JPS592488Y2 - 形状判定装置 - Google Patents

形状判定装置

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Publication number
JPS592488Y2
JPS592488Y2 JP1979158698U JP15869879U JPS592488Y2 JP S592488 Y2 JPS592488 Y2 JP S592488Y2 JP 1979158698 U JP1979158698 U JP 1979158698U JP 15869879 U JP15869879 U JP 15869879U JP S592488 Y2 JPS592488 Y2 JP S592488Y2
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JP
Japan
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cut
signal
inspected
scanning
plate
Prior art date
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Expired
Application number
JP1979158698U
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English (en)
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JPS5564704U (ja
Inventor
今朝人 平塚
清一 安川
秀人 井上
定一 坪井
政克 清水
秀美 松村
Original Assignee
株式会社安川電機
日本板硝子株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社安川電機, 日本板硝子株式会社 filed Critical 株式会社安川電機
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Publication of JPS592488Y2 publication Critical patent/JPS592488Y2/ja
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案はガラス板等の方形状切板の形状特に切口直線性
の良否を自動的に判定する装置に関するものである。
定形に切断されたガラス等の切口に出っ張りや欠けがあ
れば商品として適さないので不良品としての判別処理が
必要である。
従来は検査員の目視による判別に頼っていたのでガラス
板等の切断搬送ラインの無人化が出来なかった。
そこで、本考案は、搬送される方形状切板の欠点を光学
的走査により検出することで得られる切口信号を利用し
て切口の直線性の良否判定を行なうようにした自動検査
装置を提供しようとするものである。
光学的走査式の欠陥検出装置には、フライングスポット
式、フライングイメージ式があり、それぞれに透過式9
反射式があり透過式では透明体にある欠陥により透過光
が減衰すること、又は不透明体に欠陥、ピンホール等に
より透過光が得られること、反射式では表面にある欠陥
により反射光に変化が生ずることにより欠陥の検出をす
るのが通常である。
本考案は搬送される方形状切板に前記走査式の欠陥検出
装置を使用して得られる検出信号より切口信号を抽出し
被検査物切口の直線性の良否の判定を行なうようにした
ものである。
以下、本考案の一実施例を図面について説明する。
第1図は光学系の構成図で、1はレーザー光源、2はレ
ーザー光を切断された板ガラス等の被検査物A上を走査
させる為の回転多面鏡、3は走査光を被検査物Aに垂直
に照射させるための円錐面鏡、4は反射光を受光する光
電素子である。
第2図は信号処理の説明図で、10は走査光10aで被
検査物Aを進行方向に対して斜に走査して、その反射光
10 bを受光して表面反射信号を得る走査式傷検出装
置で、その表面反射信号は増幅整形回路11により矩形
波状に増幅整形した後、切口検出回路12において、両
切白信号のみを抽出し、その切口信号をレジスタとコア
メモリ或いはシフトレジスタ等を使った記憶回路13に
数回前の走査分まで記憶させておき、比較回路14にお
いて今回の切口信号と記憶回路13に記憶されているN
回前の切口信号とを比較することにより、切口の直線性
の良否を検査判定する。
ここで走査式傷検出装置10は被検査物Aの走行方向に
対して角度θで円弧走査又は直線走査を行なう。
説明を容易にするため走査を直線走査とし、被検査物が
方形でその一辺が走行方向に平行な場合について第3図
により前記動作を詳しく説明する。
いま、第3図イに示すように走査光10 aが被検査物
Aの左側辺aと前側辺すを横断している場合について考
えると、第3図口に示すように左側辺aの切口信号a1
・・・・・・a、は毎回同じ位置に出てくるが、前側辺
すについては一走査毎にその切口信号b1・・・・・・
b、の出てくる位置が異なっている。
この前側辺すにおけるN回前と今回との切口信号の位相
差Tは第3図イにおける走査線とb辺との交点B、、B
、の差りに対応しているから、被検査物の走行速度及び
走査周期を一定すると、 ’f =Na□vtanθ ここで、υは走行速度(mm15ec)、aoは走査周
期(see)、θは走査線と走行方向との角度である。
上式で、走査周期a。
、走行速度υ及び角度θは一定であるから、走査回数が
定まればその位相差Tは一定となる。
従って、記憶回路13に記憶されているN回前の左側辺
aと前側辺すの切口信号al、blの位置と今回の切口
信号an、bnの位置とを比較し、左側辺aについては
同じ位置で、前側辺すについては上式におけるN−ao
