JPH0432340B2 - - Google Patents
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- JPH0432340B2 JPH0432340B2 JP56100041A JP10004181A JPH0432340B2 JP H0432340 B2 JPH0432340 B2 JP H0432340B2 JP 56100041 A JP56100041 A JP 56100041A JP 10004181 A JP10004181 A JP 10004181A JP H0432340 B2 JPH0432340 B2 JP H0432340B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0078—Testing material properties on manufactured objects
- G01N33/0081—Containers; Packages; Bottles
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Cleaning In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は一次元走査カメラを用いた瓶口の検
査方法に関する。
査方法に関する。
従来、古くから行われていた回収瓶の検査とし
て人手をもつて行われ、その方法の概要は、搬送
される瓶の後方に複数の光源を設け、瓶全体を照
射し、透過光を前方から目視によつて観察するこ
とで、汚れや割欠損を一本一本検査していた。し
かしながら、この方法においては多くの作業員を
必要とし、又、作業員自身に疲労を及ぼすという
問題があり、これらを解決するため、投、受光器
を用いて検査を自動化する技術が数多く提案され
てきた。これら技術はさらに発展し、受光器につ
いても産業用TVカメラ、一次元走査カメラを始
めとする撮像手段が採用され、瓶の良否判定の高
速、効率化が図られるに至つている。
て人手をもつて行われ、その方法の概要は、搬送
される瓶の後方に複数の光源を設け、瓶全体を照
射し、透過光を前方から目視によつて観察するこ
とで、汚れや割欠損を一本一本検査していた。し
かしながら、この方法においては多くの作業員を
必要とし、又、作業員自身に疲労を及ぼすという
問題があり、これらを解決するため、投、受光器
を用いて検査を自動化する技術が数多く提案され
てきた。これら技術はさらに発展し、受光器につ
いても産業用TVカメラ、一次元走査カメラを始
めとする撮像手段が採用され、瓶の良否判定の高
速、効率化が図られるに至つている。
検査原理としては、瓶欠陥による光の減衰、即
ち、変換電気信号のオン・オフに基づく判定を基
本とするものが主体であつた。
ち、変換電気信号のオン・オフに基づく判定を基
本とするものが主体であつた。
一次元走査カメラを用いた瓶類の検査方法につ
いては、この発明に係る出願人もこれまでにいく
らかの出願を行なつている。その１つに、検査す
べき瓶の瓶口上方面に光源を設け、この光源より
の光線を前記瓶口に照射し、瓶口上表面で反射し
た光線を瓶口側方部に設けた一次元走査カメラで
受光して電気信号に変換し、この変換された電気
信号のパターンと、あらかじめ設定した良品瓶の
信号パターンを比較することにより瓶の良否を判
定するものがある。
いては、この発明に係る出願人もこれまでにいく
らかの出願を行なつている。その１つに、検査す
べき瓶の瓶口上方面に光源を設け、この光源より
の光線を前記瓶口に照射し、瓶口上表面で反射し
た光線を瓶口側方部に設けた一次元走査カメラで
受光して電気信号に変換し、この変換された電気
信号のパターンと、あらかじめ設定した良品瓶の
信号パターンを比較することにより瓶の良否を判
定するものがある。
この瓶類の検査方法は、瓶口の上方面に汚れ
や、割欠損がある場合にこれを確実に検出し、不
良瓶と判定し得たが、瓶口の側部下方に汚れや、
割欠損がある場合に、これを十分に検出し得ず不
良瓶であるにもかかわらず、良品瓶であると判定
してしまうおそれがあつた。
