JPH01199139A - 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法に用いる回路 - Google Patents
対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法に用いる回路Info
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- JPH01199139A JPH01199139A JP63325749A JP32574988A JPH01199139A JP H01199139 A JPH01199139 A JP H01199139A JP 63325749 A JP63325749 A JP 63325749A JP 32574988 A JP32574988 A JP 32574988A JP H01199139 A JPH01199139 A JP H01199139A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は容器の内側または側壁内の偶発的欠陥または異
物を検出するための、特に透明または半透明の対象物、
特にびんのコントラストによる透明度の検査に関するも
のである。さらに本発明は、例えばびん詰め流れ作業の
コンベヤ内を循環する、空で欠陥または側壁に付着また
は内側に残存する異物を生じやすいびんの類のうち、異
常のあるものを自動的に除去するための検査に関するも
のである。
物を検出するための、特に透明または半透明の対象物、
特にびんのコントラストによる透明度の検査に関するも
のである。さらに本発明は、例えばびん詰め流れ作業の
コンベヤ内を循環する、空で欠陥または側壁に付着また
は内側に残存する異物を生じやすいびんの類のうち、異
常のあるものを自動的に除去するための検査に関するも
のである。
透明または半透明の容器の一部分の、コントラストによ
る透明度検査方法は公知であるが、いずれの方法も実際
にコントラストによって透明度を解析できる容器の全体
を同時に検査し、検査する部分のいずれかの区域におい
て容器の拒否の原因となるあらゆる欠陥、異物またはコ
ントラストの異常を、十分正確に容易に識別することが
できない。
る透明度検査方法は公知であるが、いずれの方法も実際
にコントラストによって透明度を解析できる容器の全体
を同時に検査し、検査する部分のいずれかの区域におい
て容器の拒否の原因となるあらゆる欠陥、異物またはコ
ントラストの異常を、十分正確に容易に識別することが
できない。
本発明は、透明または半透明の対象物、特にびんのコン
トラストによる透明度の検査方法を提供する。この方法
は、（イ）検査する対象物の全体またはおよそ全体の容
器の軸を横方向に照明し、（ロ）同時に照準軸が容器の
軸に対しおよそ垂直であり、上記照準軸が容器の軸上に
集まり互いに数十度の角度を形成している２台のテレビ
カメラ（検知カメラ）によって容器を逆光に置き、（八
）容器の型に適した電子窓の助けによって、窓の外に位
置するカメラのマトリクス感光装置の構成点（ドツト）
から出る信号を消去し、（ニ）所定の数のすぐ周囲の
（ｉｍｍｅｄｉａｔｅｍｅｎｔ ｅｎｖｉｒｏｎｎａｎ
ｔｓ）構成点を考慮しながら窓の各ドツトを連続的に解
析し、（ネ）上記のようにすぐ周囲の（ｅｎｖｉｒｏｎ
ｎｅｍｅｎｔｉｍｓｅｄｉａｔ） ドツトで荷重され
た各ドツトの電気的レベルを容器の型によって定められ
た基準レベルと比較し、（へ）２台のカメラの少なくと
も１台において検出されたドツトの基準外数が所定の数
を上回るときに、検査した容器の拒否または印付けを開
始することからなっている。
トラストによる透明度の検査方法を提供する。この方法
は、（イ）検査する対象物の全体またはおよそ全体の容
器の軸を横方向に照明し、（ロ）同時に照準軸が容器の
軸に対しおよそ垂直であり、上記照準軸が容器の軸上に
集まり互いに数十度の角度を形成している２台のテレビ
カメラ（検知カメラ）によって容器を逆光に置き、（八
）容器の型に適した電子窓の助けによって、窓の外に位
置するカメラのマトリクス感光装置の構成点（ドツト）
から出る信号を消去し、（ニ）所定の数のすぐ周囲の
（ｉｍｍｅｄｉａｔｅｍｅｎｔ ｅｎｖｉｒｏｎｎａｎ
ｔｓ）構成点を考慮しながら窓の各ドツトを連続的に解
析し、（ネ）上記のようにすぐ周囲の（ｅｎｖｉｒｏｎ
ｎｅｍｅｎｔｉｍｓｅｄｉａｔ） ドツトで荷重され
た各ドツトの電気的レベルを容器の型によって定められ
た基準レベルと比較し、（へ）２台のカメラの少なくと
も１台において検出されたドツトの基準外数が所定の数
を上回るときに、検査した容器の拒否または印付けを開
始することからなっている。
次に本発明は、上記の方法を実施するための装置に関す
る。この装置は、（イ）容器を横断して容器を側面から
照明するように、検査する容器を１つずつ照明源の前を
通過させるための移動手段、（ｔ７）容器の軌道に関し
、照明源の側と反対の側に配置され、照明軸が検査場所
にある容器の軸上で交わり、かつ容器の軸におよそ垂直
であり、互いに数十度の角度をなしている２台のテレビ
カメラ、（八）各カメラは、披検対象物の輪郭に対応す
る電子的窓発生装置を有し、上記窓は、感光装置からの
信号を受け、これによって、窓の外部からの信号を除去
しかつ各対象物からの信号を維持することができ、（ニ
）窓の内部の感光装置の各点からの信号の電気的レベル
を順番に比較するための解析手段、（幻各点の電気的レ
ベルを調整可能な所定の標準レベルと比較する手段、（
へ）こうして標準レベルから外れていると認められた点
の数を数える手段と、この手段と結合された、こうして
欠陥ありと認められた対象物の除去またはマーク付けを
制御する装置を作動する手段からなることを特徴とする
。
る。この装置は、（イ）容器を横断して容器を側面から
照明するように、検査する容器を１つずつ照明源の前を
通過させるための移動手段、（ｔ７）容器の軌道に関し
、照明源の側と反対の側に配置され、照明軸が検査場所
にある容器の軸上で交わり、かつ容器の軸におよそ垂直
であり、互いに数十度の角度をなしている２台のテレビ
カメラ、（八）各カメラは、披検対象物の輪郭に対応す
る電子的窓発生装置を有し、上記窓は、感光装置からの
信号を受け、これによって、窓の外部からの信号を除去
しかつ各対象物からの信号を維持することができ、（ニ
）窓の内部の感光装置の各点からの信号の電気的レベル
を順番に比較するための解析手段、（幻各点の電気的レ
ベルを調整可能な所定の標準レベルと比較する手段、（
へ）こうして標準レベルから外れていると認められた点
の数を数える手段と、この手段と結合された、こうして
欠陥ありと認められた対象物の除去またはマーク付けを
制御する装置を作動する手段からなることを特徴とする
。
本発明により、上記の方法及び／または装置に用いる回
路は、（イ）感光性マトリックス装置をもつテレビカメ
ラの操作と露出の読み取りとを制御しかつ対象物を検査
する回路であって、（０）被検位置への各対象物の到着
を検知する装置を有する回路であり、（Ａ）上記の被検
