JP2011033391A - 印刷物検査装置、印刷物検査システム、印刷物検査方法及び印刷物検査プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】一枚の用紙に複数の印刷単位を含み、各印刷単位に同一のパターンが印刷される印刷物を対象とし、当該印刷物に含まれる複数の印刷単位を撮像する入力装置1と、印刷物の欠陥を印刷単位で検査する印刷物検査装置2と、検査結果を出力する出力装置3とを備え、印刷物検査装置2が、検査対象の印刷単位画像が撮像の際に受けた変動と類似の変動を受けた印刷単位画像を検索する比較相手検索手段22と、撮像の際に類似の変動を受けた印刷単位画像同士の比較に基づいて、印刷単位画像の欠陥を検出する欠陥検出手段23とを備える。
【選択図】図1
Description
例えば、特許文献1においては、異なる大判間で同じ位置関係にある印刷単位画像同士を比較する方法や、同じ大判内で上下あるいは左右の位置関係にある印刷単位画像同士を比較する方法が開示されている。
第一の問題点は、検査対象の印刷単位画像が、撮像時に様々な変動(撮像誤差)を受けて、検査精度が低下することである。
すなわち、印刷単位は同じパターンであるが、搬送系や光学系の影響により、光学画像上では様々な変動を受けている。既存の検査技術において、同じ位置関係や上下あるいは左右の位置関係にある印刷単位画像同士を比較している理由は、このような光学画像上の変動を可及的にキャンセルするためである。
しかしながら、光学画像上の変動は動的に生じるものであり、固定的な位置関係にある光学画像同士を比較したとしても、変動がキャンセルされずに大きく残ることもあり、このようなケースでは、変動の影響を排除できず、検査精度が著しく低下してしまう可能性がある。
すなわち、比較相手の数は、平均化によるばらつきの抑制に繋がるので、多い方が好ましいが、既存の検査技術では、変動をキャンセルするために、限られた固定的な位置関係にある相手とのみ比較しており、比較相手の数を増やすことができなかった。例えば、同じ大判内で上下あるいは左右の位置関係にある印刷単位同士を比較する場合は、一つの印刷単位に対する比較相手は最大で四つであり、比較相手をそれ以上増やすことは困難であった。
しかしながら、光学画像の補正は、画像の劣化に繋がり、検査精度を低下させる可能性があった。特に、一つの光学画像に対して複数種類の補正を順次実行する場合には、累積誤差により画像が著しく劣化するおそれがあった。
なお、以下に示す本発明の印刷物検査装置及び印刷物検査システムで実行される処理動作(印刷物検査方法)は、プログラム(ソフトウェア)の命令によりコンピュータで実行される処理,手段,機能によって実現される。
プログラムは、コンピュータの各構成要素に指令を送り、以下に示すような本発明の所定の処理、例えば、検査対象となる所定の印刷単位画像を入力する処理、検査対象の印刷単位画像と類似する所定の対比印刷単位画像を記憶手段から検索・抽出する処理、検査対象の印刷単位画像と対比印刷単位画像を比較して、検査対象の印刷単位画像の欠陥を検出する処理等の各処理・手順を行わせる。
なお、プログラムの全部又は一部は、例えば、磁気ディスク,光ディスク,半導体メモリ,その他任意のコンピュータで読取り可能な記録媒体により提供され、記録媒体から読み出されたプログラムがコンピュータにインストールされて実行される。また、プログラムは、記録媒体を介さず、通信回線を通じて直接にコンピュータにロードし実行することもできる。
図1は、本発明の第一実施形態に係る印刷物検査システムの概略構成を示すブロック図である。
この図に示すように、本発明の第一実施形態に係る印刷物検査システムは、入力装置1と、印刷物検査装置2、出力装置3を備えた構成となっている。
入力装置1は、CCDカメラ等の撮像手段を備えた装置からなり、一枚の用紙に複数の印刷単位を含み、各印刷単位に同一のパターンが印刷される印刷物を対象として、当該印刷物に含まれる複数の印刷単位を撮像するものである。
印刷物検査装置2は、入力装置1から入力される撮像画像、すなわち検査対象となる印刷単位画像に基づいて、印刷物の欠陥を印刷単位で検査する検査装置である。
出力装置3は、印刷物検査装置2における検査結果を外部に出力・通知するための装置であり、例えば、検査結果を出力するモニタやプリンタ等によって構成されている。
比較相手検索手段22は、検査対象となる所定の印刷単位画像を入力装置1から入力する。そして、検査対象の印刷単位画像と類似する所定の対比印刷単位画像を、図1では図示しない記憶手段(図2に示す印刷単位画像・補正パラメータ記憶部25参照)から検索・抽出する。
