JPH0569536A - 印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路 - Google Patents
印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路Info
- Publication number
- JPH0569536A JPH0569536A JP3258780A JP25878091A JPH0569536A JP H0569536 A JPH0569536 A JP H0569536A JP 3258780 A JP3258780 A JP 3258780A JP 25878091 A JP25878091 A JP 25878091A JP H0569536 A JPH0569536 A JP H0569536A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- defect
- printed matter
- picture
- density
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Accessory Devices And Overall Control Thereof (AREA)
- Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 印刷時に発生する欠陥は、その発生する原因
によっていくつかのパターンに分類できる。本発明はそ
れら欠陥のパターンに応じたしきい値を設定することに
より、単なるノイズと検出したい欠陥の信号を判別する
ものである。 【構成】印刷物の絵柄を画素に分割して検出し、隣り合
った同一絵柄の差分信号をあらかじめ定めた基準信号と
比較して、差分信号が基準信号を超えるか否かにより印
刷物の異常を自動的に判定する検査装置において、基準
信号を超えた差分信号を欠陥の候補信号とし、この欠陥
候補信号に濃度、面積及び印刷物の搬送方向に発生する
線状の欠陥についてのしきい値を設け、それらのしきい
値を超えた欠陥候補信号のみを欠陥信号とする欠陥検出
方法及び欠陥検出回路である。
によっていくつかのパターンに分類できる。本発明はそ
れら欠陥のパターンに応じたしきい値を設定することに
より、単なるノイズと検出したい欠陥の信号を判別する
ものである。 【構成】印刷物の絵柄を画素に分割して検出し、隣り合
った同一絵柄の差分信号をあらかじめ定めた基準信号と
比較して、差分信号が基準信号を超えるか否かにより印
刷物の異常を自動的に判定する検査装置において、基準
信号を超えた差分信号を欠陥の候補信号とし、この欠陥
候補信号に濃度、面積及び印刷物の搬送方向に発生する
線状の欠陥についてのしきい値を設け、それらのしきい
値を超えた欠陥候補信号のみを欠陥信号とする欠陥検出
方法及び欠陥検出回路である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、印刷物の絵柄を検査す
る方法及び装置に関する。
る方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の印刷物の欠陥検出に関する技術
は、特開昭60−142237号に示されているよう
に、濃度微分データを予め記憶された基準濃度微分デー
タと比較し、その差の絶対値を求め、その絶対値が予め
設定された許容値を超えた時に、欠陥判定信号を出力す
る。
は、特開昭60−142237号に示されているよう
に、濃度微分データを予め記憶された基準濃度微分デー
タと比較し、その差の絶対値を求め、その絶対値が予め
設定された許容値を超えた時に、欠陥判定信号を出力す
る。
【0003】あるいは、特開平2−163879号に示
されているように、基準信号にゾーベルフィルタ処理を
施してエッジ情報を得、検査信号と基準信号の差分とエ
ッジ情報を比較して検査画像の正常又は異常を判定する
方法がある。
されているように、基準信号にゾーベルフィルタ処理を
施してエッジ情報を得、検査信号と基準信号の差分とエ
ッジ情報を比較して検査画像の正常又は異常を判定する
方法がある。
【0004】しかし、これら従来の発明では、濃度は低
くても広がりを持った汚れ、細い線状の汚れなどは検出
が困難であった。
くても広がりを持った汚れ、細い線状の汚れなどは検出
が困難であった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】印刷時に発生する欠陥
は、その発生原因によって特徴づけられるいくつかのパ
ターンに分類できる。例えば印刷物の搬送方向に連続し
て発生する線状の欠陥、濃度は低いが広い面積を有する
欠陥、濃度は高いが小さな点状の欠陥などである。本発
明はそれら欠陥のパターンに応じたしきい値を設定する
ことにより、単なるノイズと検出したい欠陥の信号を判
別することを特徴とする欠陥検出方法及び欠陥検出回路
を提供することを目的とする。
は、その発生原因によって特徴づけられるいくつかのパ
ターンに分類できる。例えば印刷物の搬送方向に連続し
て発生する線状の欠陥、濃度は低いが広い面積を有する
欠陥、濃度は高いが小さな点状の欠陥などである。本発
明はそれら欠陥のパターンに応じたしきい値を設定する
ことにより、単なるノイズと検出したい欠陥の信号を判
別することを特徴とする欠陥検出方法及び欠陥検出回路
