JPS6014104A - 印画紙のエツジ検出方法 - Google Patents
印画紙のエツジ検出方法Info
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- JPS6014104A JPS6014104A JP12253483A JP12253483A JPS6014104A JP S6014104 A JPS6014104 A JP S6014104A JP 12253483 A JP12253483 A JP 12253483A JP 12253483 A JP12253483 A JP 12253483A JP S6014104 A JPS6014104 A JP S6014104A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 6
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 10
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 6
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
- G01N21/8916—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined for testing photographic material
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は印画紙のエツジ検出方法に関し、特に広幅の
印画紙の表面検出において、印画紙のエツジの位置を簡
単かつ正確に検出する印画紙のエツジ検出方法に関する
ものである。
印画紙の表面検出において、印画紙のエツジの位置を簡
単かつ正確に検出する印画紙のエツジ検出方法に関する
ものである。
周知のように、印画紙は例えばスライドホッパ方式によ
り広幅のフィルムベースに乳剤を塗布して製造されるが
、この乳剤はフィルムベースの全面に塗布しないで両端
に所定の幅を残して塗布される。このようにして製造さ
れる印画紙のフィルムベース自体に傷があったり、また
繊維状のものが付着していたり、塗布乳剤に気泡が存在
すると、印画紙の表面に欠陥が生じる。このため印画紙
を搬送させながら光源をフライングスポット方式で照射
し、印画紙表面の反射光を電気的に変換して得られる検
出信号によって、印画紙表面の欠陥を検出している。
り広幅のフィルムベースに乳剤を塗布して製造されるが
、この乳剤はフィルムベースの全面に塗布しないで両端
に所定の幅を残して塗布される。このようにして製造さ
れる印画紙のフィルムベース自体に傷があったり、また
繊維状のものが付着していたり、塗布乳剤に気泡が存在
すると、印画紙の表面に欠陥が生じる。このため印画紙
を搬送させながら光源をフライングスポット方式で照射
し、印画紙表面の反射光を電気的に変換して得られる検
出信号によって、印画紙表面の欠陥を検出している。
ところで、この欠陥検出の際に乳剤が塗布されていない
エツジ部分で信号が発生し、この信号か欠陥部で発生す
る欠陥信号と区別できず、欠陥信号と誤認されることが
ある。
エツジ部分で信号が発生し、この信号か欠陥部で発生す
る欠陥信号と区別できず、欠陥信号と誤認されることが
ある。
このため従来はエツジ検出機構を印画紙のエツジに接触
して設け、これによって搬送される印画紙のエツジを検
出しているが、表面検査機構とは別に設けられているた
め構造が複雑で精度−１−にも問題があった。
して設け、これによって搬送される印画紙のエツジを検
出しているが、表面検査機構とは別に設けられているた
め構造が複雑で精度−１−にも問題があった。
この発明はこのような実情に鑑みなされたもので、印画
紙の表面検査の際に印画紙のエツジを欠陥部と明確に区
別して検出でき、しかも欠陥部の大きさや未塗布部分の
状態によって誤動作することがなく信頼性が高い印画紙
のエツジ検出方法を提供することを目的としている。
紙の表面検査の際に印画紙のエツジを欠陥部と明確に区
別して検出でき、しかも欠陥部の大きさや未塗布部分の
状態によって誤動作することがなく信頼性が高い印画紙
のエツジ検出方法を提供することを目的としている。
この発明は前記の目的を達成するために、第１発明は印
画紙を搬送させながら光源をフライングスボット力式で
照則し、印画紙表面の反射光を電気的に変換して得られ
る欠陥検出信号の工、ジの未塗布部分に相当する周波数
成分をバンドパスフィルタに通過せしめ、一方エッジ部
で変化する高い周波数成分をバイパスフィルタに通過せ
しめ、この両フィルタを通過した検出信号で印画紙のエ
