JPS6252815B2 - - Google Patents
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- JPS6252815B2 JPS6252815B2 JP55044359A JP4435980A JPS6252815B2 JP S6252815 B2 JPS6252815 B2 JP S6252815B2 JP 55044359 A JP55044359 A JP 55044359A JP 4435980 A JP4435980 A JP 4435980A JP S6252815 B2 JPS6252815 B2 JP S6252815B2
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- bottle
- signal
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- circuit
- camera
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- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は瓶口特に瓶天面の検査装置に関する。
一般に瓶類を使用する場合、たとえばビール瓶
を工場で使用するのにコンベア上を流して瓶口等
に割欠損がないか検査している。しかし従来の瓶
口の割欠損有無の検査は作業員が一本一本目視で
チエツクして行なうものであり、その作業には多
くの作業員を要するし作業自体は単調なものとな
る故、長時間その作業を続けることは作業員にか
なりの疲労を与えるおそれがあるという問題があ
つた。
を工場で使用するのにコンベア上を流して瓶口等
に割欠損がないか検査している。しかし従来の瓶
口の割欠損有無の検査は作業員が一本一本目視で
チエツクして行なうものであり、その作業には多
くの作業員を要するし作業自体は単調なものとな
る故、長時間その作業を続けることは作業員にか
なりの疲労を与えるおそれがあるという問題があ
つた。
それゆえに本発明の目的は上記従来の検査方法
の問題点を解消し、人手を要することなく自動的
に瓶天面（以下瓶口という）の検査ができる検査
装置を提供することである。
の問題点を解消し、人手を要することなく自動的
に瓶天面（以下瓶口という）の検査ができる検査
装置を提供することである。
以上の目的を達成するため本発明の検査装置
は、コンベアにより単列的に移送される瓶に対
し、上方より光を瓶天面に照射し、その反射光に
よつて瓶天面を検査する装置において、瓶の移動
する方向と直角に瓶天面全体の一次元走査を行な
い前記瓶天面に関する撮像信号を得るカメラと、
前記カメラより得られる各走査毎の撮像信号が２
つの離隔した矩形の信号波であることを検出する
手段と、前記検出手段により検出された２つの信
号波の信号巾の差を計算する手段と、前記信号巾
の差の最大値を保持する手段と、前記計算手段に
よる差値の最大値が所定値以上であるか否か判定
し、所定値以上である場合に検査瓶口に割欠損が
あると判断するように構成している。
は、コンベアにより単列的に移送される瓶に対
し、上方より光を瓶天面に照射し、その反射光に
よつて瓶天面を検査する装置において、瓶の移動
する方向と直角に瓶天面全体の一次元走査を行な
い前記瓶天面に関する撮像信号を得るカメラと、
前記カメラより得られる各走査毎の撮像信号が２
つの離隔した矩形の信号波であることを検出する
手段と、前記検出手段により検出された２つの信
号波の信号巾の差を計算する手段と、前記信号巾
の差の最大値を保持する手段と、前記計算手段に
よる差値の最大値が所定値以上であるか否か判定
し、所定値以上である場合に検査瓶口に割欠損が
あると判断するように構成している。
以下図面に示す実施例を参照して本発明を詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は本発明の実施例装置の適用例を示す概
