JPS59195144A - 金属物体の表面疵の検出方法及び装置 - Google Patents
金属物体の表面疵の検出方法及び装置Info
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- JPS59195144A JPS59195144A JP6955183A JP6955183A JPS59195144A JP S59195144 A JPS59195144 A JP S59195144A JP 6955183 A JP6955183 A JP 6955183A JP 6955183 A JP6955183 A JP 6955183A JP S59195144 A JPS59195144 A JP S59195144A
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- Japan
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- flaw
- signals
- circuit
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- Pending
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
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- Textile Engineering (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は金属物体の表面疵の検出方法及び装置に係り、
１Ｗに、連続祷造スラフ等の走行中の高温調料の表面
疵をオンラインで検出づるのに好適な、金属物体の表面
疵の検出方法及び装置に関する。
１Ｗに、連続祷造スラフ等の走行中の高温調料の表面
疵をオンラインで検出づるのに好適な、金属物体の表面
疵の検出方法及び装置に関する。
スラブの表面疵を熱間で検出し、手入れづる技術を開発
することは、省工程、省エネルギに多大に寄与づるため
極めて車装な意義を持つ。この点に関し、従来、スラブ
表面を水銀灯或いは可視域レーザなどの強力人工光源で
前身４し、表面の反射光強度分布をＩ Ｖ ’ｌ−（工
業用テレビジョンカメラ）ヤＣＣｔ）カメラ（多点素子
ノノメラ）などの受光器を用いて電気的信号とし、その
信号の中から表面疵に特有な疵信号を抽出づることによ
って表面疵を検出覆る方法が知られている。
することは、省工程、省エネルギに多大に寄与づるため
極めて車装な意義を持つ。この点に関し、従来、スラブ
表面を水銀灯或いは可視域レーザなどの強力人工光源で
前身４し、表面の反射光強度分布をＩ Ｖ ’ｌ−（工
業用テレビジョンカメラ）ヤＣＣｔ）カメラ（多点素子
ノノメラ）などの受光器を用いて電気的信号とし、その
信号の中から表面疵に特有な疵信号を抽出づることによ
って表面疵を検出覆る方法が知られている。
同方法は非接触測定Ｃあること、全面探１宛が容易であ
ること、などの利点かあるため、広く試みられている。
ること、などの利点かあるため、広く試みられている。
しかしながら同′ｈ法は規在のところ実用１稈的には、
未だ確立してはいない。その主な理由は、スラブ表面が
均一て゛ないためにＳ／Ｎ比が悪く、誤りなく表面疵情
報のみを抽出することが非常に困難−Ｃあるからである
。表面疵の検出率を向上さゼる一手法として、計算機に
？！雑な疵形状認識機能をもたせ、いわゆるパターン認
識によって検出すｌ＼き疵信号と排除すべき疵信号を区
別することか考えられる。しかし疵パターンそのらのか
一定でなく、多（着に変化するので、計算機は徒らに大
型化しハート、ソフト両面に亙って所謂イニシャルコス
１−が多大となるだけでなく、演算時間も長くなる１＝