位置への各対象物の到着を検知する手段は、上記位置に
おいて捕らえた映像の送信とマトリックス装置を通じる
映像信号の退出とを瞬間的に行ない、（ニ）マトリック
スの各点から送られる連続信号の電気的レベルを、すぐ
隣りの点のレベルとの関連において処理する解析手段、
（幻こうして解析された各点に対応するレベルを可変の
所定の標準レベルと比較する比較手段、（へ）標準から
外れていると認められた点の数を数え、欠陥ありと認め
られた対象物の拒否またはマーク付けのための信号を送
信するカウンターを有することことを特徴としている。
路は、（イ）感光性マトリックス装置をもつテレビカメ
ラの操作と露出の読み取りとを制御しかつ対象物を検査
する回路であって、（０）被検位置への各対象物の到着
を検知する装置を有する回路であり、（Ａ）上記の被検
位置への各対象物の到着を検知する手段は、上記位置に
おいて捕らえた映像の送信とマトリックス装置を通じる
映像信号の退出とを瞬間的に行ない、（ニ）マトリック
スの各点から送られる連続信号の電気的レベルを、すぐ
隣りの点のレベルとの関連において処理する解析手段、
（幻こうして解析された各点に対応するレベルを可変の
所定の標準レベルと比較する比較手段、（へ）標準から
外れていると認められた点の数を数え、欠陥ありと認め
られた対象物の拒否またはマーク付けのための信号を送
信するカウンターを有することことを特徴としている。
次に本発明を実施例を示す添付図面によって詳細に説明
する。
する。
第１図はびん詰め流れ作業において一般に利用されてい
る公知の型の星形回転板を示す、上記装置は、１段また
°は多段に、コンベヤ内に挿入された容器を１つずつ検
査、充填、口金付け、ラベル付けなどの場所に送る０部
分的に図示された装置において、公知の方法で処理され
るびん３の頚部を受けるための刻み２が回転板ｌの周囲
に規則的に配置されている０回転板ｌは縦軸４を有し、
図示されない適当な駆動手段によって連続回転する０回
転板ｌと平行に、第１回転板ｌと連動する第２星形回転
板５が設けられ、第２回転板５は同様にびん３の円筒型
の下端部を受けるための刻みを周囲に有する。びん３は
第１回転板の下面に設けられた各刻み２と設けられたグ
リップ６によって上記刻みの中に保たれる。グリップ６
はびんの上方の縁の膨らみのすぐ下の頚部を締めつける
。
る公知の型の星形回転板を示す、上記装置は、１段また
°は多段に、コンベヤ内に挿入された容器を１つずつ検
査、充填、口金付け、ラベル付けなどの場所に送る０部
分的に図示された装置において、公知の方法で処理され
るびん３の頚部を受けるための刻み２が回転板ｌの周囲
に規則的に配置されている０回転板ｌは縦軸４を有し、
図示されない適当な駆動手段によって連続回転する０回
転板ｌと平行に、第１回転板ｌと連動する第２星形回転
板５が設けられ、第２回転板５は同様にびん３の円筒型
の下端部を受けるための刻みを周囲に有する。びん３は
第１回転板の下面に設けられた各刻み２と設けられたグ
リップ６によって上記刻みの中に保たれる。グリップ６
はびんの上方の縁の膨らみのすぐ下の頚部を締めつける
。
びんは上述のように第１回転板ｌ上で連続的に保持され
ている。これらの装置とその制御手段は公知のものであ
るから詳記しない、びん３の下方部の側面は円弧状の固
定板７によって支えられている。固定板７は第２回転板
５に面し、びんを自由に通過させることができる。
ている。これらの装置とその制御手段は公知のものであ
るから詳記しない、びん３の下方部の側面は円弧状の固
定板７によって支えられている。固定板７は第２回転板
５に面し、びんを自由に通過させることができる。
このようにびん３は、びんの縦軸８を垂直にして巡回さ
れ、検査場所に送られる。検査場所は、本発明により、
びん３の通路の１側に固定された照明箱９と、上記通路
の他側に固定された２台のテレビカメラ１０とからなっ
ている。
れ、検査場所に送られる。検査場所は、本発明により、
びん３の通路の１側に固定された照明箱９と、上記通路
の他側に固定された２台のテレビカメラ１０とからなっ
ている。
照明箱９はびんの本体と頚部とを照明するように配置さ
れる。好ましくは光源は平ら、凸形または凹形の拡散す
るスクリーンを有する照明箱であって、スクリーンの面
は被検位置におけるびん３の軸８に対して平行である。
れる。好ましくは光源は平ら、凸形または凹形の拡散す
るスクリーンを有する照明箱であって、スクリーンの面
は被検位置におけるびん３の軸８に対して平行である。
検査場所において各カメラ１０は逆光で検査する。２台
のカメラｌＯ゛の照準軸１１は水平で、びんの軸８とお
よそ直交し、軸１１間１こ形成される角度αは数十度で
ある（例えば７０°から１００°）。
のカメラｌＯ゛の照準軸１１は水平で、びんの軸８とお
よそ直交し、軸１１間１こ形成される角度αは数十度で
ある（例えば７０°から１００°）。
びん３を検査場所に置く手段は公知のように位置検知装
置を有する。すなわち、この装置は各刻みの第１回転板
ｌの上面に固定された不透明な指針１２からなり、検査
場所の右に固定された光電的検出器の光束を遮断するこ
とができ、かつ光源１３と光電池１４とを有している。
置を有する。すなわち、この装置は各刻みの第１回転板
ｌの上面に固定された不透明な指針１２からなり、検査
場所の右に固定された光電的検出器の光束を遮断するこ
とができ、かつ光源１３と光電池１４とを有している。
この装置は第２図に示されていない。
第３図と第４図とはカメラ１０によって送られたビデオ
信号の電子処理系を示す、上記の図は便宜上１台のカメ
ラでの処理を示すが、実際には２台のカメラの信号は、
図示したものと同一の２つのシステムによって並行して
同時に処理される。
信号の電子処理系を示す、上記の図は便宜上１台のカメ
ラでの処理を示すが、実際には２台のカメラの信号は、
図示したものと同一の２つのシステムによって並行して
同時に処理される。
各カメラ１０から生じたビデオ信号２２は、直列に接続
された３つのシフトレジスタ１５．１６．１７に送られ
る。各レジスタ１５．１６．１７には３つの点レジスタ
ＲＰが直列に接続され、上記の各点が数値信号（ｌまた
は０）を伝達するような方法で、調節可能な閾値を受け
たアナログ信号とを比較する６点レジスタＲＰの数値の
出口はすべて加算器１８（第４図）に接続され、加算器
１８の出口はコンパレータ１９の入口の１つに接続され
ている。コンパレータ１９のもう１つの入口はプログラ
ム値を受ける。コンパレータは出力信号を発生するか、
またはしないかである、すなわち、信号を発生しないと
きは欠陥または異物が存在しないことを示し、信号を発
生すると、その信号はカウンター２０に送られる。カウ
ンター２０は所定の調節可能な計算が終ると、びん３の
拒否または印付は装置を作動させる。
された３つのシフトレジスタ１５．１６．１７に送られ
る。各レジスタ１５．１６．１７には３つの点レジスタ
ＲＰが直列に接続され、上記の各点が数値信号（ｌまた
は０）を伝達するような方法で、調節可能な閾値を受け
たアナログ信号とを比較する６点レジスタＲＰの数値の
