JPS58135860U - 走査電子顕微鏡 - Google Patents

走査電子顕微鏡

Info

Publication number
JPS58135860U
JPS58135860U JP3375182U JP3375182U JPS58135860U JP S58135860 U JPS58135860 U JP S58135860U JP 3375182 U JP3375182 U JP 3375182U JP 3375182 U JP3375182 U JP 3375182U JP S58135860 U JPS58135860 U JP S58135860U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning
electron microscope
detectors
directions
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3375182U
Other languages
English (en)
Inventor
後藤 俊徳
Original Assignee
日本電子株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電子株式会社 filed Critical 日本電子株式会社
Priority to JP3375182U priority Critical patent/JPS58135860U/ja
Publication of JPS58135860U publication Critical patent/JPS58135860U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
2、  第1図は一般の走査電子顕微鏡め概略を示す図
1、  第2図はそのコントラストのつき方を説明する
図、と  第3図は本考案の一実施例の主要部を示す図
、第=  4図はそのコントラストのつき方を説明する
図、)  第5図は本考案の他の実施例を示す図、第6
図は)  そのコントラストのつき方を示す図である。 i    1:’I子M、2:集束レンズ、3:対物レ
ンズ、4:試料、5a、  5b:偏向コイル、6:走
査電源、7゜1  7X、  7Y:2次電子検出器、
8. 8X、 8Y:増幅i 器、9:陰極線管、10
:光源、11:肉眼、12:5  試料像、12X:X
方向領域、12y:Y方向領域。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 1 試料上で集束荷電粒子線を走査し、該走査によって
    試料各部から発生する2次電子を検出しその出力を前記
    走査と同期した表示装置に導スして走査画像を得る装置
    において、2次電子杉出器を少(とも2個設け、それら
    は互いに直接する方向に設置し、且つ両方向は集束粒子
    線CX、 Y走査方向と一致せしめ、夫々の検出器C出
    力信号に基づく画像を時間的又は空間的にり離して表示
    する手段を備えた走査電子顕微鏡。 2 前記検出器は互いに直交して4個用い、対向する検
    出器を組となし、各組毎に面検出器の仕方信号を加算し
    、その出力を画像信号として包用する実用新案登録請求
    の範囲第1項記載のオ査電子顕微鏡。
JP3375182U 1982-03-10 1982-03-10 走査電子顕微鏡 Pending JPS58135860U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3375182U JPS58135860U (ja) 1982-03-10 1982-03-10 走査電子顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3375182U JPS58135860U (ja) 1982-03-10 1982-03-10 走査電子顕微鏡

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58135860U true JPS58135860U (ja) 1983-09-12

Family

ID=30045284

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3375182U Pending JPS58135860U (ja) 1982-03-10 1982-03-10 走査電子顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58135860U (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS506758U (ja) * 1973-05-18 1975-01-23
JPS5835854A (ja) * 1981-08-28 1983-03-02 Hitachi Ltd 二次電子検出装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS506758U (ja) * 1973-05-18 1975-01-23
JPS5835854A (ja) * 1981-08-28 1983-03-02 Hitachi Ltd 二次電子検出装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4211924A (en) Transmission-type scanning charged-particle beam microscope
US3626184A (en) Detector system for a scanning electron microscope
US2281325A (en) Electron microscope
JPH0626106B2 (ja) 走査透過顕微鏡
JPS58135860U (ja) 走査電子顕微鏡
JP3351647B2 (ja) 走査電子顕微鏡
US4264815A (en) Apparatus for X-ray analysis of a specimen with local resolution
JPS59150155U (ja) 走査電子顕微鏡
JPS582856U (ja) 透過走査像観察装置
GB794603A (en) Improvements in or relating to electron precision oscillographs
JPS63131060U (ja)
JPS58173160U (ja) 透過形電子顕微鏡
JPS59166357U (ja) 走査電子顕微鏡
JPS60138252U (ja) 粒子線装置における試料画像表示装置
SU1582226A1 (ru) Устройство дл контрол поверхностных микропотенциалов
JPS59134259U (ja) 走査電子顕微鏡
JPS59138162U (ja) 走査電子顕微鏡
JPS59103360U (ja) 複合顕微鏡
JPS59139947U (ja) 荷電粒子線応用装置
JPS616252U (ja) 電子線装置
SU1243046A1 (ru) Электронный микроскоп
JPS5820098B2 (ja) 電子線偏向走査装置
JPS59177164U (ja) 走査型反射電子回折顕微装置
JPS5945173B2 (ja) 走査電子顕微鏡
JPS5971563U (ja) 二次電子検出器