ツジを検出するようになしたことを特徴としている。ま
た第２発明は前記両フィルタを通過した複数回の検出信
号の平均値とスポット原点位置を示すカウンタの値との
一致により印画紙のエツジを検出するようになしたこと
を特徴としている。
画紙を搬送させながら光源をフライングスボット力式で
照則し、印画紙表面の反射光を電気的に変換して得られ
る欠陥検出信号の工、ジの未塗布部分に相当する周波数
成分をバンドパスフィルタに通過せしめ、一方エッジ部
で変化する高い周波数成分をバイパスフィルタに通過せ
しめ、この両フィルタを通過した検出信号で印画紙のエ
ツジを検出するようになしたことを特徴としている。ま
た第２発明は前記両フィルタを通過した複数回の検出信
号の平均値とスポット原点位置を示すカウンタの値との
一致により印画紙のエツジを検出するようになしたこと
を特徴としている。
以下、この発明の一実施例を添付図面に基づいて詳細に
説明する。
説明する。
第１図は印画紙とエツジ検出回路の各位置での出力波形
の関係を示す図、第２図はエツジ検出回路を示すブロッ
ク図、第３図は誤動作防止回路のブロック図を示してい
る。
の関係を示す図、第２図はエツジ検出回路を示すブロッ
ク図、第３図は誤動作防止回路のブロック図を示してい
る。
印画紙Ａは、例えば所定の速度で搬送されるフィルムベ
ースに、スライドホッハ方式にヨリ乳剤を多層同時に塗
布して行なわれる。この塗布は広幅のフィルムベースの
両端を残して行なわれ、この両端の未塗布部分１．２は
最終工程で切断されるようになっている。
ースに、スライドホッハ方式にヨリ乳剤を多層同時に塗
布して行なわれる。この塗布は広幅のフィルムベースの
両端を残して行なわれ、この両端の未塗布部分１．２は
最終工程で切断されるようになっている。
このようにして形成された印画紙Ａは、次の乾燥−に程
で乾燥処理されるが、乳剤をフィルムベースに塗４４す
る際に、フィルムベース自体に傷があったり、また繊維
状のものが付着していたり、塗７Ｉ液に気泡が存在する
と塗布部分３に欠陥が生しる。このため、印画紙を搬送
させながら光源を幅方向にフライングスボント方式で照
射し、印画紙表面の反射光を電気的に変換して検出信号
を得え、欠陥部４があると欠陥信号を発生ずるようにし
て欠陥の検出を行なっている。
で乾燥処理されるが、乳剤をフィルムベースに塗４４す
る際に、フィルムベース自体に傷があったり、また繊維
状のものが付着していたり、塗７Ｉ液に気泡が存在する
と塗布部分３に欠陥が生しる。このため、印画紙を搬送
させながら光源を幅方向にフライングスボント方式で照
射し、印画紙表面の反射光を電気的に変換して検出信号
を得え、欠陥部４があると欠陥信号を発生ずるようにし
て欠陥の検出を行なっている。
ところで印画紙表面の欠陥の検出は、乳剤の塗布部分３
に限らず未塗布部分１，２を含み全面を走査して行なわ
れ、この走査による検出信けの信号成分は前記欠陥信号
の他エツジ信号があり、このエツジ信号は未塗布部分１
．２に乳剤が塗布されていないことから出力され、欠陥
信号と誤認されるおそれがある。
に限らず未塗布部分１，２を含み全面を走査して行なわ
れ、この走査による検出信けの信号成分は前記欠陥信号
の他エツジ信号があり、このエツジ信号は未塗布部分１
．２に乳剤が塗布されていないことから出力され、欠陥
信号と誤認されるおそれがある。
このエツジ信号の周波数成分は、未塗布部分１．２を表
わす信号と、エツジおよび塗布部分３との境界を表わす
信号とがあり、これらは比較的高い周波数を示している
。
わす信号と、エツジおよび塗布部分３との境界を表わす
信号とがあり、これらは比較的高い周波数を示している
。
この発明は印画紙Ａの全面を走査して得られる検出信号
のエツジの未塗布部分ｌに相当する周波数成分が、バン
ドパスフィルタ５を通過し、その出力がコンパレータ６
を通りパルスを出力するようにする。一方エッジおよび
塗布部分３との境界で急激に変化する高い周波数成分が
バイパスフィルタ７を通過し、その出力がコンパレータ
８を通りエツジ部のみ出力する。さらにこの出力をタイ
ミング回路９で前記コンパレータ６のパルスに重ね、ア
ンド回路１０でこの両フィルタを通過した信号のみ出力
するようにしている。
のエツジの未塗布部分ｌに相当する周波数成分が、バン
ドパスフィルタ５を通過し、その出力がコンパレータ６
を通りパルスを出力するようにする。一方エッジおよび
塗布部分３との境界で急激に変化する高い周波数成分が
バイパスフィルタ７を通過し、その出力がコンパレータ
８を通りエツジ部のみ出力する。さらにこの出力をタイ
ミング回路９で前記コンパレータ６のパルスに重ね、ア
ンド回路１０でこの両フィルタを通過した信号のみ出力
