JPS60121837A - 遠隔試験方式 - Google Patents
遠隔試験方式Info
- Publication number
- JPS60121837A JPS60121837A JP58229714A JP22971483A JPS60121837A JP S60121837 A JPS60121837 A JP S60121837A JP 58229714 A JP58229714 A JP 58229714A JP 22971483 A JP22971483 A JP 22971483A JP S60121837 A JPS60121837 A JP S60121837A
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- Japan
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- terminal device
- test
- memory
- data processing
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は１回線を介し、て遠隔地より端末装置の詳細な
試験を行う遠隔試験方式に関する。
試験を行う遠隔試験方式に関する。
（従来技術〕
遠隔地より端末の試験を行う方式の一つに折り返し、試
験方式がある。第１図に従来の折り返し試験方式の構成
例を示す。第１図において、中実装置１は通信回線２を
介して端末装置３と接続される。端末装置３は折り返し
ユニット１０，２０゜伝送ユニット３０．データ処理ユ
ニット４０よりなる。データ処理ユニット４０は２例え
ば該端末装置３がファクシミリ端末の場合、書画入出力
部。
験方式がある。第１図に従来の折り返し試験方式の構成
例を示す。第１図において、中実装置１は通信回線２を
介して端末装置３と接続される。端末装置３は折り返し
ユニット１０，２０゜伝送ユニット３０．データ処理ユ
ニット４０よりなる。データ処理ユニット４０は２例え
ば該端末装置３がファクシミリ端末の場合、書画入出力
部。
通信プロトコル制御部、符−号・復号部等より構成され
るものである。
るものである。
通常動作時、折り返し、ユニツ１〜１０の端子１１と１
３．１２と１４が接続され、また、折り返しュニッ１．
２０の端子２１と２３．２２と２４か接続されている。
３．１２と１４が接続され、また、折り返しュニッ１．
２０の端子２１と２３．２２と２４か接続されている。
したがって、中実装置１から発せら肛ろ信号は下り回線
２−１を伝送し、端末装置３の折り返しユニット１０．
伝送ユニット３０、折り返し、ユニツ１〜２０を通って
データ処理ユニット４０に達する。また、データ処理ユ
ニッ１−４０から発せられる信号は、上記と逆の経路を
たどり。
２−１を伝送し、端末装置３の折り返しユニット１０．
伝送ユニット３０、折り返し、ユニツ１〜２０を通って
データ処理ユニット４０に達する。また、データ処理ユ
ニッ１−４０から発せられる信号は、上記と逆の経路を
たどり。
−１ニリ回線２−２を通−〕で中実装置１に達する。
一方、折り返し・試験を実施する場合は次のようにする
。ます、折り返し７ユニツ１−１０の端子１１と１２．
１３と１４を接続する。こｈによって。
。ます、折り返し７ユニツ１−１０の端子１１と１２．
１３と１４を接続する。こｈによって。
中実装置１から下り回線２−１に送出された信号は折り
返し・ユニットＩＯの端子１１，１．２を介して上り線
２−２１＼折り返えされるため、通信回線２の正常性を
チェックできる。次［−１折り返し・ユニット１０の接
続は通常の状態とし５、折り返し・ユニッ１へ：２０の
端子２１と２２．２３と２４を接続する。こＪｔによっ
て、中実装置１から下り回線２−Ｉに送出された信号は
折り返し、ユニットＩＯ１伝送ユニット３０を通り、折
り返し、ユニット２０の端子２１．２２を介し、て折り
返えされるため、通信回線２より伝送ユニット３０まで
の正常性をチェックできる。折り返しユニツ１〜１０．
２０の接続の切り換えは、手動または伝送ユニット３０
で中実装置１からの折り返し、指示用の信号を受信識別
し６、制御線３１．３２によって自動的に行う。
返し・ユニットＩＯの端子１１，１．２を介して上り線
２−２１＼折り返えされるため、通信回線２の正常性を
チェックできる。次［−１折り返し・ユニット１０の接
続は通常の状態とし５、折り返し・ユニッ１へ：２０の
