メッキの定量は容易でない。
に螢光Ｘ線強度と上、下、各層の付着量や組成との間に
特定の対応関係を規定することがきわめて１４１邦であ
り、メッキの定量は容易でない。
本発明は、とくに」−記の１，１θ／Ｉ＼１ｌ−Ｚｎメ
ッキ鋼板につき螢光ｘｍ分析によりメッキを定量する方
法を提供しようとするものである。
ッキ鋼板につき螢光ｘｍ分析によりメッキを定量する方
法を提供しようとするものである。
すなわち本発明の方法は、上記二層メッキ鋼板の」一層
メツキ（’Ｆｅメッキ）の付着部−並ひに下層メッキの
組成、付着量をそれぞれ下記１）、ＩＩ）の手法にて走
用することを特徴とする。
メツキ（’Ｆｅメッキ）の付着部−並ひに下層メッキの
組成、付着量をそれぞれ下記１）、ＩＩ）の手法にて走
用することを特徴とする。
Ｉ）鋼板素地からの螢光Ｘ線が実質的に検出されない第
一の励起線入射角およびそれに対応の螢光Ｘ線取出角に
おけるＦｅの螢光Ｘ線強度を測定し、その測定値から上
層メッキの百着腎を定置する。
一の励起線入射角およびそれに対応の螢光Ｘ線取出角に
おけるＦｅの螢光Ｘ線強度を測定し、その測定値から上
層メッキの百着腎を定置する。
１１）■鋼板素地からの螢光Ｘ線が検出される第二の励
起線入射角およびそれに対応の螢光Ｘ線取出用において
下層メッキ中のＮｉとＺｎの螢光Ｘ組強度比およびＦｅ
の螢光Ｘ線強度を測定し、そのＮｉとＺｎの螢光Ｘ線強
度比測定価から下層メッキの組成を定量する。同時に、
（２）そのＦｅの螢光Ｘ精強度の測定値と先の１）でめ
た」二層メッキの１寸＠量とから下層メッキのけ着ｔを
定量する。
起線入射角およびそれに対応の螢光Ｘ線取出用において
下層メッキ中のＮｉとＺｎの螢光Ｘ組強度比およびＦｅ
の螢光Ｘ線強度を測定し、そのＮｉとＺｎの螢光Ｘ線強
度比測定価から下層メッキの組成を定量する。同時に、
（２）そのＦｅの螢光Ｘ精強度の測定値と先の１）でめ
た」二層メッキの１寸＠量とから下層メッキのけ着ｔを
定量する。
」−配本発明に係る方法の根拠について、以下に述べる
。
。
周知の如く螢光Ｘ線測定は、励起Ｘ線を被測定物の表面
に入射させこれによって内部から発生してくる螢光Ｘ＃
の強度を測定するものであるが、この螢光Ｘ線は一般に
、励起Ｘ線の入射角（励起Ｘ線とその入射面とのなす角
とする、以下同様）の大小によってその発生深さが異っ
てくる。励起Ｘ線の到達する深さがその入射角によって
変化するからであり、傾向としては入１（，１角が７１
（さくなればなるほど上記発生深さは浅くなってゆく。
に入射させこれによって内部から発生してくる螢光Ｘ＃
の強度を測定するものであるが、この螢光Ｘ線は一般に
、励起Ｘ線の入射角（励起Ｘ線とその入射面とのなす角
とする、以下同様）の大小によってその発生深さが異っ
てくる。励起Ｘ線の到達する深さがその入射角によって
変化するからであり、傾向としては入１（，１角が７１
（さくなればなるほど上記発生深さは浅くなってゆく。
本発明の方法は、このような螢光Ｘ線の特性を巧みに利
用したものである。上層メッキの付着部、Ｆ層Ｎｉ−Ｚ
ｎ合金メッキの組成そして同じく付着例、の３者の定量
に分けて、以「に詳しく説明する。
用したものである。上層メッキの付着部、Ｆ層Ｎｉ−Ｚ
ｎ合金メッキの組成そして同じく付着例、の３者の定量
に分けて、以「に詳しく説明する。
まず、上地Ｆｅメッキの１・１イＳ串を定量する１）か
