JPH07121582B2 - 印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路 - Google Patents
印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路Info
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- JPH07121582B2 JPH07121582B2 JP3258780A JP25878091A JPH07121582B2 JP H07121582 B2 JPH07121582 B2 JP H07121582B2 JP 3258780 A JP3258780 A JP 3258780A JP 25878091 A JP25878091 A JP 25878091A JP H07121582 B2 JPH07121582 B2 JP H07121582B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、印刷物の絵柄を検査す
る方法及び装置に関する。
る方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の印刷物の欠陥検出に関する技術
は、特開昭６０−１４２２３７号に示されているよう
に、濃度微分データをあらかじめ記憶された基準濃度微
分データと比較し、その差の絶対値を求め、その絶対値
があらかじめ設定された許容値を超えた時に、欠陥判定
信号を出力する。
は、特開昭６０−１４２２３７号に示されているよう
に、濃度微分データをあらかじめ記憶された基準濃度微
分データと比較し、その差の絶対値を求め、その絶対値
があらかじめ設定された許容値を超えた時に、欠陥判定
信号を出力する。
【０００３】あるいは、特開平２−１６３８７９号に示
されているように、基準信号にゾーベルフィルタ処理を
施してエッジ情報を得、検査信号と基準信号の差分とエ
ッジ情報を比較して検査画像の正常又は異常を判定する
方法がある。
されているように、基準信号にゾーベルフィルタ処理を
施してエッジ情報を得、検査信号と基準信号の差分とエ
ッジ情報を比較して検査画像の正常又は異常を判定する
方法がある。
【０００４】しかし、これら従来の発明では、濃度は低
くても広がりを持った汚れや細い線状の汚れなどは検出
が困難であった。
くても広がりを持った汚れや細い線状の汚れなどは検出
が困難であった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来では検
出することのできなかった、濃度は低くても広がりを持
った汚れや細い線状の汚れなどについても、単なるノイ
ズと検出したい欠陥の信号を精度良く判別できることを
特徴とする欠陥検出方法及び欠陥検出回路を提供するこ
とを目的とする。
出することのできなかった、濃度は低くても広がりを持
った汚れや細い線状の汚れなどについても、単なるノイ
ズと検出したい欠陥の信号を精度良く判別できることを
特徴とする欠陥検出方法及び欠陥検出回路を提供するこ
とを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】印刷物の絵柄を画素に分
割して検出し、印刷物の搬送方向に隣り合った同一絵柄
の差分信号を、あらかじめ定めた基準信号と比較して、
差分信号が基準信号を超えるか否かにより印刷物の異常
を自動的に判定することを特徴とするデジタル方式の検
査装置において、基準信号を印刷濃度の変動値程度に設
定し、基準信号を超えた差分信号である欠陥候補信号の
２次元分布の状態及び欠陥候補信号が基準信号を超える
程度に対して、広い面積の欠陥を検出する面積しきい
値、搬送方向に発生する線状の欠陥を検出する積分しき
い値及び高濃度の欠陥を検出する濃度しきい値を設け、
それらのしきい値のいずれかを超えた欠陥候補信号のみ
を欠陥信号とすることを特徴とする欠陥検出回路及び欠
陥検出回路を用いる。
割して検出し、印刷物の搬送方向に隣り合った同一絵柄
の差分信号を、あらかじめ定めた基準信号と比較して、
差分信号が基準信号を超えるか否かにより印刷物の異常
を自動的に判定することを特徴とするデジタル方式の検
査装置において、基準信号を印刷濃度の変動値程度に設
定し、基準信号を超えた差分信号である欠陥候補信号の
２次元分布の状態及び欠陥候補信号が基準信号を超える
程度に対して、広い面積の欠陥を検出する面積しきい
値、搬送方向に発生する線状の欠陥を検出する積分しき
い値及び高濃度の欠陥を検出する濃度しきい値を設け、
それらのしきい値のいずれかを超えた欠陥候補信号のみ
を欠陥信号とすることを特徴とする欠陥検出回路及び欠
陥検出回路を用いる。
【０００７】
【作用】本発明では、印刷濃度の変動値程度に設定され
た基準信号を超えた欠陥候補信 号に対して、欠陥の種類
に応じてそれぞれ所定の値に設定された面積しきい値、
濃度しきい値及び積分しきい値を設け、それらのしきい
値のいずれかを超えた欠陥候補信号のみを欠陥信号とす
ることによって、従来では検出することのできなかった
欠陥についても、単なるノイズと検出したい欠陥の信号
を判別することができ、検査精度の向上が図れる。
た基準信号を超えた欠陥候補信 号に対して、欠陥の種類
に応じてそれぞれ所定の値に設定された面積しきい値、