vtanθだけ位相差があれば被検査物Aの切口は正常
であり、それ以外の場合は切口不良ということになる。
また右側辺C5後側辺dについても上記と同様であり、
右側辺CについてはN回前と今回の切口信号は同じ位置
に、後側辺dについてはN回前よりもN・aoυtan
θの位相差があれば被検査物Aの切口は正常である。
第4図工はこの場合の直線性判定の原理を示す説明図で
ある。
なおこの第4図では便宜上被検査物の進行方向を第3図
とは逆に表示している。
また他の側辺、即ち前側辺すと後側辺d及び左側辺aと
右側辺Cについても第4図II及びIIIに示すように
同様にして直線性を判定することができる。
更に、被検査物Aの進行方向が左右側辺と平行でない場
合も、第4図IVに示した直線性判定の原理説明図から
れかるように直線性を判定することができる。
本実施例では表面反射信号を利用して切口信号を得るも
のについて説明したが、透過式の検出装置の場合は、走
査光が被検査物を透過する際に、被検査物によって減衰
することにより得られる変化信号を利用することにより
切口信号が得られるので、透過式の検出装置にも適用さ
れることは勿論である。
被検査物が透明度の悪い物体、例えば鉄板、ベニヤ板9
紙等には透過式が良く、被検査物が反射率の高い物体、
例えば白色の紙9着色プラスチック等や反射率は低いが
安定な反射の得られろ物体、例えばガラス板等には反射
式が良い。
透明なガラス板の場合反射式が良いが5mm以上の厚さ
のものや色板ガラスの場合は透過式でも使用出来る。
以上のように、本考案によれば被検査物の光走査による
切口信号を利用することによって、従来不可能とされて
いた方形状切板の切口の直線性の判定が自動的に行なう
ことが出来、作業能率も著しく向上し、特にガラス板等
の生産ライン中の切断、検査、採板、包装等の一連の自
動化が可能になるもので、実用上特にガラス板に限らず
、プラスチツク板や金属板等の切板の切口直線性の判定
装置として有効適切なものである。
【図面の簡単な説明】
図面に示すものは本考案の一実施例で、第1図は光学系
の構成図、第2図は信号処理の説明図、第3図はイ図で
走査式傷検出機の走査線の被検査物の関係を示し、口開
はその時の信号の状態を示している。 第4図は被検査物の種々の状態における切口直線性の判
定原理を示す説明図である。 1・・・・・・レーザー光源、2・・・・・・回転多面
鏡、3・・・・・・金離面鏡、4・・・・・・光電素子
、10・・・・・・走査式傷検出装置、11・・・・・
・増幅整形回路、12・・・・・・切口検出回路、13
・・・・・・記憶回路、14・・・・・・比較回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 定方向に定速度で走行する方形状切板を被検査物とし、
    その被検査物の前側辺に対し斜めに定間隔で光学的に走
    査して被検査物の表面反射信号または透過信号を検出す
    る走査式光信号検出装置、前記検出信号から2個の切口
    信号を抽出する切口信号検出回路、前記切口信号をN回
    前迄記憶する記憶回路と、今回の走査で検出される2個
    の切口信号位置を別個にそれぞれに対応する前記N回前
    の切口信号位置と比較して、一定の位相差で切口信号位
    置が変化しているか否かを判定する比較回路からなる方
    形状切板の切口直線性判定装置。
JP1979158698U 1979-11-17 1979-11-17 形状判定装置 Expired JPS592488Y2 (ja)

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JP1979158698U JPS592488Y2 (ja) 1979-11-17 1979-11-17 形状判定装置

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JP1979158698U JPS592488Y2 (ja) 1979-11-17 1979-11-17 形状判定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5564704U JPS5564704U (ja) 1980-05-02
JPS592488Y2 true JPS592488Y2 (ja) 1984-01-24

Family

ID=29150810

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JP1979158698U Expired JPS592488Y2 (ja) 1979-11-17 1979-11-17 形状判定装置

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3774162A (en) * 1972-03-01 1973-11-20 Magnaflux Corp Laser scan testing system having pattern recognition means
JPS491280A (ja) * 1972-04-14 1974-01-08

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3774162A (en) * 1972-03-01 1973-11-20 Magnaflux Corp Laser scan testing system having pattern recognition means
JPS491280A (ja) * 1972-04-14 1974-01-08

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JPS5564704U (ja) 1980-05-02

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