JPH04294260A - 印刷パタ−ン品質検査装置 - Google Patents
印刷パタ−ン品質検査装置Info
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- JPH04294260A JPH04294260A JP3081115A JP8111591A JPH04294260A JP H04294260 A JPH04294260 A JP H04294260A JP 3081115 A JP3081115 A JP 3081115A JP 8111591 A JP8111591 A JP 8111591A JP H04294260 A JPH04294260 A JP H04294260A
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- 238000003708 edge detection Methods 0.000 claims description 25
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 20
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 5
- 238000013500 data storage Methods 0.000 abstract description 9
- 238000011109 contamination Methods 0.000 abstract description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005562 fading Methods 0.000 description 5
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 238000010186 staining Methods 0.000 description 3
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Accessory Devices And Overall Control Thereof (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、対象物に印刷された
パタ−ンのかけやかすれおよび汚れの有無を検出し、印
刷品質を検査する装置に関するものである。
パタ−ンのかけやかすれおよび汚れの有無を検出し、印
刷品質を検査する装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】印刷パタ−ンの品質を検査するには、従
来一般に、印刷パタ−ンを含む対象物を撮像した後に印
刷パタ−ンと背景とを分離するために画像信号を２値化
し、その２値化画像デ−タより印刷パタ−ンの画像デ−
タの数を求めそれを印刷パタ−ンの面積としてあらかじ
め求めておいた良品の面積と比較して良否を判定する方
法や、前記と同様に２値化画像デ−タと良品の２値化画
像デ−タ間で対応する位置の各デ−タを比較して異なる
デ−タ数を求めてその数から良否を判定する方法がある
。
来一般に、印刷パタ−ンを含む対象物を撮像した後に印
刷パタ−ンと背景とを分離するために画像信号を２値化
し、その２値化画像デ−タより印刷パタ−ンの画像デ−
タの数を求めそれを印刷パタ−ンの面積としてあらかじ
め求めておいた良品の面積と比較して良否を判定する方
法や、前記と同様に２値化画像デ−タと良品の２値化画
像デ−タ間で対応する位置の各デ−タを比較して異なる
デ−タ数を求めてその数から良否を判定する方法がある
。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来の前者の方法においては、印刷パタ−ンの周囲で対象
物にあてる照明の変動や撮像部からの画像信号のレベル
変動により２値化画像デ−タが不安定であり、同じ対象
物を撮像し２値化しても２値化画像デ−タの膨脹や収縮
が起こるため良品として判断するための面積に幅を持た
せなければならないので、面積の小さな印刷パタ−ンの
かけやかすれおよび汚れの場合や、かけやかすれと汚れ
の部分の面積が類似している場合においては良品として
判断してしまう。
来の前者の方法においては、印刷パタ−ンの周囲で対象
物にあてる照明の変動や撮像部からの画像信号のレベル