ら述べる。第１図に示す如く励起Ｘ線（ｅ）の入射角（
φ）を浅く設定してやれば、」二層した螢光Ｘ線の特性
により被測定物としてのメッキ鋼板（Ａ）の鋼板素地（
１）からの螢光Ｘ線を実質的になくすることができる。
ら述べる。第１図に示す如く励起Ｘ線（ｅ）の入射角（
φ）を浅く設定してやれば、」二層した螢光Ｘ線の特性
により被測定物としてのメッキ鋼板（Ａ）の鋼板素地（
１）からの螢光Ｘ線を実質的になくすることができる。
つまり、弁、、板素地（１１は上層（３）と同じＦｅの
螢光Ｘ線を発するが、これは励起線入射角（φ）の選び
方によって抑えることができ、その影響を除くようにす
ることができるのである。したがって、励起線入射角（
φ）を鋼板素地の影ｒが螢光Ｘ線に出ないように設定し
てＦｅの螢光Ｘ線を取出すことにより、実質的に上層（
３１Ｆｅメツキにのみ起因する螢光Ｘ線（局を検針する
ことができる。この検用値は、上層メッキの付着力と一
義的に対応する関係を示す。
螢光Ｘ線を発するが、これは励起線入射角（φ）の選び
方によって抑えることができ、その影響を除くようにす
ることができるのである。したがって、励起線入射角（
φ）を鋼板素地の影ｒが螢光Ｘ線に出ないように設定し
てＦｅの螢光Ｘ線を取出すことにより、実質的に上層（
３１Ｆｅメツキにのみ起因する螢光Ｘ線（局を検針する
ことができる。この検用値は、上層メッキの付着力と一
義的に対応する関係を示す。
すなわち、第２図は、励起線入射角（φ）−５°、螢光
Ｘ料１取出角（９４１１＝ ５°で種々のＥｉ’ｅ／Ｎ
］−Ｚｎ Ｊ ツキ鋼販についてＦｅの螢光Ｘ線相対強
度（上層■Ｉ′ｅメッキ付着ｆｆ、、５ｐ／ｍ′での螢
光Ｘ線弾度に対する比率）を測定した結果（測定条件は
後述実施例と同じ、す、下回様）を各上層メッキ例着量
（重量測定）と対応させて示した図である。同図には、
」−、記Ｆｅの螢光Ｘ線強度と上層Ｆｅメッキ例名平゛
の間にはきわめて安定した相関のあることが示されてい
る。
Ｘ料１取出角（９４１１＝ ５°で種々のＥｉ’ｅ／Ｎ
］−Ｚｎ Ｊ ツキ鋼販についてＦｅの螢光Ｘ線相対強
度（上層■Ｉ′ｅメッキ付着ｆｆ、、５ｐ／ｍ′での螢
光Ｘ線弾度に対する比率）を測定した結果（測定条件は
後述実施例と同じ、す、下回様）を各上層メッキ例着量
（重量測定）と対応させて示した図である。同図には、
」−、記Ｆｅの螢光Ｘ線強度と上層Ｆｅメッキ例名平゛
の間にはきわめて安定した相関のあることが示されてい
る。
したがって、測定すべきＦｅ／Ｎ］、−Ｚｎ二層メッキ
鋼板について鋼板素地からの螢光Ｘ線が実質的に検出さ
れない励起線入射角（φ）とそれに対応の螢光Ｘ線取出
角（ψ）においてＦｅの螢光Ｘ線を測定すれば、その測
定値から、予めめておいた第２図に示シたような関係に
基いて上層Ｆｅメッキの付着部を定量することができる
ものである。なお、励起線の入射角（φ）としては、測
定対象たるメッキ鋼板のメッキ条件（付着量）や励起条
件等によって変わってくるので一概には云えないが、鋼
板素地からの螢光Ｘ線が検出されないのは、おおよそ８
°以下程度の範囲となる。
鋼板について鋼板素地からの螢光Ｘ線が実質的に検出さ
れない励起線入射角（φ）とそれに対応の螢光Ｘ線取出
角（ψ）においてＦｅの螢光Ｘ線を測定すれば、その測
定値から、予めめておいた第２図に示シたような関係に