本実施形態では、検査対象の印刷単位画像が有する撮像時の変動による欠陥と類似する欠陥を有する印刷単位画像を対比印刷単位画像として検索・抽出するようになっている。このようにすることで、過去の検査結果を現在の検査処理にフィードバックすることができ、適切かつ迅速な検査処理が行えるようになる。
欠陥検出手段23は、入力装置1から入力される検査対象の印刷単位画像と、比較相手検索手段22で検索・抽出された対比印刷単位画像を比較して、検査対象の印刷単位画像の欠陥を検出する。
そして、この欠陥検出手段23での検査結果が出力装置3に入力され、出力装置3を介して検査結果が外部に出力(表示・印刷等)されることになる。
また、検査対象の印刷単位画像と比較する画像は、印刷物中の位置関係等とは無関係に選定・抽出することができるので、対比画像は任意に選択し、また、その数も任意に設定・増減することができる。従って、任意の複数の対比画像を用いることで、対比画像を増やして平均化によるばらつきの抑制等を促進して、検査精度を向上させることが可能となる。
図2は、本実施形態に係る印刷物検査装置の具体的な構成を示すブロック図である。
この図に示すように、本発明の第一実施形態に係る印刷物検査装置2は、図1に示した比較相手検索手段22及び欠陥検出手段23を備えるとともに、補正パラメータ算出手段21と、印刷単位モデル画像記憶部24、印刷単位画像・補正パラメータ記憶部25の各部を備えている。
印刷単位画像・補正パラメータ記憶部25は、比較相手検索手段22から与えられた印刷単位画像と補正パラメータの組を記憶する。すなわち、印刷単位画像・補正パラメータ記憶部25は、一又は二以上の所定の補正パラメータと、各補正パラメータに対応する印刷単位画像を関連付けて記憶している。
ここで、補正パラメータ算出手段21における補正パラメータの算出・生成方法としては、既存のパラメータ算出方法を用いることができ、例えば、二つの画像の間の誤差を最小にする線形フィルタの係数を補正パラメータとして求める方法がある。
補正パラメータは、例えば、特許第3965189号公報に示されるように、基準となるモデル画像と検査対象となる印刷単位画像の2枚の画像について、それぞれ5×5画素の領域を用いると、2枚の画像間の変動モデルが持つ5×5=25個のパラメータとなる。
そして、この補正パラメータは、所定の関係式(連立1次方程式)を解くことによって得ることができる。すなわち、補正パラメータは、上記の例では画像間の変動を25個の実数値で表現できることになる。
比較相手検索手段22は、補正パラメータ算出手段21から与えられた補正パラメータと、印刷単位画像・補正パラメータ記憶部25に記憶された補正パラメータを比較する。そして、類似の補正パラメータを持つ印刷単位画像を印刷単位画像・補正パラメータ記憶部25から検索して、これを比較用データとして欠陥検出手段23に送る。
すなわち、25個の実数値を25次元実ベクトルとみなし、実ベクトル間のL2ノルムが予め定められたしきい値を下回れば、類似の補正パラメータと判定することができる。
ここで、欠陥検出手段23で行われる欠陥判定は、既存の欠陥判定方法を用いることができ、例えば、公知の技術を使って以下のように実現することができる。
まず、補正パラメータ算出手段21から与えられた印刷単位画像と、比較相手検査手段22から与えられた印刷単位画像の差画像を取る。差画像とは、各画素における階調値の差分の絶対値を取ったものである。
ここで、比較相手検査手段22から与えられた印刷単位画像が複数枚あれば、差画像も複数枚できる。その場合は、複数枚の差画像の平均を取って1枚の差画像に変換する。
そして、差画像の階調値が予め定められたしきい値より大きければ、その画素に欠陥が存在すると判定する。
なお、欠陥判定方法の他の例としては、例えば、特許第3031286号公報に開示されているような方法を用いることもできる。
図3は、本実施形態に係る印刷物検査システムの動作手順(印刷物検査方法)を示すフローチャートである。
まず、図2に示したように、検査対象となる印刷物が入力装置1により印刷単位で撮像され、その印刷単位画像が印刷物検査装置2に与えられる。
入力装置1から与えられた印刷単位画像は、印刷物検査装置2の補正パラメータ算出手段21に供給される。
補正パラメータ算出手段21は、検査対象の印刷単位画像と、印刷単位モデル画像記憶部24に記憶された印刷単位のモデル画像との間の補正パラメータを求める(図3のステップA1)。
そして、検査対象の印刷単位画像は、比較相手検索手段22と欠陥検出手段23に送られ、補正パラメータは、比較相手検索手段22に送られる。