変動により２値化画像デ−タが不安定であり、同じ対象
物を撮像し２値化しても２値化画像デ−タの膨脹や収縮
が起こるため良品として判断するための面積に幅を持た
せなければならないので、面積の小さな印刷パタ−ンの
かけやかすれおよび汚れの場合や、かけやかすれと汚れ
の部分の面積が類似している場合においては良品として
判断してしまう。
【０００４】また、後者においては、前者の場合と同様
で２値化画像デ−タにおける印刷パタ−ンの膨脹や収縮
により良品であっても印刷パタ−ンの周囲においてデ−
タが一致しないことや、撮像時における対象物の位置ず
れにより印刷パタ−ンは２値化画像デ−タ上で必ずしも
同じ位置にくることはないため良品のデ−タと比較する
のに位置を補正する必要がある。
で２値化画像デ−タにおける印刷パタ−ンの膨脹や収縮
により良品であっても印刷パタ−ンの周囲においてデ−
タが一致しないことや、撮像時における対象物の位置ず
れにより印刷パタ−ンは２値化画像デ−タ上で必ずしも
同じ位置にくることはないため良品のデ−タと比較する
のに位置を補正する必要がある。
【０００５】そこで、この発明は、印刷パタ−ンの品質
検査において照明の変動や画像信号レベルの変動の影響
をほとんど受けることがなく、しかも位置補正を必要と
しないようにしたものである。
検査において照明の変動や画像信号レベルの変動の影響
をほとんど受けることがなく、しかも位置補正を必要と
しないようにしたものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明においては、２
値化画像デ−タの縦横方向それぞれの走査によりエッジ
検出をするエッジ検出部と、縦方向の走査においては各
行のエッジ数を、横方向の走査においては各列のエッジ
数をそれぞれカウントしてエッジ数の分布を求めるエッ
ジ数カウント部と、上記エッジ数カウント部で求められ
たエッジ数の分布のピ−クを求めてあらかじめ記憶され
た良品のエッジ数の分布のピ−クの数とピ−ク近傍の分
布状態を比較して良否判定を行う比較判定部を設ける。
値化画像デ−タの縦横方向それぞれの走査によりエッジ
検出をするエッジ検出部と、縦方向の走査においては各
行のエッジ数を、横方向の走査においては各列のエッジ
数をそれぞれカウントしてエッジ数の分布を求めるエッ
ジ数カウント部と、上記エッジ数カウント部で求められ
たエッジ数の分布のピ−クを求めてあらかじめ記憶され
た良品のエッジ数の分布のピ−クの数とピ−ク近傍の分
布状態を比較して良否判定を行う比較判定部を設ける。
【０００７】
【作用】上記のように構成された、この発明の印刷パタ
−ン品質検査装置においては、照明の変動や画像信号レ
ベルの変動による２値化画像デ−タの膨脹や収縮が生じ
たり、対象とする印刷パタ−ンが位置ずれして撮像され
ても、エッジ数の分布のピ−クを品質検査対象と良品と
の間で比較することにより品質検査対象の良否が正確に
判定される。
−ン品質検査装置においては、照明の変動や画像信号レ
ベルの変動による２値化画像デ−タの膨脹や収縮が生じ
たり、対象とする印刷パタ−ンが位置ずれして撮像され
ても、エッジ数の分布のピ−クを品質検査対象と良品と
の間で比較することにより品質検査対象の良否が正確に
判定される。
【０００８】
【実施例】図１は、この発明の印刷パタ−ン品質検査装
置の一例である。Ａは印刷された対象物であり、１は対
象物を撮像するカメラ、２はカメラ１からの映像信号を
取込む画像取込み回路、３は画像取込み回路２で取込ま
れた映像信号を２値化する２値化回路、４は２値化回路
３で２値化された画像デ−タを記憶する２値化画像デ−
タ記憶回路、５は２値化画像デ−タ記憶回路４から２値
化画像デ−タを読み出し縦方向走査によるエッジを検出
しその行位置を出力する縦方向エッジ検出回路、６は縦
方向エッジ検出回路５と同様に２値化画像デ−タ記憶回
路４から２値化画像デ−タを読み出し横方向走査による
エッジを検出しその列位置を出力する横方向エッジ検出
回路、７は縦方向エッジ検出回路５で出力された行位置
に対応するデ−タを１ずつ加算していき縦方向エッジ数
の分布を求める縦方向エッジ数カウント回路、８は横方
向エッジ検出回路６で出力された列位置に対応するデ−
タを１ずつ加算していき横方向エッジ数の分布を求める
横方向エッジ数カウント回路、９は画像取込み回路２の
制御と２値化回路３の２値化しきい値の設定および縦方
向エッジ検出回路５，横方向エッジ検出回路６，縦方向
エッジ数カウント回路７，横方向エッジ数カウント回路
