SU1243046A1 - Электронный микроскоп - Google Patents

Электронный микроскоп Download PDF

Info

Publication number
SU1243046A1
SU1243046A1 SU843782079A SU3782079A SU1243046A1 SU 1243046 A1 SU1243046 A1 SU 1243046A1 SU 843782079 A SU843782079 A SU 843782079A SU 3782079 A SU3782079 A SU 3782079A SU 1243046 A1 SU1243046 A1 SU 1243046A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
image
electron
screen
electron beam
visual observation
Prior art date
Application number
SU843782079A
Other languages
English (en)
Inventor
Инна Семеновна Гайдукова
Сергей Алексеевич Дицман
Вадим Валентинович Мосеев
Original Assignee
Предприятие П/Я А-7638
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-7638 filed Critical Предприятие П/Я А-7638
Priority to SU843782079A priority Critical patent/SU1243046A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1243046A1 publication Critical patent/SU1243046A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к электро- зондовым устройствам дл  наблюдени  и регистрации изображени , в частности к электронным микроскопам просвечиваемого типа. Цель изобретени  - повьшение информативности исследований . Она. достигаетс  путем ускорени  цикла фоторегистрации электронного изображени , а также снижени  вли ни  искажений, обусловленных длительным облучением объекта электронным пучком высоких энергий. Электронный мик- содержит размещенные соосно источник 1 электронов, объективную линзу (л) 2, столик 3 объектов, промежуточную Л 4, проекционную Л 5 с магнитопроводом 6, отклон ющую систему 7, экран 8 фоторегистрации и экран 9 визуального наблюдени , наклон которого под углом оО обеспечивает нормальное попадание на него электронного пучка, несущего изображение объекта . Услови  выбора величины угла р6 привод тс  в описании изобретени . 1 ил. (Л ю 9 О)

Description

Изобретение относитс  к электрон- но- оптическому приборостроению, в частности к злектронно- зондовым уст- ройствам дл  наблюдени .и регистра ции изображени , например к электрон- нь}м микроскопам просвечивающего типа
Целью изобретени   вл етс  повЫ шение информативности исследований, проводимых с помощью электронного микроскопа, за счет ускорени  цикла фоторегистрации электронного изобра- жени  и снижени  вли ни  искажений, обусловленных длительным облучением объекта электронным пупком высокой энергии..
На чертеже изображен предлагаемый микроскоп.
Электронный микроскоп содержит размещенные соосно источник 1 электронов объективную линзу 2, столк 3 объек- тов, промежуточную линзу 4, проекци онную линзу 5 с магнитопроводом 6, отклон ющую систему 7 и экран 8 фото- регистрации. В непосредственной близости от экрана фоторегистрации под углом к нему установлен экран 9 визуального наблюдени , причем наклон экрана визуального наблюдени  обеспечивает нормальное попадание на него электронного пучка, несзгщего изображение объекта.
Устройство работает следующим образом .
Источник 1 электронов создает электронный пучок, который проходит через объективную линзу 2, формирую щую электронное изображение объекта, наход щегос  на столике 3 объектов, .промежуточную линзу 4, проекционную линзу 5 и отклон ющую систему 7, осу шествл ющие проецирование, увеличенного изображени  на экраны фоторе- гистрации 8 к визуального наблюдени  9. При этом при выборе участка объекта и фокусировке отклон юща  систе ма 7 находитс  во включенном состо НИИ .и обеспечивает отклонение электронного пучка от электронно-оптической оси шкpocкoпa на угол рС , необходимый дл  направлени  изображений . на экран 9 визуального наблюдени .
ВНИИПИ Заказ .3713/53 Тираж 643 Подписное Произв.-полигр,, пр-тие, г„ Ужгород, ул„ Проектна , 4
0
25
5
30
35 О 50
Угол наклона экрану визуального наблюдени  к плоскости экрана фоторе- гистрации определ етс  геометрическими размерами экрана фоторегистрации, отклон юш,ей системы и рассто нием от проекционной линзы до экрана. Наклон экрана обеспечивает нормальное падение и попадание электронного пучка на экран визуального наблюдени . Увеличение этого угла нежелательно, так как может привести к искажению наблюдаемого изображени  из-за аберраций отклон ющей системы, которые растут с ростом угла ос.
При фотосъемке отклон юща  система 7 находитс  в выключенном состо нии и электронно-микроскопическое изображение попадает на экран 8 фоторегистрации , расположенный соосно с источником электронов. Таким образом ,, осуществл етс  безынерционное пер ;ключение электронного изображени  с одного канапа регистрации на другой, что позвол ет значительно сократить цикл проведени  исследований на электронном микроскопе, повысить достоверность и информативность научных результатов за счет исключени  артефактов, св занных с удлинением цикла одного исследовани  и вибраци ми колонны электронного микроскопа.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Электронньш микроскоп, содержащий источник .электронов, последовательно, расположенные по ходу электронного пучка объективную, промежуточн ю и проекционную линзы, а также экраны фоторегистрации и визуального наблюдени , отлич ающийс.  тем, что, с целью повьппени  информативности исследовани , он снабжен отклон ющей системой, размещенной между проекционной линзой и экраном фоторегистрации, а экран визуального наблюдени  установлен перпендикул рно к оси электронного пучка при его наибольшем отклонении на одинаковом по отношению к экрану фоторегистра- ции рассто нии от центра отклонени  отклон ющей системы.
SU843782079A 1984-08-13 1984-08-13 Электронный микроскоп SU1243046A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843782079A SU1243046A1 (ru) 1984-08-13 1984-08-13 Электронный микроскоп

