JP3197040B2 - 外観検査方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は搬送される塗装板の外観
検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】図３はかかる外観検査装置の構成図であ
る。コンベア１上には塗装板２が置載され、矢印（イ）
方向に搬送されている。このコンベア１の上方には照明
装置３が設けられ、塗装板２に光を照射している。又、
コンベア１の斜め上方にはラインセンサ４が配置されて
いる。このラインセンサは照明装置３により光が照射さ
れた塗装板２からの反射光を受光し、この受光量に応じ
たレベルの信号を出力する。この場合、ラインセンサ４
は走査クロックに従って所定の走査速度で塗装板２の幅
方向に走査して信号を出力する。

【０００３】この後、ラインセンサ４の出力信号は検査
装置に送られ、この検査装置において基準信号と比較さ
れる。この比較の結果、ラインセンサ４の出力信号レベ
ルが基準信号レベルよりも低ければ、欠陥と判定し、か
つラインセンサ４の走査クロックのカウント値から欠陥
の位置を求める。

【０００４】ところで、かかる検査では予め塗装板２の
流れる位置を明確に設定し、この塗装板２の位置に基づ
いてラインセンサ４の１走査に対する出力信号のうち検
査に用いる範囲、つまり視野範囲を設定している。

【０００５】このため、品種の異なる塗装板２、つまり
幅の異なる塗装板２を搬送する場合、この塗装板２の搬
送位置を設定し、かつラインセンサ４の視野範囲を変更
設定しなければならない。従って、品種の異なる塗装板
２が搬送されるごとにラインセンサ４の視野範囲を変更
設定しなければならず、多種少量の塗装板２が流れる場
合、又は幅の異なる塗装板２が混在している場合には、
各塗装板２に対する外観検査が困難である。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】以上のように品種の異
なる塗装板２を搬送する場合にはラインセンサ４の視野
範囲を変更設定しなければならず、多種少量の場合や幅
の異なる塗装板２が混在している場合には外観検査が困
難である。

【０００７】そこで本発明は、被検査体の流れる位置を
予め設定せずに多種少量で幅の異なる被検査体が混在し
ていても各被検査体の外観検査ができる外観検査方法を
提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】第１の本発明は、各種幅
が異なる被検査体を搬送する工程と、この被検査体の搬
送方向と交差する方向にラインセンサを走査する工程
と、前記被検査体からの反射光の受光量に応じた前記ラ
インセンサの出力信号と基準信号との各レベルを比較す
る工程と、前記ラインセンサの出力信号のレベルが高い
場合は第１信号を出力し、前記基準信号のレベルが高い
場合は第２信号を出力する工程と、前記ラインセンサの
走査クロックをカウントしてアドレスデータを得る工程
と、前記第２信号が出力されている期間の前記走査クロ
ックをカウントして前記被検査体の欠陥を検出する工程
と、この工程により前記欠陥が検出されなければ、前記
第１信号が出力されている期間の前記走査クロックのカ
ウント値を前記被検査体の幅として求める工程と、前記
工程により前記欠陥が検出されれば、当該欠陥を検出す
るまでの最初の前記第１信号の立ち上がりの前記アドレ
スデータと当該欠陥を検出してからの最終の前記第１信
号の立ち下がりの前記アドレスデータとに基づいて前記
被検査体の幅を求める工程とを有することを特徴とする
外観検査方法である。第２の本発明は、上記第１の本発
明の外観検査方法において、前記欠陥が検出されたとき
の前記被検査体の幅は、前記欠陥を検出したときの前記
アドレスデータと当該欠陥を検出するまでの最初の前記
第１信号が出力されている期間の前記走査クロックのカ
ウント値とに基づいて当該第１信号の始端の前記アドレ
スデータを読み取り、次に、前記欠陥を検出してからの
最終の前記第１信号が出力されている期間の前記走査ク
ロックのカウント値に基づいて当該第１信号の終端の前
記アドレスデータを読み取り、次に、前記始端の前記ア
ドレスデータと前記終端の前記アドレスデータとに基づ
いて前記被検査体の幅を求めることを特徴とする。