め、高速化の要請の強いオンラインの検出方法として必
ずしも適当なものではない。
未だ確立してはいない。その主な理由は、スラブ表面が
均一て゛ないためにＳ／Ｎ比が悪く、誤りなく表面疵情
報のみを抽出することが非常に困難−Ｃあるからである
。表面疵の検出率を向上さゼる一手法として、計算機に
？！雑な疵形状認識機能をもたせ、いわゆるパターン認
識によって検出すｌ＼き疵信号と排除すべき疵信号を区
別することか考えられる。しかし疵パターンそのらのか
一定でなく、多（着に変化するので、計算機は徒らに大
型化しハート、ソフト両面に亙って所謂イニシャルコス
１−が多大となるだけでなく、演算時間も長くなる１＝
め、高速化の要請の強いオンラインの検出方法として必
ずしも適当なものではない。
本発明は、このような実情に鑑みて為され！＝もので、
信号α理機能を徒らに複相化することなく、Ｓ、’Ｎ比
を改善させることをその目的としているものひある。
信号α理機能を徒らに複相化することなく、Ｓ、’Ｎ比
を改善させることをその目的としているものひある。
そしで本発明は、金属物体の表面疵の検出方法において
、被検体たる金属物体の表面に、外部の相異なる２以上
の方向より光を照射し、これによって得られる被検体表
面からの多種類の反射光を受光し、夫々の反射光中から
１昇られる疵信号を抽出し、且つ相比較して表面疵情報
を１することにより前記目的を達成したものである。
、被検体たる金属物体の表面に、外部の相異なる２以上
の方向より光を照射し、これによって得られる被検体表
面からの多種類の反射光を受光し、夫々の反射光中から
１昇られる疵信号を抽出し、且つ相比較して表面疵情報
を１することにより前記目的を達成したものである。
本発明は、又、金属物体の表面ｈ［の検出装置において
、互いに異なる方向より被検体たる金属物体の表面を照
射可能に配置せしめた２以上の投光器と、該多り向から
の照射を交互に断続的に行わせる投光制御器と、被検体
からの多種類の反＠（光を受光して夫々を電気的イ菖号
に変（奥づる受光器と、変換された多種類の電気的信号
を相比較づることによって被検体の８１ｍ疵情報を出力
づる信号処理器と、を価えることにより、１−しく前記
目的を達成したもの−Ｃある。
、互いに異なる方向より被検体たる金属物体の表面を照
射可能に配置せしめた２以上の投光器と、該多り向から
の照射を交互に断続的に行わせる投光制御器と、被検体
からの多種類の反＠（光を受光して夫々を電気的イ菖号
に変（奥づる受光器と、変換された多種類の電気的信号
を相比較づることによって被検体の８１ｍ疵情報を出力
づる信号処理器と、を価えることにより、１−しく前記
目的を達成したもの−Ｃある。
本光明は、Ｓ’Ｎ比の面上を、従来のように計障機の記
憶、演紳方法にも求めるのではなく、むしろ、その前工
程である照射方法に求め、ｆ言置処理機能を従らに複相
化−りることなく、Ｓ Ｎ比を一′く善したものである
。
憶、演紳方法にも求めるのではなく、むしろ、その前工
程である照射方法に求め、ｆ言置処理機能を従らに複相
化−りることなく、Ｓ Ｎ比を一′く善したものである
。
以下、図示の実施例に基づいＣ本発明を詳細に説明でる
。
。
８１１１図〜第３図は本発明の￥原則を示１図である。
便宜上、先ず装置を偶成する開蓋の関係から説明する。
この検出装置は、互に＠なる方向×、Ｙより、被検体た
る金属物体（例えば熱間スラブ＞１０の表面を照射可能
に配置せしめた、２以上の投光器１２Ｘ、１２ ’＋’
と、該多方向Ｘ、Ｙからの照射を、交互に断続的に行わ
せる投光制御器１４と、被検体１０からの多種類の反射
光を受光して、夫々を電気的１ｇ号１８Ｘ、１８Ｙに変
換する受光器２０と、変換され／：多種類の電気的信号
１８Ｘ、１８Ｙを１■比較ザることによつ（、被検体１
０の表面疵１ｈ報２２ＸＹを出力づる信号処理器２４、