端子２１と２２．２３と２４を接続する。こＪｔによっ
て、中実装置１から下り回線２−Ｉに送出された信号は
折り返し、ユニットＩＯ１伝送ユニット３０を通り、折
り返し、ユニット２０の端子２１．２２を介し、て折り
返えされるため、通信回線２より伝送ユニット３０まで
の正常性をチェックできる。折り返しユニツ１〜１０．
２０の接続の切り換えは、手動または伝送ユニット３０
で中実装置１からの折り返し、指示用の信号を受信識別
し６、制御線３１．３２によって自動的に行う。
なお、自動的に行う場合には、試験順序を上記と逆にし
、初めは折り返し・ユニット１０の接続を通常の状態に
し、て折り返し、ユニット２０の接続を切り替え１次に
折り返しユニット１０の接続を切り替えればよい。
、初めは折り返し・ユニット１０の接続を通常の状態に
し、て折り返し、ユニット２０の接続を切り替え１次に
折り返しユニット１０の接続を切り替えればよい。
ところで、第１図の従来方式では、データ処理ユニット
の正常性をチェックすることかできない。
の正常性をチェックすることかできない。
即ち、データ処理ユニットを試験するには、該データ処
理ユニッ）・で折り返す必要があるが、一般に端末装置
（例えはファクシミリ端末）は受信と送信を同時に処理
できないため、データ処理ユニットを含む折り返し試験
は不可能である。また、従来方式では、端末装置の正常
性は、折り返し状態の場合でしかチェックすることがで
きない。従−）で、折り返し試験を行っていない時、即
ち、通常の使用時に発生する障害を遠隔地よりチェック
することは不可能であった。
理ユニッ）・で折り返す必要があるが、一般に端末装置
（例えはファクシミリ端末）は受信と送信を同時に処理
できないため、データ処理ユニットを含む折り返し試験
は不可能である。また、従来方式では、端末装置の正常
性は、折り返し状態の場合でしかチェックすることがで
きない。従−）で、折り返し試験を行っていない時、即
ち、通常の使用時に発生する障害を遠隔地よりチェック
することは不可能であった。
し発明の目的」
本発明の目的は５通常の使用時に発生する障店やデータ
処理ユニットの障害仕遠隔地よりチェックすることを可
能とした遠隔試験方式を提供することにある。
処理ユニットの障害仕遠隔地よりチェックすることを可
能とした遠隔試験方式を提供することにある。
本発明の第１の特徴は、端末装置に一時記憶メモリを設
け、中実装置から試験指示信号とともに送ら１１てくる
検査用信号をデータ処理ユニットで’ｌ （ｉ Ｌ、て
該メモリに一担記憶し・、その後、該メモリの内容をデ
ータ処理ユニッ１へで読み出して中実装置）＼送信する
ことにある。本発明の第２の特徴は、端末装置に不揮発
性メモリを設け１通常の使用時等に発生する障害Ｈ原情
報を該不揮発性メモリに記憶し、ておき、中実装置から
の試験指示の際に、該不揮発性メモリの内容を編集して
中実装置へ通知することにある。
け、中実装置から試験指示信号とともに送ら１１てくる
検査用信号をデータ処理ユニットで’ｌ （ｉ Ｌ、て
該メモリに一担記憶し・、その後、該メモリの内容をデ
ータ処理ユニッ１へで読み出して中実装置）＼送信する
ことにある。本発明の第２の特徴は、端末装置に不揮発
性メモリを設け１通常の使用時等に発生する障害Ｈ原情
報を該不揮発性メモリに記憶し、ておき、中実装置から
の試験指示の際に、該不揮発性メモリの内容を編集して
中実装置へ通知することにある。
第２図は本発明の一実施例の構成図である。第２図にお
いて、中実装置１は通信回線２を介して端末装置３と接
続される。端末装置３は伝送ユニッ）〜３０、データ処
理ユニット４０、不揮発性メモリ５０．一時記憶メモリ
６０よりなる。データ。
いて、中実装置１は通信回線２を介して端末装置３と接
続される。端末装置３は伝送ユニッ）〜３０、データ処
理ユニット４０、不揮発性メモリ５０．一時記憶メモリ
６０よりなる。データ。
処理ユニット４０は論理的に受信処理モジュール４１、
送信処理モジュール４２、及びこれらのモジュールやメ
モリ５０．６０の動作を制御する共通制御部４３に分け
られる。なお、一点鎖線ブロックで示す折り返しユニッ
ト１０．２０を配置すＩＬは、従来と同様の折り返し試
験を行うことも可能である。以下、折り返しユニット１
．０．２０はないものとして説明する。
送信処理モジュール４２、及びこれらのモジュールやメ
モリ５０．６０の動作を制御する共通制御部４３に分け
られる。なお、一点鎖線ブロックで示す折り返しユニッ