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843782079A SU1243046A1 (ru) 1984-08-13 1984-08-13 Электронный микроскоп

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1243046A1 true SU1243046A1 (ru) 1986-07-07

Family

ID=21135270

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843782079A SU1243046A1 (ru) 1984-08-13 1984-08-13 Электронный микроскоп

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1243046A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Пил нкевич А. Н., Клиновиц . кий А. М. Электронные микроскопы. Киев: Техника, 1976, с. 103. Электронный микроскоп EM-I 09. ПрО спект фирмы Opton, DE, 1981. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4983832A (en) Scanning electron microscope
USRE41665E1 (en) Object observation apparatus and object observation
KR950019946A (ko) 웨이퍼상에 패턴을 기록하기 위한 전자빔 시스템
JP2875940B2 (ja) 試料の高さ計測手段を備えた電子ビーム装置
JP2002516026A (ja) 粒子−光学装置におけるレンズ欠陥補正用の補正デバイス
US7453062B2 (en) Energy-filtering cathode lens microscopy instrument
JP2015069831A (ja) 電子顕微鏡
US20080315120A1 (en) Focusing and positioning device for a particle-optical raster microscope
US3795809A (en) Scanning electron microscope with conversion means to produce a diffraction pattern
EP1239510B1 (de) Teilchenoptische Linsenanordnung und Verfahren unter Einsatz einer solchen Linsenanordnung
US5483065A (en) Electron beam microanalyzer
JPS60105149A (ja) 電子線装置
US9018581B2 (en) Transmission electron microscope
US6800853B2 (en) Electron microscope and method of photographing TEM images
US4194116A (en) Electron microscope or the like and method of use
SU1243046A1 (ru) Электронный микроскоп
US4095104A (en) Electron microscope
US3660657A (en) Electron microscope with multi-focusing electron lens
JPS626300B2 (ru)
JP3112546B2 (ja) 粒子線装置
JPS61277141A (ja) 磁界型エネルギ−フイルタ−
JPH0234144B2 (ru)
JPH0414490B2 (ru)
SU1173464A1 (ru) Просвечивающий растровый электронный микроскоп
SU1072139A1 (ru) Фокусирующе-отклон ющее устройство