【０００９】

【作用】このような手段を備えたことにより、各種幅が
異なる被検査体を搬送し、この被検査体の搬送方向と交
差する方向にラインセンサを走査し、被検査体からの反
射光の受光量に応じたラインセンサの出力信号と基準信
号との各レベルを比較して、ラインセンサの出力信号の
レベルが高い場合は第１信号を出力し、基準信号のレベ
ルが高い場合は第２信号を出力し、このうち第２信号が
出力されている期間の走査クロックをカウントして被検
査体の欠陥を検出する。そして、ここで、欠陥が検出さ
れなければ、第１信号が出力されている期間の走査クロ
ックのカウント値を被検査体の幅として求め、欠陥が検
出されれば、最初の第１信号の立ち上がりのアドレスデ
ータと最終の第１信号の立ち下がりのアドレスデータと
に基づいて被検査体の幅を求める。 又、このときの欠陥
が検出されたときの被検査体の幅は、欠陥を検出したと
きのアドレスデータと当該欠陥を検出するまでの最初の
第１信号が出力されている期間の走査クロックのカウン
ト値とに基づいて当該第１信号の始端のアドレスデータ
を読み取り、次に、欠陥を検出してからの最終の第１信
号が出力されている期間の走査クロックのカウント値に
基づいて当該第１信号の終端のアドレスデータを読み取
り、次に、これら始端のアドレスデータと終端のアドレ
スデータとに基づいて求める。

【００１０】

【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。なお、図３と同一部分には同一符号を付
してその詳しい説明は省略する。

【００１１】図１は外観検査装置の構成図である。ライ
ンセンサ４の出力端子には増幅器（アンプ）１０が接続
されている。このうち増幅器１０の出力端子にはシェー
ディング補正回路１２を介して比較回路１３の一方の入
力端子に接続されている。又、ＣＰＵからの２値化指令
回路１１の出力端子にはラッチ回路１４、Ｄ／Ａ変換器
１５を介して比較回路１３の他方の入力端子に接続され
ている。なお、ＣＰＵからの２値化指令回路１１は欠陥
判定の基準となるレベルの閾値が設定される。

【００１２】比較回路１３はシェーディング補正回路１
２からの信号ＱとＤ／Ａ変換器１５からの基準電圧信号
Ｓの各レベルを比較し、信号Ｑのレベルが高ければハイ
レベル信号Ｈを出力し、基準電圧信号Ｓのレベルが高け
ればローレベル信号Ｌを出力する機能を有している。

【００１３】信号処理回路１６は、ハイレベル信号Ｈと
ラインセンサ４の走査クロックＣとに基づいて塗装板２
の幅を求める機能、ローレベル信号Ｌを取り込んで塗装
板２上の欠陥Ｇを検出するとともに塗装板２の幅から欠
陥Ｇの位置を求める機能を有している。

【００１４】具体的にはＣＰＵ等から成る制御回路１７
が設けられ、この制御回路１７に入力回路１８、幅カウ
ンタ１９、欠陥カウンタ２０、アドレスカウンタ２１及
び表示回路２２が接続されている。入力回路１８はロー
レベル信号Ｌを取り込み、この信号をカウンタ読取り指
示信号として制御回路１７に与えるものである。

【００１５】幅カウンタ１９はハイレベル信号Ｈを許可
信号として入力し、このハイレベル信号Ｈの入力期間だ
けラインセンサ４の走査クロックＣをカウントし、この
カウント値を塗装板２の幅データとする。なお、幅カウ
ンタ１９はローレベル信号Ｌを禁止信号として走査クロ
ックＣのカウントを禁止する。

【００１６】欠陥カウンタ２０はローレベル信号Ｌを許
可信号として入力し、このローレベル信号Ｌの入力期間
だけ走査クロックＣをカウントし、このカウント値を塗
装板２の欠陥データとする。なお、欠陥カウンタ１９は
ハイレベル信号Ｈを禁止信号として走査クロックＣのカ
ウントを禁止する。又、アドレスカウンタ２１は走査ク
ロックＣをカウントしてラインセンサ４の１走査におけ
るアドレス位置を示すアドレスデータを得るものであ
る。

