JPH0132458B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0132458B2
JPH0132458B2 JP58094759A JP9475983A JPH0132458B2 JP H0132458 B2 JPH0132458 B2 JP H0132458B2 JP 58094759 A JP58094759 A JP 58094759A JP 9475983 A JP9475983 A JP 9475983A JP H0132458 B2 JPH0132458 B2 JP H0132458B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
window
camera
container
cameras
axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP58094759A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5937451A (ja
Inventor
Alain Ricros
Jean Louis Blouin
Jannick Pinson
Jean Paul Darnault
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
I2S SA
Original Assignee
I2S SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by I2S SA filed Critical I2S SA
Publication of JPS5937451A publication Critical patent/JPS5937451A/ja
Publication of JPH0132458B2 publication Critical patent/JPH0132458B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9036Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents using arrays of emitters or receivers
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S209/00Classifying, separating, and assorting solids
    • Y10S209/939Video scanning

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は容器の内側または側壁内の偶発的欠陥
または異物を検出するための、特に透明または半
透明の対象物、特にびんのコントラストによる透
明度の検査に関するものである。さらに本発明
は、例えばびん詰め流れ作業のコンベヤ内を循環
する、空で欠陥または側壁に付着または内側に残
存する異物を生じやすいびんの類のうち、異常の
あるものを自動的に除去するための検査に関する
ものである。
透明または半透明の容器の一部分の、コントラ
ストによる透明度検査方法は公知であるが、いず
れの方法も実際にコントラストによつて透明度を
解析できる容器の全体を同時に検査し、検査する
部分のいずれかの区域において容器の拒否の原因
となるあらゆる欠陥、異物またはコントラストの
異常を十分正確に容易に識別することができな
い。
本発明は、透明または半透明の対象物特にびん
のコントラストによる透明度の検査方法を目的と
する。この方法は、(イ)検査する対象物の全体また
はおよそ全体の容器の軸を横方向に照明し、(ロ)同
時に照準軸が容器の軸に対しおよそ垂直であり、
上記照準軸が容器の軸上に集まり互いに数十度の
角度を形成している2台のテレビカメラ(検知カ
メラ)によつて容器を逆光に置き、(ハ)容器の型に
適した電子窓の助けによつて、窓の外に位置する
カメラの感光性マトリツクス装置の構成点(ドツ
ト)から出る信号を消去し、(ニ)所定の数のすぐ周
囲の(immediatement environnants)構成点を
考慮しながら窓の各ドツトを連続的に解析し、(ホ)
上記のようにすぐ周囲の(environneme
ntimmediat)ドツトで荷重された各ドツトの電
気的レベルを容器の型によつて定められた基準レ
ベルと比較し、(ヘ)2台のカメラの少なくとも1台
において検出されたドツトの基準外数が所定の数
を上回るときに、検査した容器の拒否または印付
けを開始することからなることを特徴とする。
次に本発明は、上記の方法を実施するための装
置に関する。この装置は、(イ)容器を横断して容器
を側面から照明するように、検査する容器を1つ
ずつ照明源の前を通過させるための移動手段、(ロ)
容器の軌道に関し、照明源の側と反対の側に配置
され、照明軸が検査場所にある容器の軸上で交わ
り、かつ容器の軸におよそ垂直であり、互いに数
十度の角度をなしている2台のテレビカメラ、(ハ)
各カメラは、被検対象物の輪郭に対応する電子的
窓発生装置を有し、上記窓は、感光装置からの信
号を受け、これによつて、窓の外部からの信号を
除去しかつ各対象物からの信号を維持することが
でき、(ニ)窓の内部の感光装置の各点からの信号の
電気的レベルを順番に比較するための解析手段、
(ホ)各点の電気的レベルを調整可能な所定の標準レ
ベルと比較する手段、(ヘ)こうして標準レベルから
外れていると認められた点の数を数える手段と、
この手段と結合された、こうして欠陥ありと認め
られた対象物の除去またはマーク付けを制御する
装置を作動する手段からなることを特徴とする。
次に本発明を実施例を示す添付図面によつて詳
細に説明する。
第1図はびん詰め流れ作業において一般に利用
されている公知の型の星形回転板を示す。上記装
置は、1段または多段に、コンベヤ内に挿入され
た容器を1つずつ検査、充填、口金付け、ラベル
付けなどの場所に送る。部分的に図示された装置
において、公知の方法で処理されるびん3の頸部
を受けるための刻み2が回転板1の周囲に規則的