するようにしている。
また、未塗布部分２に相当する周波数成分も前記と同様
に出力されるが、バンドパスフィルタ７を通過し、その
出力をコンパレータ８に入れ、この出力をタイミング回
路９で、コンパＩ／−夕６の出力と重ねるようにしてい
る。
に出力されるが、バンドパスフィルタ７を通過し、その
出力をコンパレータ８に入れ、この出力をタイミング回
路９で、コンパＩ／−夕６の出力と重ねるようにしてい
る。
このように、バンドパスフィルタ５とバイパスフィルタ
７を通過したエツジ信号で印画紙のエツジを検出するよ
うになしたから、欠陥部分４の欠陥信号と明確に区別し
て認識でき、しかも位置を正確に測定できる。
７を通過したエツジ信号で印画紙のエツジを検出するよ
うになしたから、欠陥部分４の欠陥信号と明確に区別し
て認識でき、しかも位置を正確に測定できる。
さらに、エツジ検出の際に比較的広幅の欠陥があった場
合は、これを乳剤の未塗布部分と誤認識することがあり
、また未塗布部分が非常に狭い場合等には欠陥部分と未
塗布部分との区別ができないことがある。このため前記
工・？ジ信号を誤動作防止回路に入力している。
合は、これを乳剤の未塗布部分と誤認識することがあり
、また未塗布部分が非常に狭い場合等には欠陥部分と未
塗布部分との区別ができないことがある。このため前記
工・？ジ信号を誤動作防止回路に入力している。
この誤動作防止回路の一実施例を第３図に示す。
フライングスポフトにより印画紙の表面全面を走査し、
この１回の走査による検出信号が前記エツジ検出回路Ｂ
に入力され、これからエツジ信号が出力される。このエ
ツジ信号は、レジスタｌ【にクロ、り入力される。この
クロック入力によりレジスタ１１に、フライングスポッ
トの位置を示すカウンタ１２の出力値がラッチされ、エ
ツジ信号が入力した位置がレジスタ１１に取り込まれる
。そしてレジスタ１１の出力値は、コンパレータ１３，
１４に入力される。
この１回の走査による検出信号が前記エツジ検出回路Ｂ
に入力され、これからエツジ信号が出力される。このエ
ツジ信号は、レジスタｌ【にクロ、り入力される。この
クロック入力によりレジスタ１１に、フライングスポッ
トの位置を示すカウンタ１２の出力値がラッチされ、エ
ツジ信号が入力した位置がレジスタ１１に取り込まれる
。そしてレジスタ１１の出力値は、コンパレータ１３，
１４に入力される。
このコンパレータ１３，１４でスイッチ１５゜１６で予
め指定されている数Ｎｌ、Ｎ２とレジスタ１１から出力
される値Ｎと比較される。
め指定されている数Ｎｌ、Ｎ２とレジスタ１１から出力
される値Ｎと比較される。
この指定された数Ｎｌ、Ｎ２はＮｌ＞Ｎ２の関係があり
、印画紙幅の変更値の可能性、および印画紙が搬送され
るときに蛇行等により、エツジ信号が一定の幅内に入り
得る妥当な範囲を示している。
、印画紙幅の変更値の可能性、および印画紙が搬送され
るときに蛇行等により、エツジ信号が一定の幅内に入り
得る妥当な範囲を示している。
レジスタ１１からの出力値がＮｌ＞Ｎ＞Ｎ２の条件をみ
たしている場合にのみ、アンド回路１７を介してレジス
タ１８にクロック入力させ、レジスタ１１からの値と、
今までメモリＩ９に格納されていた値とを、加算器２０
で足し加えられ、その値がレジスタ１８に取り込まれる
。そして、この値はレジスタ１８から再びメモリ１９に
格納される。
たしている場合にのみ、アンド回路１７を介してレジス
タ１８にクロック入力させ、レジスタ１１からの値と、
今までメモリＩ９に格納されていた値とを、加算器２０
で足し加えられ、その値がレジスタ１８に取り込まれる
。そして、この値はレジスタ１８から再びメモリ１９に
格納される。
そして、次のエツジ信号が前記レジスタ１１にクロック
入力され、このレジスタ１１からの出力値ＮがＮｌとＮ
２との間であるときに、加η器２０でメモリ１９に格納
されている値と加算し、前記と同様にしてメモリ１９に
順次格納されていく。
入力され、このレジスタ１１からの出力値ＮがＮｌとＮ
２との間であるときに、加η器２０でメモリ１９に格納
されている値と加算し、前記と同様にしてメモリ１９に
順次格納されていく。
この循環の回数はカウンタ２１がカウントしている。こ
のカウンタ２１の入力はレジスタ１１からの出力値Ｎが
ＮｌとＮ２との間であるときに′ｊ−えられる。そして
、カウンタ２１がカウントアツプし整数倍でオー八フロ
ーすると、レジスタ２２にクロック入力する。このとき
に限ってレジスタ１８の出力のＬ位のみがレジスタ２２
に格納される。このようにレジスタ２２からでてきた値
は、レジスタ１１の出力値ＮがＮ１とＮ２との間である
ときで、かつ複数回走査の平均値を示している。
のカウンタ２１の入力はレジスタ１１からの出力値Ｎが