【００１７】制御回路１７は欠陥カウンタ２０により１
つの欠陥Ｇを検出した場合には、幅カウンタ１９の幅デ
ータと、カウンタ読取り指示信号が入力したときのアド
レスデータに基づいて真の幅データを求める機能を有し
ている。又、制御回路１７は幅データ及び欠陥データか
ら欠陥Ｇの位置を求める機能を有している。次に上記の
如く構成された装置の作用について説明する。

【００１８】コンベア１により塗装板２は矢印（イ）方
向に流れている。この状態に塗装板２は照明装置３によ
り光が照射され、その反射光がラインセンサ４により受
光される。この場合、ラインセンサ４は走査クロックＣ
に従って所定の走査速度で塗装板２の幅方向に走査して
信号を出力する。この信号は増幅器１０により増幅さ
れ、次のシェーディング補正回路１２によりシェーディ
ング補正されて信号Ｑとして比較回路１３に入力する。

【００１９】一方、ＣＰＵからの２値化指令回路１１の
閾値設定値は、次のラッチ回路１４により保持され、さ
らにＤ／Ａ変換器１５により基準電圧信号Ｓに変換さ
れ、比較回路１３に入力する。

【００２０】この比較回路１３はシェーディング補正回
路１２からの信号ＱとＤ／Ａ変換器１５からの基準電圧
信号Ｓの各レベルを比較し、信号Ｑのレベルが高ければ
ハイレベル信号Ｈを出力し、基準電圧信号Ｓのレベルが
高ければローレベル信号を出力する。

【００２１】例えば、ラインセンサ４が図２に示すよう
に塗装板２の欠陥Ｇの存在しない位置ａを走査した場
合、比較回路１３は期間ｔ１のハイレベル信号Ｈを出力
する。このとき、幅カウンタ１９はこのハイレベル信号
Ｈを許可信号として入力し、このハイレベル信号Ｈの入
力期間ｔ１にラインセンサ４の走査クロックＣをカウン
トし、このカウント値を塗装板２の幅データとする。こ
れとともに欠陥カウンタ２０はハイレベル信号Ｈのみ入
力するので、欠陥データは「０」となる。そして、アド
レスカウンタ２１は走査クロックＣをカウントして１走
査位置のアドレスデータを得る。制御回路１７は幅デー
タ、欠陥データ及びアドレスデータを読み取って内部メ
モリに記憶すると共に表示回路２２に表示する。

【００２２】一方、ラインセンサ４が塗装板２の欠陥Ｇ
の存在する位置ｂを走査した場合、比較回路１３は期間
ｔ２の第１ハイレベル信号Ｈを出力し、次に期間ｔ３の
ローレベル信号を出力し、次に期間ｔ４の第２ハイレベ
ル信号Ｈを出力する。このとき、幅カウンタ１９は第１
及び第２の各ハイレベル信号Ｈをそれぞれ許可信号とし
て入力し、これら入力期間ｔ２、ｔ４に走査クロックＣ
をそれぞれカウントして各幅データとする。又、欠陥カ
ウンタ２０はローレベル信号Ｌを許可信号として走査ク
ロックＣをカウントして欠陥データとする。そして、ア
ドレスカウンタ２１は走査クロックＣをカウントして１
走査位置のアドレスデータを得る。

【００２３】ところで、この場合、幅カウンタ１９の幅
データは期間ｔ３に相当するカウント値だけ実際の塗装
板２の幅よりも少ない値となっている。従って、制御回
路１７は欠陥データから欠陥Ｇの存在を判断すると、幅
データ及びアドレスデータから真の幅データを求める。

【００２４】すなわち、制御回路１７は欠陥Ｇを検出す
るまでの最初の第１ハイレベル信号Ｈの立下がり時にお
けるアドレスデータk2を読取り、このアドレスデータk2
から第１ハイレベル信号Ｈの幅データ（期間ｔ２のカウ
ント値）を減算する。これにより第１ハイレベル信号Ｈ
の始端のアドレスk1が求められる。なお、制御回路１７
はカウンタ読取り指示信号の入力時にアドレスカウンタ
２１のアドレスデータk2を読み取る。次に制御回路１７
は欠陥Ｇを検出してからの最終の第２ハイレベル信号Ｈ
の立下がり時、つまりカウンタ読取り指示信号の入力時
にアドレスデータk3を読取って同信号Ｈの終端を求め
る。次に制御回路１７は終端のアドレスk3から始端のア
ドレスk1を減算して塗装板２の幅データを求める。そし
て、制御回路１７はこれら幅データ、欠陥データ及びア
ドレスデータを読み取って内部メモリに記憶すると共に
表示回路２２に表示する。