略図である。
略図である。
第１図において１は被検査瓶２を載せ、矢印の
方向に被検査瓶２を移送させるコンベアである。
３は光源でありこれより照射された光は被検査瓶
２の瓶口で反射されて、イメージセンサカメラ４
に向かう。イメージセンサカメラ（以下カメラと
いう）は、たとえばCCD素子（電荷結合素子）
が多数個配列され、これらのCCD素子に光があ
たるとその光信号を電気信号に変換して撮像信号
を取出す一次元走査の可能なカメラであり、これ
自体はすでに周知のものである。５はカメラ４よ
り割欠損を検出するに十分な回数（１秒内に3333
回程度）の撮像信号を受けて信号処理を行なう電
子回路部である。又被検査瓶２を真上からみると
第２図のようになり、カメラ４による走査線６は
被検査瓶２の瓶口の外径部７の直径よりも大なる
ように設定されている。
方向に被検査瓶２を移送させるコンベアである。
３は光源でありこれより照射された光は被検査瓶
２の瓶口で反射されて、イメージセンサカメラ４
に向かう。イメージセンサカメラ（以下カメラと
いう）は、たとえばCCD素子（電荷結合素子）
が多数個配列され、これらのCCD素子に光があ
たるとその光信号を電気信号に変換して撮像信号
を取出す一次元走査の可能なカメラであり、これ
自体はすでに周知のものである。５はカメラ４よ
り割欠損を検出するに十分な回数（１秒内に3333
回程度）の撮像信号を受けて信号処理を行なう電
子回路部である。又被検査瓶２を真上からみると
第２図のようになり、カメラ４による走査線６は
被検査瓶２の瓶口の外径部７の直径よりも大なる
ように設定されている。
第３図は本発明の実施例装置のブロツク図を示
す回路接続図であり、第１図の電子回路部５がさ
らに詳細に示されている。
す回路接続図であり、第１図の電子回路部５がさ
らに詳細に示されている。
第３図において１０はカメラ４からの信号を受
ける波形整形回路である。１１，１２はフリツプ
フロツプ回路であつて、１１は波形整形回路１０
の出力が撮像信号の第１の矩形波信号を導出した
ことを記憶するために、１２は波形整形回路１０
の出力が撮像信号の第２の矩形波信号を導出した
ことを記憶するために設けられている。波形整形
回路１０の出力端は、微分回路１３を介してフリ
ツプフロツプ回路１１のセツト入力端に接続され
るとともに、アンドゲート１４および１５の入力
の一端に接続されている。微分回路１３は波形整
形回路１０の出力の立上り微分パルスを得るため
に設けられている。微分回路１３の出力端はさら
にアンドゲート１６，１７，１８の入力の一端に
接続されている。又フリツプフロツプ回路１１の
セツト出力端はアンドゲート１４の他の入力の一
端に接続されるとともに、アンドゲート１６，１
７の入力の他端にも接続されている。同じくフリ
ツプフロツプ回路１２のセツト出力端はアンドゲ
ート１５の他の入力端に接続されるとともに、ア
ンドゲート１８の他の入力端および制御回路１９
にも接続されている。２０および２１はオア回路
である。オア回路２０はアンドゲート１６の出力
およびアンドゲート１８の出力をそれぞれ入力に
受け、その出力端はフリツプフロツプ回路１１の
リセツト入力端に接続されている。オア回路２１
はアンドゲート１８および制御回路１９の出力を
入力に受け、さらにその出力端はフリツプフロツ
プ回路１２のリセツト入力端に接続されている。
２２はクロツクパルスの信号源でその出力はアン
ドゲート１４及び１５の入力のさらに他の一端に
接続される。なおこのクロツク信号源は特に図示
していないがクロツク動作の一般的な信号として
使用される。アンドゲート１４の出力端は計数器
２３に、アンドゲート１５の出力端は計数器２４
にそれぞれ接続されている。計数器２３は波形整
形回路１０の出力より導出される撮像信号の第１
の矩形波のパルス巾に対応するクロツク数を計数
し保持するために、計数器２４は波形整形回路１
０の出力より導出される撮像信号の第２の矩形波