濃度しきい値及び積分しきい値を設け、それらのしきい
値のいずれかを超えた欠陥候補信号のみを欠陥信号とす
ることによって、従来では検出することのできなかった
欠陥についても、単なるノイズと検出したい欠陥の信号
を判別することができ、検査精度の向上が図れる。
【０００８】
【実施例】図１に示すような、画像検出部（１）におい
て、印刷物ＡをラインセンサカメラＢにより印刷物の搬
送方向Ｉに垂直な方向に走査して、欠陥判定部（２）の
画像メモリＣに取り込む。
て、印刷物ＡをラインセンサカメラＢにより印刷物の搬
送方向Ｉに垂直な方向に走査して、欠陥判定部（２）の
画像メモリＣに取り込む。
【０００９】今、この取り込んだ印刷物Ａ上の印刷物の
搬送方向に隣り合った同一絵柄の差分信号を被検査画像
信号Ｄと称することとし、あらかじめ作成してある基準
パターン画像信号Ｅと差分演算を行うことにより検査を
行うのであるが、この基準パターン画像信号Ｅの作成方
法の詳細は、本出願人より出願中の特願昭６２−３２１
４２５号（特開平１−１６３０６７号）「印刷物の検査
方法」に述べたとおり、隣り合った同一絵柄の差分信号
を作成し、この差分信号を３×３の最大値フィルター処
理した画像の、一定枚数の論理ＯＲを基準パターン画像
信号Ｅとする。
搬送方向に隣り合った同一絵柄の差分信号を被検査画像
信号Ｄと称することとし、あらかじめ作成してある基準
パターン画像信号Ｅと差分演算を行うことにより検査を
行うのであるが、この基準パターン画像信号Ｅの作成方
法の詳細は、本出願人より出願中の特願昭６２−３２１
４２５号（特開平１−１６３０６７号）「印刷物の検査
方法」に述べたとおり、隣り合った同一絵柄の差分信号
を作成し、この差分信号を３×３の最大値フィルター処
理した画像の、一定枚数の論理ＯＲを基準パターン画像
信号Ｅとする。
【００１０】この方法で基準パターン画像信号Ｅを作成
し、被検査画像信号Ｄと差分し、差分画像信号Ｆを得
る。この差分画像信号Ｆの２次元分布の一例を図２に示
す。差分画像信号Ｆを示す輝度点を欠陥候補信号Ｘ１〜
ＸＮとする。欠陥候補信号Ｘ１〜ＸＮに対し連続性を調
べたのち、ラベリング処理をする。すなわち、連続した
信号に関しては、一かたまりとみなして他と区別するた
めの番号をつける。また、連続性のない１画素の輝度点
にも同様に番号付けを行う。
し、被検査画像信号Ｄと差分し、差分画像信号Ｆを得
る。この差分画像信号Ｆの２次元分布の一例を図２に示
す。差分画像信号Ｆを示す輝度点を欠陥候補信号Ｘ１〜
ＸＮとする。欠陥候補信号Ｘ１〜ＸＮに対し連続性を調
べたのち、ラベリング処理をする。すなわち、連続した
信号に関しては、一かたまりとみなして他と区別するた
めの番号をつける。また、連続性のない１画素の輝度点
にも同様に番号付けを行う。
【００１１】画像メモリＣ上のラベリングの終わった欠
陥候補信号Ｘ１〜ＸＮ について、コンピュータＧ上で番
号順に一覧表を作成する。この一覧表を判定テーブルＨ
と称する。判定テーブルＨはコンピュータ上のアスキー
形式ファイルとして保存され、コンピュータＧによって
参照できる。
陥候補信号Ｘ１〜ＸＮ について、コンピュータＧ上で番
号順に一覧表を作成する。この一覧表を判定テーブルＨ
と称する。判定テーブルＨはコンピュータ上のアスキー
形式ファイルとして保存され、コンピュータＧによって
参照できる。
【００１２】また、画像メモリＣ上の前記欠陥候補信号
Ｘ１〜ＸＮを印刷物Ａの搬送方向Ｉの方向に積分演算し
た結果を積分値Ｘ’１〜Ｘ’Ｎとする。積分値Ｘ’１〜
Ｘ’Ｎの一例を図３に示す。横軸は印刷物Ａの搬送方向
に垂直な軸を、縦軸は積分値を表している。
Ｘ１〜ＸＮを印刷物Ａの搬送方向Ｉの方向に積分演算し
た結果を積分値Ｘ’１〜Ｘ’Ｎとする。積分値Ｘ’１〜
Ｘ’Ｎの一例を図３に示す。横軸は印刷物Ａの搬送方向
に垂直な軸を、縦軸は積分値を表している。
【００１３】コンピュータＧには、図４に示すようにあ
らかじめ面積しきい値Ｊ、濃度しきい値Ｋ及び積分しき
い値Ｌが登録されている。面積しきい値Ｊと積分しきい
値Ｌは画素数であり、濃度しきい値Ｋは０〜２５５に量
子化された印刷物の濃度である。コンピュータＧは判定
テーブルＨを参照し、かつ面積しきい値Ｊ、濃度しきい
値Ｋ、積分しきい値Ｌ及び積分値Ｘ’１〜Ｘ’Ｎを照会
しながら、図４に示したアルゴリズム１〜７に従って、
欠陥候補信号の中から欠陥信号Ｍと欠陥ではない信号Ｎ
を判別する。
らかじめ面積しきい値Ｊ、濃度しきい値Ｋ及び積分しき
い値Ｌが登録されている。面積しきい値Ｊと積分しきい
値Ｌは画素数であり、濃度しきい値Ｋは０〜２５５に量
子化された印刷物の濃度である。コンピュータＧは判定
テーブルＨを参照し、かつ面積しきい値Ｊ、濃度しきい
値Ｋ、積分しきい値Ｌ及び積分値Ｘ’１〜Ｘ’Ｎを照会
しながら、図４に示したアルゴリズム１〜７に従って、
欠陥候補信号の中から欠陥信号Ｍと欠陥ではない信号Ｎ
を判別する。
【００１４】
【発明の効果】以上のように、本発明の欠陥検出方法及
び回路を用いれば、印刷物上の特徴を持った多様な欠陥
を精度良く検出できる。
び回路を用いれば、印刷物上の特徴を持った多様な欠陥
を精度良く検出できる。
【００１５】
【図１】画像検出部及び欠陥判定部の構成図。
【図２】欠陥候補信号の２次元分布図。
【図３】図２の欠陥候補信号の搬送方向への積分結果を
示す図。
示す図。
