JPS60124852U - 電子線装置 - Google Patents
電子線装置Info
- Publication number
- JPS60124852U JPS60124852U JP1257584U JP1257584U JPS60124852U JP S60124852 U JPS60124852 U JP S60124852U JP 1257584 U JP1257584 U JP 1257584U JP 1257584 U JP1257584 U JP 1257584U JP S60124852 U JPS60124852 U JP S60124852U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron beam
- sample
- scanning
- beam equipment
- converging
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1257584U JPS60124852U (ja) | 1984-02-01 | 1984-02-01 | 電子線装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1257584U JPS60124852U (ja) | 1984-02-01 | 1984-02-01 | 電子線装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60124852U true JPS60124852U (ja) | 1985-08-22 |
JPH024441Y2 JPH024441Y2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1990-02-01 |
Family
ID=30495768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1257584U Granted JPS60124852U (ja) | 1984-02-01 | 1984-02-01 | 電子線装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60124852U (enrdf_load_stackoverflow) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62184752A (ja) * | 1986-02-07 | 1987-08-13 | Jeol Ltd | 荷電粒子ビ−ム測長機 |
JPS62234859A (ja) * | 1986-03-24 | 1987-10-15 | ザ ウエルデイング インステイテユ−ト | 電子収集アッセンブリ |
JPH01143127A (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-05 | Hitachi Ltd | 走査電子顕微鏡による表面形状測定方法 |
JPH0266842A (ja) * | 1988-08-31 | 1990-03-06 | Jeol Ltd | 荷電粒子検出器用電源装置 |
JP2002141015A (ja) * | 2000-10-13 | 2002-05-17 | Applied Materials Inc | 基体検査装置及び方法 |
JP2014150002A (ja) * | 2013-02-01 | 2014-08-21 | Horon:Kk | ノイズ低減電子ビーム装置および電子ビームノイズ低減方法 |
-
1984
- 1984-02-01 JP JP1257584U patent/JPS60124852U/ja active Granted
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62184752A (ja) * | 1986-02-07 | 1987-08-13 | Jeol Ltd | 荷電粒子ビ−ム測長機 |
JPS62234859A (ja) * | 1986-03-24 | 1987-10-15 | ザ ウエルデイング インステイテユ−ト | 電子収集アッセンブリ |
JPH01143127A (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-05 | Hitachi Ltd | 走査電子顕微鏡による表面形状測定方法 |
JPH0266842A (ja) * | 1988-08-31 | 1990-03-06 | Jeol Ltd | 荷電粒子検出器用電源装置 |
JP2002141015A (ja) * | 2000-10-13 | 2002-05-17 | Applied Materials Inc | 基体検査装置及び方法 |
JP2014150002A (ja) * | 2013-02-01 | 2014-08-21 | Horon:Kk | ノイズ低減電子ビーム装置および電子ビームノイズ低減方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH024441Y2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1990-02-01 |
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