JPS63109352A - 透明容器の欠陥検査装置 - Google Patents
透明容器の欠陥検査装置Info
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- JPS63109352A JPS63109352A JP25665486A JP25665486A JPS63109352A JP S63109352 A JPS63109352 A JP S63109352A JP 25665486 A JP25665486 A JP 25665486A JP 25665486 A JP25665486 A JP 25665486A JP S63109352 A JPS63109352 A JP S63109352A
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、プラスチック、硝子等の透明材料よりなる透
明容器の胴壁部に発生した、微小な凹凸を有する傷、気
泡、異物混入等の欠陥検査装置に関する。
明容器の胴壁部に発生した、微小な凹凸を有する傷、気
泡、異物混入等の欠陥検査装置に関する。
(従来の技術)
透明な硝子容器の検査装置として、特公昭57−365
37号公報には、容器を軸心の周りに回転させ、開口部
より斜方向に胴壁部内面に向って投射光を投射して、胴
壁部を透過した光線を胴壁部に沿って配設された受光素
子に入力し、受光素子(光電変換素子)の出力電気信号
を処理して胴壁部に存在する欠陥を検出するタイプのも
のが提案されている。このタイプの検査装置は投射光を
開口部より投射するので、開口部面積の大きい、所謂広
口容器にしか適用できず、細口容器には適用が困難であ
るという問題を有する。
37号公報には、容器を軸心の周りに回転させ、開口部
より斜方向に胴壁部内面に向って投射光を投射して、胴
壁部を透過した光線を胴壁部に沿って配設された受光素
子に入力し、受光素子(光電変換素子)の出力電気信号
を処理して胴壁部に存在する欠陥を検出するタイプのも
のが提案されている。このタイプの検査装置は投射光を
開口部より投射するので、開口部面積の大きい、所謂広
口容器にしか適用できず、細口容器には適用が困難であ
るという問題を有する。
一方実開昭60−183854号公報には、静止した透
明容器の胴壁部に対して投射光と反対側に、胴壁部に近
接して受光素子(光電変換素子)を配設し、受光素子側
胴壁部の凸部のレンズ作用による影像の受光素子への入
光だもとづく電気信号を処理するタイプの検査装置が提
案されている。
明容器の胴壁部に対して投射光と反対側に、胴壁部に近
接して受光素子(光電変換素子)を配設し、受光素子側
胴壁部の凸部のレンズ作用による影像の受光素子への入
光だもとづく電気信号を処理するタイプの検査装置が提
案されている。
この場合受光素子は胴壁部の凸部に接近しているため、
影像の大きさは凸部(傷等にもとづく場合、通常は幅が
約0.5〜1、Otm )と等倍であり、従ってごく微
少であって、これに対応して受光素子の受光面積も小さ
くなる。−芳容器は静止しているため、投射光と反対側
の胴壁部半周面のほぼ全面に近接して、受光面積の小さ
い受光素子を多数配設しなければならず、従って装置(
電気回路を含む)が複雑となって、コスト高を招くとい
う問題が生ずる。
影像の大きさは凸部(傷等にもとづく場合、通常は幅が
約0.5〜1、Otm )と等倍であり、従ってごく微
少であって、これに対応して受光素子の受光面積も小さ
くなる。−芳容器は静止しているため、投射光と反対側
の胴壁部半周面のほぼ全面に近接して、受光面積の小さ
い受光素子を多数配設しなければならず、従って装置(
電気回路を含む)が複雑となって、コスト高を招くとい
う問題が生ずる。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明は、細口容器にも適用が容器であり、かつ使用す
る受光素子の数が比較的少ない、透明容器の側壁部欠陥
検査装置を提供することを目的とする。
る受光素子の数が比較的少ない、透明容器の側壁部欠陥
検査装置を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
本発明の透明容器の胴壁部の欠陥検査装置は、該容器を
軸心の周シに回転させる装置、平行性の比較的高い発散
投射光の光源装置、該胴壁部に対して該光源装置の反対