基いて上層Ｆｅメッキの付着部を定量することができる
ものである。なお、励起線の入射角（φ）としては、測
定対象たるメッキ鋼板のメッキ条件（付着量）や励起条
件等によって変わってくるので一概には云えないが、鋼
板素地からの螢光Ｘ線が検出されないのは、おおよそ８
°以下程度の範囲となる。
次に、下層Ｎｉ −Ｚｎ合金メッキの組成を定量する１
１）の■の方法は、１）とは逆に１１ｈ１仮索地からの
螢光Ｘ線が検出されるようにして下層メッキＮ１および
Ｚｎの螢光Ｘ線を検憚、シその強度比を用いるものであ
るが、これは次のような月１゛実による。すなわち、第
３図に示す如く励起線入射角（φ）を大きくとってやれ
ば、鋼板素地（１）からも螢光Ｘ線（Ｅ３）が出るよう
に々るが、このときには当然のことながら鋼板素地直上
の下層（２］Ｎｉ−Ｚｎ合金メッキのＮｉ 、 Ｚｎの
各螢光Ｘ線（Ｅ２）も観察される。とのＮｉおよびＺｎ
の両帯光Ｘ線の強度についてそれらの間の強度比をとる
と、その比の１直は、当該層並ひに上層のメッキ付着量
に抱らず当該層の組成、つ゛まりＮ１またはＺｎ含有量
との間によい相関を示す。すなわち、第４図は、励起線
入射角（φ）−６０°、螢光Ｘ線取出角（ψ）−６０°
で種々のＦｅ／Ｎｉ −Ｚｎ メッキ鋼Ｆｊ、（上層Ｆ
ｅメッキなし含む）についてＮｉ、Ｚｎの螢光Ｘ線強度
を測定した結果を下層メッキ中Ｎ１階（化学分析値）と
対応させて示したものであるが、Ｊ−ｆＦ５ Ｆ”ｅメ
ッキの条件によらずＮ工とＺｎの螢光ＸＭ強ｊｗ比とＦ
層メッキ中のＮ］昂との間にはきわめて安定的な７１１
１関が認められる。下層メッキに発したＮｊ、 、 Ｚ
ｎの螢光Ｘ線は上層を辿り抜けて検出されることになる
が、Ｎ１とＺｎの強度比を採用することにより、上ｆ、
Ｆｅメッキ層の厚みの要因が補正されるため、その影響
はない。
１）の■の方法は、１）とは逆に１１ｈ１仮索地からの
螢光Ｘ線が検出されるようにして下層メッキＮ１および
Ｚｎの螢光Ｘ線を検憚、シその強度比を用いるものであ
るが、これは次のような月１゛実による。すなわち、第
３図に示す如く励起線入射角（φ）を大きくとってやれ
ば、鋼板素地（１）からも螢光Ｘ線（Ｅ３）が出るよう
に々るが、このときには当然のことながら鋼板素地直上
の下層（２］Ｎｉ−Ｚｎ合金メッキのＮｉ 、 Ｚｎの
各螢光Ｘ線（Ｅ２）も観察される。とのＮｉおよびＺｎ
の両帯光Ｘ線の強度についてそれらの間の強度比をとる
と、その比の１直は、当該層並ひに上層のメッキ付着量
に抱らず当該層の組成、つ゛まりＮ１またはＺｎ含有量
との間によい相関を示す。すなわち、第４図は、励起線
入射角（φ）−６０°、螢光Ｘ線取出角（ψ）−６０°
で種々のＦｅ／Ｎｉ −Ｚｎ メッキ鋼Ｆｊ、（上層Ｆ
ｅメッキなし含む）についてＮｉ、Ｚｎの螢光Ｘ線強度
を測定した結果を下層メッキ中Ｎ１階（化学分析値）と
対応させて示したものであるが、Ｊ−ｆＦ５ Ｆ”ｅメ
ッキの条件によらずＮ工とＺｎの螢光ＸＭ強ｊｗ比とＦ
層メッキ中のＮ］昂との間にはきわめて安定的な７１１
１関が認められる。下層メッキに発したＮｊ、 、 Ｚ
ｎの螢光Ｘ線は上層を辿り抜けて検出されることになる
が、Ｎ１とＺｎの強度比を採用することにより、上ｆ、
Ｆｅメッキ層の厚みの要因が補正されるため、その影響
はない。
したがって、Ｆ’ｅ／Ｎｉ−Ｚｎメッキ鋼板について鋼
板素地からの螢光Ｘ線が検出される励起線入射角（φ）