出口はすべて加算器１８（第４図）に接続され、加算器
１８の出口はコンパレータ１９の入口の１つに接続され
ている。コンパレータ１９のもう１つの入口はプログラ
ム値を受ける。コンパレータは出力信号を発生するか、
またはしないかである、すなわち、信号を発生しないと
きは欠陥または異物が存在しないことを示し、信号を発
生すると、その信号はカウンター２０に送られる。カウ
ンター２０は所定の調節可能な計算が終ると、びん３の
拒否または印付は装置を作動させる。
上述の装置の詳細な作動は次のとおりである。
びん３は第１回転板ｌによって順に検査場に運ばれる。
そこでびん３は停止することなく２台のカメラｌＯの前
を通過する。カメラ１０は光電装置（１２，１３，１４
）によって同時に作動され、各びんの映像を撮影する。
を通過する。カメラ１０は光電装置（１２，１３，１４
）によって同時に作動され、各びんの映像を撮影する。
この型のテレビカメラ１０においては、露出時間は約３
から１０ｍｓであり、１時間に６００００本までのびん
を検査することができる。２台のカメラ１０の角度αは
約９０”あるから、死角もなしにびん３のすべてのまた
はおよそすべての表面の透明度を解析することができる
。
から１０ｍｓであり、１時間に６００００本までのびん
を検査することができる。２台のカメラ１０の角度αは
約９０”あるから、死角もなしにびん３のすべてのまた
はおよそすべての表面の透明度を解析することができる
。
テレビカメラ１０は一定の数（例えば２０８）のドツト
からなる感光性マトリックス装置を有する。すなわち、
映像はカメラのドツトのラスター上に形成され、直列の
シフトレジスタのグリッドに記憶される。各ドツトのレ
ベルに光の流量に比例した電荷が与えられ、露出の間に
すべてのドツトによって蓄積された負荷は直列の連続的
シフトラインによって記憶装置に送られる。ラインごと
の点走査によって、記憶の読み全体の感光性ラスターを
検査する。読まれた各点ごとに負荷量は比例した電圧レ
ベルに変えられる。
からなる感光性マトリックス装置を有する。すなわち、
映像はカメラのドツトのラスター上に形成され、直列の
シフトレジスタのグリッドに記憶される。各ドツトのレ
ベルに光の流量に比例した電荷が与えられ、露出の間に
すべてのドツトによって蓄積された負荷は直列の連続的
シフトラインによって記憶装置に送られる。ラインごと
の点走査によって、記憶の読み全体の感光性ラスターを
検査する。読まれた各点ごとに負荷量は比例した電圧レ
ベルに変えられる。
第３図において、カメラから送られるのは上記のアナロ
グ信号である。すなわち、カメラは光学システム、検知
器（感光性マトリックス装置）、露出制御用電子装置、
読み装置および検知器の出口の信号をテレビジョン信号
の標準規格に従って調節し定型化するビデオ電子装置を
有する。
グ信号である。すなわち、カメラは光学システム、検知
器（感光性マトリックス装置）、露出制御用電子装置、
読み装置および検知器の出口の信号をテレビジョン信号
の標準規格に従って調節し定型化するビデオ電子装置を
有する。
この発明により、各カメラ１０から出る信号２２はシフ
トレジスタ１５．１６．１７に送られる。レジスタはカ
メラ１０のレジスタと同数の（例えば２０８）点を有す
る。各レジスタ１５から１７の最後の３つの情報は点レ
ジスタＲＰに記憶される。このよう、に各カメラから生
じたビデオ信号はライン全体で記憶され、レジスタ１５
から１７の出口で、連続した３点の強さのレベルを与え
られた列上に配置する０点レジスタＲＰにおいて記憶さ
れた情報は検査されるびんの型の透明度に応じた調節可
能な適正な閾値との比較によってデジタル化される。各
点レジスタＲＰはびんの映像の白点（透明）または黒点
（不透明）に対応してＯまたはｌの信号を送る。故に点
レジスタは次に９個のドツト上に分布する範囲、すなわ
ち、すべての映像、を漸進的に走査する範囲を考慮しな
がら、びんの映像の３Ｘ３＝９個の点の範囲に関する二
元の情報を供給する。各点を直接取囲んでいる８個の点
の関数としての各点の比較評価は５びんの型、材料、検
査する異物や欠陥の形や性質に応じた処理の算式に従っ
て実施される。上記の比較は、例えば容器の透明度の平
均レベル、検査点の映像における位置、および上記の検
査点に対する周囲の各点の位置とに応じてプログラムに
よって実施される。所要の目的と無関係なあらゆる外部
からの障害を除去するためにカメラｌＯに接続された多
数の回路（図示しない）が設けられている。これらの回
路は公知の方法で負荷され、検査するびんの輪郭や形体
によって定められた電子検査用窓を発生する。この窓は
、各カメラＩＯの検知器上に形成されたびんの映像範囲
内のドツトにおいて生じる信号のみを考慮するようにな
っている。もちろん、検査されるびんの型が変わるとき
には、窓の型を別のものにするための手段が設けられて
いる。
トレジスタ１５．１６．１７に送られる。レジスタはカ
メラ１０のレジスタと同数の（例えば２０８）点を有す
る。各レジスタ１５から１７の最後の３つの情報は点レ
ジスタＲＰに記憶される。このよう、に各カメラから生
じたビデオ信号はライン全体で記憶され、レジスタ１５
から１７の出口で、連続した３点の強さのレベルを与え
られた列上に配置する０点レジスタＲＰにおいて記憶さ
れた情報は検査されるびんの型の透明度に応じた調節可
能な適正な閾値との比較によってデジタル化される。各
点レジスタＲＰはびんの映像の白点（透明）または黒点
（不透明）に対応してＯまたはｌの信号を送る。故に点
レジスタは次に９個のドツト上に分布する範囲、すなわ
ち、すべての映像、を漸進的に走査する範囲を考慮しな
がら、びんの映像の３Ｘ３＝９個の点の範囲に関する二
元の情報を供給する。各点を直接取囲んでいる８個の点
の関数としての各点の比較評価は５びんの型、材料、検
査する異物や欠陥の形や性質に応じた処理の算式に従っ
て実施される。上記の比較は、例えば容器の透明度の平
均レベル、検査点の映像における位置、および上記の検
査点に対する周囲の各点の位置とに応じてプログラムに
よって実施される。所要の目的と無関係なあらゆる外部
からの障害を除去するためにカメラｌＯに接続された多
数の回路（図示しない）が設けられている。これらの回
路は公知の方法で負荷され、検査するびんの輪郭や形体
によって定められた電子検査用窓を発生する。この窓は
、各カメラＩＯの検知器上に形成されたびんの映像範囲
内のドツトにおいて生じる信号のみを考慮するようにな
っている。もちろん、検査されるびんの型が変わるとき
には、窓の型を別のものにするための手段が設けられて
いる。
点レジスタＲＰのすべての二進法出口は加算器１８に接
続されている（第４図）、比較された平均値は加算器１
８からコンパレータ１９に送られ、そこでプログラム値
と比較される。Ｏ（検査されている点に対応するびんの
構成範囲が所定の基準によって透明と評価される）また
はｌ（検査されている範囲が不透明と見なされる）から
なる二進法信号がコンパレータ１９から送られる。二進
法信号の１はカウンター２０で数えられ、計算が調節可
能な所定の閾値に達するときには、検査し終ったびんを