側に、該軸心に実質的に平行だ配設された1対の受光素
子列、第1の受光素子列の第1の受光素子よりの、受光
素子列側半周面にある胴壁部欠陥にもとづく第1の電気
信号を、第1の受光素子と該軸心方向同一高さに配置さ
れた第2の受光素子列の第2の受光素子よりの、該胴壁
部欠陥にもとづく第2の電気信号の位相まで遅延する回
路、および第2の電気信号と遅延した第1の電気信号の
減算回路を備えることを特徴とする。
軸心の周シに回転させる装置、平行性の比較的高い発散
投射光の光源装置、該胴壁部に対して該光源装置の反対
側に、該軸心に実質的に平行だ配設された1対の受光素
子列、第1の受光素子列の第1の受光素子よりの、受光
素子列側半周面にある胴壁部欠陥にもとづく第1の電気
信号を、第1の受光素子と該軸心方向同一高さに配置さ
れた第2の受光素子列の第2の受光素子よりの、該胴壁
部欠陥にもとづく第2の電気信号の位相まで遅延する回
路、および第2の電気信号と遅延した第1の電気信号の
減算回路を備えることを特徴とする。
(作用)
1対の受光素子列が、容器胴壁部に対して光源装置の反
対側に配設されていて、投射光は開口部の面積に関係な
く胴壁部に対してほぼ直角方向に投射される。
対側に配設されていて、投射光は開口部の面積に関係な
く胴壁部に対してほぼ直角方向に投射される。
従って細口の透明容器に対しても容易に適用できる。
容器が軸心の周りに回転するので、欠陥部の影像を検出
するためには、本来容器の軸心知実質的に平行に配設さ
れた受光素子列が1列あればよい。しかし本発明の場合
、容器の回転中、欠陥が受光素子側半周面にきた場合の
欠陥検出をなくすため、l対の受光素子列を設け、第1
の受光素子列の上記欠陥にもとづく第1の電気信号を、
第2の受光素子列の上記欠陥にもとづく第2の電気信号
の位相まで遅延させる回路と、第2の電気信号と、遅延
した第1の電気信号の減算回路を設けて、両電気信号を
相殺している。
するためには、本来容器の軸心知実質的に平行に配設さ
れた受光素子列が1列あればよい。しかし本発明の場合
、容器の回転中、欠陥が受光素子側半周面にきた場合の
欠陥検出をなくすため、l対の受光素子列を設け、第1
の受光素子列の上記欠陥にもとづく第1の電気信号を、
第2の受光素子列の上記欠陥にもとづく第2の電気信号
の位相まで遅延させる回路と、第2の電気信号と、遅延
した第1の電気信号の減算回路を設けて、両電気信号を
相殺している。
以上のように受光素子列は2列でよい故、使用される受
光素子の数は比較的少ない。また上記の構成のため、容
器の回転中欠陥が光源側半周面にあるときのみ検出され
、欠陥と受光素子の信号が1対1の対応となって、検出
ミスが防止される。さらにこの場合は、欠陥と受光素子
間の距離が比較的大きく、かつ投射光は比較的平行性の
高い発散光であるので、欠陥の受光素子面における影像
は拡大像となる。そのため比較的受光面積の大きな受光
素子を用いることが可能となシ、従りて高周波成分に対
する感度が鈍くなって、受光素子の出力電気信号の周波
数成分が低くなシ、電気回路を低周波用部品で構成でき
る。また容器と受光素子の間隔を比較的大きくできるの
で、容器の取扱いが容易となる。
光素子の数は比較的少ない。また上記の構成のため、容
器の回転中欠陥が光源側半周面にあるときのみ検出され
、欠陥と受光素子の信号が1対1の対応となって、検出
ミスが防止される。さらにこの場合は、欠陥と受光素子
間の距離が比較的大きく、かつ投射光は比較的平行性の
高い発散光であるので、欠陥の受光素子面における影像
は拡大像となる。そのため比較的受光面積の大きな受光
素子を用いることが可能となシ、従りて高周波成分に対
する感度が鈍くなって、受光素子の出力電気信号の周波
数成分が低くなシ、電気回路を低周波用部品で構成でき
る。また容器と受光素子の間隔を比較的大きくできるの
で、容器の取扱いが容易となる。
(実施例)
第1図、第2図において、1は光源装置、2は投射光、
3は透明容器である。光源装置1は点光源1a、および
点光源1aよりの光線1a′を平行性の比較的高い、発
散性の投射光2にするためのコンデンサ・レンズ1bを
備えている。透明容器3は回転台4の上に載置され、回
転台4が図示されないモータによシ回転することによシ
、軸心の周りに回転させられるようになっている。光源
装置1は、投射光2が透明容器3の胴壁部3aを投射す