や、割欠損がある場合にこれを確実に検出し、不
良瓶と判定し得たが、瓶口の側部下方に汚れや、
割欠損がある場合に、これを十分に検出し得ず不
良瓶であるにもかかわらず、良品瓶であると判定
してしまうおそれがあつた。
つまり、単一光源を用いる検査方法は検査能力
に限界がある。その能力向上のためには、複数の
光源を用い、複数の情報を処理しなければならな
い。しかし、その方法では装置が複雑化し、大型
化するという問題があつた。
に限界がある。その能力向上のためには、複数の
光源を用い、複数の情報を処理しなければならな
い。しかし、その方法では装置が複雑化し、大型
化するという問題があつた。
この発明の目的は、上記瓶類の検査方法の欠点
を解消し、瓶口側部下方に生じた汚れや、割欠損
でも検出し得る高精度な瓶類の検査方法を提供す
るにある。
を解消し、瓶口側部下方に生じた汚れや、割欠損
でも検出し得る高精度な瓶類の検査方法を提供す
るにある。
この発明の瓶口の検査方法は、上記目的を達成
するもので、瓶口の上方面に第１の光源を設け、
瓶口のほぼ斜側下部に第２の光源を設け、前記第
１の光源よりの光線を前記瓶口上端ふくらみ部の
側面上部に照射し、前記第２の光源よりの光線を
前記ふくらみ部の側面下部に照射し、前記ふくら
み部の側面上部に照射され反射された第１の反射
光線及び前記瓶口ふくらみ部の側面下部に照射さ
れ反射された第２の反射光線を瓶口の横近傍に設
けられた１個の一次元走査カメラで複数の情報と
して同時に受光して該複数情報を一括して電気信
号に変換し、この電気信号が現われるパターンを
複数の水準であらかじめ良品瓶において設定した
パターンと比較することにより瓶口の良否を判定
する瓶口の検査方法である。
するもので、瓶口の上方面に第１の光源を設け、
瓶口のほぼ斜側下部に第２の光源を設け、前記第
１の光源よりの光線を前記瓶口上端ふくらみ部の
側面上部に照射し、前記第２の光源よりの光線を
前記ふくらみ部の側面下部に照射し、前記ふくら
み部の側面上部に照射され反射された第１の反射
光線及び前記瓶口ふくらみ部の側面下部に照射さ
れ反射された第２の反射光線を瓶口の横近傍に設
けられた１個の一次元走査カメラで複数の情報と
して同時に受光して該複数情報を一括して電気信
号に変換し、この電気信号が現われるパターンを
複数の水準であらかじめ良品瓶において設定した
パターンと比較することにより瓶口の良否を判定
する瓶口の検査方法である。
以下、図面に示す実施例により、この発明を詳
細に説明する。
細に説明する。
第１図はこの発明の一実施例を示す概略図であ
る。
る。
第１図において、１は検査すべき瓶であつて、
検査をなすために図示外のコンベア上に載置され
て移送される。２はたとえばハロゲンランプで構
成される光源である。光源２は瓶１の瓶口３の上
方に設けられる光源ボツクス４内に収納されてい
る。５は光拡散板、６は遮光板である。
検査をなすために図示外のコンベア上に載置され
て移送される。２はたとえばハロゲンランプで構
成される光源である。光源２は瓶１の瓶口３の上
方に設けられる光源ボツクス４内に収納されてい
る。５は光拡散板、６は遮光板である。
光源２を出た光線は瓶口３の上表面に照射さ
れ、その瓶口３の上表面で反射される。その反射
光２ａは、瓶口３の横方向近傍に設けられるイメ
ージセンサカメラ７に入力される。
れ、その瓶口３の上表面で反射される。その反射
光２ａは、瓶口３の横方向近傍に設けられるイメ
ージセンサカメラ７に入力される。
また８は２と同じハロゲンランプで構成される
光源であつて、瓶口３の斜下横方向に設けられる
光源ボツクス９内に収納されている。光源８を出
た光線は光拡散板１０を経て、瓶口３の側面に照
射され、その表面で反射される。反射された光線
８ａはイメージセンサカメラに入力される。
光源であつて、瓶口３の斜下横方向に設けられる
光源ボツクス９内に収納されている。光源８を出
た光線は光拡散板１０を経て、瓶口３の側面に照
射され、その表面で反射される。反射された光線
８ａはイメージセンサカメラに入力される。
イメージセンサカメラ７（以下単にカメラとい
う）はたとえばCCD素子（電荷結合素子）が多