ＮｌとＮ２との間であるときに′ｊ−えられる。そして
、カウンタ２１がカウントアツプし整数倍でオー八フロ
ーすると、レジスタ２２にクロック入力する。このとき
に限ってレジスタ１８の出力のＬ位のみがレジスタ２２
に格納される。このようにレジスタ２２からでてきた値
は、レジスタ１１の出力値ＮがＮ１とＮ２との間である
ときで、かつ複数回走査の平均値を示している。
そして、このレジスタ２２の内容と、スポラＩ・位置を
示すカウンタ１２の内容をコンパレータ２３を用いて比
較し、両者が等しいとき所望のエツジ信号が得られる。
示すカウンタ１２の内容をコンパレータ２３を用いて比
較し、両者が等しいとき所望のエツジ信号が得られる。
なお、この誤動作防止回路は未塗布部分ｌのエツジ部と
、未塗布部分２のエツジ部のエツジ検出回路に接続され
ている。そして、未塗布部分１の誤動作防止回路では、
エツジ検出回路のエツジ信号がエツジ部の位置よりずれ
て出力されているから、レジスタ２２とコンパレータ２
３との間に加算器２４を配置してエツジの位置に合せて
コンパレータ２３で比較するようにする。
、未塗布部分２のエツジ部のエツジ検出回路に接続され
ている。そして、未塗布部分１の誤動作防止回路では、
エツジ検出回路のエツジ信号がエツジ部の位置よりずれ
て出力されているから、レジスタ２２とコンパレータ２
３との間に加算器２４を配置してエツジの位置に合せて
コンパレータ２３で比較するようにする。
この発明は前記のように、印画紙表面の反射光を電気的
に変換して得られる欠陥検出信号のエツジの未塗布部分
に相当する周波数成分をバンドパスフィルタに通過せし
め、一方エッジ部で変化する高い周波数成分をバイパス
フィルタに通過せしめ、この両フィルタを通過した検出
信号で印画紙のエツジを検出するようになしたから、エ
ツジ部の検出を欠陥部と明確に区別して簡単に行なうこ
とができる。
に変換して得られる欠陥検出信号のエツジの未塗布部分
に相当する周波数成分をバンドパスフィルタに通過せし
め、一方エッジ部で変化する高い周波数成分をバイパス
フィルタに通過せしめ、この両フィルタを通過した検出
信号で印画紙のエツジを検出するようになしたから、エ
ツジ部の検出を欠陥部と明確に区別して簡単に行なうこ
とができる。
また印画紙に比較的幅の広い欠陥があった場合に、欠陥
信号とエツジ信号の区別が困難であリ、またエツジ部ま
で乳剤が塗布されていてエツジ信号が出力されなかった
としても、エツジ信号が所定の位置で出力され、かつ複
数回走置の４１均値で判断するから、エツジ部の誤検出
が防止される。
信号とエツジ信号の区別が困難であリ、またエツジ部ま
で乳剤が塗布されていてエツジ信号が出力されなかった
としても、エツジ信号が所定の位置で出力され、かつ複
数回走置の４１均値で判断するから、エツジ部の誤検出
が防止される。
第１図は印画紙とエツジ検出回路の各位置での出力波形
の関係を示す図、第２図はエツジ検出回路を示すブロッ
ク図、第３図は誤動作防止回路のブロック図である。 Ａ・・・カラー印画紙 １．２・・・未塗布部分３・・
・塗布部分 ４・・・欠陥部 ５・・・バンドパスフィ
ルタ ６，８・・・コンパレータ ７・・・バイパスフ
ィルタ
の関係を示す図、第２図はエツジ検出回路を示すブロッ
ク図、第３図は誤動作防止回路のブロック図である。 Ａ・・・カラー印画紙 １．２・・・未塗布部分３・・
・塗布部分 ４・・・欠陥部 ５・・・バンドパスフィ
ルタ ６，８・・・コンパレータ ７・・・バイパスフ
ィルタ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｌ、印画紙を搬送させながら光源をフライングスポット
方式で照射し、印画紙表面の反射光を電気的に変換して
得られる欠陥検出信号のエツジの未塗布部分に相当する
周波数成分をバンドパスフィルタに通過せしめ、−カエ
ンジ部で変化する高い周、波数成分をバイパスフィルタ
に通過せしめ、この両フィルタを通過した検出信号で印
画紙のエツジを検出するようになした印画紙の工・ンジ
検出方法 ２、印画紙を搬送させながら光源をフライングスポット
方式で照射し、印画紙表面の反射光を電気的に変換して
得られた欠陥検出信号のエツジの未塗布部分に相当する
周波数成分をバンドパスフィルタに通過せしめ、一方エ
ッジ部で変化する高い周波数成分をバイパスフィルタに
通過せ１．め、この両フィルタを通過した複数回の検出
信号の平均値とスポット原点位置を示すカウンタの値と
の一致により印画紙のエツジを検出するようになした印
画紙のエツジ検出方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12253483A JPS6014104A (ja) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | 印画紙のエツジ検出方法 |