ト１０．２０を配置すＩＬは、従来と同様の折り返し試
験を行うことも可能である。以下、折り返しユニット１
．０．２０はないものとして説明する。
端末装置３が受信モードの場合、中実装置１からの信号
は下り回線２−１を伝送して端末装置３で受信され、伝
送ユニット３０を通ってデータ処理ユニット４０に達し
、共通制御部４３の制御のもとに受信処理モジュール４
１で受信処理される。
は下り回線２−１を伝送して端末装置３で受信され、伝
送ユニット３０を通ってデータ処理ユニット４０に達し
、共通制御部４３の制御のもとに受信処理モジュール４
１で受信処理される。
また、端末装置３が送信モードの場合、共通制御部４３
の制御下でデータ処理ユニツ１−４０の送信処理モジュ
ール４２の動作が有効となり、その送イｎ信号が伝送ユ
ニット３０を通り、上り回線２−２を伝送して中実装置
ｌで受信される。この通常の動作状態において、端末装
置３の動作回数や障害回数、あるいは障害理由等の履歴
情報が、データ処理ユニット４０の共通制御部４３の制
御下で逐一不揮発性メモリ５０／＼記憶される。不揮発
性メモリ５０の内容は該端末装置３が動作停止の状態に
あっても保持され、再度動作すると、必要な情報が更新
される。
の制御下でデータ処理ユニツ１−４０の送信処理モジュ
ール４２の動作が有効となり、その送イｎ信号が伝送ユ
ニット３０を通り、上り回線２−２を伝送して中実装置
ｌで受信される。この通常の動作状態において、端末装
置３の動作回数や障害回数、あるいは障害理由等の履歴
情報が、データ処理ユニット４０の共通制御部４３の制
御下で逐一不揮発性メモリ５０／＼記憶される。不揮発
性メモリ５０の内容は該端末装置３が動作停止の状態に
あっても保持され、再度動作すると、必要な情報が更新
される。
不揮発性メモリ５０に記憶されるべき履歴情報は、例え
は、第３図のように使用すれは良い。即ち、アトｌメス
ＯＯ〜３Ｆの領域には機種名、モジュールのヴγ−ジョ
ン殉、ＴＤ番号等、４０〜７Ｆには動作回数、発信回数
５着信回数等の累計。
は、第３図のように使用すれは良い。即ち、アトｌメス
ＯＯ〜３Ｆの領域には機種名、モジュールのヴγ−ジョ
ン殉、ＴＤ番号等、４０〜７Ｆには動作回数、発信回数
５着信回数等の累計。
８０〜ＢＦには通信障害回数、端末障害回数等の累計、
ＣＯ〜Ｔ” Ｆには、障害となった理由のコード列を記
憶する。障害理由の表示には１バイトのコードにより２
５６の理由を分類表示し、最近の障害理由を順に記憶し
ておけは良い。
ＣＯ〜Ｔ” Ｆには、障害となった理由のコード列を記
憶する。障害理由の表示には１バイトのコードにより２
５６の理由を分類表示し、最近の障害理由を順に記憶し
ておけは良い。
次に、折り返し試験状態での動作について説明する。こ
の場合、中実装置Ｉから折り返し試験指示信号と検査用
信号が送信される。これらの信号が下り回線２−１を伝
送して端末装置３で受信され、伝送ユニット３０を通っ
てデータ処理ユニツ。
の場合、中実装置Ｉから折り返し試験指示信号と検査用
信号が送信される。これらの信号が下り回線２−１を伝
送して端末装置３で受信され、伝送ユニット３０を通っ
てデータ処理ユニツ。
ト４０に達する。データ処理ユニツ１〜４０内では、折
り返し・試験指示信号は受信処理モジュール４１を介し
・て共通制御部４３により受信解読され、検査用信号は
受信処理モジュール／ＩＩをそのまま通過していく。こ
の折り返し、試験指示信号の指示に従い、共通制御部４
３は、まず受信処理モジュール４１を通過した検査用信
号を一時記憶メモリ６０に記憶する。次に共通制御部４
３は障害履歴情報等が記憶されている不揮発性メモリ５
０を参照し・、その内容を折り返し指示信号に従って編
集し、た後、伝送ユニット３０を介して上り回線２〜２
へ送信する。次に共通制御部４３は、一時記憶メモリ６
０の内容を読み出して送信処理モジュール４２を通過せ
しめ、伝送ユニット３０を介して上り回線２−２へ送信
する。
り返し・試験指示信号は受信処理モジュール４１を介し
・て共通制御部４３により受信解読され、検査用信号は
受信処理モジュール／ＩＩをそのまま通過していく。こ
の折り返し、試験指示信号の指示に従い、共通制御部４
３は、まず受信処理モジュール４１を通過した検査用信
号を一時記憶メモリ６０に記憶する。次に共通制御部４
３は障害履歴情報等が記憶されている不揮発性メモリ５
０を参照し・、その内容を折り返し指示信号に従って編
集し、た後、伝送ユニット３０を介して上り回線２〜２