【００２５】このように上記一実施例によれば、塗装板
２の幅を自動的に求めて欠陥Ｇの検出及びその位置を求
めるので、各種幅の異なる塗装板２を流しても、又各種
幅の異なる塗装板２が混在していても、各種塗装板２に
対して位置決めを行うことなしに塗装板２の外観検査が
できる。従って、塗装板２の種類が変わっても、その段
取り作業を行わずに外観検査ができる。

【００２６】なお、本発明は上記一実施例に限定される
ものでなくその要旨を変更しない範囲で変形してもよ
い。例えば、塗装板２を搬送させるのでなく、ラインセ
ンサ４を塗装板２に対して移動させてもよい。又、１走
査ラインに複数の欠陥Ｇが存在した場合の塗装板２の幅
は、最初のハイレベル信号の立上りと最終のハイレベル
信号の立下がりの各アドレスデータから求めるようにす
ればよい。

【００２７】

【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、被
検査体の幅を自動的に求めて欠陥の検出及びその位置を
求めるので、各種幅の異なる被検査体を流しても、又各
種幅の異なる被検査体が混在していても、これら多種少
量の被検査体に対して位置決めを行うことなしに被検査
体の外観検査ができる外観検査方法を提供できる。又、
本発明によれば、被検査体の幅、欠陥、欠陥の位置を求
めることができる外観検査方法を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係わる外観検査装置の一実施例を示す
構成図。

【図２】同装置の検査作用を示す図。

【図３】従来装置を説明するための図。

【符号の説明】

１…コンベア、２…塗装板、３…照明装置、４…ライン
センサ、１３…比較回路、１６…信号処理回路、１７…
制御回路、１９…幅カウンタ、２０…欠陥カウンタ、２
１…アドレスカウンタ。

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 各種幅が異なる被検査体を搬送する工程
   と、 この被検査体の搬送方向と交差する方向にラインセンサ
   を走査する工程と、 前記被検査体からの反射光の受光量に応じた前記ライン
   センサの出力信号と基準信号との各レベルを比較する工
   程と、 前記ラインセンサの出力信号のレベルが高い場合は第１
   信号を出力し、前記基準信号のレベルが高い場合は第２
   信号を出力する工程と、前記ラインセンサの走査クロックをカウントしてアドレ
   スデータを得る工程と、 前記第２信号が出力されている期間の前記走査クロック
   をカウントして前記被検査体の欠陥を検出する工程と、 この工程により前記欠陥が検出されなければ、前記第１
   信号が出力されている期間の前記走査クロックのカウン
   ト値を前記被検査体の幅として求める工程と、 前記工程により前記欠陥が検出されれば、当該欠陥を検
   出するまでの最初の前記第１信号の立ち上がりの前記ア
   ドレスデータと当該欠陥を検出してからの最終の前記第
   １信号の立ち下がりの前記アドレスデータとに基づいて
   前記被検査体の幅を求める工程と、 を有することを特徴とする外観検査方法。
2. 【請求項２】 前記欠陥が検出されたときの前記被検査
   体の幅は、前記欠陥を検出したときの前記アドレスデー
   タと当該欠陥を検出するまでの最初の前記第１信号が出
   力されている期間の前記走査クロックのカウント値とに
   基づいて当該第１信号の始端の前記アドレスデータを読
   み取り、 次に、前記欠陥を検出してからの最終の前記第１信号が
   出力されている期間の前記走査クロックのカウント値に
   基づいて当該第１信号の終端の前記アドレスデータを読
   み取り、 次に、前記始端の前記アドレスデータと前記終端の前記
   アドレスデータとに基づいて前記被検査体の幅を求め
   る、 ことを特徴とする請求項１記載の外観検査方法。