るように配設されている。
3は透明容器である。光源装置1は点光源1a、および
点光源1aよりの光線1a′を平行性の比較的高い、発
散性の投射光2にするためのコンデンサ・レンズ1bを
備えている。透明容器3は回転台4の上に載置され、回
転台4が図示されないモータによシ回転することによシ
、軸心の周りに回転させられるようになっている。光源
装置1は、投射光2が透明容器3の胴壁部3aを投射す
るように配設されている。
透明容器3の胴壁部3aに対して、光源装置1の反対側
に、好ましくは胴壁部3aと若干離れた(例えば約20
〜30+!IM離れた)位置にスクリーン5が配設され
ている。スクリーン5上には、透明容器3の軸心と平行
に、すなわち本実施例の場合は鉛直方向に配設された1
対の受光素子列6および7が設けられている。各受光素
子列6および7は夫れ夫れ、n個の受光素子(例えば太
陽電池のような光電変換素子)6xおよび7x(xは1
゜・・・、nのうちの何れかの数)よシなシ、各列の対
応する受光素子6xおよび7xは同一高さに位置するよ
う配設されている。受光素子列6および7は、点光源1
aと透明容器3の軸心を結ぶ平面に対して対称の位置に
配設されるのが好ましい。
に、好ましくは胴壁部3aと若干離れた(例えば約20
〜30+!IM離れた)位置にスクリーン5が配設され
ている。スクリーン5上には、透明容器3の軸心と平行
に、すなわち本実施例の場合は鉛直方向に配設された1
対の受光素子列6および7が設けられている。各受光素
子列6および7は夫れ夫れ、n個の受光素子(例えば太
陽電池のような光電変換素子)6xおよび7x(xは1
゜・・・、nのうちの何れかの数)よシなシ、各列の対
応する受光素子6xおよび7xは同一高さに位置するよ
う配設されている。受光素子列6および7は、点光源1
aと透明容器3の軸心を結ぶ平面に対して対称の位置に
配設されるのが好ましい。
各受光素子列6および7の受光素子6xおよび7xの出
力電気信号は、アナログ処理回路8に入力し、アナログ
処理回路8の出力信号はデジタル処理回路9に入力する
。
力電気信号は、アナログ処理回路8に入力し、アナログ
処理回路8の出力信号はデジタル処理回路9に入力する
。
第3図に示すように、アナログ処理回路8は、6対の同
一高さに配置された受光素子6x、7xについて、プリ
アンプ14、可変遅延回路15、減算回路16および幅
弁別回路17を備えている。
一高さに配置された受光素子6x、7xについて、プリ
アンプ14、可変遅延回路15、減算回路16および幅
弁別回路17を備えている。
すなわち受光素子6xよシの出力電気信号はプリアンプ
14で増幅された後、可変遅延回路15に入力する。可
変遅延回路15において所定時間(t2)遅延された信
号は減算回路16の第1の入力端子に入力する。一方受
光素子7xよりの出力電気信号はプリアンプ14で増幅
された後、直ちに減算回路16の第2の入力端子に入力
する。減算回路16において、受光素子6Xの遅延増幅
信号と受光素子7xの増幅信号は減算され、その差の出
力信号が、幅弁別回路17に入力する。遅延回路15の
遅延時間(t2)の設定は、ディジタル処理回路9より
のシフトクロック信号18によって行なわれる。
14で増幅された後、可変遅延回路15に入力する。可
変遅延回路15において所定時間(t2)遅延された信
号は減算回路16の第1の入力端子に入力する。一方受
光素子7xよりの出力電気信号はプリアンプ14で増幅
された後、直ちに減算回路16の第2の入力端子に入力
する。減算回路16において、受光素子6Xの遅延増幅
信号と受光素子7xの増幅信号は減算され、その差の出
力信号が、幅弁別回路17に入力する。遅延回路15の
遅延時間(t2)の設定は、ディジタル処理回路9より
のシフトクロック信号18によって行なわれる。
遅延回路15における遅延時間(t2)の長さは、次の
ようにして定められる。すなわち第4図において、受光
素子6Xおよび7xに投射される投射光を夫れ夫れ2a
および2bとし、投射光2aおよび2bが胴壁部3aの
スクリーン5側半周部を通過する地点を夫れ夫れpおよ
びqとしたとき、胴壁部3aが地点pおよびqのスクリ
ーン側区間10を通過するに要する時間t2が前記の遅
延時間となる。
ようにして定められる。すなわち第4図において、受光
素子6Xおよび7xに投射される投射光を夫れ夫れ2a
および2bとし、投射光2aおよび2bが胴壁部3aの