数個配列されており、これらCCD素子に光が当
るとその光信号を電気信号に変換して撮像信号を
取出す一次元走査の可能なカメラであり、これ自
体は周知のものである。
う）はたとえばCCD素子（電荷結合素子）が多
数個配列されており、これらCCD素子に光が当
るとその光信号を電気信号に変換して撮像信号を
取出す一次元走査の可能なカメラであり、これ自
体は周知のものである。
第１図において光源２、および８より光線を瓶
口３に照射すると、瓶口３の横からみた発光部の
パターンは、良品瓶の場合第２図の斜線で示した
ものとなる。このような発光部パターンの生じる
瓶を矢印の方向に移動させると、カメラ７の走査
線１１は、瓶１の移動につれて、瓶の位置“い４
から走査動作を開始し、位置”ろ”までの間一定
間隔でサンプリング動作を行なう。そして位置”
い”から位置”ろ”までの間において各走査回毎
に、発光幅に対応したビツト信号出力を導出す
る。第２図に示したのは良品瓶の場合の発光パタ
ーンであるが、瓶口に汚れや、割欠損があると発
光パターンが変化するので、この変化をカメラ７
で抽出して不良瓶の検査を行なう。
口３に照射すると、瓶口３の横からみた発光部の
パターンは、良品瓶の場合第２図の斜線で示した
ものとなる。このような発光部パターンの生じる
瓶を矢印の方向に移動させると、カメラ７の走査
線１１は、瓶１の移動につれて、瓶の位置“い４
から走査動作を開始し、位置”ろ”までの間一定
間隔でサンプリング動作を行なう。そして位置”
い”から位置”ろ”までの間において各走査回毎
に、発光幅に対応したビツト信号出力を導出す
る。第２図に示したのは良品瓶の場合の発光パタ
ーンであるが、瓶口に汚れや、割欠損があると発
光パターンが変化するので、この変化をカメラ７
で抽出して不良瓶の検査を行なう。
良品瓶と不良瓶の具体的な判別は以下の方法に
より行なう。
より行なう。
(1) D1BCが設定値を外れたら不良瓶とする。
D1BCとは、第２図に示すように、各走査回
毎の１番目の暗部の幅をいう。各走査は走査線
１１の検査範囲にわたり、たとえば上方から下
方に行なわれるので、最初の暗部のビツト数を
計数することによりD1BCを求める。良品瓶の
場合のD1BCはほぼ一定の値であるが、第１発
光部が消滅するような不良瓶では、非常に大と
なる。それゆえD1BCが一定の幅を外れたら不
良瓶とする。
毎の１番目の暗部の幅をいう。各走査は走査線
１１の検査範囲にわたり、たとえば上方から下
方に行なわれるので、最初の暗部のビツト数を
計数することによりD1BCを求める。良品瓶の
場合のD1BCはほぼ一定の値であるが、第１発
光部が消滅するような不良瓶では、非常に大と
なる。それゆえD1BCが一定の幅を外れたら不
良瓶とする。
(2) L1BCが設定値を外れたら不良瓶とする。
L1BCとは、各走査毎の１番目の明部（発光
部）の幅をいう。L1BCは最初の明部のビツト
数を計数することにより求める。良品瓶の場合
L1BCもほぼ一定の値を示すが、不良瓶の場
合、明部が非常に細くなつたり、異常発光で太
くなる。それゆえL1BCが一定の幅を外れたら
不良瓶とする。
部）の幅をいう。L1BCは最初の明部のビツト
数を計数することにより求める。良品瓶の場合
L1BCもほぼ一定の値を示すが、不良瓶の場
合、明部が非常に細くなつたり、異常発光で太
くなる。それゆえL1BCが一定の幅を外れたら
不良瓶とする。
(3) D2BCが設定値を外れたら不良瓶とする。
D2BCとは走査回毎の２番目の暗部の幅をい
う。上記(1)の場合と同様、良品瓶のD2BCはほ
ぼ一定となるが、不良瓶の場合に非常に小さく
なつたり大きくなつたりするので、D2BCも一
定の幅を外れたら不良瓶とする。
う。上記(1)の場合と同様、良品瓶のD2BCはほ
ぼ一定となるが、不良瓶の場合に非常に小さく
なつたり大きくなつたりするので、D2BCも一
定の幅を外れたら不良瓶とする。
(4) L2BCが設定値を外れたら不良瓶とする。
L2BCとは走査回毎の２番目の明部の幅をい
い、上記(2)と同様の理由でL2BCが一定の幅を
外れたら不良瓶とする。
い、上記(2)と同様の理由でL2BCが一定の幅を