へ送信する。次に共通制御部４３は、一時記憶メモリ６
０の内容を読み出して送信処理モジュール４２を通過せ
しめ、伝送ユニット３０を介して上り回線２−２へ送信
する。
第４図は上記折り返し試験時、中実装置１と端末装置３
の間で送受される信号を示したものである。中実装置ｌ
では、送信し、た検査用信号と折り返されてきた検査結
果信号を比較して、データ処理ユニット４０内の各モジ
ュール４１．４２の正常性をチェックする。さらに、送
られてきた障害履歴情報により、折り返し試験を行って
いない時に端末装置３で発生した障害履歴を把握できる
。
の間で送受される信号を示したものである。中実装置ｌ
では、送信し、た検査用信号と折り返されてきた検査結
果信号を比較して、データ処理ユニット４０内の各モジ
ュール４１．４２の正常性をチェックする。さらに、送
られてきた障害履歴情報により、折り返し試験を行って
いない時に端末装置３で発生した障害履歴を把握できる
。
なお、端末装置３の障害履歴を必要しない場合は。
該障害履歴の中実装置１への送信は行なわないよ）にし
、でもよい。
、でもよい。
以上、第２図の動作を説明したが、不揮発性メモリ５０
に障害情報を記憶する際に、データ処理ユニノ１−の共
通制御部／１３とその障害理由を判別し、自動回復また
はユーザ処理による回復が不可能で、保守者の処理を必
要とする場合には、その障害状況を中実装置１に対して
自動的に通知するようにしてもよい。即ち、不揮発性メ
モリ５ｏの内容によって端末装置３が自動的に起動し、
伝送ユニット３０を介して不揮発性メモリ５０の内容を
中実装置１に向けて送信するのである。また、第２図で
は省略されているか、共通制御部４３の制御下で、不揮
発性メモリ５０の内容を端末装置３に具備されているデ
ィスプレイ等に出力することによって、自端末の状態を
ユーザに表示することも可能である。
に障害情報を記憶する際に、データ処理ユニノ１−の共
通制御部／１３とその障害理由を判別し、自動回復また
はユーザ処理による回復が不可能で、保守者の処理を必
要とする場合には、その障害状況を中実装置１に対して
自動的に通知するようにしてもよい。即ち、不揮発性メ
モリ５ｏの内容によって端末装置３が自動的に起動し、
伝送ユニット３０を介して不揮発性メモリ５０の内容を
中実装置１に向けて送信するのである。また、第２図で
は省略されているか、共通制御部４３の制御下で、不揮
発性メモリ５０の内容を端末装置３に具備されているデ
ィスプレイ等に出力することによって、自端末の状態を
ユーザに表示することも可能である。
さらに、折り返し試験指示信号に含まれるパラメータ情
報によって、障害履歴テークの返送条件を変更したり、
装置状態の詳細情報を付加し、たりすることを容易に拡
張できる。また、検査用信号の種類に応じて、試験すべ
きモジュールを変更したり、モジュールの試験を省略し
たりすることも容易に拡張できる。
報によって、障害履歴テークの返送条件を変更したり、
装置状態の詳細情報を付加し、たりすることを容易に拡
張できる。また、検査用信号の種類に応じて、試験すべ
きモジュールを変更したり、モジュールの試験を省略し
たりすることも容易に拡張できる。
〔発明の効果ｊ
以上説明したように９本発明によれは、端末装置内の受
信動作と送信動作が同時にできないようなデータ処理ユ
ニットを遠隔地から折り返し試験することが可能となり
、端末装置の詳細な試験が達成される。また、試験結果
とともに障害の履歴も遠隔地に通知できるので、遠隔地
に配備された端末装置を集中して保守する場合に有効で
ある。
信動作と送信動作が同時にできないようなデータ処理ユ
ニットを遠隔地から折り返し試験することが可能となり
、端末装置の詳細な試験が達成される。また、試験結果
とともに障害の履歴も遠隔地に通知できるので、遠隔地
に配備された端末装置を集中して保守する場合に有効で
ある。
第１図は従来の遠隔折り返し試験方式の構成例を示す図
、第２図は本発明の一実施例を示す図。 第３図は第２図における不揮発性メモリの内容例を示す
図、第４図は折り返し試験等の送受信信号例を示す図で
ある。 １・・・中実装置、２・・・通信回線、３・・・端末装
置。 ３０・・・伝送ユニット、４０・・・データ処理ユニッ
ト、 ４１・・・受信処理モジュール、 ４２・・・送
信処理モジュール、 ４３・・・共通制御部。 ５０・・・不揮発性メモリ、 ６０・・・−・時記憶メ
モリ。 第１図 第２図 第３図 第４図