スクリーン5側半周部を通過する地点を夫れ夫れpおよ
びqとしたとき、胴壁部3aが地点pおよびqのスクリ
ーン側区間10を通過するに要する時間t2が前記の遅
延時間となる。
この場合胴壁部3aの矢印方向への回転に伴ない、胴壁
部3a上の傷等の凹凸部11がスクリーン5側半周部を
通過するさいの凹凸部11にもとづく受光素子6Xおよ
び7xの信号の減算回路16よりの出力値はOとなる。
部3a上の傷等の凹凸部11がスクリーン5側半周部を
通過するさいの凹凸部11にもとづく受光素子6Xおよ
び7xの信号の減算回路16よりの出力値はOとなる。
すなわち凹凸部11が光源装置1側半周部を通過するさ
いの、凹凸部11にもとづく受光素子6xおよび7xの
信号のみが幅弁別回路17に入力する。なお本明細書に
おいては、凹部のみ又は凸部のみの場合を含めて凹凸部
とよぶ。
いの、凹凸部11にもとづく受光素子6xおよび7xの
信号のみが幅弁別回路17に入力する。なお本明細書に
おいては、凹部のみ又は凸部のみの場合を含めて凹凸部
とよぶ。
この理由を第5図、第6図、第7図の信号チャートによ
って説明する。いま投射光2aおよび2bが胴壁部3a
の光源装置1側半周部を通過する地点を夫れ夫れrおよ
びSとし、凹凸部11が地点rおよびSを通過するさい
の、受光素子6xおよび7xにもとづく信号を夫れ夫れ
A、およびB、とする。また凹凸部11が地点pおよび
qを通過するさいの、受光素子6Xおよび7Xにもとづ
く信号を夫れ夫れA4およびB2とする。
って説明する。いま投射光2aおよび2bが胴壁部3a
の光源装置1側半周部を通過する地点を夫れ夫れrおよ
びSとし、凹凸部11が地点rおよびSを通過するさい
の、受光素子6xおよび7xにもとづく信号を夫れ夫れ
A、およびB、とする。また凹凸部11が地点pおよび
qを通過するさいの、受光素子6Xおよび7Xにもとづ
く信号を夫れ夫れA4およびB2とする。
第5図の25および26は夫れ夫れ、第3図の点(25
ンおよび(26)における信号チャートを示す。
ンおよび(26)における信号チャートを示す。
信号A2は信号B2よりも時間t2だけ進んでる。−力
信号A、は、胴壁部3aが地点rおよびSの光源側区間
12を通過するに要する時間t1だけ信号B1よりも遅
れている。
信号A、は、胴壁部3aが地点rおよびSの光源側区間
12を通過するに要する時間t1だけ信号B1よりも遅
れている。
第6図の27は第3図の点(27)における信号チャー
トを示す。信号A2は遅延回路15を通過して時間t2
遅れたため、信号B2と位置が一致する。
トを示す。信号A2は遅延回路15を通過して時間t2
遅れたため、信号B2と位置が一致する。
信号A、とB1間の位相差はt、+ t2となる。第7
図の28は第3図の点(28)における信号チャート、
す々わち減算回路16の出力信号チャートを示したもの
であって、第6図における同一位相、同一振幅の信号A
21 B2は消失して、信号A、と反転さとなる。
図の28は第3図の点(28)における信号チャート、
す々わち減算回路16の出力信号チャートを示したもの
であって、第6図における同一位相、同一振幅の信号A
21 B2は消失して、信号A、と反転さとなる。
幅弁別回路17において、信号B1の始まりと信号A、
の終りまでの時間t3をクロック信号18にもとづいて
計数し、この計数値を基準値と比較して、凹凸部11の
大小、従って良否を判別する。
の終りまでの時間t3をクロック信号18にもとづいて
計数し、この計数値を基準値と比較して、凹凸部11の
大小、従って良否を判別する。
なお、信号B、のみ(もしくは信号A1のみ)の幅、す
なわち信号B、の始まりから終りまでの時間1/を計数
して、上記と同様にして判別を行なってもよい。
なわち信号B、の始まりから終りまでの時間1/を計数
して、上記と同様にして判別を行なってもよい。
第8図の30は、凹凸部11が胴壁部3aの代要約な欠
陥である所謂焼傷であって、かつ光源側半周部にあると
きの、スクリーン5上に生ずるその影像13(第2図参
照)の幅方向間るさの分布曲線の例を示したものである
。
陥である所謂焼傷であって、かつ光源側半周部にあると
きの、スクリーン5上に生ずるその影像13(第2図参
照)の幅方向間るさの分布曲線の例を示したものである
。
焼傷の場合凹凸部11は、幅方向両端の細幅の凹部11