外れたら不良瓶とする。
(5) ABS（L1−L2）BCが設定値を外れたら不良
瓶とする。
瓶とする。
ABS（L1−L2）BCとは、各走査毎における
１番目の明部と２番目の明部の幅差をいう。上
述したL1BCとL2BCのビツト数の差を計算す
ることによりABS（L1−L2）BCが求められる。
良品瓶の場合、L1BCとL2BCの差がほとんど
一定値を示すが、不良瓶の場合、一方の明部の
幅が太くなつたり、細くなつたりするので、そ
の差が非常に大となる。それゆえABS（L1−
L2）BCが一定の設定幅を越えたら不良瓶と判
定する。
１番目の明部と２番目の明部の幅差をいう。上
述したL1BCとL2BCのビツト数の差を計算す
ることによりABS（L1−L2）BCが求められる。
良品瓶の場合、L1BCとL2BCの差がほとんど
一定値を示すが、不良瓶の場合、一方の明部の
幅が太くなつたり、細くなつたりするので、そ
の差が非常に大となる。それゆえABS（L1−
L2）BCが一定の設定幅を越えたら不良瓶と判
定する。
(6) L1BCiが設定値を外れたら不良瓶とする。
L1BCiとは、１番目の明部の面積をいう。
L1BCiはL1BCを１瓶の検査の全走査分の累積
計数することにより求めることができる。やは
り良品瓶の場合、L1BCiはほぼ一定の値を示す
が、不良瓶の場合、極端に大きな値となつた
り、小さな値となつたりする。それゆえL1BCi
が一定の設定値幅を外れたら不良瓶とする。
L1BCiはL1BCを１瓶の検査の全走査分の累積
計数することにより求めることができる。やは
り良品瓶の場合、L1BCiはほぼ一定の値を示す
が、不良瓶の場合、極端に大きな値となつた
り、小さな値となつたりする。それゆえL1BCi
が一定の設定値幅を外れたら不良瓶とする。
(7) L2BCiが設定値を外れたら不良瓶とする。
L2BCiとは２番目の明部の面積をいう。
L2BCiもL1BCiと同様にして求めることがで
き、同様の理由により、L2BCiが一定の設定値
幅を外れたら不良瓶とする。
L2BCiもL1BCiと同様にして求めることがで
き、同様の理由により、L2BCiが一定の設定値
幅を外れたら不良瓶とする。
(8) MC1が設定値を外れたら不良瓶とする。
MC1とは、１瓶の全走査で、モード１が生
じる走査回数をいう。なおここにモードとは、
１走査で明部、すなわち撮像信号パルスが何個
生じるかをいい、たとえば第２図における位
置”は” では明部が１個生じるので、モード
１といい、位置”ほ”のように、明部が２個生
じる場合をモード２という。MC1は、全走査
でモード１の生じる走査回数を計数することに
より求められる。MC1すなわちモード１の生
じる回数も良品瓶では一定であるに対し、不良
瓶の場合はバラつくので、MC1計数の結果設
定幅を外れたら不良瓶とする。
じる走査回数をいう。なおここにモードとは、
１走査で明部、すなわち撮像信号パルスが何個
生じるかをいい、たとえば第２図における位
置”は” では明部が１個生じるので、モード
１といい、位置”ほ”のように、明部が２個生
じる場合をモード２という。MC1は、全走査
でモード１の生じる走査回数を計数することに
より求められる。MC1すなわちモード１の生
じる回数も良品瓶では一定であるに対し、不良
瓶の場合はバラつくので、MC1計数の結果設
定幅を外れたら不良瓶とする。
(9) MC2が設定値を外れたら不良瓶とする。
(10) MC3が設定値を外れたら不良瓶とする。
上記(8)と同様に、MC2，MC3すなわちモー
ド２、モード３も良品瓶の場合、全走査で一定
回数生じるので、やはり設定幅を外れたら不良
瓶とする。
ド２、モード３も良品瓶の場合、全走査で一定
回数生じるので、やはり設定幅を外れたら不良
瓶とする。
(11) MC4が生じたら不良瓶とする。
第２図で明らかなように、良品瓶の場合、モー
ド４が生じることはない。それゆえ一定値以上の
MC4が生じたら不良瓶とする。
ド４が生じることはない。それゆえ一定値以上の
MC4が生じたら不良瓶とする。
この他MC2とMC3の合計値、MC1からMC2，
MC3を減じた値等も、良品瓶の場合当然ほぼ一
定値となるので、検査瓶が設定幅を外れたら不良