そして、比較相手検索手段22は、印刷単位画像・補正パラメータ記憶部25から読み出した印刷単位画像を、比較用データ(対比印刷単位画像)として欠陥検出手段23に送る(図3のステップA2)。
さらに、比較相手検索手段22は、補正パラメータ算出手段21から送られた印刷単位画像と補正パラメータを組にして、印刷単位画像・補正パラメータ記憶部25に追加記憶させる(図3のステップA3)。
出力装置3は、判定結果をモニタやプリンタに出力する(図3のステップA5)。
判定結果出力後、検査が終了していなければ、ステップA1に戻って一連の処理を繰り返し、検査が終了であれば、処理を終了する(図3のステップA6)。
図4は、本実施形態に係る印刷物検査方法の具体例を示すための説明図である。
印刷単位画像・補正パラメータ記憶部25には、図4に示すように、例えば記憶領域B4に、補正パラメータと印刷単位画像の組が複数記憶されている。この補正パラメータと印刷単位画像は、過去の欠陥検査により生成・蓄積された印刷単位画像とその補正パラメータとが、対応して関連付けて記憶される。
図4に示す例では、補正パラメータ1は、モデル画像B3と印刷単位画像B5との間の補正パラメータであり、補正パラメータ2は、モデル画像B3と印刷単位画像B6との間の補正パラメータである。
ここでは、求めた補正パラメータを補正パラメータAとする。
この場合、比較相手検索手段22は、補正パラメータ1と組になって記憶されている印刷単位画像B5を欠陥検出手段23に送る(図3のステップA2)。
さらに、比較相手検索手段22は、補正パラメータAと印刷単位画像B1を組として、印刷単位画像・補正パラメータ記憶部25に追記する(図3のステップA3)。
二つの画像を比較して欠陥を判定する方法は、上述のように既存の方法を用いることができる。
そして、欠陥検出手段23は、判定結果を出力装置3に送る。
図4に示す例では、検査対象の印刷単位画像B1には、欠陥B2が存在するという情報を出力装置3に送る。
出力装置3では、送られてきた欠陥検査情報に基づき、所定の検査結果を外部に出力する。これにより、検査対象の印刷物の検査結果が外部に通知・出力されることになる。
また、印刷物検査装置2は、印刷単位のモデル画像を基準として検査対象の印刷単位画像を補正する場合の補正パラメータを算出する補正パラメータ算出手段21を備え、比較相手検索手段22が、補正パラメータの類似性に基づいて比較相手となる印刷単位画像を検索するので、類似の変動を受けた印刷単位画像を簡単な構成で検索することが可能になる。その理由は、既存の画像補正プログラムを利用すれば、印刷単位のモデル画像と検査対象の印刷単位画像との間の補正パラメータを容易に求めることができるからである。
次に、本発明の第二実施形態に係る印刷物検査システムについて、図5及び図6を参照して説明する。ただし、前記実施形態と共通の部分については、前記実施形態と同じ符号を付け、前記実施形態の説明を援用する。
図5は、本発明の第二実施形態に係る印刷物検査システムの具体的な構成を示すブロック図、図6は、本発明の第二実施形態に係る印刷物検査システムの動作手順を示すフローチャートである。
比較用データ除外手段26は、具体的には、欠陥が検出された過去の印刷単位画像及び/又はその補正パラメータを印刷単位画像・補正パラメータ記憶部25から削除することにより、比較用データから除外するようになっている。
また、比較用データ除外手段26は、欠陥が検出された過去の印刷単位画像及び/又はその補正パラメータを印刷単位画像・補正パラメータ記憶部25から削除するので、欠陥が検出された過去の印刷単位画像を簡単かつ確実に比較用データから除外することができる。
例えば、上述した各実施形態では、本発明の検査対象となる印刷物として、一枚の用紙に複数の印刷単位を含み各印刷単位に同一のパターンが印刷される印刷物(例えば紙幣,切手等)を例に示したが、本発明はこのような印刷物に限らず、欠陥検査が必要となる各種の印刷物に適用することができる。
2 印刷物検査装置
3 出力装置
21 補正パラメータ算出手段
22 比較相手検索手段
23 欠陥検出手段
24 印刷単位モデル画像記憶部
25 印刷単位画像・補正パラメータ記憶部
26 比較用データ除外手段
Claims (13)
- 検査対象となる所定の印刷単位画像を入力し、検査対象の印刷単位画像と類似する所定の対比印刷単位画像を記憶手段から検索・抽出する比較相手検索手段と、
前記検査対象の印刷単位画像と前記対比印刷単位画像を比較して、前記検査対象の印刷単位画像の欠陥を検出する欠陥検出手段と、
を備えることを特徴とする印刷物検査装置。 - 前記比較相手検索手段が、
