SU1243046A1 - Электронный микроскоп - Google Patents
Электронный микроскоп Download PDFInfo
- Publication number
- SU1243046A1 SU1243046A1 SU843782079A SU3782079A SU1243046A1 SU 1243046 A1 SU1243046 A1 SU 1243046A1 SU 843782079 A SU843782079 A SU 843782079A SU 3782079 A SU3782079 A SU 3782079A SU 1243046 A1 SU1243046 A1 SU 1243046A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- image
- electron
- screen
- electron beam
- visual observation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к электро- зондовым устройствам дл наблюдени и регистрации изображени , в частности к электронным микроскопам просвечиваемого типа. Цель изобретени - повьшение информативности исследований . Она. достигаетс путем ускорени цикла фоторегистрации электронного изображени , а также снижени вли ни искажений, обусловленных длительным облучением объекта электронным пучком высоких энергий. Электронный мик- содержит размещенные соосно источник 1 электронов, объективную линзу (л) 2, столик 3 объектов, промежуточную Л 4, проекционную Л 5 с магнитопроводом 6, отклон ющую систему 7, экран 8 фоторегистрации и экран 9 визуального наблюдени , наклон которого под углом оО обеспечивает нормальное попадание на него электронного пучка, несущего изображение объекта . Услови выбора величины угла р6 привод тс в описании изобретени . 1 ил. (Л ю 9 О)
Description
Изобретение относитс к электрон- но- оптическому приборостроению, в частности к злектронно- зондовым уст- ройствам дл наблюдени .и регистра ции изображени , например к электрон- нь}м микроскопам просвечивающего типа
Целью изобретени вл етс повЫ шение информативности исследований, проводимых с помощью электронного микроскопа, за счет ускорени цикла фоторегистрации электронного изобра- жени и снижени вли ни искажений, обусловленных длительным облучением объекта электронным пупком высокой энергии..
На чертеже изображен предлагаемый микроскоп.
Электронный микроскоп содержит размещенные соосно источник 1 электронов объективную линзу 2, столк 3 объек- тов, промежуточную линзу 4, проекци онную линзу 5 с магнитопроводом 6, отклон ющую систему 7 и экран 8 фото- регистрации. В непосредственной близости от экрана фоторегистрации под углом к нему установлен экран 9 визуального наблюдени , причем наклон экрана визуального наблюдени обеспечивает нормальное попадание на него электронного пучка, несзгщего изображение объекта.
Устройство работает следующим образом .
Источник 1 электронов создает электронный пучок, который проходит через объективную линзу 2, формирую щую электронное изображение объекта, наход щегос на столике 3 объектов, .промежуточную линзу 4, проекционную линзу 5 и отклон ющую систему 7, осу шествл ющие проецирование, увеличенного изображени на экраны фоторе- гистрации 8 к визуального наблюдени 9. При этом при выборе участка объекта и фокусировке отклон юща систе ма 7 находитс во включенном состо НИИ .и обеспечивает отклонение электронного пучка от электронно-оптической оси шкpocкoпa на угол рС , необходимый дл направлени изображений . на экран 9 визуального наблюдени .
ВНИИПИ Заказ .3713/53 Тираж 643 Подписное Произв.-полигр,, пр-тие, г„ Ужгород, ул„ Проектна , 4
0
25
5
30
35 О 50
Угол наклона экрану визуального наблюдени к плоскости экрана фоторе- гистрации определ етс геометрическими размерами экрана фоторегистрации, отклон юш,ей системы и рассто нием от проекционной линзы до экрана. Наклон экрана обеспечивает нормальное падение и попадание электронного пучка на экран визуального наблюдени . Увеличение этого угла нежелательно, так как может привести к искажению наблюдаемого изображени из-за аберраций отклон ющей системы, которые растут с ростом угла ос.
При фотосъемке отклон юща система 7 находитс в выключенном состо нии и электронно-микроскопическое изображение попадает на экран 8 фоторегистрации , расположенный соосно с источником электронов. Таким образом ,, осуществл етс безынерционное пер ;ключение электронного изображени с одного канапа регистрации на другой, что позвол ет значительно сократить цикл проведени исследований на электронном микроскопе, повысить достоверность и информативность научных результатов за счет исключени артефактов, св занных с удлинением цикла одного исследовани и вибраци ми колонны электронного микроскопа.
Claims (1)
- Формула изобретениЭлектронньш микроскоп, содержащий источник .электронов, последовательно, расположенные по ходу электронного пучка объективную, промежуточн ю и проекционную линзы, а также экраны фоторегистрации и визуального наблюдени , отлич ающийс. тем, что, с целью повьппени информативности исследовани , он снабжен отклон ющей системой, размещенной между проекционной линзой и экраном фоторегистрации, а экран визуального наблюдени установлен перпендикул рно к оси электронного пучка при его наибольшем отклонении на одинаковом по отношению к экрану фоторегистра- ции рассто нии от центра отклонени отклон ющей системы.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843782079A SU1243046A1 (ru) | 1984-08-13 | 1984-08-13 | Электронный микроскоп |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843782079A SU1243046A1 (ru) | 1984-08-13 | 1984-08-13 | Электронный микроскоп |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1243046A1 true SU1243046A1 (ru) | 1986-07-07 |
Family
ID=21135270
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843782079A SU1243046A1 (ru) | 1984-08-13 | 1984-08-13 | Электронный микроскоп |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1243046A1 (ru) |
-
1984
- 1984-08-13 SU SU843782079A patent/SU1243046A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Пил нкевич А. Н., Клиновиц . кий А. М. Электронные микроскопы. Киев: Техника, 1976, с. 103. Электронный микроскоп EM-I 09. ПрО спект фирмы Opton, DE, 1981. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4983832A (en) | Scanning electron microscope | |
USRE41665E1 (en) | Object observation apparatus and object observation | |
KR950019946A (ko) | 웨이퍼상에 패턴을 기록하기 위한 전자빔 시스템 | |
JP2875940B2 (ja) | 試料の高さ計測手段を備えた電子ビーム装置 | |
JP2002516026A (ja) | 粒子−光学装置におけるレンズ欠陥補正用の補正デバイス | |
US7453062B2 (en) | Energy-filtering cathode lens microscopy instrument | |
JP2015069831A (ja) | 電子顕微鏡 | |
US20080315120A1 (en) | Focusing and positioning device for a particle-optical raster microscope | |
US3795809A (en) | Scanning electron microscope with conversion means to produce a diffraction pattern | |
EP1239510B1 (de) | Teilchenoptische Linsenanordnung und Verfahren unter Einsatz einer solchen Linsenanordnung | |
US5483065A (en) | Electron beam microanalyzer | |
JPS60105149A (ja) | 電子線装置 | |
US9018581B2 (en) | Transmission electron microscope | |
US6800853B2 (en) | Electron microscope and method of photographing TEM images | |
US4194116A (en) | Electron microscope or the like and method of use | |
SU1243046A1 (ru) | Электронный микроскоп | |
US4095104A (en) | Electron microscope | |
US3660657A (en) | Electron microscope with multi-focusing electron lens | |
JPS626300B2 (ru) | ||
JP3112546B2 (ja) | 粒子線装置 | |
JPS61277141A (ja) | 磁界型エネルギ−フイルタ− | |
JPH0234144B2 (ru) | ||
JPH0414490B2 (ru) | ||
SU1173464A1 (ru) | Просвечивающий растровый электронный микроскоп | |
SU1072139A1 (ru) | Фокусирующе-отклон ющее устройство |