とて主に（育成される。
る金属物体（例えば熱間スラブ＞１０の表面を照射可能
に配置せしめた、２以上の投光器１２Ｘ、１２ ’＋’
と、該多方向Ｘ、Ｙからの照射を、交互に断続的に行わ
せる投光制御器１４と、被検体１０からの多種類の反射
光を受光して、夫々を電気的１ｇ号１８Ｘ、１８Ｙに変
換する受光器２０と、変換され／：多種類の電気的信号
１８Ｘ、１８Ｙを１■比較ザることによつ（、被検体１
０の表面疵１ｈ報２２ＸＹを出力づる信号処理器２４、
とて主に（育成される。
航記の互に異なる方向Ｘ、Ｙについては、試１１銘誤に
よって定性を児極めた上で、最もＳ、・′Ｎ比が大とな
るようにその角瓜θＸ、θｙを例えば４５゛と設定Ｊる
。
よって定性を児極めた上で、最もＳ、・′Ｎ比が大とな
るようにその角瓜θＸ、θｙを例えば４５゛と設定Ｊる
。
ｎｅＪ記投光器１２Ｘ、１２Ｙとしては、例えば高圧水
銀灯、或いは出力５Ｗ程庚のアルゴンレーザ等を用いる
ことができる。
銀灯、或いは出力５Ｗ程庚のアルゴンレーザ等を用いる
ことができる。
前記投光制御器１４と１−では、第１図に示８れ°Ｃい
る如く、例えば両前射光を夫々断続的に巡る回転チ日ツ
バ１４Ｘ、１４ ’Ｙ’と、この回転チ］ツバ１４Ｘ、
１４Ｙの回転数及び回転位相を調整でる照明調整器１４
Ａとから成るものか採用できる。
る如く、例えば両前射光を夫々断続的に巡る回転チ日ツ
バ１４Ｘ、１４ ’Ｙ’と、この回転チ］ツバ１４Ｘ、
１４Ｙの回転数及び回転位相を調整でる照明調整器１４
Ａとから成るものか採用できる。
熱論、このような；幾挾的手段を用いることなく、例え
ば照明調整器１４Δの中に、リレー等による照明電流の
オンオフ機能を内蔵させ、照射自体が直接交互に断続的
となるように制御させても良い。
ば照明調整器１４Δの中に、リレー等による照明電流の
オンオフ機能を内蔵させ、照射自体が直接交互に断続的
となるように制御させても良い。
このように照射を交互に断続的とするのは、この手法が
、２以上の光が相互に干渉しない為の最も確実且つ簡易
な手法であるからである。
、２以上の光が相互に干渉しない為の最も確実且つ簡易
な手法であるからである。
前記受光器２０としては、例えば−次元素子配列型のＣ
ＯＤカメラ（多点素子カメラ）、或いはＩＴＶ（工業用
テレビジョンカメラ）等が採用できる。この受光器２０
は投光制御器１４と同期して機能するようにしであるの
は言うまでもない。
ＯＤカメラ（多点素子カメラ）、或いはＩＴＶ（工業用
テレビジョンカメラ）等が採用できる。この受光器２０
は投光制御器１４と同期して機能するようにしであるの
は言うまでもない。
又、特願昭５７−８７６９４．同５７−８７７００に開
示された如く、場合によって異なる方向Ｘ、Ｙの照射毎
に専用にこの受光器２０を複ｖｌ設けたりづると、Ｓ
Ｎ比の一層の向上が期待できる。
示された如く、場合によって異なる方向Ｘ、Ｙの照射毎
に専用にこの受光器２０を複ｖｌ設けたりづると、Ｓ
Ｎ比の一層の向上が期待できる。
尚、第１図Ｃ１２６は、受光器２ｏと−して採用したＣ
Ｇ１つカメラの被検体１ｏ上での走査線、２８は、検出
さ４′（るＩ＼き表面疵、例えば縦削れＣある。
Ｇ１つカメラの被検体１ｏ上での走査線、２８は、検出
さ４′（るＩ＼き表面疵、例えば縦削れＣある。
前記（８号ｌｌ！ｉ）ｌ器２４としては、例えば第２図
に示り如く、５＋伸類の電気的１１号１８Ｘ、１８Ｙを
分離覆る分Ａ１１回路２４Ａ、一方のみを硯察時刻相３
１かたけ遅延させる遅延−１２４Ｂ、低周波雑音成分を
カット乃るバイパスフィルタ回路２４Ｇ、リミッタ１幾
能を１１泊えたＡＮＤ回路２４Ｄ等で構成されるものか
採用できる。
に示り如く、５＋伸類の電気的１１号１８Ｘ、１８Ｙを
分離覆る分Ａ１１回路２４Ａ、一方のみを硯察時刻相３
１かたけ遅延させる遅延−１２４Ｂ、低周波雑音成分を