のパルス巾に対応するクロツク数を計数し、保持
するためにそれぞれ設けられている。２５は計数
器２３，２４よりの計数信号を入力に受けてその
差を計算する計算回路、さらに２６はラツチ回路
である。２７はラツチ回路２６とラツチ回路２８
の出力を比較する回路で、ラツチ回路２６の出力
がラツチ回路２８の出力よりも大の時のみラツチ
回路２８に信号を送り、ラツチ回路２８のラツチ
内容を更新する。すなわちラツチ回路２８にはこ
れまでの差の最大値を保持する。２９はデコー
ダ、３０は表示装置、３１は比較回路である。比
較回路３１はデコーダ２９の出力と設定器３２の
出力を比較するよう接続されている。設定器３２
は前記差の数値がそれよりも大となると不良品と
なる数値に設定している。端子３３は良品を指定
する信号を出力する端子、さらに端子３４は不良
品を指定する信号を出力する端子である。なお計
算回路２５における差の計算は、各サンプリング
走査毎のしかも走査において矩形波信号が２個以
上導出された場合、すなわちフリツプフロツプ１
２がセツトされ制御回路１９にその信号が供給さ
れている場合にのみ、行なわれるように制御され
る。
ける波形整形回路である。１１，１２はフリツプ
フロツプ回路であつて、１１は波形整形回路１０
の出力が撮像信号の第１の矩形波信号を導出した
ことを記憶するために、１２は波形整形回路１０
の出力が撮像信号の第２の矩形波信号を導出した
ことを記憶するために設けられている。波形整形
回路１０の出力端は、微分回路１３を介してフリ
ツプフロツプ回路１１のセツト入力端に接続され
るとともに、アンドゲート１４および１５の入力
の一端に接続されている。微分回路１３は波形整
形回路１０の出力の立上り微分パルスを得るため
に設けられている。微分回路１３の出力端はさら
にアンドゲート１６，１７，１８の入力の一端に
接続されている。又フリツプフロツプ回路１１の
セツト出力端はアンドゲート１４の他の入力の一
端に接続されるとともに、アンドゲート１６，１
７の入力の他端にも接続されている。同じくフリ
ツプフロツプ回路１２のセツト出力端はアンドゲ
ート１５の他の入力端に接続されるとともに、ア
ンドゲート１８の他の入力端および制御回路１９
にも接続されている。２０および２１はオア回路
である。オア回路２０はアンドゲート１６の出力
およびアンドゲート１８の出力をそれぞれ入力に
受け、その出力端はフリツプフロツプ回路１１の
リセツト入力端に接続されている。オア回路２１
はアンドゲート１８および制御回路１９の出力を
入力に受け、さらにその出力端はフリツプフロツ
プ回路１２のリセツト入力端に接続されている。
２２はクロツクパルスの信号源でその出力はアン
ドゲート１４及び１５の入力のさらに他の一端に
接続される。なおこのクロツク信号源は特に図示
していないがクロツク動作の一般的な信号として
使用される。アンドゲート１４の出力端は計数器
２３に、アンドゲート１５の出力端は計数器２４
にそれぞれ接続されている。計数器２３は波形整
形回路１０の出力より導出される撮像信号の第１
の矩形波のパルス巾に対応するクロツク数を計数
し保持するために、計数器２４は波形整形回路１
０の出力より導出される撮像信号の第２の矩形波
のパルス巾に対応するクロツク数を計数し、保持
するためにそれぞれ設けられている。２５は計数
器２３，２４よりの計数信号を入力に受けてその
差を計算する計算回路、さらに２６はラツチ回路
である。２７はラツチ回路２６とラツチ回路２８
の出力を比較する回路で、ラツチ回路２６の出力
がラツチ回路２８の出力よりも大の時のみラツチ
回路２８に信号を送り、ラツチ回路２８のラツチ
内容を更新する。すなわちラツチ回路２８にはこ
れまでの差の最大値を保持する。２９はデコー
ダ、３０は表示装置、３１は比較回路である。比
較回路３１はデコーダ２９の出力と設定器３２の
出力を比較するよう接続されている。設定器３２
は前記差の数値がそれよりも大となると不良品と
なる数値に設定している。端子３３は良品を指定