aと両凹部11a間の凸レンズ状に僅かに脹んだ主部1
1bよりなる。第2図に示すように焼傷である場合の凹
凸部11の幅は長さ方向に異なっていて、通常は0.2
5〜2.0簡の範囲内にあり、その長さは約20〜10
0咽である。
aと両凹部11a間の凸レンズ状に僅かに脹んだ主部1
1bよりなる。第2図に示すように焼傷である場合の凹
凸部11の幅は長さ方向に異なっていて、通常は0.2
5〜2.0簡の範囲内にあり、その長さは約20〜10
0咽である。
主部11bに入射した投射光2は凸レンズ効果のだめ点
f近傍に焦点を結んでスクリーン5上に殆んど達しない
。そのだめスクリーン5の主部11bに対応する部分5
aの影像13は暗くなる。
f近傍に焦点を結んでスクリーン5上に殆んど達しない
。そのだめスクリーン5の主部11bに対応する部分5
aの影像13は暗くなる。
一方凹部11aに対応するスクリーン5の部分5bの影
像13は、投射光2が凹部11aで屈折するため明るく
なる。そして投射光2が発散性であり、かつ凹凸部11
とスクリーン5間の距離が比較的太きいため、影像13
は拡大され(第8図では、実寸でないため余り拡大され
ていないが)、焼傷の場合の影像幅は0.6〜6門程度
になる。
像13は、投射光2が凹部11aで屈折するため明るく
なる。そして投射光2が発散性であり、かつ凹凸部11
とスクリーン5間の距離が比較的太きいため、影像13
は拡大され(第8図では、実寸でないため余り拡大され
ていないが)、焼傷の場合の影像幅は0.6〜6門程度
になる。
第9図の31は、シーム22(容器をモールドする割金
型の合い目にもとづく)の凹凸がスクリーン5上に生ず
る同様な影像32の明るさ分布曲線の例を示したもので
あって、シーム22の幅は通常0.1咽程度であり、従
ってその影像32の幅も0.3 rm程度である。その
ため受光素子6x、7xの幅を1肩程度にすることによ
り、シーム31にもとづく暗い影像32と、隣接する明
るい部分が同時に受光素子に入って、両者が打ち消し合
って、影像32の信号を受光素子より出方されなくなる
ようにすることができる。かりに出力された場合であっ
ても、その影像幅は、焼傷等の凹凸部11の影像13の
幅に比べて遥かに小さいので、幅弁別回路17で弁別す
ることができる。
型の合い目にもとづく)の凹凸がスクリーン5上に生ず
る同様な影像32の明るさ分布曲線の例を示したもので
あって、シーム22の幅は通常0.1咽程度であり、従
ってその影像32の幅も0.3 rm程度である。その
ため受光素子6x、7xの幅を1肩程度にすることによ
り、シーム31にもとづく暗い影像32と、隣接する明
るい部分が同時に受光素子に入って、両者が打ち消し合
って、影像32の信号を受光素子より出方されなくなる
ようにすることができる。かりに出力された場合であっ
ても、その影像幅は、焼傷等の凹凸部11の影像13の
幅に比べて遥かに小さいので、幅弁別回路17で弁別す
ることができる。
以上の装置による傷検出は、容器3の1回転中に幅弁別
回路17が異常値(すなわち基準値より大きい計数値)
を検出することによって行なわれる。
回路17が異常値(すなわち基準値より大きい計数値)
を検出することによって行なわれる。
容器3には通常第10図に示すように、その胴壁部3a
外面のシーム22間の中央付近の位置に、異常値を発生
する程度に大きい凸部又は凹部よシなる目盛線などのマ
ーク33が形成されている。
外面のシーム22間の中央付近の位置に、異常値を発生
する程度に大きい凸部又は凹部よシなる目盛線などのマ
ーク33が形成されている。
焼傷等にもとづく凹凸部11は一般に、シーム22とマ
ーク33の近傍に多く発生し易い。そのためシーム22
とマーク33の中間の傷の少ない胴壁部外面部分、例え
ばマーク33より中心角が45度離れた胴壁部外面の部
位34をディジタル処理回路9における異常値の数のカ
ウント開始点とすれば検出ミスを防ぐことができる。こ
の場合は傷の比較的少ない部分がカウント終了点となる
ので、1回転の精度はそれほど厳密でなくてもよい。
ーク33の近傍に多く発生し易い。そのためシーム22
とマーク33の中間の傷の少ない胴壁部外面部分、例え
ばマーク33より中心角が45度離れた胴壁部外面の部
位34をディジタル処理回路9における異常値の数のカ
ウント開始点とすれば検出ミスを防ぐことができる。こ
の場合は傷の比較的少ない部分がカウント終了点となる