瓶とする。また第２図に示す位置”に”のように
モード１からモード２あるいはモード３にチエン
ジする位置、もしくは位置”へ”のようにモード
２あるいはモード３からモード１にチエンジする
位置は良品瓶の場合一定である。それゆえこのモ
ードチエンジする位置をチエツクすることにより
不良瓶を検出することもできる。
MC3を減じた値等も、良品瓶の場合当然ほぼ一
定値となるので、検査瓶が設定幅を外れたら不良
瓶とする。また第２図に示す位置”に”のように
モード１からモード２あるいはモード３にチエン
ジする位置、もしくは位置”へ”のようにモード
２あるいはモード３からモード１にチエンジする
位置は良品瓶の場合一定である。それゆえこのモ
ードチエンジする位置をチエツクすることにより
不良瓶を検出することもできる。
以上の各方法による良品瓶パターンと検査瓶パ
ターンとの比較により、各方法を組合せで瓶の良
否を判別する。
ターンとの比較により、各方法を組合せで瓶の良
否を判別する。
各方法による検出、判別は第３図に示す電子回
路で行なわれる。第３図において、１２はカメラ
７の検出回路部であつて、第２図に示す走査線１
１による各走査毎に対応する発光部に応じて撮像
信号を導出する。１３は検出回路部で１２の出力
を受けて波形整形する回路、１４は波形整形回路
１３よりの撮像信号を受けて、所定のプログラム
にしたがい、上述の(1)から(11)の方法等による諸種
の計算、判定を行なうコンピユータ部、１５は検
出された各データ、設定値を記憶しておくメモリ
である。メモリ１５は、D1BCおよびその設定値
Ｐ，L1BCおよびその設定値Ｑ，D2BCおよびそ
の設定値Ｒ，L2BCおよびその設定値Ｓ，ABS
（L1−L2）BCおよびその設定値Ｔ，L1BCiおよ
びその設定値Ｕ，L2BCiおよびその設定値Ｖ，
MC1およびその設定値Ｗ，MC2およびその設定
値Ｘ，MC3およびその設定値Ｙ，MC4およびそ
の設定値Ｚを記憶する領域、さらには一般計算用
の汎用レジスタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ等を含んでいる。
上記(1)〜(11)の各方法は、第３図に示す電子回路に
よつて、実行される。
路で行なわれる。第３図において、１２はカメラ
７の検出回路部であつて、第２図に示す走査線１
１による各走査毎に対応する発光部に応じて撮像
信号を導出する。１３は検出回路部で１２の出力
を受けて波形整形する回路、１４は波形整形回路
１３よりの撮像信号を受けて、所定のプログラム
にしたがい、上述の(1)から(11)の方法等による諸種
の計算、判定を行なうコンピユータ部、１５は検
出された各データ、設定値を記憶しておくメモリ
である。メモリ１５は、D1BCおよびその設定値
Ｐ，L1BCおよびその設定値Ｑ，D2BCおよびそ
の設定値Ｒ，L2BCおよびその設定値Ｓ，ABS
（L1−L2）BCおよびその設定値Ｔ，L1BCiおよ
びその設定値Ｕ，L2BCiおよびその設定値Ｖ，
MC1およびその設定値Ｗ，MC2およびその設定
値Ｘ，MC3およびその設定値Ｙ，MC4およびそ
の設定値Ｚを記憶する領域、さらには一般計算用
の汎用レジスタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ等を含んでいる。
上記(1)〜(11)の各方法は、第３図に示す電子回路に
よつて、実行される。
なおこの発明を実施するのに、１個のカメラと
２個の光源の１ユニツトで、たとえば瓶を１回転
してやることにより、検査瓶の全瓶口をチエツク
できるが、第４図に示すように、瓶１を載置して
移動するコンベア４０の近傍にカメラ４１、光源
４２，４３の１ユニツトを配置し、さらに１瓶間
隔ずらしてカメラ４４、光源４５，４６の１ユニ
ツトを配置し、続いて瓶１を90°回転させる手段
の後にカメラ４７、光源４８，４９の１ユニツ
ト、さらにカメラ５０、光源５１，５２の１ユニ
ツトを配置し、これらの４ユニツトで、検査瓶１
の全瓶口を検査してもよい。第４図においてはカ
メラ４１により瓶１の瓶口の半円部分を、カメラ
４４で他の残りの半円部分の検査を行なう。この