する信号を出力する端子、さらに端子３４は不良
品を指定する信号を出力する端子である。なお計
算回路２５における差の計算は、各サンプリング
走査毎のしかも走査において矩形波信号が２個以
上導出された場合、すなわちフリツプフロツプ１
２がセツトされ制御回路１９にその信号が供給さ
れている場合にのみ、行なわれるように制御され
る。
次に以上のように構成される実施例装置の動作
について説明する。
について説明する。
今被検査瓶２が第２図に示す矢符のように移動
し、カメラ４の走査線６を通過してゆくと想定す
る。瓶２の外径部端７がまだ走査線６に達しない
ときは光源３よりの光は瓶２で反射されない。し
たがつてカメラ４のCCD素子より何の撮像信号
も導出されない。しかし瓶２の移動が進み瓶２の
イの位置が走査線６に達するとカメラ４の中央部
のCCD素子は瓶２よりの反射光をキヤツチし、
第４図Ａに示すようにCCD素子毎に個別のパル
ス状信号を導出する。カメラ４よりのこの信号は
波形整形回路１０に加えられ、その出力は第４図
Ｂに示す信号となる。位置イにおける撮像信号は
この１個の矩形波のみであり、その矩形波信号の
立上りによりフリツプフロツプ回路１１はセツト
されるが、フリツプフロツプ回路１２はセツトさ
れない。したがつてフリツプフロツプ回路１２か
らセツト出力信号が制御回路１９に送られること
はない。したがつて制御回路１９は計算回路２５
に演算指令を送らないので、計算回路２５におけ
る減算は実行されない。
し、カメラ４の走査線６を通過してゆくと想定す
る。瓶２の外径部端７がまだ走査線６に達しない
ときは光源３よりの光は瓶２で反射されない。し
たがつてカメラ４のCCD素子より何の撮像信号
も導出されない。しかし瓶２の移動が進み瓶２の
イの位置が走査線６に達するとカメラ４の中央部
のCCD素子は瓶２よりの反射光をキヤツチし、
第４図Ａに示すようにCCD素子毎に個別のパル
ス状信号を導出する。カメラ４よりのこの信号は
波形整形回路１０に加えられ、その出力は第４図
Ｂに示す信号となる。位置イにおける撮像信号は
この１個の矩形波のみであり、その矩形波信号の
立上りによりフリツプフロツプ回路１１はセツト
されるが、フリツプフロツプ回路１２はセツトさ
れない。したがつてフリツプフロツプ回路１２か
らセツト出力信号が制御回路１９に送られること
はない。したがつて制御回路１９は計算回路２５
に演算指令を送らないので、計算回路２５におけ
る減算は実行されない。
しかし続いて瓶２の移動が進み、ロの位置を通
過すると瓶２の口にクロスする走査線６は２つの
部分にわけられる。たとえばハの位置では、走査
線６が瓶口とクロスする部分だけカメラ４の
CCD素子より出力を導出することになり、第４
図Ｃのような信号となる。カメラ４に得られるこ
の信号は波形整形回路１０で整形されて第４図Ｄ
のように互いに離れた２個の矩形波となる。波形
整形回路１０の出力に最初の矩形波が導出される
と、この信号がアンドゲート１４，１５に加えら
れるとともに、微分回路１３にも加えられる。微
分回路１３はこの信号の立上り微分をとりフリツ
プフロツプ回路１１に加えるので、フリツプフロ
ツプ回路１１はセツトされる。そのセツト出力は
アンドゲート１４に加えられるので、アンドゲー
トは波形整形回路１０より導出される第１の矩形
波に規整されるクロツクパルス（第４図Ｅに示
す）をクロツクパルス源２２から計数器２３に通
す。この時点ではまだフリツプフロツプ回路１２
がセツトされていないので、クロツク源２２から
のクロツクはアンドゲート１５を経て計数器２４
に加えられることはない。波形整形回路１０の出
力に第２の矩形波信号が導出されると、この矩形
波が微分回路１３に加えられ、立上り微分された
パルスがアンドゲート１６，１７に加えられる。
フリツプフロツプ回路１１がセツトされたままな
のでその出力もアンドゲート１６，１７に加えら
れており、アンドゲート１６，１７の出力端はと
もに論理「１」信号を導出する。アンドゲート１