ので、1回転の精度はそれほど厳密でなくてもよい。
次に以上の装置による容器3同壁部3aの傷検出の動作
について説明する。
について説明する。
容器3を回転中の回転台4に載置すると、「びん有り」
信号19(第3図)がディジタル処理回路9に入力する
。容器3が所定回転数に達すると検査信号20がディジ
タル処理回路9に入力する。
信号19(第3図)がディジタル処理回路9に入力する
。容器3が所定回転数に達すると検査信号20がディジ
タル処理回路9に入力する。
各受光、素子に対応する各幅弁別回路]7の何れかが規
定値以上の幅を検出した時点より、容器3が好ましくけ
約45度回転した時間経過後、ディジタル処理回路9は
異常値の数のカウントを開始し、その後360度回転に
対応する時間経過後カウントを終了する。このカウント
期間中の異常値のカウント数nが判別値Sより大きい場
合に、ディジタル処理回路9は「傷あり」と判定して排
除信号21を出力する。この判別値は各受光素子の対毎
に設定され、例えば胴壁部3aに、任意の受光素子に対
して異常値を発生するマーク33が中心対称に2個ある
場合は、その素子対に対応する判別値Sは2となり、カ
ウント値が3以上で排除信号を出力する。
定値以上の幅を検出した時点より、容器3が好ましくけ
約45度回転した時間経過後、ディジタル処理回路9は
異常値の数のカウントを開始し、その後360度回転に
対応する時間経過後カウントを終了する。このカウント
期間中の異常値のカウント数nが判別値Sより大きい場
合に、ディジタル処理回路9は「傷あり」と判定して排
除信号21を出力する。この判別値は各受光素子の対毎
に設定され、例えば胴壁部3aに、任意の受光素子に対
して異常値を発生するマーク33が中心対称に2個ある
場合は、その素子対に対応する判別値Sは2となり、カ
ウント値が3以上で排除信号を出力する。
(発明の効果)
本発明の透明容器の胴壁部欠陥検査装置は、細口容器に
も適用でき、かつ使用する受光素子の数が比較的少なく
てよいという効果を奏する。
も適用でき、かつ使用する受光素子の数が比較的少なく
てよいという効果を奏する。
第1図は本発明の実施例である装置の説明用平面図、第
2図は第1図の装置の電気回路を除く斜視図、第3図は
第1図の装置の電気回路図、第4図は欠陥(凹凸部)と
投射光および受光素子の関係を示す説明用平面図、第5
図および第6図は夫れ夫れ、欠陥にもとづく、1組の受
光素子よりの電気信号の、一方の電気信号が遅延回路に
入力する前、および遅延回路より出力した後のチャート
の例を示す図面、第7図は第6図の電気信号が減算回路
より出力した後のチャートの例を示す図面、第8図およ
び第9図はそれぞれ、凹凸部およびシームが光源側半周
面にあるとき、スクリーン上に形成される影像の幅方向
明暗度の例を示す線図、第10図はマークとシームの位
置関係の例を示すための容器胴壁部の横断面図である。 1・・・光源装置、2・・・投射光、3・・・透明容器
、4・・・回転台、6・・・第1の受光素子列、6X・
・・第1の受光素子、7・・・第2の受光素子列、7X
・・・第2の受光素子、11・・・凹凸部(欠陥)、1
5・・・遅延回路、16・・・減算回路、A2・・・第
1の電気信号、B2・・・第2の電気信号。 第1図 第2図 I 第3図 8′ 第4図 第5図 第6図 第7図
2図は第1図の装置の電気回路を除く斜視図、第3図は
第1図の装置の電気回路図、第4図は欠陥(凹凸部)と
投射光および受光素子の関係を示す説明用平面図、第5
図および第6図は夫れ夫れ、欠陥にもとづく、1組の受
光素子よりの電気信号の、一方の電気信号が遅延回路に
入力する前、および遅延回路より出力した後のチャート
の例を示す図面、第7図は第6図の電気信号が減算回路
より出力した後のチャートの例を示す図面、第8図およ
び第9図はそれぞれ、凹凸部およびシームが光源側半周
面にあるとき、スクリーン上に形成される影像の幅方向
明暗度の例を示す線図、第10図はマークとシームの位
置関係の例を示すための容器胴壁部の横断面図である。 1・・・光源装置、2・・・投射光、3・・・透明容器
、4・・・回転台、6・・・第1の受光素子列、6X・
・・第1の受光素子、7・・・第2の受光素子列、7X
・・・第2の受光素子、11・・・凹凸部(欠陥)、1
5・・・遅延回路、16・・・減算回路、A2・・・第
1の電気信号、B2・・・第2の電気信号。 第1図 第2図 I 第3図 8′ 第4図 第5図 第6図 第7図