８を制御しあらかじめ良品の縦方向のエッジ数の分布お
よび横方向のエッジ数の分布を記憶しておき縦方向エッ
ジ数カウント回路７および横方向エッジ数カウント回路
８で求められたエッジ数の分布と比較して良否を判定す
る演算制御部である。また１０は２値化画像デ−タ記憶
回路４から２値化画像デ−タを読み出し映像信号を出力
するための画像出力回路，１１は画像出力回路１０から
の映像信号を受けとり表示するためのモニタである。
置の一例である。Ａは印刷された対象物であり、１は対
象物を撮像するカメラ、２はカメラ１からの映像信号を
取込む画像取込み回路、３は画像取込み回路２で取込ま
れた映像信号を２値化する２値化回路、４は２値化回路
３で２値化された画像デ−タを記憶する２値化画像デ−
タ記憶回路、５は２値化画像デ−タ記憶回路４から２値
化画像デ−タを読み出し縦方向走査によるエッジを検出
しその行位置を出力する縦方向エッジ検出回路、６は縦
方向エッジ検出回路５と同様に２値化画像デ−タ記憶回
路４から２値化画像デ−タを読み出し横方向走査による
エッジを検出しその列位置を出力する横方向エッジ検出
回路、７は縦方向エッジ検出回路５で出力された行位置
に対応するデ−タを１ずつ加算していき縦方向エッジ数
の分布を求める縦方向エッジ数カウント回路、８は横方
向エッジ検出回路６で出力された列位置に対応するデ−
タを１ずつ加算していき横方向エッジ数の分布を求める
横方向エッジ数カウント回路、９は画像取込み回路２の
制御と２値化回路３の２値化しきい値の設定および縦方
向エッジ検出回路５，横方向エッジ検出回路６，縦方向
エッジ数カウント回路７，横方向エッジ数カウント回路
８を制御しあらかじめ良品の縦方向のエッジ数の分布お
よび横方向のエッジ数の分布を記憶しておき縦方向エッ
ジ数カウント回路７および横方向エッジ数カウント回路
８で求められたエッジ数の分布と比較して良否を判定す
る演算制御部である。また１０は２値化画像デ−タ記憶
回路４から２値化画像デ−タを読み出し映像信号を出力
するための画像出力回路，１１は画像出力回路１０から
の映像信号を受けとり表示するためのモニタである。
【０００９】上記縦方向エッジ検出回路５および横方向
エッジ検出回路６の動作原理を図２に示す。縦方向エッ
ジ検出回路５は、図２（Ａ）に示すとおり左上から順に
縦方向に走査するように２値化画像デ−タ記憶回路４か
ら２値化画像デ−タを順に読み出しデ−タが変化する行
位置Ｙｅを順に出力していく。横方向エッジ検出回路６
は、図２（Ｂ）に示すとおり左上から順に横方向に走査
するように２値化画像デ−タ記憶回路４から２値化画像
デ−タを順に読み出しデ−タが変化する列位置Ｘｅを順
に出力していく。縦方向エッジ数カウント回路７は、２
値化画像デ−タの行の数だけ内部にレジスタを用意し検
査開始前にレジスタの内容を０として、縦方向エッジ検
出回路５からの行位置Ｙｅの出力に対応するレジスタを
１ずつ加算していき縦方向のエッジ数の分布を求める。 横方向エッジ数カウント回路８は、２値化画像デ−タの
列の数だけ内部にレジスタを用意し検査開始前にレジス
タの内容を０として、横方向エッジ検出回路６からの列
位置Ｘｅの出力に対応するレジスタを１ずつ加算してい
き横方向のエッジ数の分布を求める。
エッジ検出回路６の動作原理を図２に示す。縦方向エッ
ジ検出回路５は、図２（Ａ）に示すとおり左上から順に
縦方向に走査するように２値化画像デ−タ記憶回路４か
ら２値化画像デ−タを順に読み出しデ−タが変化する行
位置Ｙｅを順に出力していく。横方向エッジ検出回路６
は、図２（Ｂ）に示すとおり左上から順に横方向に走査
するように２値化画像デ−タ記憶回路４から２値化画像
デ−タを順に読み出しデ−タが変化する列位置Ｘｅを順
に出力していく。縦方向エッジ数カウント回路７は、２
値化画像デ−タの行の数だけ内部にレジスタを用意し検
査開始前にレジスタの内容を０として、縦方向エッジ検
出回路５からの行位置Ｙｅの出力に対応するレジスタを
１ずつ加算していき縦方向のエッジ数の分布を求める。 横方向エッジ数カウント回路８は、２値化画像デ−タの
列の数だけ内部にレジスタを用意し検査開始前にレジス
タの内容を０として、横方向エッジ検出回路６からの列
位置Ｘｅの出力に対応するレジスタを１ずつ加算してい
き横方向のエッジ数の分布を求める。
【００１０】演算制御回路９では、縦方向エッジ数カウ
ント回路７で求められた品質検査対象の縦方向のエッジ
数の分布を読み出しピ−クを求めそのピ−クの数が登録
されている良品の縦方向のエッジ数の分布のピ−クの数