を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】印刷物の絵柄を画素に分
割して検出し、隣り合った同一絵柄の差分信号を、あら
かじめ定めた基準信号と比較して、差分信号が基準信号
を超えるか否かにより印刷物の異常を自動的に判定する
ことを特徴とする検査装置において、基準信号を超えた
差分信号を欠陥の候補信号とし、この欠陥候補信号に濃
度、面積及び印刷物の搬送方向に発生する線状の欠陥に
ついてのしきい値を設け、それらのしきい値を超えた欠
陥候補信号のみを欠陥信号とすることを特徴とする欠陥
検出方法及び欠陥検出回路を用いる。
割して検出し、隣り合った同一絵柄の差分信号を、あら
かじめ定めた基準信号と比較して、差分信号が基準信号
を超えるか否かにより印刷物の異常を自動的に判定する
ことを特徴とする検査装置において、基準信号を超えた
差分信号を欠陥の候補信号とし、この欠陥候補信号に濃
度、面積及び印刷物の搬送方向に発生する線状の欠陥に
ついてのしきい値を設け、それらのしきい値を超えた欠
陥候補信号のみを欠陥信号とすることを特徴とする欠陥
検出方法及び欠陥検出回路を用いる。
【0007】
【作用】本発明では欠陥信号の濃度、面積及び印刷物の
搬送方向に発生する線状の欠陥についてのしきい値を設
定し基準信号とする。濃度の基準信号値を超えた信号、
すなわち欠陥候補信号の面積を計測して面積が1画素の
信号でかつ濃度が一定値以上の場合は欠陥と判定する。
また、面積の基準信号値を越えた信号、すなわち面積が
一定値以上の場合は濃度に無関係に欠陥と判定する。さ
らに印刷物の搬送方向に発生する線状の欠陥の基準信号
値を越えた信号、すなわち欠陥候補信号を印刷物の搬送
方向に対し垂直な軸に積分し、その積分値が一定値以上
の場合は搬送方向に連続して出現した欠陥と判定する。
これによって単なるノイズと検出したい欠陥の信号を判
別することができ、検査精度の向上が図れる。
搬送方向に発生する線状の欠陥についてのしきい値を設
定し基準信号とする。濃度の基準信号値を超えた信号、
すなわち欠陥候補信号の面積を計測して面積が1画素の
信号でかつ濃度が一定値以上の場合は欠陥と判定する。
また、面積の基準信号値を越えた信号、すなわち面積が
一定値以上の場合は濃度に無関係に欠陥と判定する。さ
らに印刷物の搬送方向に発生する線状の欠陥の基準信号
値を越えた信号、すなわち欠陥候補信号を印刷物の搬送
方向に対し垂直な軸に積分し、その積分値が一定値以上
の場合は搬送方向に連続して出現した欠陥と判定する。
これによって単なるノイズと検出したい欠陥の信号を判
別することができ、検査精度の向上が図れる。
【0008】
【実施例】図1に示すような、画像検出部(1)におい
て、印刷物AをラインセンサカメラBにより印刷物の搬
送方向Iに垂直な方向に走査して、欠陥判定部(2)の
画像メモリCに取り込む。
て、印刷物AをラインセンサカメラBにより印刷物の搬
送方向Iに垂直な方向に走査して、欠陥判定部(2)の
画像メモリCに取り込む。
【0009】今、この取り込んだ印刷物Aの画像信号を
被検査画像信号Dと称することとし、あらかじめ作成し
てある基準パターン画像信号Eと差分演算を行うことに
より検査を行うのであるが、この基準パターン画像信号
Eの作成方法の詳細は、本出願人より出願中の特願昭6
2−321425号(特開平1−163067号)「印
刷物の検査方法」に述べたとおり、被検査画像信号Dど
うしの差分画像を作成し、この差分画像信号を3×3の
最大値フィルター処理した画像の、一定枚数の論理OR
を基準パターン画像信号Eとする。
被検査画像信号Dと称することとし、あらかじめ作成し
てある基準パターン画像信号Eと差分演算を行うことに
より検査を行うのであるが、この基準パターン画像信号
Eの作成方法の詳細は、本出願人より出願中の特願昭6
2−321425号(特開平1−163067号)「印
刷物の検査方法」に述べたとおり、被検査画像信号Dど
うしの差分画像を作成し、この差分画像信号を3×3の
最大値フィルター処理した画像の、一定枚数の論理OR
を基準パターン画像信号Eとする。
【0010】この方法で基準パターン画像信号Eを作成
し、被検査画像信号Dと差分し、差分画像信号Fを得
る。この差分画像信号Fの一例を図2に示す。差分画像
信号Fの輝度点を欠陥候補信号X1 〜XN とする。欠陥
候補信号X1 〜XN に対し連続性を調べたのち、ラベリ
ング処理する。すなわち連続した信号に関しては、一か
たまりとみなして他と区別するための番号をつける。ま
た連続性のない1画素の輝度点にも同様に番号付けを行
う。
し、被検査画像信号Dと差分し、差分画像信号Fを得
る。この差分画像信号Fの一例を図2に示す。差分画像
信号Fの輝度点を欠陥候補信号X1 〜XN とする。欠陥
候補信号X1 〜XN に対し連続性を調べたのち、ラベリ
ング処理する。すなわち連続した信号に関しては、一か
たまりとみなして他と区別するための番号をつける。ま
た連続性のない1画素の輝度点にも同様に番号付けを行
う。
【0011】画像メモリC上のラベリングの終わった欠
陥候補信号X1 〜XN を、コンピュータGによって面積
計測操作1及び濃度値計測操作2を行い(図4参照)、
コンピュータG上で自動的に番号順に一覧表を作成す
る。この一覧表を判定テーブルHと称する。判定テーブ
ルHはコンピュータ上のアスキー形式ファイルとして保