とそれに対応の螢光Ｘ綾取出角（ψ）においてＮｉ。
板素地からの螢光Ｘ線が検出される励起線入射角（φ）
とそれに対応の螢光Ｘ綾取出角（ψ）においてＮｉ。
Ｚ、ｎの螢光Ｘ線強度を測定しそれらの間の比をとれば
、その比のイＩから、ｆめめておいまた第４図に示しだ
ような関係に基いて下層Ｎｉ−Ｚｎ合金メツ轄の組成を
定量することができる。
、その比のイＩから、ｆめめておいまた第４図に示しだ
ような関係に基いて下層Ｎｉ−Ｚｎ合金メツ轄の組成を
定量することができる。
最後に、同じく下層Ｎ ｊ、 −Ｚｎメッキの付着量の
定量法としての１１）の（２）は、上記と同じように鋼
板素地からの螢光Ｘ線（Ｅ３）が検出される状態でＦｅ
の螢光Ｘ線を検量しこの値と前記１）でめた上層Ｆｅメ
ッキ付着量とを使うものであり、この根拠としては次の
とおりである。鋼板素地からの螢光Ｘ線が検出される状
態で検」されるＦｅ螢光Ｘ線は、前出第３図に示したよ
うに上層（３１１’°ｅメツキからのもの（鮨）と鋼板
素地（１）からのもの（Ｉ：３ ）の２つの螢光線の合
成からなり、したが−ってこれら両者の影響を受けるこ
とになる。」二層ト′（」メッキの０１着量が一定とい
う条件の下ではこのＩパり螢）１（、Ｘ線の強度は、下
層Ｎｉ−Ｚｎ合金メッキの付１゛・）ｉとＪ−い対応関
係を示す。すなわち、第５図１１神々のｉ”ｅ／Ｎｉ
−Ｚｎ メッキ鋼板（上層Ｆｅメッキなしを含む）につ
いて励起線入射角（φ）−６０°、螢光Ｘ線取出角（ψ
）におけるＥｉ’ｅの螢光Ｘ線弾度を測定した結果を下
層の付着量と対応させて示したものであるが、上層Ｆｅ
メツキ付着量の各位ごとにＦｅ螢光ｘＲ・強度と下層Ｎ
ｉ −Ｚｎ合金メッキ付着量との間にＵｌ：よい（・１
１関性が認められる。同図において最も下に位置する曲
線は、上層Ｆｅメッキなしの場合であり、これはつまり
鋼板素地（１）に発した螢光Ｘ線が下層（２１Ｎｉ−Ｚ
ｎメッキ層でその付着量に見合うだけの吸収を受けて残
った綿量を表わす。Ｆｅ／Ｎｉ−Ｚｎメッキ鋼板につい
てのＦｅ螢光Ｘ線強度は、形式的にはこの上層メッキな
し−の場合の値に」一層メツキ付着部に応じた分」−の
せしたような値となっている。
定量法としての１１）の（２）は、上記と同じように鋼
板素地からの螢光Ｘ線（Ｅ３）が検出される状態でＦｅ
の螢光Ｘ線を検量しこの値と前記１）でめた上層Ｆｅメ
ッキ付着量とを使うものであり、この根拠としては次の
とおりである。鋼板素地からの螢光Ｘ線が検出される状
態で検」されるＦｅ螢光Ｘ線は、前出第３図に示したよ
うに上層（３１１’°ｅメツキからのもの（鮨）と鋼板
素地（１）からのもの（Ｉ：３ ）の２つの螢光線の合
成からなり、したが−ってこれら両者の影響を受けるこ
とになる。」二層ト′（」メッキの０１着量が一定とい
う条件の下ではこのＩパり螢）１（、Ｘ線の強度は、下
層Ｎｉ−Ｚｎ合金メッキの付１゛・）ｉとＪ−い対応関
係を示す。すなわち、第５図１１神々のｉ”ｅ／Ｎｉ
−Ｚｎ メッキ鋼板（上層Ｆｅメッキなしを含む）につ
いて励起線入射角（φ）−６０°、螢光Ｘ線取出角（ψ
）におけるＥｉ’ｅの螢光Ｘ線弾度を測定した結果を下
層の付着量と対応させて示したものであるが、上層Ｆｅ
メツキ付着量の各位ごとにＦｅ螢光ｘＲ・強度と下層Ｎ
ｉ −Ｚｎ合金メッキ付着量との間にＵｌ：よい（・１
１関性が認められる。同図において最も下に位置する曲