除くための公知のシステムや印付けする装置などの装置
２１への信号がカウンターから送られる。ただし、重要
でない僅ｔりな欠陥に気付かないために、もしｌの次に
Ｏが伝達されると計器はＯに戻る。従って、カウンター
２０は次の１の信号のみを数えることができる。各カメ
ラは第３図と第４図とに水声れたものと同じ処理回路を
有し、検査されるびんは、もし２台のカメラのうち１台
または２台が異物または欠陥を見たときびんは除かれる
か、または印付けされる。
続されている（第４図）、比較された平均値は加算器１
８からコンパレータ１９に送られ、そこでプログラム値
と比較される。Ｏ（検査されている点に対応するびんの
構成範囲が所定の基準によって透明と評価される）また
はｌ（検査されている範囲が不透明と見なされる）から
なる二進法信号がコンパレータ１９から送られる。二進
法信号の１はカウンター２０で数えられ、計算が調節可
能な所定の閾値に達するときには、検査し終ったびんを
除くための公知のシステムや印付けする装置などの装置
２１への信号がカウンターから送られる。ただし、重要
でない僅ｔりな欠陥に気付かないために、もしｌの次に
Ｏが伝達されると計器はＯに戻る。従って、カウンター
２０は次の１の信号のみを数えることができる。各カメ
ラは第３図と第４図とに水声れたものと同じ処理回路を
有し、検査されるびんは、もし２台のカメラのうち１台
または２台が異物または欠陥を見たときびんは除かれる
か、または印付けされる。
上述の処理のプログラムや閾値を変化させることによっ
て、例えば摩耗の線や跡、貼札の一部、びんの側壁に付
着したりびんの中に入っている異物、液体の残留物、し
みなどに基くあらゆる種類のコントラストの異常や、各
種容器の型に対応して検査の基準を容易に変えることが
できる。
て、例えば摩耗の線や跡、貼札の一部、びんの側壁に付
着したりびんの中に入っている異物、液体の残留物、し
みなどに基くあらゆる種類のコントラストの異常や、各
種容器の型に対応して検査の基準を容易に変えることが
できる。
各対象物の検査を容易にするために、スクリーン走査負
荷移動センサーを用いた検査と読みを制御するための電
子装置が設けられている。この電子装置によって次のこ
とが行なわれる。
荷移動センサーを用いた検査と読みを制御するための電
子装置が設けられている。この電子装置によって次のこ
とが行なわれる。
検査される対象が通過する正確な瞬間にセンサーの映像
範囲の統合を作動することによって、走査用窓を利用し
て解析する対象が常に同じ撮影の位置にあるような映像
を作ることができる。
範囲の統合を作動することによって、走査用窓を利用し
て解析する対象が常に同じ撮影の位置にあるような映像
を作ることができる。
カメラの前を通過する対象物の速度と、各映像の露出時
間を調和させることによって映像のぼけを減少させ、良
いコントラストを維持することができる。
間を調和させることによって映像のぼけを減少させ、良
いコントラストを維持することができる。
映像と負荷移送メモリーに急速に記憶させることによっ
て、得られた対象物の映像を露出時間および走査サイク
ルと無関係な速度で再読することができる。
て、得られた対象物の映像を露出時間および走査サイク
ルと無関係な速度で再読することができる。
センサーにおけるドツトの同時的統合によって、公知の
走査用カメラにおいてよく知られた現象である、動く対
象物の映像の歪をなくすることができる。
走査用カメラにおいてよく知られた現象である、動く対
象物の映像の歪をなくすることができる。
本発明は透明または半透明のすべての容器のみならず透
明度、コントラストによって検査しつるすべての透明ま
たは半透明物体に応用し、また同時に、起こりつる欠陥
、異物その他の透明のコントラストの変化を生じるよう
な原因の探知を目的とする一般的方法として用いること
ができる。
明度、コントラストによって検査しつるすべての透明ま
たは半透明物体に応用し、また同時に、起こりつる欠陥
、異物その他の透明のコントラストの変化を生じるよう
な原因の探知を目的とする一般的方法として用いること
ができる。
実施例において、カメラ１０のセンサーの記憶内容の走
査は、各ドツトおよびその周囲の８つのドツトとの関係
によって行なわれている。しかし本発明の範囲において
、例えば、１５から１７のようなレジスタの数や、また
各レジスタに接続されたＲＰのような点レジスタの数を
増減することによって範囲を加減することもできる。こ
のような変更は、印付けされる「欠陥」の型によって必
要とされるかもしれない。
査は、各ドツトおよびその周囲の８つのドツトとの関係
によって行なわれている。しかし本発明の範囲において
、例えば、１５から１７のようなレジスタの数や、また
各レジスタに接続されたＲＰのような点レジスタの数を
増減することによって範囲を加減することもできる。こ
のような変更は、印付けされる「欠陥」の型によって必
要とされるかもしれない。
本発明は、もちろん上記の実施例に限定されるものでは
なく、照明箱９の性質、形状、配置、びん３またはその
他の検査する物体の軌道に関する照明箱９とカメラ１０
との相互の位置関係、カメラによって伝達される信号を
処理する電子技術的手段などに関する変更が可能である
。
なく、照明箱９の性質、形状、配置、びん３またはその
他の検査する物体の軌道に関する照明箱９とカメラ１０
との相互の位置関係、カメラによって伝達される信号を
処理する電子技術的手段などに関する変更が可能である
。
第１図は本発明による装置の実施例における、びんの胴
部のコントラストによる透明度の解析を示す図、第２図
は第１図の装置の上面の説明図、第３図はカメラからの
ビデオ信号の処理系統の説明図、第４図は上記ビデオ信
号の処理の最終段階の説明図である。 ｌ・−第１回転板、２−刻み、３−・びん、４・−縦軸
、５・−第２回転板、６−・グリップ、７−固定した板
、８・−軸、９・−照明箱、ｌｏ−・カメラ、１１−・
照準軸、１２−・指針、１３−・光源、１４−光電池、
１５−シフトレジスタ、１６−シフトレジスタ、１７−
シフトレジスタ、１８−・加算器、１９・・・コンパレ
ータ、２ｏ−カウンター、２１−装置、２２・−信号、
ａ−角度、ＲＰ−・・レジスタ。
部のコントラストによる透明度の解析を示す図、第２図
は第１図の装置の上面の説明図、第３図はカメラからの
ビデオ信号の処理系統の説明図、第４図は上記ビデオ信
号の処理の最終段階の説明図である。 ｌ・−第１回転板、２−刻み、３−・びん、４・−縦軸
、５・−第２回転板、６−・グリップ、７−固定した板
、８・−軸、９・−照明箱、ｌｏ−・カメラ、１１−・
照準軸、１２−・指針、１３−・光源、１４−光電池、
１５−シフトレジスタ、１６−シフトレジスタ、１７−
シフトレジスタ、１８−・加算器、１９・・・コンパレ
ータ、２ｏ−カウンター、２１−装置、２２・−信号、
ａ−角度、ＲＰ−・・レジスタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）感光性マトリックス装置を持つテレビカメラの操作
と露出の読み取りとを制御しかつ対象物を検査する回路