カメラ４１、４４で、瓶１の瓶口のほとんどを検
査し得るが、厳密にはカメラに対し瓶口の端部す
なわち接線方向の検査がラフになるので、カメラ
４１，４４で検査した瓶をさらに90°回転させて
カメラ４７，５０で再び半円部ずつ検査してい
る。これにより瓶１の瓶口に生じている傷、汚れ
等をほとんど完全に検出することができる。
２個の光源の１ユニツトで、たとえば瓶を１回転
してやることにより、検査瓶の全瓶口をチエツク
できるが、第４図に示すように、瓶１を載置して
移動するコンベア４０の近傍にカメラ４１、光源
４２，４３の１ユニツトを配置し、さらに１瓶間
隔ずらしてカメラ４４、光源４５，４６の１ユニ
ツトを配置し、続いて瓶１を90°回転させる手段
の後にカメラ４７、光源４８，４９の１ユニツ
ト、さらにカメラ５０、光源５１，５２の１ユニ
ツトを配置し、これらの４ユニツトで、検査瓶１
の全瓶口を検査してもよい。第４図においてはカ
メラ４１により瓶１の瓶口の半円部分を、カメラ
４４で他の残りの半円部分の検査を行なう。この
カメラ４１、４４で、瓶１の瓶口のほとんどを検
査し得るが、厳密にはカメラに対し瓶口の端部す
なわち接線方向の検査がラフになるので、カメラ
４１，４４で検査した瓶をさらに90°回転させて
カメラ４７，５０で再び半円部ずつ検査してい
る。これにより瓶１の瓶口に生じている傷、汚れ
等をほとんど完全に検出することができる。
以上のようにこの発明の瓶口検査方法によれ
ば、瓶口の上方に第１の光源を設けるとともに、
瓶口の斜横方向に第２の光源を設け、第１の光源
よりの光線を瓶口上表面に照射し、第２の光源よ
りの光線を瓶口側部に照射するようにしたので、
従来瓶口上方にのみ光源をおく方法では検出し得
なかつた、瓶口側部下方に生じた汚れや、割欠損
も不良瓶として検出し得るし、さらに従来は困難
であつた鉄さび、汚れも検出できるという利点が
ある。
ば、瓶口の上方に第１の光源を設けるとともに、
瓶口の斜横方向に第２の光源を設け、第１の光源
よりの光線を瓶口上表面に照射し、第２の光源よ
りの光線を瓶口側部に照射するようにしたので、
従来瓶口上方にのみ光源をおく方法では検出し得
なかつた、瓶口側部下方に生じた汚れや、割欠損
も不良瓶として検出し得るし、さらに従来は困難
であつた鉄さび、汚れも検出できるという利点が
ある。
第１図はこの発明の一実施例を示す概略図、第
２図は第１図実施例において良品瓶につき瓶口の
側方から瓶口を見た状態を示す図、第３図は第１
図実施例の電子回路ブロツク図、第４図はこの発
明の適用例を示す概略図である。 １は瓶、２，８はランプ、３は瓶口、４，９は
光源ボツクス、５，１０は光拡散板、６は遮光
板、７，４１，４４，４７，５０はカメラ、１２
は検出回路、１３は波形整形回路、１４はコンピ
ユータ、１５はメモリ、４０はコンベア、４２，
４３，４５，４６，４８，４９，５１，５２は光
源である。
２図は第１図実施例において良品瓶につき瓶口の
側方から瓶口を見た状態を示す図、第３図は第１
図実施例の電子回路ブロツク図、第４図はこの発
明の適用例を示す概略図である。 １は瓶、２，８はランプ、３は瓶口、４，９は
光源ボツクス、５，１０は光拡散板、６は遮光
板、７，４１，４４，４７，５０はカメラ、１２
は検出回路、１３は波形整形回路、１４はコンピ
ユータ、１５はメモリ、４０はコンベア、４２，
４３，４５，４６，４８，４９，５１，５２は光
源である。
Claims (1)
- １ 瓶口の上方面に第１の光源を設け、瓶口のほ
ぼ斜側下部に第２の光源を設け、前記第１の光源
よりの光線を前記瓶口上端ふくらみ部の側面上部
に照射し、前記第２の光源よりの光線を前記ふく
らみ部の側面下部に照射し、前記ふくらみ部の側
面上部に照射され反射された第１の反射光線及び
前記瓶口ふくらみ部の側面下部に照射され反射さ
れた第２の反射光線を瓶口の横近傍に設けられた
１個の一次元走査カメラで複数の情報として同時
に受光して該複数情報を一括して電気信号に変換
し、この電気信号が現われるパターンを複数の水
準であらかじめ良品瓶において設定したパターン
と比較することにより瓶口の良否を判定する瓶口