と比較し、一致しなければ不良品とし、一致する場合に
おいては、検査対象それぞれのピ−クを中心として近傍
の分散を求め対応する良品のピ−ク近傍の分散と比較し
その差があらかじめ定める判定しきい値より大きければ
不良品とする。また、横方向エッジ数カウント回路８で
求められた品質検査対象の横方向のエッジ数の分布も、
上記と同様にして良品の横方向のエッジ数の分布と比較
して良否を判定する。
ント回路７で求められた品質検査対象の縦方向のエッジ
数の分布を読み出しピ−クを求めそのピ−クの数が登録
されている良品の縦方向のエッジ数の分布のピ−クの数
と比較し、一致しなければ不良品とし、一致する場合に
おいては、検査対象それぞれのピ−クを中心として近傍
の分散を求め対応する良品のピ−ク近傍の分散と比較し
その差があらかじめ定める判定しきい値より大きければ
不良品とする。また、横方向エッジ数カウント回路８で
求められた品質検査対象の横方向のエッジ数の分布も、
上記と同様にして良品の横方向のエッジ数の分布と比較
して良否を判定する。
【００１１】次に実際に検査する場合の例を以下に説明
する。図３（Ａ）は、良品の印刷パタ−ンを撮像し２値
化後に２値化画像デ−タ記憶回路４へ記憶された２値化
画像デ−タの例である。図３（Ａ）の２値化画像デ−タ
から縦方向エッジ検出回路５で検出されるエッジ部は図
３（Ｂ）であり、縦方向エッジ数カウント回路７で求め
られる縦方向のエッジ数の分布は図３（Ｄ）となる。ま
た図３（Ａ）の２値化画像デ−タから横方向エッジ検出
回路６で検出されるエッジ部は図３（Ｃ）であり、横方
向エッジ数カウント回路８で求められる横方向のエッジ
数の分布は図３（Ｅ）となる。縦方向のエッジ数の分布
図３（Ｄ）および横方向のエッジ数の分布図３（Ｅ）を
良品のエッジ数の分布として、演算制御回路９内に記憶
する。
する。図３（Ａ）は、良品の印刷パタ−ンを撮像し２値
化後に２値化画像デ−タ記憶回路４へ記憶された２値化
画像デ−タの例である。図３（Ａ）の２値化画像デ−タ
から縦方向エッジ検出回路５で検出されるエッジ部は図
３（Ｂ）であり、縦方向エッジ数カウント回路７で求め
られる縦方向のエッジ数の分布は図３（Ｄ）となる。ま
た図３（Ａ）の２値化画像デ−タから横方向エッジ検出
回路６で検出されるエッジ部は図３（Ｃ）であり、横方
向エッジ数カウント回路８で求められる横方向のエッジ
数の分布は図３（Ｅ）となる。縦方向のエッジ数の分布
図３（Ｄ）および横方向のエッジ数の分布図３（Ｅ）を
良品のエッジ数の分布として、演算制御回路９内に記憶
する。
【００１２】品質検査対象の印刷パタ−ンを撮像し２値
化後に２値化画像デ−タ記憶回路４へ記憶された２値化
画像デ−タの例を図４（Ａ）とする。図４（Ａ）におい
てはＢ部のかけとＣ部の汚れがある。図４（Ａ）の２値
化画像デ−タから縦方向エッジ検出回路６で検出される
エッジ部は図４（Ｂ）であり、縦方向エッジ数カウント
回路７で求められる縦方向のエッジ数の分布は図４（Ｄ
）となる。また、図４（Ａ）の２値化画像デ−タから横
方向エッジ検出回路６で検出されるエッジ部は図４（Ｃ
）であり、横方向エッジ数カウント回路８で求められる
横方向のエッジ数の分布は図４（Ｅ）となる。
化後に２値化画像デ−タ記憶回路４へ記憶された２値化
画像デ−タの例を図４（Ａ）とする。図４（Ａ）におい
てはＢ部のかけとＣ部の汚れがある。図４（Ａ）の２値
化画像デ−タから縦方向エッジ検出回路６で検出される
エッジ部は図４（Ｂ）であり、縦方向エッジ数カウント
回路７で求められる縦方向のエッジ数の分布は図４（Ｄ
）となる。また、図４（Ａ）の２値化画像デ−タから横
方向エッジ検出回路６で検出されるエッジ部は図４（Ｃ
）であり、横方向エッジ数カウント回路８で求められる
横方向のエッジ数の分布は図４（Ｅ）となる。
【００１３】求められた品質検査対象のエッジ数の分布
のピ−クを求めると、縦方向のエッジ数の分布のピ−ク
は図４（Ｄ）のＰ２１、Ｐ２２、Ｐ２３、Ｐ２４、Ｐａ
、Ｐｂと６点であり、良品の場合の図３（Ｄ）のＰ１１
、Ｐ１２、Ｐ１３、Ｐ１４の４点と比較すると汚れによ
りピ−ク数が多くなっており、また横方向のエッジ数の
分布のピ−クも同様に品質検査対象は図４（Ｅ）のＰ２
５、Ｐ２６、Ｐ２７、Ｐｃ、Ｐｄと５点であり、良品の
場合の図３（Ｅ）のＰ１５、Ｐ１６、Ｐ１７の３点と比
較すると汚れによりピ−ク数が多くなっている。さらに
、かけにより品質検査対象の縦方向のエッジ数の分布の
図４（Ｄ）のＰ２１のピ−クとＰ２１のピ−ク近傍のエ