６の出力はオア回路２０を経てフリツプフロツプ
回路１１のリセツト入力端に加えられ、フリツプ
フロツプ回路１１をリセツトする。一方アンドゲ
ート１７の出力はフリツプフロツプ回路１２のセ
ツト入力端に加えられるのでフリツプフロツプ回
路１２をセツトする。また波形整形回路１０の出
力に導出された第２の矩形波は、アンドゲート１
４，１５に加えられているのでこの第２の矩形波
の信号巾に規整されたクロツク（第４図Ｆに示
す）がクロツク源２２から、アンドゲート１５を
経て計数器２４に加えられる。このとき、フリツ
プフロツプ回路１１はリセツトされているのでア
ンドゲート１４は閉じられており、クロツク源２
２よりのクロツクパルスが計数器２３に加えられ
ることはない。このようにして１回の走査で第１
の矩形波の信号巾に相当する計数値が計数器２３
に、第２の矩形波の信号巾に相当する計数値が計
数器にそれぞれ保持される。矩形波が２個になる
とフリツプフロツプ回路１２がセツトされ、その
出力信号が制御回路１９にも送られる。制御回路
１９はこの信号が送られて来たことを条件に計算
回路２５に減算指令を出す。計算回路２５はこの
減算指令を受けて、計数器２３の計数値から計数
器２４の計数値を減ずる。その計算値すなわち差
値をラツチ回路２６に保持する。位置ハにおいて
は瓶口に割欠損がないので、第１矩形波と第２矩
形波の巾はほとんど同じであり差値は非常に小さ
な値である。比較回路２７はラツチ回路２６の出
力とラツチ回路２８の出力（最初は０）と比較
し、ラツチ回路２６の出力がラツチ回路２８の出
力よりも大なる場合、すなわち今回の走査による
差値が前回以前の差値よりも大なる場合ラツチ回
路２８に信号を送る。比較回路２７より信号を受
けたラツチ回路２８はラツチ回路２６の出力を保
持し直す。すなわちラツチ回路２８はつねに差値
の最大値を保持する。
過すると瓶２の口にクロスする走査線６は２つの
部分にわけられる。たとえばハの位置では、走査
線６が瓶口とクロスする部分だけカメラ４の
CCD素子より出力を導出することになり、第４
図Ｃのような信号となる。カメラ４に得られるこ
の信号は波形整形回路１０で整形されて第４図Ｄ
のように互いに離れた２個の矩形波となる。波形
整形回路１０の出力に最初の矩形波が導出される
と、この信号がアンドゲート１４，１５に加えら
れるとともに、微分回路１３にも加えられる。微
分回路１３はこの信号の立上り微分をとりフリツ
プフロツプ回路１１に加えるので、フリツプフロ
ツプ回路１１はセツトされる。そのセツト出力は
アンドゲート１４に加えられるので、アンドゲー
トは波形整形回路１０より導出される第１の矩形
波に規整されるクロツクパルス（第４図Ｅに示
す）をクロツクパルス源２２から計数器２３に通
す。この時点ではまだフリツプフロツプ回路１２
がセツトされていないので、クロツク源２２から
のクロツクはアンドゲート１５を経て計数器２４
に加えられることはない。波形整形回路１０の出
力に第２の矩形波信号が導出されると、この矩形
波が微分回路１３に加えられ、立上り微分された
パルスがアンドゲート１６，１７に加えられる。
フリツプフロツプ回路１１がセツトされたままな
のでその出力もアンドゲート１６，１７に加えら
れており、アンドゲート１６，１７の出力端はと
もに論理「１」信号を導出する。アンドゲート１
６の出力はオア回路２０を経てフリツプフロツプ
回路１１のリセツト入力端に加えられ、フリツプ
フロツプ回路１１をリセツトする。一方アンドゲ
ート１７の出力はフリツプフロツプ回路１２のセ
ツト入力端に加えられるのでフリツプフロツプ回
路１２をセツトする。また波形整形回路１０の出
力に導出された第２の矩形波は、アンドゲート１
４，１５に加えられているのでこの第２の矩形波
の信号巾に規整されたクロツク（第４図Ｆに示
す）がクロツク源２２から、アンドゲート１５を
経て計数器２４に加えられる。このとき、フリツ
プフロツプ回路１１はリセツトされているのでア
ンドゲート１４は閉じられており、クロツク源２