の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56100041A JPS58744A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 瓶類の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56100041A JPS58744A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 瓶類の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58744A JPS58744A (ja) | 1983-01-05 |
| JPH0432340B2 true JPH0432340B2 (ja) | 1992-05-29 |
Family
ID=14263430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56100041A Granted JPS58744A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 瓶類の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58744A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5442446A (en) * | 1994-08-19 | 1995-08-15 | Owens-Brockaway Glass Container Inc. | Inspection of transparent containers |
| US9147241B2 (en) | 2011-06-15 | 2015-09-29 | Kirin Techno-System Company, Limited | Glass bottle inspection method and apparatus |
| JP6409178B2 (ja) * | 2013-04-19 | 2018-10-24 | キリンテクノシステム株式会社 | 容器の検査方法及び検査装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51108881A (ja) * | 1975-03-20 | 1976-09-27 | Yamamura Glass Co Ltd | Garasubinnochobukensahohoto sonosochi |
| JPS52139483A (en) * | 1976-05-18 | 1977-11-21 | Mitsubishi Electric Corp | Tester for glass bottle or the like |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5198587U (ja) * | 1975-02-06 | 1976-08-07 |
-
1981
- 1981-06-26 JP JP56100041A patent/JPS58744A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51108881A (ja) * | 1975-03-20 | 1976-09-27 | Yamamura Glass Co Ltd | Garasubinnochobukensahohoto sonosochi |
| JPS52139483A (en) * | 1976-05-18 | 1977-11-21 | Mitsubishi Electric Corp | Tester for glass bottle or the like |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58744A (ja) | 1983-01-05 |
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