であって、被検位置への各対象物の到着を検知する装置
を有する回路において、 ［１］上記の被検位置への各対象物の到着を検知する手
段は、上記位置において捕らえた映像の送信とマトリッ
クス装置を通じる映像信号の送出とを瞬間的に行ない、 ［２］マトリックスの各点から送られる連続信号の電気
的レベルを、すぐ隣の点のレベルとの関連において処理
する解析手段、 ［４］こうして解析された各点に対応するレベルを可変
の所定の標準レベルと比較する比較手段、 ［５］標準から外れていると認められた点の数を数え、
欠陥ありと認められた対象物の拒否またはマーク付けの
ための信号を送信するカウンターを有すること特徴とす
る回路。 ２）披検対象物（３）の輪郭に対応する電子窓発生装置
、上記窓に対応する信号を映像信号に重ねる電子的手段
を有し、これによって、上記窓の外部からの信号を消去
し、対象物からの信号を維持するとともに、さらに上記
窓の内部のマトリックスの各点からの電気的レベルを連
続的に処理する解析手段を有する、特許請求の範囲第１
項記載の回路。 ３）標準外の対象物を拒否または同定する信号を受信す
る装置を有する、特許請求の範囲第１−２項記載の回路
。 ４）すぐ隣の点からの信号を解析する解析手段が、ライ
ンに対応して直列に配置されたシフトレジスターであり
（各レジスターは、点に対応して直列に配置され、各点
からのアナログ電気レベルをデジタルに変換する装置を
有し、すぐ隣の点のレベルと比較され、調節可能な所定
の閾値を参照する、特許請求の範囲第１−３項記載の回
路。 ５）３つのラインのシフトレジスターを有し、各シフト
レジスターがそれぞれ３つの点レジスターを有し、これ
によつて周囲のマトリックスの８点の電気的レベルと比
較された１つの点の信号レベルを得るようになっている
、特許請求の範囲第１−４項記載の回路。 ６）こうして比較された各点のレベルを比較する手段が
、点レジスターの各２進法的出力部と接続されれた加算
器からなり、その出力部は、コンパレーターと接続され
た、上記コンパレーターは、プログラム化可能な値を発
生する信号発生装置の第二入力部と接続され、その出力
部はカウンターと接続されている、特許請求の範囲第１
−５項記載の回路。 ７）カメラの前の対象物の通過速度の関数として、各映
像の露出時間を制御するサーボ制御装置を有する、特許
請求の範囲第１−６項記載の回路。 ８）透明または不透明な対象物の全体またはおよそ全体
を横方向に逆行で照明することによって、対象物の透明
度コントラスト検査に用いられる特許請求の範囲第１−
７項記載の回路。 ９）透明または半透明な対象物の全体またはおよそ全体
を対象物の軸に対して横方向に照明し、その映像を２つ
のカメラの感光性マトリックス装置に逆光で投射し、カ
メラの照準軸を対象物に向けることにより、対象物の透
明度のコントラストにより対象物を検査する工程からな
り、その際［ａ］被検対象物の各形式に適する電子窓を
用いて、上記窓外部に位置する感光装置の各点からカメ
ラに送られるすべての信号を消去し、［ｂ］上記窓内部
に位置する各点を連続的に解析し、［ｃ］各点からの電
気信号レベルを対象物の各形式に対する所定の標準電気
信号と比較し、［ｄ］１つ以上のカメラに対して上記標
準電気信号レベルを超える電気信号を供給する点の被検
数が所定数よりも大である場合、被検対象物を拒否する
かまたはマークする工程からなる方法に用いられる、特
許請求の範囲第１−８項記載の回路。 １０）透明または半透明な対象物の全体またはおよそ全
体を対象物の軸に対して横方向に照明し、その映像を２
つのカメラの感光性マトリックス装置に逆光で投射し、
カメラ照準軸を対象物に向けることにより、対象物の透
明度のコントラストにより対象物を検査する工程からな
り、さらに［ａ］被検対象物の各形式に適する電子窓を
用いて、上記窓外部に位置する感光装置の各点からカメ
ラに送られるすべての信号を消去し、［ｂ］上記窓内部
に位置する各点を連続的に解析し、［ｃ］各点からの電
気信号レベルを対象物の各形式に対する所定の標準電気
信号と比較し、［ｄ］１つ以上のカメラに対して上記標
準電気信号レベルを超える電気信号を供給する点の被検
数が所定数よりも大である場合、被検対象物を拒否する
かまたはマークする工程を有する方法を実施するために
、対象物を横方向から照明する光源と、感光手段を備え
かつ被検対象物に向けられた２つのカメラと、光源とカ
メラの間で対象物を移送する手段とを有し、上記カメラ
は、通過する対象物の映像を逆光で捕らえるように構成
され、かつその際、［ｅ］各カメラは、被検対象物の輪
郭に対応する電子的窓発生装置を有し、上記窓は、感光
装置からの信号を受け、これによって、窓の外部からの
信号を除去しかつ各対象物からの信号を維持することが
でき、［ｆ］窓の内部の感光装置の各点からの信号の電
気的レベルを順番に比較するための解析手段、［ｇ］各
点の電気的レベルを調整可能な所定の標準レベルと比較
する手段、［ｈ］こうして標準レベルから外れていると
認められた点の数を数える手段と、この手段と接続され
た、こうして欠陥ありと認められた対象物の除去または
マーク付けを制御する装置を作動する手段とを有する装
置に用いられる、特許請求の範囲第１−９項記載の回路
。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP82450008.6 | 1982-05-27 | ||
| EP82450008A EP0095541B1 (fr) | 1982-05-27 | 1982-05-27 | Procédé et dispositif d'inspection automatique par contraste de transparence, notamment de récipients |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58094759A Division JPS5937451A (ja) | 1982-05-27 | 1983-05-27 | 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01199139A true JPH01199139A (ja) | 1989-08-10 |
Family
ID=8190001
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58094759A Granted JPS5937451A (ja) | 1982-05-27 | 1983-05-27 | 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法及び装置 |