に配置されている。回転板1は縦軸4を有し、図
示されない適当な駆動手段によつて連続回転す
る。回転板1と平行に、第1回転板1と連動する
第2星形回転板5が設けられ、第2回転板5は同
様にびん3の円筒型の下端部を受けるための刻み
を周囲に有する。びん3は第1回転板の下面に設
けられた各刻み2と設けられたグリツプ6によつ
て上記刻みの中に保たれる。グリツプ6はびんの
上方の縁の膨らみのすぐ下の頸部を締めつける。
びんは上述のように第1回転板1上で連続的に保
持されている。これらの装置とその制御手段は公
知のものであるから詳記しない。びん3の下方部
の側面は円弧状の固定板7によつて支えられてい
る。固定板7は第2回転板5に面し、びんを自由
に通過させることができる。
このようにびん3は、びんの縦軸8を垂直にし
て巡回され、検査場所に送られる。検査場所は、
本発明により、びん3の通路の1側に固定された
照明箱9と、上記通路の他側に固定された2台の
テレビカメラ10とからなつている。
照明箱9はびんの本体と頸部とを照明するよう
に配置される。好ましくは光源は平ら、凸形また
は凹形の拡散するスクリーンを有する照明箱であ
つて、スクリーンの面は被検位置におけるびん3
の軸8に対して平行である。検査場所において各
カメラ10は逆光で検査する。2台のカメラ10
の照準軸11は水平で、びんの軸8とおよそ直交
し、軸11間に形成される角度αは数十度である
(例えば70゜から100゜)。
びん3を検査場所に置く手段は公知のように位
置検知装置を有する。すなわち、この装置は各刻
みの第1回転板1の上面に固定された不透明な指
針12からなり、検査場所の右に固定された光電
的検出器の光束を遮断することができ、かつ光源
13と光電池14とを有している。この装置は第
2図に示されていない。
第3図と第4図とはカメラ10によつて送られ
たビデオ信号の電子処理系を示す。上記の図は便
宜上1台のカメラでの処理を示すが、実際には2
台のカメラの信号は、図示したものと同一の2つ
のシステムによつて並行して同時に処理される。
各カメラ10から生じたビデオ信号22は、直列
に接続された3つのシフトレジスタ15,16,
17に送られる。各レジスタ15,16,17に
は3つの点レジスタRPが直列に接続され、上記
の各点が数値信号(1または0)を伝達するよう
な方法で、調節可能な閾値を受けたアナログ信号
とを比較する。点レジスタRPの数値の出口はす
べて加算器18(第4図)に接続され、加算器1
8の出口はコンパレータ19の入口の1つに接続
されている。コンパレータ19のもう1つの入口
はプログラム値を受ける。コンパレータは出力信
号を発生するか、またはしないかである。すなわ
ち、信号を発生しないときは欠陥または異物が存
在しないことを示し、信号を発生すると、その信
号はカウンター20に送られる。カウンター20
は所定の調節可能な計算が終ると、びん3の拒否
または印付け装置を作動させる。
上述の装置の詳細な作動は次のとおりである。
びん3は第1回転板1によつて順に検査場に運ば
れる。そこでびん3は停止することなく2台のカ
メラ10の前を通過する。カメラ10は光電装置
12,13,14によつて同時に作動され、各び
んの映像を撮影する。この型のテレビカメラ10
においては、露出時間は約3から10msであり、
1時間に60000本までのびんを検査することがで
きる。2台のカメラ10の角度αは約90゜あるか
ら、死角もなしにびん3のすべてのまたはおよそ
すべての表面の透明度を解析することができる。
テレビカメラ10は一定の数(例えば208)
のドツトからなる感光性マトリツクス装置を有す
る。すなわち、映像はカメラのドツトのラスター
上に形成され、直列のシフトレジスタのグリツド
に記憶される。各ドツトのレベルに光の流量に比
例した電荷が与えられ、露出の間にすべてのドツ
トによつて蓄積された負荷は直列の連続的シフト
ラインによつて記憶装置に送られる。ラインごと
の点走査によつて、記憶の読み全体の感光性ラス
ターを検査する。読まれた各点ごとに負荷量は比
例した電圧レベルに変えられる。
第3図において、カメラから送られるのは上記
のアナログ信号である。すなわち、カメラは光学
システム、検知器(感光性マトリツクス装置)、
露出制御用電子装置、読み装置および検知器の出
口の信号をテレビジヨン信号の標準規格に従つて
調節し定型化するビデオ電子装置を有する。
この発明により、各カメラ10から出る信号2
2はシフトレジスタ15,16,17に送られ
る。レジスタはカメラ10のレジスタと同数の
(例えば208)点を有する。各レジスタ15か
ら17の最後の3つの情報は点レジスタRPに記
憶される。このように各カメラから生じたビデオ
信号はライン全体で記憶され、レジスタ15から
17の出口で、連続した3点の強さのレベルを与
えられた列上に配置する。点レジスタRPにおい
て記憶された情報は検査されるびんの型の透明度
に応じた調節可能な適正な閾値との比較によつて
デジタル化される。各点レジスタRPはびんの映
像の白点(透明)または黒点(不透明)に対応し
て0または1の信号を送る。故に点レジスタは次
に9個のドツト上に分布する範囲、すなわち、す
べての映像を漸進的に走査する範囲を考慮しなが
ら、びんの映像の3×3=9個の点の範囲に関す
る二元の情報を供給する。各点を直接取囲んでい
る8個の点の関数としての各点の比較評価は、び
んの型、材料、検査する異物や欠陥の形や性質に
応じた処理の算式に従つて実施される。上記の比
較は、例えば容器の透明度の平均レベル、検査点
の映像における位置、および上記の検査点に対す
る周囲の各点の位置とに応じてプログラムによつ
て実施される。所要の目的と無関係なあらゆる外
部からの障害を除去するためにカメラ10に接続
された多数の回路(図示しない)が設けられてい
る。これらの回路は公知の方法で負荷され、検査
するびんの輪郭や形体によつて定められた電子検
査用窓を発生する。この窓は、各カメラ10の検
知器上に形成されたびんの映像範囲内のドツトに
おいて生じる信号のみを考慮するようになつてい
る。もちろん、検査されるびんの型が変わるとき
には、窓の型を別のものにするための手段が設け
られている。
点レジスタRPのすべての二進法出口は加算器
18に接続されている(第4図)。比較された平
均値は加算器18からコンパレータ19に送ら
れ、そこでプログラム値と比較される。0(検査
されている点に対応するびんの構成範囲が所定の
基準によつて透明と評価される)または1(検査
されている範囲が不透明と見なされる)からなる
二進法信号がコンパレータ19から送られる。二
進法信号の1はカウンター20で数えられ、計算
が調節可能な所定の閾値に達するときには、検査
し終つたびんを除くための公知のシステムや印付
けする装置などの装置21への信号がカウンター
から送られる。ただし、重要でない僅かな欠陥に
気付かないために、もし1の次に0が伝達される
と計器は0に戻る。従つて、カウンター20は次
の1の信号のみを数えることができる。各カメラ
は第3図と第4図とに示されたものと同じ処理回
路を有し、検査されるびんは、もし2台のカメラ
のうち1台または2台が異物または欠陥を見たと
きびんは除かれるか、または印付けされる。
上述の処理のプログラムや閾値を変化させるこ
とによつて、例えば摩耗の線や跡、貼札の一部、
びんの側壁に付着したりびんの中に入つている異
物、液体の残留物、しみなどに基くあらゆる種類
のコントラストの異常や、各種容器の型に対応し
て検査の基準を容易に変えることができる。
各対象物の検査を容易にするために、スクリー
ン走査負荷移動センサーを用いた検査と読みを制
御するための電子装置が設けられている。この電
子装置によつて次のことが行なわれる。
検査される対象が通過する正確な瞬間にセンサ
ーの映像範囲の統合を作動することによつて、走
査用窓を利用して解析する対象が常に同じ撮影の
位置にあるような映像を作ることができる。
カメラの前を通過する対象物の速度と、各映像
の露出時間を調和させることによつて映像のぼけ
を減少させ、良いコントラストを維持することが
できる。
映像と負荷移送メモリーに急速に記憶させるこ
とによつて、得られた対象物の映像を露出時間お
よび走査サイクルと無関係な速度で再読すること
ができる。
センサーにおけるドツトの同時的統合によつ
て、公知の走査用カメラにおいてよく知られた現
象である、動く対象物の映像の歪をなくすること
ができる。
本発明は透明または半透明のすべての容器のみ
ならず透明度、コントラストによつて検査しうる
すべての透明または半透明物体に応用し、また同
時に、起こりうる欠陥、異物その他の透明のコン
トラストの変化を生じるような原因の探知を目的
とする一般的方法として用いることができる。
実施例において、カメラ10のセンサーの記憶
内容の走査は、各ドツトおよびその周囲の8つの
ドツトとの関係によつて行なわれている。しかし
本発明の範囲において、例えば、15から17の
ようなレジスタの数や、また各レジスタに接続さ
れたRPのような点レジスタの数を増減すること
によつて範囲を加減することもできる。このよう
な変更は、印付けされる「欠陥」の型によつて必
要とされるかもしれない。
本発明は、もちろん上記の実施例に限定される
ものではなく、照明箱9の性質、形状、配置、び
ん3またはその他の検査する物体の軌道に関する
照明箱9とカメラ10との相互の位置関係、カメ
ラによつて伝達される信号を処理する電子技術的
手段などに関する変更が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による装置の実施例における、
びんの胴部のコントラストによる透明度の解析を
示す図、第2図は第1図の装置の上面の説明図、
第3図はカメラからのビデオ信号の処理系統の説
明図、第4図は上記ビデオ信号の処理の最終段階
の説明図である。 1…第1回転板、2…刻み、3…びん、4…縦
軸、5…第2回転板、6…グリツプ、7…固定し
た板、8…軸、9…照明箱、10…カメラ、11
…照準軸、12…指針、13…光源、14…光電
池、15…シフトレジスタ、16…シフトレジス
タ、17…シフトレジスタ、18…加算器、19
…コンパレータ、20…カウンター、21…装
置、22…信号、α…角度、RP…レジスタ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 透明または半透明な対象物3の全体またはお
    よそ全体を対象物の軸に対して横方向に照明し、
    その映像を2つのカメラ10の感光性マトリツク
    ス装置に逆光で投射し、カメラの照準軸11を対
    象物に向けることにより、対象物の透明度のコン
    トラストにより対象物を検査する方法において、
    さらに 被検対象物3の各形式に適する電子窓を用い
    て、上記窓外部に位置する感光装置の各点から
    カメラに送られるすべての信号を消去し、 上記窓内部に位置する各点を連続的に解析
    し、 各点からの電気信号レベルを対象物3の各形
    式に対する所定の標準電気信号と比較し、 1つ以上のカメラに対して上記標準電気信号
    レベルを超える電気信号を供給する点の被検数
    が所定数よりも大である場合、被検対象物を拒
    否するかまたはマークする工程を有することを
    特徴とする方法。 2 対象物が容器であつて、その軸におよそ直角
    に照明され、かつカメラが上記軸に対しておよそ
    直角に向けられている、特許請求の範囲第1項記
    載の方法。 3 予定された数の点が標準レベル以上である場
    合にのみ拒否またはマークが行なわれる、特許請
    求の範囲第1項記載の方法。 4 感光性マトリツクス装置を有するテレビカメ
    ラを用いる、特許請求の範囲第1項記載の方法。 5 透明または半透明な対象物3の全体またはお
    よそ全体を対象物の軸に対して横方向に照明し、
    その映像を2つのカメラ10の感光性マトリツク
    ス装置に逆光で投射し、カメラ照準軸11を対象
    物に向けることにより、対象物の透明度のコント
    ラストにより対象物を検査する工程からなり、さ
    らに 被検対象物3の各形式に適する電子窓を用い
    て、上記窓外部に位置する感光装置の各点から