Claims (1)
- (1)透明容器の胴壁部の欠陥検査装置において、該検
査装置は、該容器と軸心の周りに回転させる装置、平行
性の比較的高い発散投射光の光源装置、該胴壁部に対し
て該光源装置の反対側に、該軸心に実質的に平行に配設
された1対の受光素子列、第1の受光素子列の第1の受
光素子よりの、受光素子列側半周面にある胴壁部欠陥に
もとづく第1の電気信号を、第1の受光素子と該軸心方
向同一高さに配置された第2の受光素子列の第2の受光
素子よりの、該胴壁部欠陥にもとづく第2の電気信号の
位相まで遅延する回路、および第2の電気信号と遅延し
た第1の電気信号の減算回路を備えることを特徴とする
透明容器の胴壁部の欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25665486A JPS63109352A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 透明容器の欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25665486A JPS63109352A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 透明容器の欠陥検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63109352A true JPS63109352A (ja) | 1988-05-14 |
JPH0454174B2 JPH0454174B2 (ja) | 1992-08-28 |
Family
ID=17295614
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25665486A Granted JPS63109352A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 透明容器の欠陥検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63109352A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0469556A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-04 | Toyo Glass Co Ltd | ガラス容器の欠陥検査方法 |
JP2008076223A (ja) * | 2006-09-21 | 2008-04-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 円筒状透明体の検査方法とそれに用いる検査装置 |
JP2011085464A (ja) * | 2009-10-15 | 2011-04-28 | Toyo Glass Co Ltd | 透明ガラス容器の焼傷検査方法及び装置 |
-
1986
- 1986-10-28 JP JP25665486A patent/JPS63109352A/ja active Granted
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0469556A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-04 | Toyo Glass Co Ltd | ガラス容器の欠陥検査方法 |
JP2008076223A (ja) * | 2006-09-21 | 2008-04-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 円筒状透明体の検査方法とそれに用いる検査装置 |
JP2011085464A (ja) * | 2009-10-15 | 2011-04-28 | Toyo Glass Co Ltd | 透明ガラス容器の焼傷検査方法及び装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0454174B2 (ja) | 1992-08-28 |
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