| JP63325749A Pending JPH01199139A (ja) | 1982-05-27 | 1988-12-23 | 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法に用いる回路 |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58094759A Granted JPS5937451A (ja) | 1982-05-27 | 1983-05-27 | 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法及び装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4736851A (ja) |
| EP (1) | EP0095541B1 (ja) |
| JP (2) | JPS5937451A (ja) |
| AT (1) | ATE36194T1 (ja) |
| CA (1) | CA1205885A (ja) |
| DE (1) | DE3278861D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997000423A1 (fr) * | 1995-06-14 | 1997-01-03 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Appareil et methode pour le controle d'une pellicule de revetement |
Families Citing this family (39)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2589301B1 (fr) * | 1985-10-28 | 1988-08-19 | I2S | Nouveaux dispositifs d'obturation electronique |
| JPS62127616A (ja) * | 1985-11-29 | 1987-06-09 | Toppan Printing Co Ltd | 透明容器曲面部輪郭像検出方法およびその装置 |
| JPH07119584B2 (ja) * | 1986-09-24 | 1995-12-20 | マツダ株式会社 | プライマ塗布不良検出方法 |
| JPS6448605U (ja) * | 1987-09-21 | 1989-03-27 | ||
| WO1989005957A1 (en) * | 1987-12-16 | 1989-06-29 | Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha | Device for inspecting thickness of synthetic resin container and inspection system therefor |
| US5259716A (en) * | 1987-12-16 | 1993-11-09 | Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha | Container conveyor for conveying a container to an inspecting station |
| US5139406A (en) * | 1987-12-16 | 1992-08-18 | Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha | Apparatus and system for inspecting wall thickness of synthetic resin containers |
| US5091963A (en) * | 1988-05-02 | 1992-02-25 | The Standard Oil Company | Method and apparatus for inspecting surfaces for contrast variations |
| US4887475A (en) * | 1988-05-20 | 1989-12-19 | Gill & Duffus Products, Inc. | Apparatus and method for marking bulk loaded containers to indicate the presence of metallic contaminants |
| JPH0743326B2 (ja) * | 1991-01-29 | 1995-05-15 | 東洋ガラス株式会社 | 物体端部の欠陥検査方法及びその装置 |
| US5414778A (en) * | 1993-11-24 | 1995-05-09 | Schwartz; Nira | Dynamic fluid level and bubble inspection for quality and process control |
| US6252980B1 (en) * | 1993-11-24 | 2001-06-26 | Nira Schwartz | Additional dynamic fluid level and bubble inspection for quality and process control |
| JP2002513463A (ja) * | 1996-06-04 | 2002-05-08 | イネックス・インコーポレイテッド・ドゥーイング・ビジネス・アズ・イネックス・ビジョン・システムズ・インコーポレイテッド | 成形容器内の応力検出システムおよび方法 |
| US5895911A (en) * | 1998-01-22 | 1999-04-20 | Emhart Glass S.A. | Glass container body check detector |
| EP0941775B1 (de) * | 1998-03-02 | 2005-10-26 | Focke & Co. (GmbH & Co. KG) | Verfahren und Vorrichtung zum optischen Prüfen von Packungen |
| US5969810A (en) * | 1998-05-14 | 1999-10-19 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Optical inspection of transparent containers using two cameras and a single light source |
| DE19953738C1 (de) * | 1999-11-09 | 2001-06-07 | Krones Ag | Inspektionsvorrichtung zur Seitenwandkontrolle von Gefäßen |
| KR20030046616A (ko) * | 2001-12-06 | 2003-06-18 | 삼성전자주식회사 | 레이져 광 산란을 이용한 고순도 글래스 튜브의 미세 기포분석 장치 |