    カメラに送られるすべての信号を消去し、 上記窓内部に位置する各点を連続的に解析
    し、 各点からの電気信号レベルを対象物3の各形
    式に対する所定の標準電気信号と比較し、 1つ以上のカメラに対して上記標準電気信号
    レベルを超える電気信号を供給する点の被検数
    が所定数よりも大である場合、被検対象物を拒
    否するかまたはマークする工程を有することを
    特徴とする方法を実施するための装置であつ
    て、 対象物を横方向から照明する光源9と、感光手
    段を備えかつ被検対象物に向けられた2つのカメ
    ラ10と、光源9とカメラ10の間で対象物を移
    送する手段1とを有し、上記カメラは、通過する
    対象物の映像を逆光で捕らえるように構成された
    装置において、 各カメラ10は、被検対象物3の輪郭に対応
    する電子的窓発生装置を有し、上記窓は、感光
    装置からの信号を受け、これによつて、窓の外
    部からの信号を除去しかつ各対象物からの信号
    を維持することができ、 窓の内部の感光装置の各点からの信号の電気
    的レベルを順番に比較するための解析手段1
    5,16,17,RP、 各点の電気的レベルを調整可能な所定の標準
    レベルと比較する手段18,19、 こうして標準レベルから外れていると認めら
    れた点の数を数える手段20と、この手段と接
    続された、こうして欠陥ありと認められた対象
    物の除去またはマーク付けを制御する装置を作
    動する手段、 とを有することを特徴とする装置。 6 対象物3が容器であり、照明が容器の軸8に
    対しておよそ直角方向に行なわれ、撮影が軸8に
    対しておよそ直角方向に行なわれる、特許請求の
    範囲第5項記載の装置。 7 被検位置における容器に向けられた2つのカ
    メラ10の軸11間の角度αが70―100度である、
    特許請求の範囲第5項記載の装置。 8 光源9が平ら、凸形または凹形の光線拡散用
    スクリーンを有する照明箱であつて、それは被検
    位置における容器の軸に平行である、特許請求の
    範囲第6項記載の装置。 9 カメラ10が感光性マトリツクス装置を有す
    るテレビカメラである、特許請求の範囲第5項記
    載の装置。
JP58094759A 1982-05-27 1983-05-27 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法及び装置 Granted JPS5937451A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP82450008A EP0095541B1 (fr) 1982-05-27 1982-05-27 Procédé et dispositif d'inspection automatique par contraste de transparence, notamment de récipients
EP82450008.6 1982-05-27

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63325749A Division JPH01199139A (ja) 1982-05-27 1988-12-23 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法に用いる回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5937451A JPS5937451A (ja) 1984-02-29
JPH0132458B2 true JPH0132458B2 (ja) 1989-06-30

Family

ID=8190001

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58094759A Granted JPS5937451A (ja) 1982-05-27 1983-05-27 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法及び装置
JP63325749A Pending JPH01199139A (ja) 1982-05-27 1988-12-23 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法に用いる回路

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63325749A Pending JPH01199139A (ja) 1982-05-27 1988-12-23 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法に用いる回路

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4736851A (ja)
EP (1) EP0095541B1 (ja)
JP (2) JPS5937451A (ja)
AT (1) ATE36194T1 (ja)
CA (1) CA1205885A (ja)
DE (1) DE3278861D1 (ja)

Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2589301B1 (fr) * 1985-10-28 1988-08-19 I2S Nouveaux dispositifs d'obturation electronique
JPS62127616A (ja) * 1985-11-29 1987-06-09 Toppan Printing Co Ltd 透明容器曲面部輪郭像検出方法およびその装置
JPH07119584B2 (ja) * 1986-09-24 1995-12-20 マツダ株式会社 プライマ塗布不良検出方法
JPS6448605U (ja) * 1987-09-21 1989-03-27