、第２図は本発明の一実施例を示す図。 第３図は第２図における不揮発性メモリの内容例を示す
図、第４図は折り返し試験等の送受信信号例を示す図で
ある。 １・・・中実装置、２・・・通信回線、３・・・端末装
置。 ３０・・・伝送ユニット、４０・・・データ処理ユニッ
ト、 ４１・・・受信処理モジュール、 ４２・・・送
信処理モジュール、 ４３・・・共通制御部。 ５０・・・不揮発性メモリ、 ６０・・・−・時記憶メ
モリ。 第１図 第２図 第３図 第４図
Claims (2)
- （１）遠隔地より通信回線を介し、て端末装置の試験を
行う方式において、端末装置に一時記憶メモリを設け、
遠隔地からの試験指示信号に従い、該試験指示信号とと
も送られて来る検査用信号を端末装置の受信処理系を通
過して前記一時記憶メモリに一担記憶し１．その後、該
メモリの内容を端末装置の送信処理系を通過し・て遠隔
地へ送信することを特徴とする遠隔試験方式。 - （２）前記端末装置は不揮発性メモリを具備し１、通常
の使用時等に発生する障害履歴情報を該不揮発性メモリ
に記憶しておき、遠隔地からの試験指示信号に従い、前
記一時記憶メモリの内容とともに該不揮発性メモリの内
容を遠隔地に送信することを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の遠隔試験方式。 に３）前記不揮発性メモリに記憶さオする障害情報を判
別し、障害理由によってはその状況を遠隔地に自動発信
することを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の遠隔
試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58229714A JPS60121837A (ja) | 1983-12-05 | 1983-12-05 | 遠隔試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58229714A JPS60121837A (ja) | 1983-12-05 | 1983-12-05 | 遠隔試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60121837A true JPS60121837A (ja) | 1985-06-29 |
Family
ID=16896546
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58229714A Pending JPS60121837A (ja) | 1983-12-05 | 1983-12-05 | 遠隔試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60121837A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100440443B1 (ko) * | 2001-12-22 | 2004-07-15 | 주식회사 팬택 | 단말기 진단 장치 및 이의 자동 실행 및 사용환경 유지 방법 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5624866A (en) * | 1979-08-06 | 1981-03-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Sectioning test circuit |
-
1983
- 1983-12-05 JP JP58229714A patent/JPS60121837A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5624866A (en) * | 1979-08-06 | 1981-03-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Sectioning test circuit |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100440443B1 (ko) * | 2001-12-22 | 2004-07-15 | 주식회사 팬택 | 단말기 진단 장치 및 이의 자동 실행 및 사용환경 유지 방법 |
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