線は、上層Ｆｅメッキなしの場合であり、これはつまり
鋼板素地（１）に発した螢光Ｘ線が下層（２１Ｎｉ−Ｚ
ｎメッキ層でその付着量に見合うだけの吸収を受けて残
った綿量を表わす。Ｆｅ／Ｎｉ−Ｚｎメッキ鋼板につい
てのＦｅ螢光Ｘ線強度は、形式的にはこの上層メッキな
し−の場合の値に」一層メツキ付着部に応じた分」−の
せしたような値となっている。
このような関係は、１５層１’Ｊｉ、−Ｚｎ合金メッキ
の組成によらず安定的に成立し書、しだがってＩｌ］ｔ
、定対象のＦｅ／ ｌ’Ｊ］−Ｚ＋ｎＺｎメッキ鋼板い
て励起線入射角（φ）と螢光Ｘ練ル出角（ψ）を鋼板素
地からの螢光Ｘ線が検出されるようにしてＦｅの螢光Ｘ
線を検−すれば、この値と先の１）の手法で得た−１−
・層メツ’Ｆ １１１着量の定楯値から、予めめておい
た前出第５図のような関係に基いて下層メッキ（ス］１
着量精度よく定日できる。
の組成によらず安定的に成立し書、しだがってＩｌ］ｔ
、定対象のＦｅ／ ｌ’Ｊ］−Ｚ＋ｎＺｎメッキ鋼板い
て励起線入射角（φ）と螢光Ｘ練ル出角（ψ）を鋼板素
地からの螢光Ｘ線が検出されるようにしてＦｅの螢光Ｘ
線を検−すれば、この値と先の１）の手法で得た−１−
・層メツ’Ｆ １１１着量の定楯値から、予めめておい
た前出第５図のような関係に基いて下層メッキ（ス］１
着量精度よく定日できる。
次に、本発明の有効性確認の、そめ行った実験について
述べる。
述べる。
種々の製造条件で得たＦｅ／Ｎｉ−Ｚｎメッキ鋼板を準
備し、これらのメッキ鋼板についてまずメッキ組成（下
層）およびメッキｆ・１着用（下層、上層とも）をそれ
ぞれ化学分析法、重量測定法により測定した。
備し、これらのメッキ鋼板についてまずメッキ組成（下
層）およびメッキｆ・１着用（下層、上層とも）をそれ
ぞれ化学分析法、重量測定法により測定した。
一方、この各メッキ鋼板について、本発明に基く下記■
、■の方法で螢光Ｘ線分析を行い、メッキ組成と付着量
を定量した。
、■の方法で螢光Ｘ線分析を行い、メッキ組成と付着量
を定量した。
■ 励起線入射角（φ）−５°、螢光Ｘ線取出角（ψ）
＝５゜においてＦｅの螢光Ｘ線強度を測定して前出第２
図に示した関係から」二層Ｊ？０メッキ付着量を定量す
る。
＝５゜においてＦｅの螢光Ｘ線強度を測定して前出第２
図に示した関係から」二層Ｊ？０メッキ付着量を定量す
る。
測定条件としては、Ｘ線管球：Ｗ、励起条件：３０ｋＶ
−４０ｍＡ、測定時間＝５０秒。
−４０ｍＡ、測定時間＝５０秒。
■ 励起線入射角（φ）−６０°、螢光Ｘ線取出角（ψ
）−６０’においてＮｉ 、 ｚｎ６ｒ）螢光Ｘ線強度
比オヨびＦｅノ螢光Ｘ線強度を測定し、前出第４図、第
５図に示しだ関係を用いてそれぞれ下層メッキの組成と
付着量を定量した。測定条件は■と同様。
）−６０’においてＮｉ 、 ｚｎ６ｒ）螢光Ｘ線強度
比オヨびＦｅノ螢光Ｘ線強度を測定し、前出第４図、第
５図に示しだ関係を用いてそれぞれ下層メッキの組成と
付着量を定量した。測定条件は■と同様。
第６図乃至第８図は上記■、■の定量結果をそれぞれ先
の化学分析、重量測定による定量値と対応させて示した
ものであり、これらの結果から、本発明の方法によれば
Ｆθ／ Ｎｊ、−Ｚｎメッキ鋼板の上層メッキ付着量、
下層メッキ組成モして同（＝Ｉ−着量の何れをもきわめ
て精度よく定量できることが理解される。