US5259716A (en) * 1987-12-16 1993-11-09 Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha Container conveyor for conveying a container to an inspecting station
US5139406A (en) * 1987-12-16 1992-08-18 Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha Apparatus and system for inspecting wall thickness of synthetic resin containers
US5049750A (en) * 1987-12-16 1991-09-17 Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha Apparatus and system for inspecting wall thickness of synthetic resin containers
US5091963A (en) * 1988-05-02 1992-02-25 The Standard Oil Company Method and apparatus for inspecting surfaces for contrast variations
US4887475A (en) * 1988-05-20 1989-12-19 Gill & Duffus Products, Inc. Apparatus and method for marking bulk loaded containers to indicate the presence of metallic contaminants
JPH0743326B2 (ja) * 1991-01-29 1995-05-15 東洋ガラス株式会社 物体端部の欠陥検査方法及びその装置
US5414778A (en) * 1993-11-24 1995-05-09 Schwartz; Nira Dynamic fluid level and bubble inspection for quality and process control
US6252980B1 (en) * 1993-11-24 2001-06-26 Nira Schwartz Additional dynamic fluid level and bubble inspection for quality and process control
DE69627328T2 (de) * 1995-06-14 2004-02-12 Kirin Beer K.K. Verfahren und vorrichtungen zur prüfung von beschichtungen
WO1997046329A1 (en) * 1996-06-04 1997-12-11 Inex, Inc. Doing Business As Inex Vision Systems, Inc. System and method for stress detection in a molded container
US5895911A (en) * 1998-01-22 1999-04-20 Emhart Glass S.A. Glass container body check detector
DE59912692D1 (de) * 1998-03-02 2005-12-01 Focke & Co Verfahren und Vorrichtung zum optischen Prüfen von Packungen
US5969810A (en) * 1998-05-14 1999-10-19 Owens-Brockway Glass Container Inc. Optical inspection of transparent containers using two cameras and a single light source
DE19953738C1 (de) * 1999-11-09 2001-06-07 Krones Ag Inspektionsvorrichtung zur Seitenwandkontrolle von Gefäßen
KR20030046616A (ko) * 2001-12-06 2003-06-18 삼성전자주식회사 레이져 광 산란을 이용한 고순도 글래스 튜브의 미세 기포분석 장치
JP2005337882A (ja) * 2004-05-27 2005-12-08 Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp 容器検査装置
US7595870B2 (en) * 2004-11-10 2009-09-29 Owens-Brockway Glass Container Inc. Optical inspection of container walls
US8673163B2 (en) 2008-06-27 2014-03-18 Apple Inc. Method for fabricating thin sheets of glass
DE102008034744A1 (de) * 2008-07-24 2010-01-28 Khs Ag Geblockte Inspektion
EP2404228B1 (en) 2009-03-02 2020-01-15 Apple Inc. Techniques for strengthening glass covers for portable electronic devices
US9778685B2 (en) 2011-05-04 2017-10-03 Apple Inc. Housing for portable electronic device with reduced border region
US8923693B2 (en) 2010-07-30 2014-12-30 Apple Inc. Electronic device having selectively strengthened cover glass
US10189743B2 (en) 2010-08-18 2019-01-29 Apple Inc. Enhanced strengthening of glass
US8824140B2 (en) 2010-09-17 2014-09-02 Apple Inc. Glass enclosure
US9725359B2 (en) 2011-03-16 2017-08-08 Apple Inc. Electronic device having selectively strengthened glass
US9128666B2 (en) 2011-05-04 2015-09-08 Apple Inc. Housing for portable electronic device with reduced border region
US9944554B2 (en) 2011-09-15 2018-04-17 Apple Inc. Perforated mother sheet for partial edge chemical strengthening and method therefor
US9516149B2 (en) 2011-09-29 2016-12-06 Apple Inc. Multi-layer transparent structures for electronic device housings
US10144669B2 (en) 2011-11-21 2018-12-04 Apple Inc. Self-optimizing chemical strengthening bath for glass
US8684613B2 (en) 2012-01-10 2014-04-01 Apple Inc. Integrated camera window
US10133156B2 (en) 2012-01-10 2018-11-20 Apple Inc. Fused opaque and clear glass for camera or display window
US8773848B2 (en) 2012-01-25 2014-07-08 Apple Inc. Fused glass device housings
US9946302B2 (en) 2012-09-19 2018-04-17 Apple Inc. Exposed glass article with inner recessed area for portable electronic device housing
DE102014102449A1 (de) 2014-02-25 2015-08-27 Khs Gmbh Inspektionsvorrichtung
US9886062B2 (en) 2014-02-28 2018-02-06 Apple Inc. Exposed glass article with enhanced stiffness for portable electronic device housing
CN107063106A (zh) * 2017-03-29 2017-08-18 嘉善永金金属制品有限公司 一种物料检测装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4951995A (ja) * 1972-09-16 1974-05-20
JPS5229788A (en) * 1975-09-02 1977-03-05 Owens Illinois Inc Bubble detector for glass container

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3358552A (en) * 1963-10-23 1967-12-19 Paul J Schneider Bottle recognition apparatus
US3549890A (en) * 1969-01-16 1970-12-22 Emhart Corp Article inspection apparatus
US3963348A (en) * 1972-07-14 1976-06-15 Yamamura Glass Kabushiki Kaisha Device for detecting strain and foreign matters in glass container by a non-storage type pickup tube
US3932042A (en) * 1974-05-20 1976-01-13 Barry-Wehmiller Company Container inspection apparatus and method of inspection
FR2301006A1 (fr) * 1975-02-17 1976-09-10 Inex Inc Appareil optique d'inspection automatique d'objets transparents ou translucides
FR2380551A1 (fr) * 1977-02-10 1978-09-08 Barry Wehmiller Co Procede et appareil d'analyse electronique d'images
GB1600400A (en) * 1977-10-13 1981-10-14 Ti Fords Ltd Bottle inspection apparatus
JPS5847064B2 (ja) * 1978-07-08 1983-10-20 工業技術院長 文字読取方式
JPS5546172A (en) * 1978-09-29 1980-03-31 Kirin Brewery Co Ltd Detector for foreign material
JPS5594147A (en) * 1979-01-12 1980-07-17 Kobe Steel Ltd Method of discriminating surface flaw of high temperature material to be detected