ッジ数の分布は、それに対応する良品の縦方向のエッジ
数の分布の図３（Ｄ）のＰ１１のピ−クとＰ１１のピ−
ク近傍のエッジ数の分布に比べばらついており分散が大
きな値となり、また同様に品質検査対象の横方向のエッ
ジ数の分布の図４（Ｅ）のＰ２５のピ−クとＰ２５のピ
−ク近傍のエッジ数の分布は、それに対応する良品の横
方向のエッジ数の分布の図３（Ｅ）のＰ１５のピ−クと
Ｐ１５のピ−ク近傍のエッジ数の分布に比べばらついて
おり分散が大きな値となる。以上より検査対象は、不良
品と判定される。なお、かすれについても汚れと同様に
エッジ数の分布に影響を与える。
のピ−クを求めると、縦方向のエッジ数の分布のピ−ク
は図４（Ｄ）のＰ２１、Ｐ２２、Ｐ２３、Ｐ２４、Ｐａ
、Ｐｂと６点であり、良品の場合の図３（Ｄ）のＰ１１
、Ｐ１２、Ｐ１３、Ｐ１４の４点と比較すると汚れによ
りピ−ク数が多くなっており、また横方向のエッジ数の
分布のピ−クも同様に品質検査対象は図４（Ｅ）のＰ２
５、Ｐ２６、Ｐ２７、Ｐｃ、Ｐｄと５点であり、良品の
場合の図３（Ｅ）のＰ１５、Ｐ１６、Ｐ１７の３点と比
較すると汚れによりピ−ク数が多くなっている。さらに
、かけにより品質検査対象の縦方向のエッジ数の分布の
図４（Ｄ）のＰ２１のピ−クとＰ２１のピ−ク近傍のエ
ッジ数の分布は、それに対応する良品の縦方向のエッジ
数の分布の図３（Ｄ）のＰ１１のピ−クとＰ１１のピ−
ク近傍のエッジ数の分布に比べばらついており分散が大
きな値となり、また同様に品質検査対象の横方向のエッ
ジ数の分布の図４（Ｅ）のＰ２５のピ−クとＰ２５のピ
−ク近傍のエッジ数の分布は、それに対応する良品の横
方向のエッジ数の分布の図３（Ｅ）のＰ１５のピ−クと
Ｐ１５のピ−ク近傍のエッジ数の分布に比べばらついて
おり分散が大きな値となる。以上より検査対象は、不良
品と判定される。なお、かすれについても汚れと同様に
エッジ数の分布に影響を与える。
【００１４】なお、縦方向と横方向のエッジ検出回路お
よびエッジ数カウント回路を一組にして、縦方向走査に
よりエッジ検出しエッジ数の分布を求め検査した後に、
その結果が良品と判断された場合のみ横方向において検
査をするようにしてもよい。また検査対象の縦および横
方向のエッジ数の分布のピ−クを求める前に、それぞれ
のエッジ数の分布に対し１次元のフィルタによる平滑化
をおこない、かけやかすれそして汚れが小さいものは、
不良品として判定しないようにしてもよい。
よびエッジ数カウント回路を一組にして、縦方向走査に
よりエッジ検出しエッジ数の分布を求め検査した後に、
その結果が良品と判断された場合のみ横方向において検
査をするようにしてもよい。また検査対象の縦および横
方向のエッジ数の分布のピ−クを求める前に、それぞれ
のエッジ数の分布に対し１次元のフィルタによる平滑化
をおこない、かけやかすれそして汚れが小さいものは、
不良品として判定しないようにしてもよい。
【００１５】
【発明の効果】この発明によれば、上述したように品質
検査対象のエッジ数の分布のピ−クと良品のエッジ数の
分布のピ−クを比較することにより、照明が変動したり
撮像位置がずれたとしても正確に印刷パタ−ンの品質検
査をすることができる。しかも、撮像位置を固定すれば
印刷パタ−ンの位置ずれを検査できるとともに、複数の
パタ−ンについてのエッジ数の分布のデ−タを記憶して
おき順次品質検査対象のエッジ数の分布と比較していけ
ばパタ−ンの分類もできる。
検査対象のエッジ数の分布のピ−クと良品のエッジ数の
分布のピ−クを比較することにより、照明が変動したり
撮像位置がずれたとしても正確に印刷パタ−ンの品質検
査をすることができる。しかも、撮像位置を固定すれば
印刷パタ−ンの位置ずれを検査できるとともに、複数の
パタ−ンについてのエッジ数の分布のデ−タを記憶して
おき順次品質検査対象のエッジ数の分布と比較していけ
ばパタ−ンの分類もできる。
【図１】この発明の印刷パタ−ン品質検査装置の一例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図２】（Ａ）は縦方向走査によるエッジ検出の動作原
理であり、（Ｂ）は横方向走査によるエッジ検出の動作
原理である。
理であり、（Ｂ）は横方向走査によるエッジ検出の動作
原理である。
【図３】（Ａ）は良品の印刷パタ−ンの２値化画像デ−
タの例であり、（Ｂ）は（Ａ）を縦方向走査した時検出
されるエッジ、（Ｃ）は（Ａ）を横方向走査した時検出
されるエッジ、（Ｄ）は（Ｂ）の縦方向エッジ数分布、