存され、コンピュータGが参照できる。
陥候補信号X1 〜XN を、コンピュータGによって面積
計測操作1及び濃度値計測操作2を行い(図4参照)、
コンピュータG上で自動的に番号順に一覧表を作成す
る。この一覧表を判定テーブルHと称する。判定テーブ
ルHはコンピュータ上のアスキー形式ファイルとして保
存され、コンピュータGが参照できる。
【0012】また、画像メモリC上の前記欠陥候補信号
X1 〜XN を印刷物Aの搬送方向Iに垂直な方向に積分
演算した結果を積分値X’1 〜X’N とする。この積分
値X’1 〜X’N は搬送方向に連続して現れた汚れを示
している。積分値X’1 〜X’N の一例を図3に示す。
横軸は印刷物Aの搬送方向に垂直な軸を、縦軸は積分値
を表している。
X1 〜XN を印刷物Aの搬送方向Iに垂直な方向に積分
演算した結果を積分値X’1 〜X’N とする。この積分
値X’1 〜X’N は搬送方向に連続して現れた汚れを示
している。積分値X’1 〜X’N の一例を図3に示す。
横軸は印刷物Aの搬送方向に垂直な軸を、縦軸は積分値
を表している。
【0013】コンピュータGには、図4に示すようにあ
らかじめ積分しきい値J、面積しきい値K及び濃度しき
い値Lが登録されており、コンピュータGは判定テーブ
ルHを参照し、かつ面積しきい値K、濃度しきい値L及
び積分値X’1 〜X’N を照会しながら、図4に示した
アルゴリズム3〜7に従って、欠陥候補信号の中から欠
陥信号Mと欠陥ではない信号Nを判別する。
らかじめ積分しきい値J、面積しきい値K及び濃度しき
い値Lが登録されており、コンピュータGは判定テーブ
ルHを参照し、かつ面積しきい値K、濃度しきい値L及
び積分値X’1 〜X’N を照会しながら、図4に示した
アルゴリズム3〜7に従って、欠陥候補信号の中から欠
陥信号Mと欠陥ではない信号Nを判別する。
【0014】
【発明の効果】以上のように本発明の欠陥検出方法及び
回路を用いれば、印刷物上の特徴を持った欠陥すなわ
ち、印刷物の搬送方向に連続して発生する線状の欠陥、
濃度は低いがある程度の面積を持った欠陥及び濃度は高
いが小さな点状の欠陥を精度良く検出できる。
回路を用いれば、印刷物上の特徴を持った欠陥すなわ
ち、印刷物の搬送方向に連続して発生する線状の欠陥、
濃度は低いがある程度の面積を持った欠陥及び濃度は高
いが小さな点状の欠陥を精度良く検出できる。
【0015】
【図面の簡単な説明】
【図1】画像検出部及び欠陥判定部の構成図。
【図2】欠陥候補信号の2次元分布図。
【図3】図2の欠陥候補信号の搬送方向に対し垂直な軸
への積分結果を示す図。
への積分結果を示す図。
【図4】欠陥検出方法の過程図。
【0016】
(1) 画像検出部 (2) 欠陥判定部 A 印刷物 B ラインセンサカメラ C 画像メモリ
【0017】D 被検査画像信号 E 基準パターン画像信号 F 差分画像信号 G コンピュータ H 判定テーブル I 搬送方向 J 積分しきい値
【0018】X1 〜XN 欠陥候補信号 X’1 〜X’N 欠陥候補信号の印刷物の搬送方向
に垂直な方向への積分値 K 面積しきい値 L 濃度しきい値 M 欠陥信号 N 欠陥ではない信号
に垂直な方向への積分値 K 面積しきい値 L 濃度しきい値 M 欠陥信号 N 欠陥ではない信号
Claims (2)
- 【請求項1】 印刷物の絵柄を画素に分割して検出し、
隣り合った同一絵柄の差分信号を、あらかじめ定めた基
準信号と比較して、差分信号が基準信号を超えるか否か
により印刷物の異常を自動的に判定することを特徴とす
る検査装置において、基準信号を超えた差分信号を欠陥
の候補信号とし、この欠陥候補信号に濃度、面積及び印
刷物の搬送方向に発生する線状の欠陥についてのしきい
値を設け、それらのしきい値を超えた欠陥候補信号のみ
を欠陥信号とすることを特徴とする欠陥検出方法。 - 【請求項2】 印刷物の絵柄を画素に分割して検出し、
隣り合った同一絵柄の差分信号を、あらかじめ定めた基
準信号と比較して、差分信号が基準信号を超えるか否か
により印刷物の異常を自動的に判定することを特徴とす
る検査装置において、基準信号を超えた差分信号を欠陥
の候補信号とし、この欠陥候補信号に濃度、面積及び印
刷物の搬送方向に発生する線状の欠陥についてのしきい
値を設け、それらのしきい値を超えた欠陥候補信号のみ
を欠陥信号とすることを特徴とする欠陥検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3258780A JPH07121582B2 (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3258780A JPH07121582B2 (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0569536A true JPH0569536A (ja) | 1993-03-23 |
JPH07121582B2 JPH07121582B2 (ja) | 1995-12-25 |
Family
ID=17324979
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3258780A Expired - Fee Related JPH07121582B2 (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07121582B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5998652A (en) * | 1997-01-21 | 1999-12-07 | Sumika Fine Chemicals Co., Ltd. | Process for preparing 2-cyanobiphenyl compound |
JP2006058155A (ja) * | 2004-08-20 | 2006-03-02 | Fuji Xerox Co Ltd | 印刷検査装置 |
JP2009063388A (ja) * | 2007-09-06 | 2009-03-26 | Dainippon Printing Co Ltd | 検査装置および方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5540595B2 (ja) * | 2009-07-30 | 2014-07-02 | 日本電気株式会社 | 印刷物検査装置、印刷物検査システム、印刷物検査方法及び印刷物検査プログラム |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01163067A (ja) * | 1987-12-21 | 1989-06-27 | Ookurashiyou Insatsu Kyokucho | 印刷物の検査方法 |
-
1991
- 1991-09-11 JP JP3258780A patent/JPH07121582B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01163067A (ja) * | 1987-12-21 | 1989-06-27 | Ookurashiyou Insatsu Kyokucho | 印刷物の検査方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5998652A (en) * | 1997-01-21 | 1999-12-07 | Sumika Fine Chemicals Co., Ltd. | Process for preparing 2-cyanobiphenyl compound |
JP2006058155A (ja) * | 2004-08-20 | 2006-03-02 | Fuji Xerox Co Ltd | 印刷検査装置 |
JP2009063388A (ja) * | 2007-09-06 | 2009-03-26 | Dainippon Printing Co Ltd | 検査装置および方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07121582B2 (ja) | 1995-12-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4230880B2 (ja) | 欠陥検査方法 | |
KR101022187B1 (ko) | 기판 검사 장치 | |
JPH0569536A (ja) | 印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路 | |
JPH0210461B2 (ja) | ||
CN116804637A (zh) | 检查系统、教师数据生成装置、教师数据生成方法及存储介质 | |
EP0488188B1 (en) | Method of and apparatus for inspecting the width of a wiring line on a printed board | |
JP2002008029A (ja) | 画像検査装置 | |
JPH08145907A (ja) | 欠陥検査装置 | |
JP4474006B2 (ja) | 検査装置 | |
JP2005172649A (ja) | 欠陥検査装置 | |
JPS62229050A (ja) | 物体の表面欠陥検査方法 | |
JPH05108800A (ja) | 画像欠陥判別処理装置 | |
JP2965370B2 (ja) | 欠陥検出装置 | |
JPH04339653A (ja) | 印刷欠陥検査装置 | |
JP2508662Y2 (ja) | 疵検出装置 | |
JPH03156349A (ja) | 異物検出方法 | |
JPH02171640A (ja) | 容器検査方法 | |
JP2841373B2 (ja) | パターン検査装置 | |
JPH0499949A (ja) | 薄板パターン製品の外観検査装置 | |
JP2002202268A (ja) | パターン欠陥検出方法およびパターン欠陥検出装置 | |
KR100237304B1 (ko) | 화상 비교 검사시의 양/불 판정 방법과 불량 위치 검출방법 | |
JP2000294139A (ja) | 周期性パターンの欠陥検査方法及び装置 | |
JPH0682724B2 (ja) | ウエハ欠陥検査装置 | |
JP2004150963A (ja) | 欠陥判定方法 | |
JPH04294260A (ja) | 印刷パタ−ン品質検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |