JPS58135860U - 走査電子顕微鏡 - Google Patents
走査電子顕微鏡Info
- Publication number
- JPS58135860U JPS58135860U JP3375182U JP3375182U JPS58135860U JP S58135860 U JPS58135860 U JP S58135860U JP 3375182 U JP3375182 U JP 3375182U JP 3375182 U JP3375182 U JP 3375182U JP S58135860 U JPS58135860 U JP S58135860U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning
- electron microscope
- detectors
- directions
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
2、 第1図は一般の走査電子顕微鏡め概略を示す図
1、 第2図はそのコントラストのつき方を説明する
図、と 第3図は本考案の一実施例の主要部を示す図
、第= 4図はそのコントラストのつき方を説明する
図、) 第5図は本考案の他の実施例を示す図、第6
図は) そのコントラストのつき方を示す図である。 i 1:’I子M、2:集束レンズ、3:対物レ
ンズ、4:試料、5a、 5b:偏向コイル、6:走
査電源、7゜1 7X、 7Y:2次電子検出器、
8. 8X、 8Y:増幅i 器、9:陰極線管、10
:光源、11:肉眼、12:5 試料像、12X:X
方向領域、12y:Y方向領域。
1、 第2図はそのコントラストのつき方を説明する
図、と 第3図は本考案の一実施例の主要部を示す図
、第= 4図はそのコントラストのつき方を説明する
図、) 第5図は本考案の他の実施例を示す図、第6
図は) そのコントラストのつき方を示す図である。 i 1:’I子M、2:集束レンズ、3:対物レ
ンズ、4:試料、5a、 5b:偏向コイル、6:走
査電源、7゜1 7X、 7Y:2次電子検出器、
8. 8X、 8Y:増幅i 器、9:陰極線管、10
:光源、11:肉眼、12:5 試料像、12X:X
方向領域、12y:Y方向領域。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 試料上で集束荷電粒子線を走査し、該走査によって
試料各部から発生する2次電子を検出しその出力を前記
走査と同期した表示装置に導スして走査画像を得る装置
において、2次電子杉出器を少(とも2個設け、それら
は互いに直接する方向に設置し、且つ両方向は集束粒子
線CX、 Y走査方向と一致せしめ、夫々の検出器C出
力信号に基づく画像を時間的又は空間的にり離して表示
する手段を備えた走査電子顕微鏡。 2 前記検出器は互いに直交して4個用い、対向する検
出器を組となし、各組毎に面検出器の仕方信号を加算し
、その出力を画像信号として包用する実用新案登録請求
の範囲第1項記載のオ査電子顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3375182U JPS58135860U (ja) | 1982-03-10 | 1982-03-10 | 走査電子顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3375182U JPS58135860U (ja) | 1982-03-10 | 1982-03-10 | 走査電子顕微鏡 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58135860U true JPS58135860U (ja) | 1983-09-12 |
Family
ID=30045284
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3375182U Pending JPS58135860U (ja) | 1982-03-10 | 1982-03-10 | 走査電子顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58135860U (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS506758U (ja) * | 1973-05-18 | 1975-01-23 | ||
JPS5835854A (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-02 | Hitachi Ltd | 二次電子検出装置 |
-
1982
- 1982-03-10 JP JP3375182U patent/JPS58135860U/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS506758U (ja) * | 1973-05-18 | 1975-01-23 | ||
JPS5835854A (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-02 | Hitachi Ltd | 二次電子検出装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4211924A (en) | Transmission-type scanning charged-particle beam microscope | |
US3626184A (en) | Detector system for a scanning electron microscope | |
US2281325A (en) | Electron microscope | |
JPH0626106B2 (ja) | 走査透過顕微鏡 | |
JPS58135860U (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
JP3351647B2 (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
US4264815A (en) | Apparatus for X-ray analysis of a specimen with local resolution | |
JPS59150155U (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
JPS582856U (ja) | 透過走査像観察装置 | |
GB794603A (en) | Improvements in or relating to electron precision oscillographs | |
JPS63131060U (ja) | ||
JPS58173160U (ja) | 透過形電子顕微鏡 | |
JPS59166357U (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
JPS60138252U (ja) | 粒子線装置における試料画像表示装置 | |
SU1582226A1 (ru) | Устройство дл контрол поверхностных микропотенциалов | |
JPS59134259U (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
JPS59138162U (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
JPS59103360U (ja) | 複合顕微鏡 | |
JPS59139947U (ja) | 荷電粒子線応用装置 | |
JPS616252U (ja) | 電子線装置 | |
SU1243046A1 (ru) | Электронный микроскоп | |
JPS5820098B2 (ja) | 電子線偏向走査装置 | |
JPS59177164U (ja) | 走査型反射電子回折顕微装置 | |
JPS5945173B2 (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
JPS5971563U (ja) | 二次電子検出器 |