| EP19840304390 EP0130797B1 (en) | 1983-07-04 | 1984-06-28 | Method of inspecting the surface of photographic paper |
| DE8484304390T DE3477838D1 (en) | 1983-07-04 | 1984-06-28 | Method of inspecting the surface of photographic paper |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12253483A JPS6014104A (ja) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | 印画紙のエツジ検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6014104A true JPS6014104A (ja) | 1985-01-24 |
| JPH0326762B2 JPH0326762B2 (ja) | 1991-04-11 |
Family
ID=14838234
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12253483A Granted JPS6014104A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-06 | 印画紙のエツジ検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6014104A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6254106A (ja) * | 1985-09-02 | 1987-03-09 | Kanebo Ltd | 継ぎ目検出装置 |
| JPS62202297A (ja) * | 1986-03-03 | 1987-09-05 | 株式会社日立製作所 | 用紙エッジ検出装置 |
| JPH02169440A (ja) * | 1988-12-23 | 1990-06-29 | Nec Corp | 紙片検出装置 |
| US4979387A (en) * | 1989-07-31 | 1990-12-25 | Dittmar Norman R | Pendulum position detector |
| JP2021096171A (ja) * | 2019-12-17 | 2021-06-24 | トヨタ自動車九州株式会社 | 塗布剤検査方法、塗布剤検査装置、塗布剤検査用プログラム、およびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びに自動車部品の製造方法 |
-
1983
- 1983-07-06 JP JP12253483A patent/JPS6014104A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6254106A (ja) * | 1985-09-02 | 1987-03-09 | Kanebo Ltd | 継ぎ目検出装置 |
| JPS62202297A (ja) * | 1986-03-03 | 1987-09-05 | 株式会社日立製作所 | 用紙エッジ検出装置 |
| JPH02169440A (ja) * | 1988-12-23 | 1990-06-29 | Nec Corp | 紙片検出装置 |
| US4979387A (en) * | 1989-07-31 | 1990-12-25 | Dittmar Norman R | Pendulum position detector |
| JP2021096171A (ja) * | 2019-12-17 | 2021-06-24 | トヨタ自動車九州株式会社 | 塗布剤検査方法、塗布剤検査装置、塗布剤検査用プログラム、およびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びに自動車部品の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0326762B2 (ja) | 1991-04-11 |
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