の化学分析、重量測定による定量値と対応させて示した
ものであり、これらの結果から、本発明の方法によれば
Ｆθ／ Ｎｊ、−Ｚｎメッキ鋼板の上層メッキ付着量、
下層メッキ組成モして同（＝Ｉ−着量の何れをもきわめ
て精度よく定量できることが理解される。
す、ｌの説明から明らかなように本発明の方法は、Ｆｅ
／Ｎｉ、−Ｚｎメッキ鋲板についてそのメッキ組成およ
びｆ＝１着量の定量を非破壊的に高精度で行うことが−
ｃき、螢光Ｘ線分析装置にマイクロコンピュータ等を組
合せＦｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板の連続製造ラインにおい
てリアルタイムでメッキを定量しその結果をフィード・
バックしてメッキ叶着昂および組成の管理を的確に行う
ことを＋ｊＪ 能にするものであシ、したがって本発明
はＦｅ／Ｎｉ−Ｚｎの二層メッキ鋼板の品質レベルの向
上に著しい効果を発揮する。
／Ｎｉ、−Ｚｎメッキ鋲板についてそのメッキ組成およ
びｆ＝１着量の定量を非破壊的に高精度で行うことが−
ｃき、螢光Ｘ線分析装置にマイクロコンピュータ等を組
合せＦｅ−Ｚｎ合金メッキ鋼板の連続製造ラインにおい
てリアルタイムでメッキを定量しその結果をフィード・
バックしてメッキ叶着昂および組成の管理を的確に行う
ことを＋ｊＪ 能にするものであシ、したがって本発明
はＦｅ／Ｎｉ−Ｚｎの二層メッキ鋼板の品質レベルの向
上に著しい効果を発揮する。
第１図は鋼板素地からの螢光Ｘ線が検出されない螢光Ｘ
線測定操作の説明図、第２図はＥ’ｅ／Ｎ″Ｕ−Ｚｎメ
ッキ銅板の上層メッキｆτ１°着〜と第１図のＦｌを作
でのＦｅ螢光Ｘ線強度測定値との対応関係を示す図、第
８図は鋼板素地からの螢光Ｘ線が検出される測定操作の
説明図、第４図はＦｅ／Ｎｉ−Ｚｎメッキ鋼板の下層メ
ッキ組成と第３図の操作でのＮｉ、Ｚｎ螢光Ｘ線強度比
との間の対応関係を示す図、第５図は同じく下層メッキ
付着場と第３図の操作でのＦｅ螢光Ｘ線強度との対応関
係を示す図、第６図乃至第８図は本発明方法の定量精度
を化学分析、重量測定による定量値を基準に調査した結
果を示す図である。 図中 Ａ ： Ｆｅ／Ｎｉ−Ｚｎメッキ鋼板 １：鋼板
素地 ２：下層Ｎｊ−Ｚｎ合金メッキ層 ８：上層Ｆｅ
メッキ層 ｅ：励起Ｘ線 Ｅ：螢光Ｘ線φ；励起線入則
角 ψ：螢光Ｘｉａ取出角出願人 住友金属工業株式会
社 代理人弁理士 生 形 元 重・、７ 第１図 第２図 −Ｉ−Ｉメツｌ付遥量（ｃｊ／ｍ２） 第３図 第４図 下１〆・フキ中りＮｉ％ペメ） 第５図 ト１メ・ｙＸ付看ｔ（証Ａηり 第６図 第８図 第７図
線測定操作の説明図、第２図はＥ’ｅ／Ｎ″Ｕ−Ｚｎメ
ッキ銅板の上層メッキｆτ１°着〜と第１図のＦｌを作
でのＦｅ螢光Ｘ線強度測定値との対応関係を示す図、第
８図は鋼板素地からの螢光Ｘ線が検出される測定操作の
説明図、第４図はＦｅ／Ｎｉ−Ｚｎメッキ鋼板の下層メ
ッキ組成と第３図の操作でのＮｉ、Ｚｎ螢光Ｘ線強度比
との間の対応関係を示す図、第５図は同じく下層メッキ
付着場と第３図の操作でのＦｅ螢光Ｘ線強度との対応関
係を示す図、第６図乃至第８図は本発明方法の定量精度
を化学分析、重量測定による定量値を基準に調査した結
果を示す図である。 図中 Ａ ： Ｆｅ／Ｎｉ−Ｚｎメッキ鋼板 １：鋼板
素地 ２：下層Ｎｊ−Ｚｎ合金メッキ層 ８：上層Ｆｅ