FR2454236A1 (fr) * 1979-04-11 1980-11-07 Seita Procede et dispositif de traitement de signaux video
US4414685A (en) * 1979-09-10 1983-11-08 Sternberg Stanley R Method and apparatus for pattern recognition and detection
DE3035077A1 (de) * 1980-09-17 1982-04-22 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren und anordnung zur pruefung transparenter behaelter auf verunreinigungen oder beschaedigungen
US4378495A (en) * 1980-11-07 1983-03-29 Owens-Illinois, Inc. Method and apparatus for setup of inspection devices for glass bottles
US4492476A (en) * 1981-02-20 1985-01-08 Kirin Beer Kabushiki Kaisha Defect detecting method and apparatus
JPS5821146A (ja) * 1981-07-30 1983-02-07 Kirin Brewery Co Ltd 欠陥検査方法および装置
US4488648A (en) * 1982-05-06 1984-12-18 Powers Manufacturing, Inc. Flaw detector
US4454541A (en) * 1982-06-14 1984-06-12 Rca Corporation Charge coupled device based blemish detection system and method

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4951995A (ja) * 1972-09-16 1974-05-20
JPS5229788A (en) * 1975-09-02 1977-03-05 Owens Illinois Inc Bubble detector for glass container

Also Published As

Publication number Publication date
DE3278861D1 (en) 1988-09-08
EP0095541B1 (fr) 1988-08-03
CA1205885A (fr) 1986-06-10
EP0095541A1 (fr) 1983-12-07
ATE36194T1 (de) 1988-08-15
US4736851A (en) 1988-04-12
JPS5937451A (ja) 1984-02-29
JPH01199139A (ja) 1989-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0132458B2 (ja)
US5204911A (en) Inspection method using unique templates and histogram analysis
US5926268A (en) System and method for stress detection in a molded container
KR100363150B1 (ko) 용기끝치수파라미터의광학적검사
US5926556A (en) Systems and methods for identifying a molded container
EP0597639B1 (en) Non-contact surface flaw detection
US4958223A (en) Inspection of container finish
EP0483966A2 (en) Method of and apparatus for inspecting a transparent or translucent article such as a bottle
WO1997046329A9 (en) System and method for stress detection in a molded container
JP2000055829A (ja) 単一領域のアレイセンサと交互のストロボ光源を使用する容器の検査装置及びその方法
JPH0989805A (ja) 自己診断機能を有する容器の検査装置
JP4094673B2 (ja) 検査装置、特に空き瓶検査装置の信頼性を試験するための方法
EP0870274A1 (en) Inspection system for exterior article surfaces
AU613516B2 (en) Inspection of container finish
US7230229B2 (en) Method and device for the detection of surface defects on the outer wall of a transparent or translucent object
JPH04216445A (ja) 瓶検査装置
JPH04118546A (ja) 瓶検査装置
JP3155106B2 (ja) ボトルシールの外観検査方法及び装置
JPH06118026A (ja) 容器内面検査方法
Duan et al. Empty bottle inspector based on machine vision
JPH043820B2 (ja)
EP0887120A1 (en) System and methods for identifying a molded container
JPH0581697U (ja) 外観検査装置
JPH0432340B2 (ja)
JPH04571A (ja) 画像認識装置