カット乃るバイパスフィルタ回路２４Ｇ、リミッタ１幾
能を１１泊えたＡＮＤ回路２４Ｄ等で構成されるものか
採用できる。
次に、この検出装置の作用に８及しつつ、本発明の７’
１法で１列ｉ！（説明づる。
１法で１列ｉ！（説明づる。
先ず、ｊす光器ｉ２Ｘ、１２Ｙにより、被検体たる金属
物体く熱間スラブ）１０の表面に、外部の（目異なる２
以上の方向Ｘ、Ｙより光が照射される。
物体く熱間スラブ）１０の表面に、外部の（目異なる２
以上の方向Ｘ、Ｙより光が照射される。
この光は投光制御器１４によって交互に照射されるよう
に制御され、被検体１０（７）表面は相異なっノこ反（
４状態をＲｕに呈し、かっ、受光器２０は、それぞれの
反射状態ことに得られる被検体１ｏの走査線２６上の強
洩分荀を電気的信号１８Ｘ、１８Ｙに１することになる
。受光器２０からは、２種類の電気的信号１８Ｘ、１８
Ｙが交互に発生覆るか、これらは信号処理器２４に送ら
れる。この２種類の電気的信号１８Ｘ、１８Ｙは、まず
分離回路２４Ａによって、夫々に分離されｌ＝あと、−
乃−の電気的１＾号１８Ｘ（又は１８Ｙ）が遅延回路２
４Ｂを通ることによって位相が整えられ、両イ＾号１８
Ｘ−； １８Ｙは、以後、１わ１時刻処理を施されるこ
とが可能になる。そしてその後、夫々の電気的信号１８
×′、１８Ｙを、バイパスフィルタ回路２４Ｃに通しで
低周波雑音成分を除去し、更に、リミッタＩ幾能を備え
たＡＮＤ回路２４１）に通してやると、両信号１８Ｘ、
１８Ｙて夫々抽出された疵信号が相比較され、両信号１
８Ｘ−，１８Ｙにおい（同吟にあるレベルを越えで抽出
された′＃、信号のみが表面疵情報２２ＸＹとして出力
されるものである。
に制御され、被検体１０（７）表面は相異なっノこ反（
４状態をＲｕに呈し、かっ、受光器２０は、それぞれの
反射状態ことに得られる被検体１ｏの走査線２６上の強
洩分荀を電気的信号１８Ｘ、１８Ｙに１することになる
。受光器２０からは、２種類の電気的信号１８Ｘ、１８
Ｙが交互に発生覆るか、これらは信号処理器２４に送ら
れる。この２種類の電気的信号１８Ｘ、１８Ｙは、まず
分離回路２４Ａによって、夫々に分離されｌ＝あと、−
乃−の電気的１＾号１８Ｘ（又は１８Ｙ）が遅延回路２
４Ｂを通ることによって位相が整えられ、両イ＾号１８
Ｘ−； １８Ｙは、以後、１わ１時刻処理を施されるこ
とが可能になる。そしてその後、夫々の電気的信号１８
×′、１８Ｙを、バイパスフィルタ回路２４Ｃに通しで
低周波雑音成分を除去し、更に、リミッタＩ幾能を備え
たＡＮＤ回路２４１）に通してやると、両信号１８Ｘ、
１８Ｙて夫々抽出された疵信号が相比較され、両信号１
８Ｘ−，１８Ｙにおい（同吟にあるレベルを越えで抽出
された′＃、信号のみが表面疵情報２２ＸＹとして出力
されるものである。
この点に関し第３図を用いてより詳キ１１１に説明覆る
。第３図において（ａ ）は受光器２０からの出りされ
る電気的１５号１８Ｘ、１８Ｙを示づ、図中［Ｘｊは投
光器１２Ｘ系統、ｒ Ｙ］けｊす光器１２Ｙ系統を恩味
づる。またＬ）ｘｙＤｙはともに表面疵２８に基つく疵
信号、ｔ！ＩＩ ｔ５検出−ｇＩ＼き疵信号、ヒ１ヘー
ヒ４は排除ず／＼き類似批信号である。第３図（１））
はバイパスフィルタ回路２４Ｇを通過しＣ低周波雑音成
分を除去した後、ＡＮＤ回２３２４１つ内のりミッタで
し／＼ル切りされる直＋Ｆｔの波形を示しく ａｊす、
破線以上の強廣をもつ糺１菖号Ｄ×、Ｄｙ、Ｅ＋〜Ｅ４
のみが抽出８れる。レノ＼ル、切り後の１８号を第３図
（Ｃ）に示？ｌｏ憶出づｌ＼きｉｔ ｌ菖号Ｏ＞：、θ
＼の他に、ＪＪＦ除゛すｌ＼き顆１１メ旌ｆ言号Ｕ１へ
−ｉ：１６抽出されでいるが、こＩＬらの１此信”ｒ
Ｄ Ｘ、Ｄｘ・、ＥｌへＥ４をＡＮＤ回１ｇ ２４ Ｄ
に通りと、第４図り１））こ示づように、表面疵２８か
らの疵１′言号ＤＸ 、 Ｄｘ・（こ基づいたパルスの