前記検査対象の印刷単位画像が有する撮像時の変動による欠陥と類似する欠陥を有する印刷単位画像を前記対比印刷単位画像として検索・抽出する請求項1記載の印刷物検査装置。 - 前記検査対象となる印刷単位画像を入力するとともに、欠陥検出の基準となる所定の印刷単位のモデル画像を入力し、前記モデル画像を基準として前記検査対象の印刷単位画像を補正するための所定の補正パラメータを算出する補正パラメータ算出手段と、
一又は二以上の所定の補正パラメータと、当該補正パラメータに対応する印刷単位画像を記憶した印刷単位画像・補正パラメータ記憶手段と、を備え、
前記比較相手検索手段が、前記印刷単位画像・補正パラメータ記憶手段を検索し、前記補正パラメータ算出手段で算出された補正パラメータと類似する補正パラメータを抽出し、抽出された補正パラメータに対応する印刷単位画像を、前記対比印刷単位画像として抽出する請求項1又は2記載の印刷物検査装置。 - 前記印刷単位画像・補正パラメータ記憶手段が、過去に検査対象となった印刷単位画像と、その印刷単位画像に対応する補正パラメータとを関連付けて記憶する請求項3記載の印刷物検査装置。
- 前記検査対象の印刷単位画像が、
一枚の用紙に複数の印刷単位を含み、各印刷単位に同一のパターンが印刷される印刷物の、各印刷単位を撮像した印刷単位画像からなる請求項1乃至4のいずれか一項記載の印刷物検査装置。 - 欠陥が検出された過去の印刷単位画像を比較用データから除外する比較用データ除外手段を備える請求項1乃至5のいずれか一項記載の印刷物検査装置。
- 欠陥が検出された過去の印刷単位画像を比較用データから除外する比較用データ除外手段を備え、
前記比較用データ除外手段が、欠陥が検出された過去の印刷単位画像及び/又はそれに対応する補正パラメータを前記印刷単位画像・補正パラメータ記憶部から削除する請求項3記載の印刷物検査装置。 - 検査対象となる所定の印刷単位画像を撮像する入力装置と、
この入力装置から検査対象の印刷単位画像を入力して所定の欠陥検出の検査を行う印刷物検査装置と、
この印刷物検査装置における検査結果を出力する出力装置とを備え、
前記印刷物検査装置が、
前記入力装置から検査対象の印刷単位画像を入力し、検査対象の印刷単位画像と類似する所定の対比印刷単位画像を記憶手段から検索・抽出する比較相手検索手段と、
前記検査対象の印刷単位画像と前記対比印刷単位画像を比較して、前記検査対象の印刷単位画像の欠陥を検出する欠陥検出手段と、
を備えることを特徴とする印刷物検査システム。 - 前記比較相手検索手段が、
前記検査対象の印刷単位画像が有する撮像時の変動による欠陥と類似する欠陥を有する印刷単位画像を前記対比印刷単位画像として検索・抽出する請求項8記載の印刷物検査システム。 - 検査対象となる所定の印刷単位画像を入力する入力ステップと、
検査対象の印刷単位画像と類似する所定の対比印刷単位画像を記憶手段から検索・抽出する比較相手検索ステップと、
前記検査対象の印刷単位画像と前記対比印刷単位画像を比較して、前記検査対象の印刷単位画像の欠陥を検出する欠陥検出ステップと、
を有することを特徴とする印刷物検査方法。 - 前記比較相手検索ステップが、
前記検査対象の印刷単位画像が有する撮像時の変動による欠陥と類似する欠陥を有する印刷単位画像を前記対比印刷単位画像として検索・抽出する請求項10記載の印刷物検査方法。 - 検査対象となる所定の印刷単位画像を入力して所定の欠陥検出の検査を行う印刷物検査装置を構成するコンピュータを、
検査対象となる所定の印刷単位画像を入力し、検査対象の印刷単位画像と類似する所定の対比印刷単位画像を記憶手段から検索・抽出する比較相手検索手段、
前記検査対象の印刷単位画像と前記対比印刷単位画像を比較して、前記検査対象の印刷単位画像の欠陥を検出する欠陥検出手段、
として機能させることを特徴とする印刷物検査プログラム。 - 前記比較相手検索手段を、
前記検査対象の印刷単位画像が有する撮像時の変動による欠陥と類似する欠陥を有する印刷単位画像を前記対比印刷単位画像として検索・抽出する手段として機能させる請求項12記載の印刷物検査プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009177736A JP5540595B2 (ja) | 2009-07-30 | 2009-07-30 | 印刷物検査装置、印刷物検査システム、印刷物検査方法及び印刷物検査プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2009177736A JP5540595B2 (ja) | 2009-07-30 | 2009-07-30 | 印刷物検査装置、印刷物検査システム、印刷物検査方法及び印刷物検査プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011033391A true JP2011033391A (ja) | 2011-02-17 |