【図４】欠陥検出方法のアルゴリズム。
（１） 画像検出部 （２） 欠陥判定部 Ａ 印刷物 Ｂ ラインセンサカメラ Ｃ 画像メモリ Ｄ 被検査画像信号 Ｅ 基準パターン画像信号 Ｆ 差分画像信号 Ｇ コンピュータ Ｈ 判定テーブル Ｉ 搬送方向 Ｊ 面積しきい値 Ｋ 濃度しきい値 Ｌ 積分しきい値 Ｍ 欠陥信号 Ｎ 欠陥ではない信号 Ｘ１〜ＸＮ 欠陥候補信号 Ｘ’１〜Ｘ’Ｎ 欠陥候補信号の印刷物の搬送方向へ
の積分値
の積分値
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｔ 7/00 // Ｂ４１Ｊ 29/46 Ｃ
Claims (2)
- 【請求項１】 印刷物の絵柄を画素に分割して検出し、
印刷物の搬送方向に隣り合った同一絵柄の差分信号を、
あらかじめ定めた基準信号と比較して、差分信号が基準
信号を超えるか否かにより印刷物の異常を自動的に判定
することを特徴とするデジタル方式の検査装置におい
て、基準信号を印刷濃度の変動値程度に設定し、基準信
号を超えた差分信号である欠陥候補信号の２次元分布の
状態及び欠陥候補信号が基準信号を超える程度に対し
て、広い面積の欠陥を検出する面積しきい値、搬送方向
に発生する線状の欠陥を検出する積分しきい値及び高濃
度の欠陥を検出する濃度しきい値を設け、それらのしき
い値のいずれかを超えた欠陥候補信号のみを欠陥信号と
することを特徴とする欠陥検出方法。 - 【請求項２】 印刷物の絵柄を画素に分割して検出し、
印刷物の搬送方向に隣り合った同一絵柄の差分信号を、
あらかじめ定めた基準信号と比較して、差分信号が基準
信号を超えるか否かにより印刷物の異常を自動的に判定
することを特徴とするデジタル方式の検査装置におい
て、基準信号を印刷濃度の変動値程度に設定し、基準信
号を超えた差分信号である欠陥候補信号の２次元分布の
状態及び欠陥候補信号が基準信号を超える程度に対し
て、広い面積の欠陥を検出する面積しきい値、搬送方向
に発生する線状の欠陥を検出する積分しきい値及び高濃
度の欠陥を検出する濃度しきい値を設け、それらのしき
い値のいずれかを超えた欠陥候補信号のみを欠陥信号と
することを特徴とする欠陥検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3258780A JPH07121582B2 (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3258780A JPH07121582B2 (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0569536A JPH0569536A (ja) | 1993-03-23 |
| JPH07121582B2 true JPH07121582B2 (ja) | 1995-12-25 |
Family
ID=17324979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3258780A Expired - Fee Related JPH07121582B2 (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07121582B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011033391A (ja) * | 2009-07-30 | 2011-02-17 | Nec Corp | 印刷物検査装置、印刷物検査システム、印刷物検査方法及び印刷物検査プログラム |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5998652A (en) * | 1997-01-21 | 1999-12-07 | Sumika Fine Chemicals Co., Ltd. | Process for preparing 2-cyanobiphenyl compound |
| JP4507762B2 (ja) * | 2004-08-20 | 2010-07-21 | 富士ゼロックス株式会社 | 印刷検査装置 |
| JP5167731B2 (ja) * | 2007-09-06 | 2013-03-21 | 大日本印刷株式会社 | 検査装置および方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0624851B2 (ja) * | 1987-12-21 | 1994-04-06 | 大蔵省印刷局長 | 印刷物の検査方法 |
-
1991
- 1991-09-11 JP JP3258780A patent/JPH07121582B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011033391A (ja) * | 2009-07-30 | 2011-02-17 | Nec Corp | 印刷物検査装置、印刷物検査システム、印刷物検査方法及び印刷物検査プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0569536A (ja) | 1993-03-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |