JPS6252816B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は瓶口特に瓶天面の検査装置に関する。

一般に瓶頼を新規にあるいは再使用する場合、
たとえばビール瓶を工場で再使用するのに、コン
ベア上を流して瓶口等に割欠損がないか検査して
いる。しかし従来の瓶口の割欠損の有無検査は作
業員が１本１本目視でチエツクして行なうもので
あり、その作業には多くの作業員を要するし、作
業自体単調な割には神経を使うものであり、長時
間その作業を続けることは作業員にかなりの疲労
を与えるおそれがあるという問題点があつた。

それゆえに本発明の目的は上記従来の検査方法
の問題点を解消し、人手を要することなく自動的
に瓶口等の検査ができる検査装置を提供すること
であり、一次元走査カメラで瓶天面（以下単に瓶
口という）を走査し、走査毎の撮像信号中の矩形
波の個数を計数する第１計数手段、その個数が定
められた数であるか否かを判別する手段、及びそ
れらの判別回数を計数し、その値が所定値である
か否かを判定する手段により瓶口の良否を判定す
るものである。

本発明の他の目的は、瓶口等の比較的大きな割
欠損を検出し得る検査装置を提供することであ
り、上記第１の計数手段で矩形波が３以上である
か否かによつて瓶口の良否を判定するものであ
る。

本発明のさらに他の目的は、瓶口等の特殊な割
欠損を検出し得る検査装置を提供することであ
り、前記第１の計数手段による同じ計数値が連続
する走査線群を１群とし、これらの群の現れる順
序が予め定められた順序であるか否かによつて瓶
口の良否を判定するものである。

本発明のさらに他の目的は、瓶口等の通常生じ
ている割欠損のほとんどを検出し得る検査装置を
提供することであり、前記の判定方法をすべて組
合せて行い瓶口の良否を判定するものである。

以下、図面に示す実施例を参照して本発明を詳
細に説明する。

第１図は本発明の実施例装置が適用される例を
示す概略図である。

第１図において１は被検査瓶２を載せ矢印の方
向に被検査瓶２を移送させるコンベアである。３
は光源でありこれにより照射された光は被検査瓶
２の瓶口で反射されてイメージセンサカメラ４に
向かう。イメージセンサカメラ（以下単にカメラ
という）４はたとえばCCD素子（電荷結合素
子）が多数個配列され、これらのCCD素子に光
があたるとその光信号を電気信号に変換して撮像
信号を取出す一次元走査の可能なカメラであり、
これ自体はすでに周知のものである。５はカメラ
４より撮像信号を受けて信号処理を行なう電子回
路部である。カメラ４による瓶口の走査は瓶口の
割欠損検出に十分な回数（１秒間に3333回程度）
サンプリングして、定周期で行なう。

第２図は本発明の実施例装置のブロツク図を示
す回路接続図であり、第１図の電子回路部５がさ
らに詳細に示されている。

第２図に示す実施例回路は、カメラ４及びカメ
ラ４からの撮像信号を波形整形する回路６の他、
モード２計数ブロツク７、モードオーバ検出ブロ
ツク８、モードパターン検出ブロツク９、出力回
路ブロツク１０を示している。

なおここでモードとは、１走査毎に得られる撮
像信号の矩形波のことをいい、モード１とは矩形
波が１個の場合、モード２とは矩形波が２個の場
合をいう。たとえばコンベア上を移送されて来る
瓶が第３図に示すように割欠損部のない場合を想
定する。瓶２の移動により位置イが走査線いに達
するまでは、光源３よりの光は瓶２で反射されな
い。したがつてカメラ４のCCD素子よりも何の
撮像信号も導出しない。この場合当然矩形波は０
なのでモード０ということになる。瓶２の移動が
進み位置イが走査線いを越えると、カメラ４の中
央部のCCD素子は瓶２よりの反射光をキヤツチ
し、第４図Ａに示すようにCCD素子毎に個別の
パルス状信号を導出する。カメラ４よりのこの信
号は波形整形回路６に加えられ、この出力は波形
整形されて第４図Ｂのようになる。このような波
形状態すなわち矩形波が１個の状態は、パルス巾
が変化するが、位置ロが走査線いを越えるまで続
く。この間の波形はすべてモード１ということに
なる。さらに続いて瓶２が移動し位置ロが走査線
いを越えると、瓶２の口にクロスする走査線いは
２つの部分にわけられる。この部分では走査線い
が瓶口とクロスする部分だけカメラ４のCCD素
子より出力が導出され、第４図Ｃのような信号と
なりさらにこれが波形整形回路６で整形されて第
４図Ｄのような信号を得る。これがモード２の場
合である。走査線いが位置ロと位置ハの間に存す
る間、得られる波形はモード２ということにな
る。さらに瓶２が移動し走査線いがハの位置をこ
えニの位置に至るまでの間は、前記位置イから位
置ロまでの間と同様モード１が続き、さらに瓶２
が移動し走査線いがニの位置を越えると、何の撮
像信号も得られずモードは０となる。瓶２の移動
にしたがい、カメラ４より得られるモードパター
ンは良品瓶の場合同じであるが、瓶に割欠損部が
あるとモードの状態が良品のものに比べて変化す
る。このことに着目して瓶の良否を検査しようと
するのがこの実施例装置である。

(1) モード２計数ブロツク 良品瓶の場合モード２が生じる回数は、第３
図における位置ロから位置ハの間の走査線数に
等しくなる。もし位置ロから位置ハの間におい
て瓶に割欠損部があると当然モード２の数が減
少する。（第５図参照）このことに着目して瓶
の良品を判定せんとするのがこのモード２計数
ブロツク７である。

第２図において１１は波形整形回路６よりの
矩形波を計数するモード計数器、１２は設定信
号Ba＝「１」を出力する設定器、１３はモード
計数器１１の第１ビツト目および第２ビツト目
出力を入力に受け、他方の入力に前記設定器１
２よりの「１」信号を受け、これら入力される
両信号を比較する比較器である。比較器１３は
モード計数器１１の計数内容が「１」のときＡ
＝Ba端に出力“１”を出し、モード計数器１
１の計数内容が２以上のときＡ＞Ba端に出力
“１”を出す。１４は比較器１３のＡ＞Ba端の
出力より“１”信号を受けてこれを計数するモ
ード２計数器である。すなわち１４はモード２
の個数を計数する計数器である。１５はデコー
ダ、１６は表示器である。１７は良品として要
求されるモード２の個数の基準値を設定する設
定器である。１８はモード２計数器１４の出力
Abと、設定器１７よりの信号Bbを入力に受け
両者を比較する比較器である。比較器１８は
Ab＜Bbの場合すなわち設定器１７の設定値の
方が大なる場合に出力信号“１”を出力ブロツ
ク１０に送る。

設定器１７の設定値を第３図における位置ロ
から位置ハまでの間の走査回数よりやや少さい
かほぼ等しい値にしておき、いまたとえば何ら
割欠損のない瓶をこの検査装置にかけると、モ
ード２計数器１４の計数内容と設定器１７の設
定値が比較器１８で比較されその比較結果とし
て設定値の方が大きくないとされるから、この
瓶は良品と判断され何らの処理もされない。し
かし第５図に示すような割欠損のある瓶をこの
検査装置にかけると、モード２計数器１４で計
数されるモード２が非常に少ないので比較器１
８における比較結果は設定値の方が大きいとさ
れ、その出力信号“１”が出力ブロツク１０に
送られ瓶の不良処理がなされる。このブロツク
によれば第８図Ａに示す割欠損の場合、もつと
も極端にモード２の数が少なくなるので不良品
としてチエツクが非常に容易である。

(2) モードオーバ検出ブロツク 良品瓶の場合のモードの存在はモード１とモ
ード２の場合である。したがつて第６図のよう
に割欠損のためにモードが３以上となる場合は
不良品として排除する必要がある。このことに
着目して瓶の良否を判定せんとするのがモード
オーバ検出ブロツク８である。

第２図において１９はアンド回路である。ア
ンド回路１９はモード計数器１１の第１ビツト
目出力と第２ビツト目出力を入力に受けてい
る。さらにアンド回路１９の出力端はフリツプ
フロツプ２０の入力端に接続されている。フリ
ツプフロツプ２０はモードが３以上になつたこ
とを記憶する回路であつて、その出力は出力ブ
ロツク１０に接続されている。

今、たとえば第６図に示す瓶を検査する場合
の動作について考える。位置イが走査線い上に
ある時、モード数は２であるからモード計数器
１１の内容は２となり、第１ビツト目出力
“０”、第２ビツト目出力は“１”となる。この
ためアンド回路１９の入力は“１”でそろわ
ず、したがつてアンド回路１９の出力には
“１”が導出されず、フリツプフロツプ２０も
セツトされることはない。ところが瓶が移動し
て位置ロが走査線いの位置に達すると、波形整
形回路６の出力として３個の矩形波が導出され
モード３となる。そのためモード計数器１１の
内容は３となり、第１ビツト目出力“１”、第
２ビツト目出力“１”となりアンド回路１９の
入力は“１”でそろう。これによりアンド回路
１９の出力は“１”が導出される。アンド回路
１９の出力“１”を受けてフリツプフロツプ２
０がセツトされる。フリツプフロツプ２０のセ
ツト出力はモードオーバを意味し、そのセツト
信号は出力ブロツク１０に送られる。

(3) モードパターン検出ブロツク 良品の場合瓶の進行にしたがつてモードは先
ず１の場合が続き、続いてモード２の場合が続
きさらに終りにモード１が続くパターンであ
る。したがつてモード群をチエツクすると、第
１モード群、第２モード群、第１モード群の検
出で１瓶の検査が終了する。しかし瓶に割欠損
部があると当然モード群の繰り返しが多くな
る。（第７図参照）このことに着目して瓶の良
否を判定せんとするのがモードパターン検出ブ
ロツク９である。

第２図において２１，２２，２３，２４はラ
ツチ回路である。ラツチ回路２１とラツチ回路
２３の入力には比較器１３のＡ＝Ba出力が加
えられ、ラツチ回路２２とラツチ回路２４の入
力には比較器１３のＡ＞Ba出力が加えられる
ようそれぞれ接続されている。ラツチ回路２１
はＡ＝Ｂ出力が“１”のとき、これを出力に導
出しラツチ回路２２にその出力を加える。ラツ
チ回路２２はラツチ回路２１よりの信号を条件
に比較器１３よりのＡ＞Ba出力を導出し、そ
の導出出力をラツチ回路２３に加える。ラツチ
回路２３はラツチ回路２２よりの信号を条件に
比較器１３よりのＡ＝Ba出力を導出し、その
導出出力をラツチ回路２４に加える。一方ラツ
チ回路２３の出力端はインバータ２５を介して
出力ブロツク１０に接続されている。ラツチ回
路２４はラツチ回路２３よりの信号を条件に比
較器１３のＡ＞Ba出力を、その出力に導出す
る。導出された出力は出力ブロツク１０に加え
られる。

いま良品瓶の場合を考えると、モードはモー
ド１群→モード２群→モード１群と変化する。
先ず最初のモード１群では各走査毎のモードは
当然１であるから、比較器１３のＡ＝Ba端に
出力“１”が導出される。導出された出力
“１”はさらにラツチ回路２１の出力端にも導
出される。しかしモード１が連続する限りそれ
以上の変化はない。続いてモード２群に移る
と、比較器１３のＡ＝Ba端の出力が“０”と
なるがＡ＞Ba端の出力が“１”となる。その
ためラツチ回路２２は保持されているラツチ回
路２１の出力を条件にその出力に“１”を導出
する。モード２が連続する限りやはりそれ以上
の変化はない。しかしさらに続いてモード１群
に移ると比較器１３のＡ＝Ba端に再び出力
“１”が導出される。そのためラツチ回路２３
は保持されているラツチ回路２２の出力を条件
にその出力に“１”を導出する。これで良品の
場合のモードパターンは終了であるが、この段
階では比較器１３のＡ＞Ba端は出力“０”な
ので、ラツチ回路２４にはラツチ回路２３から
“１”信号が与えられるにもかかわらずその出
力に“１”が導出されない。又ラツチ回路２３
の出力“１”はインバータ２５で反転されて
“０”となる。したがつてモードパターン検出
ブロツク９より出力ブロツク１０に信号は送ら
れず、不良処理されることはない。

しかし第７図のように割欠損がある場合、モ
ード１群（MO1）→モード２群（MO2）→モ
ード１群→モード２群→モード１群という形に
モードパターンがなるので、上記良品瓶の場合
に比して第４番目、第５番目の群の動作が追加
される。第３番目の群に続いて第４番目の群す
なわちモード２群に入ると、比較器１３のＡ＞
Ba端に出力“１”が導出されるので、ラツチ
回路２４はラツチ回路２３で保持されている出
力“１”を条件にその出力に“１”を導出す
る。ラツチ回路２４の出力“１”信号はモード
パターンオーバ信号として、出力ブロツク１０
に送られ不良処理される。