JP5540595B2 JP5540595B2 (ja) | 2014-07-02 |
Family
ID=43762619
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009177736A Active JP5540595B2 (ja) | 2009-07-30 | 2009-07-30 | 印刷物検査装置、印刷物検査システム、印刷物検査方法及び印刷物検査プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5540595B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014059205A (ja) * | 2012-09-18 | 2014-04-03 | Nec Corp | 印刷物欠陥検査装置及び印刷物欠陥検査方法 |
JP2018159600A (ja) * | 2017-03-22 | 2018-10-11 | 日本電気株式会社 | 印刷画像検査装置、印刷画像検査方法、プログラム |
Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6346582A (ja) * | 1986-08-14 | 1988-02-27 | Toshiba Corp | パタ−ン検査装置 |
JPH0147823B2 (ja) * | 1982-04-17 | 1989-10-17 | Dainippon Printing Co Ltd | |
JPH03214363A (ja) * | 1990-01-19 | 1991-09-19 | Intaadetsuku:Kk | 文字群の印刷検査方法 |
JPH0443468A (ja) * | 1990-06-08 | 1992-02-13 | Intaadetsuku:Kk | 文字の印刷検査方法 |
JPH04104047A (ja) * | 1990-08-24 | 1992-04-06 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 画像処理装置 |
JPH04316346A (ja) * | 1991-04-16 | 1992-11-06 | Hitachi Ltd | パターン認識方法 |
JPH0573584B2 (ja) * | 1985-01-31 | 1993-10-14 | Dainippon Printing Co Ltd | |
JPH07121582B2 (ja) * | 1991-09-11 | 1995-12-25 | 大蔵省印刷局長 | 印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路 |
JPH09123408A (ja) * | 1995-11-01 | 1997-05-13 | Nireco Corp | 印刷物の濃度測定装置 |
JP3031286B2 (ja) * | 1997-04-24 | 2000-04-10 | 日本電気株式会社 | 印刷物の検査方法 |
JP3204876B2 (ja) * | 1995-07-03 | 2001-09-04 | 株式会社ニレコ | 印刷物検査装置 |
JP3548835B2 (ja) * | 1996-02-13 | 2004-07-28 | オムロン株式会社 | 欠陥検査装置及び方法 |
JP3965189B2 (ja) * | 2005-03-24 | 2007-08-29 | アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社 | 画像補正方法 |
JP2008003111A (ja) * | 2006-06-20 | 2008-01-10 | Advanced Mask Inspection Technology Kk | パターン検査装置、及びパターン検査方法 |
JP4074624B2 (ja) * | 2005-03-31 | 2008-04-09 | アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社 | パターン検査方法 |
JP4163199B2 (ja) * | 2005-07-15 | 2008-10-08 | 大日本印刷株式会社 | 検査装置、検査方法 |
-
2009
- 2009-07-30 JP JP2009177736A patent/JP5540595B2/ja active Active
Patent Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0147823B2 (ja) * | 1982-04-17 | 1989-10-17 | Dainippon Printing Co Ltd | |
JPH0573584B2 (ja) * | 1985-01-31 | 1993-10-14 | Dainippon Printing Co Ltd | |
JPS6346582A (ja) * | 1986-08-14 | 1988-02-27 | Toshiba Corp | パタ−ン検査装置 |
JPH03214363A (ja) * | 1990-01-19 | 1991-09-19 | Intaadetsuku:Kk | 文字群の印刷検査方法 |
JPH0443468A (ja) * | 1990-06-08 | 1992-02-13 | Intaadetsuku:Kk | 文字の印刷検査方法 |
JPH04104047A (ja) * | 1990-08-24 | 1992-04-06 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 画像処理装置 |
JPH04316346A (ja) * | 1991-04-16 | 1992-11-06 | Hitachi Ltd | パターン認識方法 |
JPH07121582B2 (ja) * | 1991-09-11 | 1995-12-25 | 大蔵省印刷局長 | 印刷物の検査装置における欠陥検出方法及び欠陥検出回路 |
JP3204876B2 (ja) * | 1995-07-03 | 2001-09-04 | 株式会社ニレコ | 印刷物検査装置 |
JPH09123408A (ja) * | 1995-11-01 | 1997-05-13 | Nireco Corp | 印刷物の濃度測定装置 |
JP3548835B2 (ja) * | 1996-02-13 | 2004-07-28 | オムロン株式会社 | 欠陥検査装置及び方法 |
JP3031286B2 (ja) * | 1997-04-24 | 2000-04-10 | 日本電気株式会社 | 印刷物の検査方法 |
JP3965189B2 (ja) * | 2005-03-24 | 2007-08-29 | アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社 | 画像補正方法 |
JP4074624B2 (ja) * | 2005-03-31 | 2008-04-09 | アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社 | パターン検査方法 |
JP4163199B2 (ja) * | 2005-07-15 | 2008-10-08 | 大日本印刷株式会社 | 検査装置、検査方法 |
JP2008003111A (ja) * | 2006-06-20 | 2008-01-10 | Advanced Mask Inspection Technology Kk | パターン検査装置、及びパターン検査方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014059205A (ja) * | 2012-09-18 | 2014-04-03 | Nec Corp | 印刷物欠陥検査装置及び印刷物欠陥検査方法 |
JP2018159600A (ja) * | 2017-03-22 | 2018-10-11 | 日本電気株式会社 | 印刷画像検査装置、印刷画像検査方法、プログラム |
JP7039851B2 (ja) | 2017-03-22 | 2022-03-23 | 日本電気株式会社 | 印刷画像検査装置、印刷画像検査方法、プログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5540595B2 (ja) | 2014-07-02 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130530 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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