２よりのクロツクパルスが計数器２３に加えられ
ることはない。このようにして１回の走査で第１
の矩形波の信号巾に相当する計数値が計数器２３
に、第２の矩形波の信号巾に相当する計数値が計
数器にそれぞれ保持される。矩形波が２個になる
とフリツプフロツプ回路１２がセツトされ、その
出力信号が制御回路１９にも送られる。制御回路
１９はこの信号が送られて来たことを条件に計算
回路２５に減算指令を出す。計算回路２５はこの
減算指令を受けて、計数器２３の計数値から計数
器２４の計数値を減ずる。その計算値すなわち差
値をラツチ回路２６に保持する。位置ハにおいて
は瓶口に割欠損がないので、第１矩形波と第２矩
形波の巾はほとんど同じであり差値は非常に小さ
な値である。比較回路２７はラツチ回路２６の出
力とラツチ回路２８の出力（最初は０）と比較
し、ラツチ回路２６の出力がラツチ回路２８の出
力よりも大なる場合、すなわち今回の走査による
差値が前回以前の差値よりも大なる場合ラツチ回
路２８に信号を送る。比較回路２７より信号を受
けたラツチ回路２８はラツチ回路２６の出力を保
持し直す。すなわちラツチ回路２８はつねに差値
の最大値を保持する。
瓶２がさらに進んでニの位置に来ると走査線６
は割欠損部にクロスするので、第２の矩形波の信
号巾が小さくなり差値も大きくなる。瓶１個につ
いての走査が終ると結局ラツチ回路２８に差値の
最大値が保持されることになる。ラツチ回路２８
の出力はデコーダ２９を経て表示装置３０に表示
されるとともに、比較回路３１にも加えられる。
比較回路３１はデコーダ２９の出力内容と設定値
と比較する。比較の結果、差値が設定値よりも大
なる時は端子３３より不良信号を、差値が設定値
よりも小なる時は端子３４より良品信号を得る。
このようにして第１の矩形波と第２の矩形波の信
号の巾の差値が基準値よりも大なるか否かを判別
することにより、瓶の良、不良を検査することが
できる。
は割欠損部にクロスするので、第２の矩形波の信
号巾が小さくなり差値も大きくなる。瓶１個につ
いての走査が終ると結局ラツチ回路２８に差値の
最大値が保持されることになる。ラツチ回路２８
の出力はデコーダ２９を経て表示装置３０に表示
されるとともに、比較回路３１にも加えられる。
比較回路３１はデコーダ２９の出力内容と設定値
と比較する。比較の結果、差値が設定値よりも大
なる時は端子３３より不良信号を、差値が設定値
よりも小なる時は端子３４より良品信号を得る。
このようにして第１の矩形波と第２の矩形波の信
号の巾の差値が基準値よりも大なるか否かを判別
することにより、瓶の良、不良を検査することが
できる。
なお、上記において一走査に３個の矩形波が生
じる場合には、第３番目の矩形波でフリツプフロ
ツプ回路１１および１２ともリセツトされる。し
かし差の計算は第１の矩形波と第２の矩形波につ
いて行なわれる。
じる場合には、第３番目の矩形波でフリツプフロ
ツプ回路１１および１２ともリセツトされる。し
かし差の計算は第１の矩形波と第２の矩形波につ
いて行なわれる。
なお、上記実施例においては矩形波が２個の場
合のみ差値を求めるようにしたので、たとえば瓶
の肉厚全部に割欠損がある場合は矩形波が１個と
なり、その場合の差値は求められない。このよう
な場合でも差値が求められるように良品瓶の場合
２つの信号波となる第２図の位置ロから位置ホの
期間において、各走査毎に計算回路に減算指令が
出るようにすればよい。位置ロから位置ホの期間
を検出を行なう方法の一例を第５図に示す。
合のみ差値を求めるようにしたので、たとえば瓶
の肉厚全部に割欠損がある場合は矩形波が１個と
なり、その場合の差値は求められない。このよう
な場合でも差値が求められるように良品瓶の場合
２つの信号波となる第２図の位置ロから位置ホの
期間において、各走査毎に計算回路に減算指令が
出るようにすればよい。位置ロから位置ホの期間
を検出を行なう方法の一例を第５図に示す。
第５図において、５０はスタート時すなわち第
２図におけるロの位置を検出するための光電スイ
ツチである。光電スイツチ５０は瓶２の瓶口の内
縁部２ａの先行する部分が走査線６に達する時に
瓶２の胴部の先行する外縁２ｃを検出するように
配置されている。５１は終了時すなわち第２図に
おけるホの位置を検出するために設けられる光電
スイツチである。光電スイツチ５１は瓶２が２′
の位置に来た時、すなわち瓶口の後行する内縁部
２ａが走査線６に達したとき、瓶２の胴部の先行
する外縁部２ｃを検出する位置に配置されてい
る。瓶２の移動により光電スイツチ５０が瓶体を
検出した時はフリツプフロツプ回路５２がセツト
され、さらに光電スイツチ５１が瓶体を検出した
時はフリツプフロツプ回路５２がリセツトされ
る。このセツト出力信号を、第２図における位置
ロから位置ホの期間を指定する信号として使用す
ればよい。
２図におけるロの位置を検出するための光電スイ
ツチである。光電スイツチ５０は瓶２の瓶口の内
縁部２ａの先行する部分が走査線６に達する時に
瓶２の胴部の先行する外縁２ｃを検出するように
配置されている。５１は終了時すなわち第２図に
おけるホの位置を検出するために設けられる光電
スイツチである。光電スイツチ５１は瓶２が２′
の位置に来た時、すなわち瓶口の後行する内縁部
２ａが走査線６に達したとき、瓶２の胴部の先行
する外縁部２ｃを検出する位置に配置されてい
る。瓶２の移動により光電スイツチ５０が瓶体を
検出した時はフリツプフロツプ回路５２がセツト
され、さらに光電スイツチ５１が瓶体を検出した
時はフリツプフロツプ回路５２がリセツトされ
る。このセツト出力信号を、第２図における位置
ロから位置ホの期間を指定する信号として使用す
ればよい。
又上記実施例においては計数器、フリツプフロ
ツプ回路、ゲート回路、計算回路等の回路要素を
組合せて構成しているが、これらの回路にかえて
マイクロコンピユータを採用することも可能であ
る。
ツプ回路、ゲート回路、計算回路等の回路要素を
組合せて構成しているが、これらの回路にかえて
マイクロコンピユータを採用することも可能であ
る。
以上のようにこの発明によれば、カメラの一次
元走査により得られる撮像信号たる矩形波信号の
２つの信号巾の差を計算手段で計算し、その計算
された差値が所定値以上であれば不良品と判定す
るものであり、瓶口の検査を何ら人手をわずらわ
せることなく自動的になすことができ、その省力
化に果す役割は大きい。
元走査により得られる撮像信号たる矩形波信号の
２つの信号巾の差を計算手段で計算し、その計算
された差値が所定値以上であれば不良品と判定す
るものであり、瓶口の検査を何ら人手をわずらわ
せることなく自動的になすことができ、その省力
化に果す役割は大きい。
第１図は、本発明の実施例装置が適用される一
例を示す概略図、第２図は、被検査瓶口と走査線
の位置関係を示す図、第３図は、本発明の一実施
例のブロツク図を示す回路接続図、第４図は、第
３図実施例の動作を説明するための信号波形図、
第５図は他の実施例の一部を示す概略図である。
２……瓶、４……カメラ、１１，１２……フリツ
プフロツプ回路、２３，２４……計数器、２５…
…計算回路、２６，２８……ラツチ回路、２７，
３１……比較回路、５０，５１……光電スイツ
チ。
例を示す概略図、第２図は、被検査瓶口と走査線
の位置関係を示す図、第３図は、本発明の一実施
例のブロツク図を示す回路接続図、第４図は、第
３図実施例の動作を説明するための信号波形図、
第５図は他の実施例の一部を示す概略図である。
２……瓶、４……カメラ、１１，１２……フリツ
プフロツプ回路、２３，２４……計数器、２５…
…計算回路、２６，２８……ラツチ回路、２７，
３１……比較回路、５０，５１……光電スイツ
チ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ コンベアにより単列的に移送される瓶に対
し、上方より光を瓶天面に照射し、その反射光に
よつて瓶天面を検査する装置において、瓶の移動
する方向と直角に瓶天面全体の一次元走査を行な
い前記瓶天面に関する撮像信号を得るカメラと、
前記カメラより得られる各走査毎の撮像信号が２
つの離隔した矩形の信号波であることを検出する
手段と、前記検出手段により検出された２つの信
号波の信号巾の差を計算する手段と、前記信号巾
の差の最大値を保持する手段と、前記計算手段に
よる差値の最大値が所定値以上であるか否か判定
する手段とを備え、前記判定手段の判定結果によ
り検査を行なうことを特徴とする瓶天面の検査装
置。 ２ コンベアにより単列的に移送される瓶に対
し、上方より光を瓶天面に照射し、その反射光に
よつて瓶天面を検査する装置において、瓶の移動
する方向と直角に瓶天面全体の一次元走査を行な
い前記瓶天面に関する撮像信号を得るカメラと、
良品瓶の場合前記カメラより得られる各走査毎の
撮像信号が２つの離隔した矩形の信号波である期
間を検出する手段と、前記検出手段による検出期
間における前記信号波の信号巾の差を計算する手
段と、前記信号巾の差の最大値を保持する手段
と、前記計算手段による差値の最大値が所定値以
上であるか否か判定する手段とを備え、前記判定
手段の判定結果により検査を行なうことを特徴と
する瓶天面の検査装置。 ３ 前記期間検出手段は、前記瓶天面の先行する
内径部が前記カメラの走査位置に達した時に前記
瓶天面の先行する外径部を検知する第１の光学検
知器と、前記瓶天面の後行する内径部が前記カメ
ラの走査位置に達した時に前記瓶天面の先行する
外径部を検知する第２の光学検知器とよりなる特
許請求の範囲第２項記載の瓶天面の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4435980A JPS56140241A (en) | 1980-04-02 | 1980-04-02 | Inspecting apparatus for ring-shaped body |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4435980A JPS56140241A (en) | 1980-04-02 | 1980-04-02 | Inspecting apparatus for ring-shaped body |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56140241A JPS56140241A (en) | 1981-11-02 |
| JPS6252815B2 true JPS6252815B2 (ja) | 1987-11-06 |
Family
ID=12689306
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4435980A Granted JPS56140241A (en) | 1980-04-02 | 1980-04-02 | Inspecting apparatus for ring-shaped body |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56140241A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50160092A (ja) * | 1974-06-06 | 1975-12-25 |
-
1980
- 1980-04-02 JP JP4435980A patent/JPS56140241A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50160092A (ja) * | 1974-06-06 | 1975-12-25 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56140241A (en) | 1981-11-02 |
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