ｊ（か表面疵同報２２ＸＹとしＣ出力される。
。第３図において（ａ ）は受光器２０からの出りされ
る電気的１５号１８Ｘ、１８Ｙを示づ、図中［Ｘｊは投
光器１２Ｘ系統、ｒ Ｙ］けｊす光器１２Ｙ系統を恩味
づる。またＬ）ｘｙＤｙはともに表面疵２８に基つく疵
信号、ｔ！ＩＩ ｔ５検出−ｇＩ＼き疵信号、ヒ１ヘー
ヒ４は排除ず／＼き類似批信号である。第３図（１））
はバイパスフィルタ回路２４Ｇを通過しＣ低周波雑音成
分を除去した後、ＡＮＤ回２３２４１つ内のりミッタで
し／＼ル切りされる直＋Ｆｔの波形を示しく ａｊす、
破線以上の強廣をもつ糺１菖号Ｄ×、Ｄｙ、Ｅ＋〜Ｅ４
のみが抽出８れる。レノ＼ル、切り後の１８号を第３図
（Ｃ）に示？ｌｏ憶出づｌ＼きｉｔ ｌ菖号Ｏ＞：、θ
＼の他に、ＪＪＦ除゛すｌ＼き顆１１メ旌ｆ言号Ｕ１へ
−ｉ：１６抽出されでいるが、こＩＬらの１此信”ｒ
Ｄ Ｘ、Ｄｘ・、ＥｌへＥ４をＡＮＤ回１ｇ ２４ Ｄ
に通りと、第４図り１））こ示づように、表面疵２８か
らの疵１′言号ＤＸ 、 Ｄｘ・（こ基づいたパルスの
ｊ（か表面疵同報２２ＸＹとしＣ出力される。
尚、１′ｇ号処理回にδ２４とし−Ｃは「悄比較」の手
段とし、で／＼Ｎ Ｄ回路２４Ｌ）に代え、これをＯＲ
回「１或いは口；ｌ′（らの組み合わせとしてもよい。
段とし、で／＼Ｎ Ｄ回路２４Ｌ）に代え、これをＯＲ
回「１或いは口；ｌ′（らの組み合わせとしてもよい。
この場合は、各方向Ｘ、Ｙがらの光のうら、いず゛れが
一方向の光にょっ−Ｃ険出Ｃれた疵（８号を全て表面疵
情報として出力でること等が可能となり、ＳＮ比は悲く
なるが、製品に一度な品質７Ｊ１求められＣいる揚台等
にあっては、従来の一方向のみがらの照射によつＣは見
逃さ１１ζいｌ；ような表面疵も見逃づことなく検出′
Ｃきるようになる。
一方向の光にょっ−Ｃ険出Ｃれた疵（８号を全て表面疵
情報として出力でること等が可能となり、ＳＮ比は悲く
なるが、製品に一度な品質７Ｊ１求められＣいる揚台等
にあっては、従来の一方向のみがらの照射によつＣは見
逃さ１１ζいｌ；ような表面疵も見逃づことなく検出′
Ｃきるようになる。
尚、本発明の方法は、このような実施例に示したことぎ
装嵌を用い７こ方法のみに必ずしも限定されない。ｆｉ
ｔ］ち、各方向Ｘ、Ｙがら照削りる光の干渉を防止覆る
手段として、この実施例では照射をＲｎに断続的に行な
うようにしているが、これに代え、各り向Ｘ、Ｙがらｊ
！ｐ ＱＪ ｉる光の性買を変える（例えは輔光させた
り、異なる波長にするなど）ことにより（目互の干渉を
防止］るようにしてもよい。このようにしく各光を連続
して照射するようにすれば、照射時間が２ ＩＱになっ
た分だ（ブサンプリングの１ｉ報が増し、Ｓ、’Ｎ比の
向上が期待てきる。又、本発明の乃ン去、装置とも、各
方向からの光はこの実施例のように２方向に限定される
ものてはなく、３方向以上から照射ツることとすれば−
ｒ−のＳ Ｎ比向上か期待できるようになるものである
。
装嵌を用い７こ方法のみに必ずしも限定されない。ｆｉ
ｔ］ち、各方向Ｘ、Ｙがら照削りる光の干渉を防止覆る
手段として、この実施例では照射をＲｎに断続的に行な
うようにしているが、これに代え、各り向Ｘ、Ｙがらｊ
！ｐ ＱＪ ｉる光の性買を変える（例えは輔光させた
り、異なる波長にするなど）ことにより（目互の干渉を
防止］るようにしてもよい。このようにしく各光を連続
して照射するようにすれば、照射時間が２ ＩＱになっ
た分だ（ブサンプリングの１ｉ報が増し、Ｓ、’Ｎ比の
向上が期待てきる。又、本発明の乃ン去、装置とも、各
方向からの光はこの実施例のように２方向に限定される
ものてはなく、３方向以上から照射ツることとすれば−
ｒ−のＳ Ｎ比向上か期待できるようになるものである
。
以上説明して来た如く、本発明によれば、簡単な照明の
仕方の改良と、それに伴なう平易な信号処理回路の追加