（Ｅ）は（Ｃ）の横方向エッジ数分布の図である。
タの例であり、（Ｂ）は（Ａ）を縦方向走査した時検出
されるエッジ、（Ｃ）は（Ａ）を横方向走査した時検出
されるエッジ、（Ｄ）は（Ｂ）の縦方向エッジ数分布、
（Ｅ）は（Ｃ）の横方向エッジ数分布の図である。
【図４】（Ａ）はかけや汚れがある検査対象の印刷パタ
−ンの２値化画像デ−タの例であり、（Ｂ）は（Ａ）を
縦方向走査した時検出されるエッジ、（Ｃ）は（Ａ）を
横方向走査したとき検出されるエッジ、（Ｄ）は（Ｂ）
の縦方向エッジ数分布、（Ｅ）は（Ｃ）の横方向エッジ
数分布の図である。
−ンの２値化画像デ−タの例であり、（Ｂ）は（Ａ）を
縦方向走査した時検出されるエッジ、（Ｃ）は（Ａ）を
横方向走査したとき検出されるエッジ、（Ｄ）は（Ｂ）
の縦方向エッジ数分布、（Ｅ）は（Ｃ）の横方向エッジ
数分布の図である。
１ カメラ
２ 画像取込み回路
３ ２値化回路
４ ２値化画像デ−タ記憶回路
５ 縦方向エッジ検出回路
６ 横方向エッジ検出回路
７ 縦方向エッジ数カウント回路８ 横方
向エッジ数カウント回路９ 演算制御回路 １０ 画像出力回路 １１ モニタ
向エッジ数カウント回路９ 演算制御回路 １０ 画像出力回路 １１ モニタ
Claims (1)
- 【請求項１】 印刷パタ−ンを含む対象物を撮像する
撮像部と、上記撮像部からの画像信号を２値化して２値
化画像デ−タを出力する２値化部と、上記２値化部から
の２値化画像デ−タを記憶する記憶部と、上記記憶部に
記憶された２値化画像デ−タを呼び出し、縦横方向それ
ぞれの走査によりエッジを検出するエッジ検出部と、上
記エッジ検出部により検出されたエッジ数の分布を求め
るためのエッジ数カウント部と、上記エッジ数カウント
部より求められたエッジ数の分布とあらかじめ記憶して
おいた良品のエッジ数の分布を比較して品質を判定する
比較判定部と、を備える印刷パタ−ン品質検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3081115A JPH04294260A (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 印刷パタ−ン品質検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3081115A JPH04294260A (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 印刷パタ−ン品質検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04294260A true JPH04294260A (ja) | 1992-10-19 |
Family
ID=13737381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3081115A Pending JPH04294260A (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 印刷パタ−ン品質検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04294260A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006133050A (ja) * | 2004-11-05 | 2006-05-25 | Sick Optex Kk | カウントセンサ |
| WO2011114447A1 (ja) * | 2010-03-17 | 2011-09-22 | グローリー株式会社 | 紙葉類判別装置および紙葉類判別方法 |
-
1991
- 1991-03-22 JP JP3081115A patent/JPH04294260A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006133050A (ja) * | 2004-11-05 | 2006-05-25 | Sick Optex Kk | カウントセンサ |
| WO2011114447A1 (ja) * | 2010-03-17 | 2011-09-22 | グローリー株式会社 | 紙葉類判別装置および紙葉類判別方法 |
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