又第８図Ｂに示すような割欠損がある場合、
モード１群→モード２群となる。この場合上記
したようにモード２群の段階でラツチ回路２２
の出力端に“１”は導出されるが、比較器１３
のＡ＝Ba端の出力は“０”なのでラツチ回路
２３の出力には“１”が導出されず出力“０”
である。この出力“０”がインバータ２５で反
転され“１”信号が出力ブロツク１０に加えら
れる。この信号はモードパターンラツク信号で
あり、やはり不良処理される。

(4) 出力ブロツク モード２計数ブロツク７、モードオーバ検出
ブロツク８、モードパターン検出ブロツク９よ
りの信号を受けて、瓶の良、不良の処理をなし
検査結果の表示を行なうブロツクである。２６
はラツチ回路である。ラツチ回路２６は入力端
子、、、を有しており、入力端子に
は比較器１８からの信号を受けるように、入力
端子にはフリツプフロツプ２０からの信号を
受けるように、入力端子にはラツチ回路２４
の出力信号を受けるように、入力端子にはイ
ンバータ２５よりの信号を受けるようにそれぞ
れ接続されている。ラツチ回路２６にはさらに
また入力端子、、、に対応する出力端
子、、、も有している。２７，２８，
２９，３０は表示用の発光ダイオードである。
ラツチ回路２６の各出力端子、、、は
それぞれ発光ダイオードと抵抗の直列接続を介
してアース接続されている。ラツチ回路２６は
比較器１８よりモード計数が少ない場合モード
計数ラツク信号を端子に受け、フリツプフロ
ツプ２０よりモードオーバ信号を端子に受
け、ラツチ回路２４よりモードパターンオーバ
信号を端子に受け、インバータ２５よりモー
ドパターンラツク信号を端子に受け、それぞ
れ個別に保持し所要のタイミングにこれらの信
号は端子、、、を通じて導出される。
導出された信号により検査瓶の不良処理がなさ
れるとともに、対応する発光ダイオード２７，
２８，２９，３０のどれかが点灯される。１個
でも発光ダイオードが点灯されるとその検査瓶
は不良品を意味するが、当然同時に複数個点灯
する場合もあり得る。

なお上記実施例のモードパターン検出ブロツク
において、モード０の検出については考慮してい
ないが、モード変化の最初（検査前）と最後（検
査後）以外にモード０を生じた場合これを割欠損
等有として不良処理するときは、第９図に示すモ
ードパターン検出回路を使用すればよい。第９図
において１２，１３はそれぞれ第２図に示す同一
番号のものと同じ設定器と比較器である。９１，
９２，９３はラツチ回路、９４はオア回路であ
る。なお比較器１３はＡ＞Ba端、Ａ＝Ba端の他
にＡ＜Baの出力端を有している。Ａ＞Ba端はモ
ード２のとき、Ａ＝Ba端はモード１のとき、Ａ
＜Ba端はモード０のとき、それぞれ出力“１”
を導出する。

第９図の回路において被検査瓶が良品の場合、
すなわちモードがモード０→モード１群→モード
２群→モード１群→モード０と変化する場合の動
作を考えると、先ず最初のモード０で比較器１３
のＡ＜Ba端に“１”を導出する。しかし出力端
Ａ＝Baの出力は“０”なのでラツチ回路９１の
出力には“１”を得ることができない。したがつ
てＡ＜Ba端の“１”はラツチ回路９２の出力に
導出されない。それゆえラツチ回路９３の出力に
も“１”を導出することはない。次に続いてモー
ド１群に入ると比較器１３のＡ＝Ba端に“１”
を導出し、この“１”はラツチ回路９１とオア回
路９４を介してラツチ回路９３の入力に加えられ
る。この信号“１”を受けてラツチ回路９１はこ
れを出力に導出し、ラツチ回路９２に加える。し
かし比較器１３のＡ＜Ba端は“０”出力なの
で、ラツチ回路９２はラツチ回路９１よりの条件
信号が“１”であるにもかかわらず出力端に
“１”を導出しない。したがつてラツチ回路９３
には条件信号“１”が与えられないので、入力に
加えられる“１”信号は出力端に導出されない。
次にモード２群に入ると比較器１３のＡ＞Ba端
に“１”を出力し、オア回路９４を介してラツチ
回路９３の入力に加えられるが比較器１３のＡ＜
Ba端の出力“０”なのでやはりラツチ回路９２
の出力に“１”が導出されず、条件信号“１”が
ラツチ回路９３に与えられないので入力に加えら
れる信号“１”は出力端に導出されない。まつた
く同様の動作で次のモード１群の場合にもラツチ
回路９３の出力端に信号“１”は導出されない。
さらに続いて最後のモード０に入ると、比較器１
３のＡ＜Ba端に“１”を出力し、ラツチ回路９
２の入力に加えられる。ラツチ回路９１は出力に
そのまま“１”を保持したままなので条件信号
“１”をラツチ回路９２に与える。そのためラツ
チ回路９２の出力端に信号“１”を導出する。し
かしモードはこれで終りなのでラツチ回路９３の
出力端に信号“１”を導出することはない。結局
いずれのモードの場合でもラツチ回路９３の出力
端には信号“１”を導出しない。すなわち信号
“１”によつて不良処理されることはない。

一方被検査瓶が割欠損等でたとえばモード０→
モード１群→モード２群→モード０→モード２群
→モード１群→モード０と変化する場合を考える
と、最初のモード２群までは上記の良品瓶の場合
と動作において変りはない。次に割欠損等のため
に生じたモード０に移ると比較器１３のＡ＜Ba
端に“１”が出力され、ラツチ回路９２の入力に
加えられる。一方最初のモード１群でラツチ回路
９１に加えられた“１”信号はラツチ回路９１に
保持されており、この信号が条件信号としてラツ
チ回路９２に加えられているので、ラツチ回路９
２の出力端に“１”を導出する。次に続いてモー
ド２群に入ると比較器１３のＡ＞Ba端に再び
“１”が導出されオア回路９４を介してラツチ回
路９３の入力に加えられる。ラツチ回路９３は条
件信号としてラツチ回路９２より信号“１”を受
けているので、入力に加えられた信号“１”を出
力端に導出する。この出力された信号“１”は割
欠損の存在することを示し、この信号“１”によ
つて不良処理される。

又上記実施例のモード２計数ブロツクにおい
て、モード２の個数が設定値よりも小さい場合の
みを検査しているが、設定値よりもモード２の個
数が多くなる場合（たとえば第８図Ｂ）にこれを
判別し不良信号を出すことも可能である。又モー
ド２計数ブロツクでモード２の個数を計数してい
るが、逆にモード１の個数を計数しこれとあらか
じめ定めたモード１の基準値と比較してもよい。

さらに又上記実施例において、計数器、フリツ
プフロツプ、ゲート回路、ラツチ回路等の回路要
素を組合せて構成しているが、これらの回路にか
えてマイクロコンピユータを採用して本発明を実
施してもよい。

以上のように本発明の検査装置によれば、カメ
ラの一次元走査により得られる撮像信号の矩形波
信号、すなわちモード検出により瓶天面を検査す
るものであるから入手を要することなく自動的に
検査ができ省力化に果す役割は大きい。

又本発明の検査装置によれば、１走査毎に得ら
れる矩形波の個数すなわちモード数が２（もしく
は１）である回数を計数し、その計数と基準値と
を比較し瓶天面の検査を行なうものであるから比
較的大きな割欠損、汚損等のあるものを確実にチ
エツクすることができる。さらに又本発明の検査
装置によればモード数が３以上であるか否かによ
り検査したり、１走査毎に得られる矩形波の個数
を計数し、同じ計数値が連続する走査線を１群と
しこの群が現れる順序が予め定められた順序であ
るか否かによつて瓶天面の良否の検査を行なうも
のであるから特殊形状の割欠損等をも検査するこ
とができる。

さらに又本発明の検査装置によればモード２
（もしくはモード１）の走査線数を計数し、その
計数値と基準値とを比較して良否を判別するブロ
ツク、各走査毎の矩形波の個数すなわちモード数
を計数して、この計数値と基準値とを比較して良
否を判別するブロツク、モードパターン群が現れ
る順序が予め定められている順序であるかどうか
によつて良否を判別するブロツクを組合せて構成
するものであるから通常生じる形状の割欠損、汚
損、傷等を検出することができ精度の高い検査が
可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例装置が適用される一例
を示す概略図、第２図は本発明の一実施例のブロ
ツク図を示す回路接続図、第３図は被検査瓶口と
走査線の位置関係を示す図、第４図は第２図を説
明するための信号波形図、第５図は第２図実施例
のモード２計数ブロツクを説明するための被検査
瓶例、第６図は第２図実施例のモードオーバ検出
ブロツクを説明するための被検査瓶例、第７図は
第２図実施例のモードパターン検出ブロツクを説
明するための被検査瓶例、第８図はその他の被検
査瓶例を示す図、第９図は他のモードパターン検
出ブロツクの回路例を示すブロツク図である。２
……瓶、４……カメラ、１１……モード数計数
器、１３，１８……比較器、１４……モード２計
数器、１９……アンド回路、２０……フリツプフ
ロツプ、２１，２２，２３，２４，２６……ラツ
チ回路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ コンベアにより単列的に移送される瓶に対
   し、上方より光を瓶天面に照射しその反射光によ
   つて瓶天面を検査する装置において、瓶の移動す
   る方向と直角に瓶天面全体の一次元走査を行な
   い、前記瓶天面に関する撮像信号を得るカメラ
   と、前記走査の１走査毎に得られる前記撮像信号
   中の矩形波の個数を計数する第１の計数手段と、
   前記第１の計数手段による計数値があらかじめ定
   めた２（もしくはあらかじめ定めた１）であるか
   否か判別する手段と、前記判別手段による２（も
   しくは１）であることの判別回数を計数する第２
   の計数手段と、前記第２の計数手段による計数値
   が所定値か否か判定する手段とを備え、前記判定
   手段の判定結果により検査をなす瓶天面の検査装
   置。 ２ コンベアにより単列的に移送される瓶に対
   し、上方より光を瓶天面に照射しその反射光によ
   つて瓶天面を検査する装置において、瓶の移動す
   る方向と直角に瓶天面全体の一次元走査を行な
   い、前記瓶天面に関する撮像信号を得るカメラ
   と、前記走査の１走査毎に得られる前記撮像信号
   中の矩形波の個数を計数する第１の計数手段と、
   前記第１の計数手段による計数値があらかじめ定
   めた２（もしくはあらかじめ定めた１）であるか
   否か判別する手段と、前記第１の計数手段による
   計数値が３以上であるか否か判定する手段とを備
   え、前記判定手段の判定結果により検査するよう
   にしたことを特徴とする瓶天面の検査装置。 ３ コンベアにより単列的に移送される瓶に対
   し、上方より光を瓶天面に照射しその反射光によ
   つて瓶天面を検査する装置において、瓶の移動す
   る方向と直角に瓶天面全体の一次元走査を行な
   い、前記瓶天面に関する撮像信号を得るカメラ
   と、前記走査の１走査毎に得られる前記撮像信号
   中の矩形波の個数を計数する第１の計数手段と、
   前記第１の計数手段による計数値があらかじめ定
   めた２（もしくはあらかじめ定めた１）であるか
   否か判別する手段と、前記第１の計数手段による
   同じ計数値が連続する走査線群を１群としこれら
   の群の現れる順序が予め定められた順序であるか
   否か判定する手段とを備え、前記判定手段の判定
   結果により検査を行なうようにしたことを特徴と
   する瓶天面の検査装置。 ４ コンベアにより単列的に移送される瓶に対
   し、上方より光を瓶天面に照射しその反射光によ
   つて瓶天面を検査する装置において、瓶の移動す
   る方向と直角に瓶天面全体の一次元走査を行な
   い、前記瓶天面に関する撮像信号を得るカメラ
   と、前記走査の１走査毎に得られる前記撮像信号
   中の矩形波の個数を計数する第１の計数手段と、
   前記第１の計数手段による計数値があらかじめ定
   めた２（もしくはあらかじめ定めた１）であるか
   否か判別する手段と、前記判別手段による２（も
   しくは１）であることの判別回数を計数する第２
   の計数手段と、前記第２の計数手段による計数値
   が所定値であるか否か判定する第１の判定手段
   と、前記第１の計数手段の計数値が３以上である
   か否か判定する第２の判定手段と、前記第１の計
   数手段による計数値が同じ値で連続する走査線群
   を１群としこれらの群の現れる順序が予め定めら
   れた順序であるか否か判定する第３の判定手段と
   を設け、前記第１、第２および第３の判定手段の
   いずれかの判定結果により検査を行なうようにし
   たことを特徴とする瓶天面の検査装置。