により、誤りなく表面疵情報を入手づることができると
いう効果がある。従って、ｉＬ来のように計締機に疵形
状認識機能をもたせるｌ＼く、多量・復惟な認識パター
ンを２絶させる心髄かなくなり、ハード曲でのロス１−
低減、ｙ、、ｒ、識バターノの作成不要というソフト面
での」ス１〜及び手間の低減が図れるようになる。又、
本発明は多量の認識演算をづる必要がないことより、サ
ンブリンクから表面疵情報入手までの時間を短くてき、
連１／ｉ鋳造スラブ等の高速で搬送される金属物体のオ
ンライン回出に特に有益である。
仕方の改良と、それに伴なう平易な信号処理回路の追加
により、誤りなく表面疵情報を入手づることができると
いう効果がある。従って、ｉＬ来のように計締機に疵形
状認識機能をもたせるｌ＼く、多量・復惟な認識パター
ンを２絶させる心髄かなくなり、ハード曲でのロス１−
低減、ｙ、、ｒ、識バターノの作成不要というソフト面
での」ス１〜及び手間の低減が図れるようになる。又、
本発明は多量の認識演算をづる必要がないことより、サ
ンブリンクから表面疵情報入手までの時間を短くてき、
連１／ｉ鋳造スラブ等の高速で搬送される金属物体のオ
ンライン回出に特に有益である。
更に、本発明の装置によれば、異なる方向からの光の干
渉を防ぐ為に、照射を交互に断続的に行なわせる投光制
御器を採用することとしｔ：ため、１免めで安価な装置
で、多数の光の照射干渉に起因するＳ Ｎ比の低下を皆
無にすることができるという効果がある。
渉を防ぐ為に、照射を交互に断続的に行なわせる投光制
御器を採用することとしｔ：ため、１免めで安価な装置
で、多数の光の照射干渉に起因するＳ Ｎ比の低下を皆
無にすることができるという効果がある。
第１図は、本発明が採用された検出装置の実施例の全体
構成を示づ斜視図、第２図は、前記実施例で用いられて
いる信号氾理装置の構成を示すブロック線図、第３図（
ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ＞は、同じく各信号の処理状態を
示す線図である。 Ｘ、Ｙ・・・・・・異なる方向、 １０・・・・・・熱間スラグ（被検体たる金属物体）、
１２Ｘ、１２Ｙ・・・・・・投光器、 １４・・・・・・投光制御器、 １８Ｘ、１８Ｙ・・・・・・電気的信号、２０・・・・
・・受光器、 ２２ＸＹ・・・・・・表面疵情報、 ２４・・・・・・信号処理器、 １）ｘ 、 ｏｙ・・・・・・検出されるべぎ疵信号、
Ｅ１〜Ｅ４・・・・・・排除されるべき疵信号、θＸ、
ｏｙ・・・・・・角度。 代理人 高 矢 論 （ほか１名） 第１図 第２図 第３図
構成を示づ斜視図、第２図は、前記実施例で用いられて
いる信号氾理装置の構成を示すブロック線図、第３図（
ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ＞は、同じく各信号の処理状態を
示す線図である。 Ｘ、Ｙ・・・・・・異なる方向、 １０・・・・・・熱間スラグ（被検体たる金属物体）、
１２Ｘ、１２Ｙ・・・・・・投光器、 １４・・・・・・投光制御器、 １８Ｘ、１８Ｙ・・・・・・電気的信号、２０・・・・
・・受光器、 ２２ＸＹ・・・・・・表面疵情報、 ２４・・・・・・信号処理器、 １）ｘ 、 ｏｙ・・・・・・検出されるべぎ疵信号、
Ｅ１〜Ｅ４・・・・・・排除されるべき疵信号、θＸ、
ｏｙ・・・・・・角度。 代理人 高 矢 論 （ほか１名） 第１図 第２図 第３図
Claims (2)
- （１）池倹体たる金属物体の表面に、外部の相異なる２
以上の方向より光を照射し、これによって得られる被検
体表面からの多様類の反射光を受光し、夫々の反射光中
から得られる疵信号を抽出し、且つ（Ｕ比較して表面疵
情報を得ることを特徴とする金属物体の表面疵の検出方
法。 - （２）互いに異なる方向より被検体たる金属物体の表面
を前側可能に配置せしめた２以上のｊす光器と、該多方