| JP2005337882A (ja) * | 2004-05-27 | 2005-12-08 | Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp | 容器検査装置 |
| US7595870B2 (en) * | 2004-11-10 | 2009-09-29 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Optical inspection of container walls |
| US8673163B2 (en) | 2008-06-27 | 2014-03-18 | Apple Inc. | Method for fabricating thin sheets of glass |
| DE102008034744A1 (de) * | 2008-07-24 | 2010-01-28 | Khs Ag | Geblockte Inspektion |
| WO2010101961A2 (en) | 2009-03-02 | 2010-09-10 | Apple Inc. | Techniques for strengthening glass covers for portable electronic devices |
| US9778685B2 (en) | 2011-05-04 | 2017-10-03 | Apple Inc. | Housing for portable electronic device with reduced border region |
| US8923693B2 (en) | 2010-07-30 | 2014-12-30 | Apple Inc. | Electronic device having selectively strengthened cover glass |
| US10189743B2 (en) | 2010-08-18 | 2019-01-29 | Apple Inc. | Enhanced strengthening of glass |
| US8824140B2 (en) | 2010-09-17 | 2014-09-02 | Apple Inc. | Glass enclosure |
| US9725359B2 (en) | 2011-03-16 | 2017-08-08 | Apple Inc. | Electronic device having selectively strengthened glass |
| US9128666B2 (en) | 2011-05-04 | 2015-09-08 | Apple Inc. | Housing for portable electronic device with reduced border region |
| US9944554B2 (en) | 2011-09-15 | 2018-04-17 | Apple Inc. | Perforated mother sheet for partial edge chemical strengthening and method therefor |
| US9516149B2 (en) | 2011-09-29 | 2016-12-06 | Apple Inc. | Multi-layer transparent structures for electronic device housings |
| US10144669B2 (en) | 2011-11-21 | 2018-12-04 | Apple Inc. | Self-optimizing chemical strengthening bath for glass |
| US8684613B2 (en) | 2012-01-10 | 2014-04-01 | Apple Inc. | Integrated camera window |
| US10133156B2 (en) | 2012-01-10 | 2018-11-20 | Apple Inc. | Fused opaque and clear glass for camera or display window |
| US8773848B2 (en) | 2012-01-25 | 2014-07-08 | Apple Inc. | Fused glass device housings |
| US9946302B2 (en) | 2012-09-19 | 2018-04-17 | Apple Inc. | Exposed glass article with inner recessed area for portable electronic device housing |
| DE102014102449A1 (de) | 2014-02-25 | 2015-08-27 | Khs Gmbh | Inspektionsvorrichtung |
| US9886062B2 (en) | 2014-02-28 | 2018-02-06 | Apple Inc. | Exposed glass article with enhanced stiffness for portable electronic device housing |
| CN107063106A (zh) * | 2017-03-29 | 2017-08-18 | 嘉善永金金属制品有限公司 | 一种物料检测装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5546172A (en) * | 1978-09-29 | 1980-03-31 | Kirin Brewery Co Ltd | Detector for foreign material |
| JPS5594147A (en) * | 1979-01-12 | 1980-07-17 | Kobe Steel Ltd | Method of discriminating surface flaw of high temperature material to be detected |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3358552A (en) * | 1963-10-23 | 1967-12-19 | Paul J Schneider | Bottle recognition apparatus |
| US3549890A (en) * | 1969-01-16 | 1970-12-22 | Emhart Corp | Article inspection apparatus |
| US3963348A (en) * | 1972-07-14 | 1976-06-15 | Yamamura Glass Kabushiki Kaisha | Device for detecting strain and foreign matters in glass container by a non-storage type pickup tube |
| JPS4951995A (ja) * | 1972-09-16 | 1974-05-20 | ||