メッキ層 ｅ：励起Ｘ線 Ｅ：螢光Ｘ線φ；励起線入則
角 ψ：螢光Ｘｉａ取出角出願人 住友金属工業株式会
社 代理人弁理士 生 形 元 重・、７ 第１図 第２図 −Ｉ−Ｉメツｌ付遥量（ｃｊ／ｍ２） 第３図 第４図 下１〆・フキ中りＮｉ％ペメ） 第５図 ト１メ・ｙＸ付看ｔ（証Ａηり 第６図 第８図 第７図
Claims (1)
- （１） 鋼板素地上に下層としてＮ１．−Ｚｎ合金メッ
キ皮膜を有し上層としてＦｅメッキ皮膜をもつ二層メッ
キ鋼板のメッキ皮膜のｆ・１着１ｊ１と組成を螢光Ｘ線
分析法によって分析する方法であって、鋼板素地からの
螢光Ｘ線が実質的に検１１１式わない第一の励起線入射
角およびそれに対応の螢光Ｘ線取出角におけるＦｅの螢
光Ｘ線強度を測定してに１層メッキの（＝１着量を定量
し、さらに外板累朋からの螢光Ｘ線が検出される第二の
励起線入射角およびそれに対応の螢光Ｘ線取出角におい
て下層メッキ中のＮ１とＺｎの螢光Ｘ線強度比およびＦ
ｅの螢光Ｘ線強度を測定し、そのＮ１とＺｎの螢光Ｘ線
強度比測定価から下層メッキの組成を定量するとともに
、Ｆｅの螢光Ｘ線強度測定値と先にめた一ヒ層メッキの
付着量とから下層メッキの付着量を定量することを特徴
とする二層メッキ鋼板のメッキ皮１１Ｑの定量方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP826784A JPS60151505A (ja) | 1984-01-19 | 1984-01-19 | 二層メツキ鋼板のメツキ皮膜の定量方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP826784A JPS60151505A (ja) | 1984-01-19 | 1984-01-19 | 二層メツキ鋼板のメツキ皮膜の定量方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60151505A true JPS60151505A (ja) | 1985-08-09 |
Family
ID=11688381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP826784A Pending JPS60151505A (ja) | 1984-01-19 | 1984-01-19 | 二層メツキ鋼板のメツキ皮膜の定量方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60151505A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009109246A (ja) * | 2007-10-26 | 2009-05-21 | Sharp Corp | 膜厚測定方法 |
-
1984
- 1984-01-19 JP JP826784A patent/JPS60151505A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009109246A (ja) * | 2007-10-26 | 2009-05-21 | Sharp Corp | 膜厚測定方法 |
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