向からの照射を交互に断続的に１１わせる投光制御ｌＩ
器と、被検体からの多種類の反射光を受光しＣ夫々を電
気的１５号に変換する受光器と、秒扮された多種類の°
電気的１１号を相比較すること（こよつ（１ぞ！検体の
表面疵情報を出力する信号思理器と、を備えたことを特
徴とする金属物体の表面疵の検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6955183A JPS59195144A (ja) | 1983-04-20 | 1983-04-20 | 金属物体の表面疵の検出方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6955183A JPS59195144A (ja) | 1983-04-20 | 1983-04-20 | 金属物体の表面疵の検出方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59195144A true JPS59195144A (ja) | 1984-11-06 |
Family
ID=13405971
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6955183A Pending JPS59195144A (ja) | 1983-04-20 | 1983-04-20 | 金属物体の表面疵の検出方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59195144A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL9500151A (nl) * | 1995-01-27 | 1996-09-02 | Stork Contiweb | Werkwijze en inrichting voor het op fouten inspecteren van een materiaalbaan, toepassing van de werkwijze bij het voorbereiden van een voorraadrol in een rollenwisselaar en rollenwisselaar voorzien van een dergelijke inrichting. |
| JP2022525855A (ja) * | 2019-03-29 | 2022-05-20 | ミンティット カンパニー，リミテッド | 電子機器価値評価システム |
-
1983
- 1983-04-20 JP JP6955183A patent/JPS59195144A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL9500151A (nl) * | 1995-01-27 | 1996-09-02 | Stork Contiweb | Werkwijze en inrichting voor het op fouten inspecteren van een materiaalbaan, toepassing van de werkwijze bij het voorbereiden van een voorraadrol in een rollenwisselaar en rollenwisselaar voorzien van een dergelijke inrichting. |
| JP2022525855A (ja) * | 2019-03-29 | 2022-05-20 | ミンティット カンパニー，リミテッド | 電子機器価値評価システム |
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