| US3932042A (en) * | 1974-05-20 | 1976-01-13 | Barry-Wehmiller Company | Container inspection apparatus and method of inspection |
| FR2301006A1 (fr) * | 1975-02-17 | 1976-09-10 | Inex Inc | Appareil optique d'inspection automatique d'objets transparents ou translucides |
| US4026656A (en) * | 1975-09-02 | 1977-05-31 | Owens-Illinois, Inc. | Stone detector |
| FR2380551A1 (fr) * | 1977-02-10 | 1978-09-08 | Barry Wehmiller Co | Procede et appareil d'analyse electronique d'images |
| GB1600400A (en) * | 1977-10-13 | 1981-10-14 | Ti Fords Ltd | Bottle inspection apparatus |
| JPS5847064B2 (ja) * | 1978-07-08 | 1983-10-20 | 工業技術院長 | 文字読取方式 |
| FR2454236A1 (fr) * | 1979-04-11 | 1980-11-07 | Seita | Procede et dispositif de traitement de signaux video |
| US4414685A (en) * | 1979-09-10 | 1983-11-08 | Sternberg Stanley R | Method and apparatus for pattern recognition and detection |
| DE3035077A1 (de) * | 1980-09-17 | 1982-04-22 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren und anordnung zur pruefung transparenter behaelter auf verunreinigungen oder beschaedigungen |
| US4378495A (en) * | 1980-11-07 | 1983-03-29 | Owens-Illinois, Inc. | Method and apparatus for setup of inspection devices for glass bottles |
| US4492476A (en) * | 1981-02-20 | 1985-01-08 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Defect detecting method and apparatus |
| JPS5821146A (ja) * | 1981-07-30 | 1983-02-07 | Kirin Brewery Co Ltd | 欠陥検査方法および装置 |
| US4488648A (en) * | 1982-05-06 | 1984-12-18 | Powers Manufacturing, Inc. | Flaw detector |
| US4454541A (en) * | 1982-06-14 | 1984-06-12 | Rca Corporation | Charge coupled device based blemish detection system and method |
-
1982
- 1982-05-27 EP EP82450008A patent/EP0095541B1/fr not_active Expired
- 1982-05-27 DE DE8282450008T patent/DE3278861D1/de not_active Expired
- 1982-05-27 AT AT82450008T patent/ATE36194T1/de not_active IP Right Cessation
-
1983
- 1983-05-26 CA CA000428979A patent/CA1205885A/fr not_active Expired
- 1983-05-27 JP JP58094759A patent/JPS5937451A/ja active Granted
-
1985
- 1985-09-13 US US06/775,952 patent/US4736851A/en not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-12-23 JP JP63325749A patent/JPH01199139A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5546172A (en) * | 1978-09-29 | 1980-03-31 | Kirin Brewery Co Ltd | Detector for foreign material |
| JPS5594147A (en) * | 1979-01-12 | 1980-07-17 | Kobe Steel Ltd | Method of discriminating surface flaw of high temperature material to be detected |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997000423A1 (fr) * | 1995-06-14 | 1997-01-03 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Appareil et methode pour le controle d'une pellicule de revetement |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3278861D1 (en) | 1988-09-08 |
| JPS5937451A (ja) | 1984-02-29 |
| EP0095541B1 (fr) | 1988-08-03 |
| ATE36194T1 (de) | 1988-08-15 |
| CA1205885A (fr) | 1986-06-10 |
| US4736851A (en) | 1988-04-12 |
| EP0095541A1 (fr) | 1983-12-07 |
| JPH0132458B2 (ja) | 1989-06-30 |
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