JPS599976A - 絶対圧形半導体圧力センサーの製造方法 - Google Patents
絶対圧形半導体圧力センサーの製造方法Info
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- JPS599976A JPS599976A JP11840082A JP11840082A JPS599976A JP S599976 A JPS599976 A JP S599976A JP 11840082 A JP11840082 A JP 11840082A JP 11840082 A JP11840082 A JP 11840082A JP S599976 A JPS599976 A JP S599976A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/84—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by variation of applied mechanical force, e.g. of pressure
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は半導体ダイヤフラムの一方側を真空にした絶対
圧を測定する半導体圧力センサーに関する。
圧を測定する半導体圧力センサーに関する。
半導体プレーナー技術の応°用によりシリコン等の半導
体単結晶板の一部に肉薄のダイヤフラムな設け、このダ
イヤフラム上に感圧素子として拡散抵抗層を形成して、
そのピエゾ抵抗効果を利用した圧力センサーが実用化し
ている。その概略構造を示すと、第1図のようになって
いる。図において、1は例えばn型のシリコン単結晶板
であシ、その中央部に肉薄のダイヤフラム2を設け、こ
のダイヤフラム2にPmの拡散抵抗層3(3,,32・
・・)を形成している。表面は絶縁層4で覆われ、その
上に届等からなる電極配線層5が配置されている。電極
配線層5は絶縁層4に設けたコンタクトホールを介して
拡散抵抗層3に端部で接触し、拡散抵抗層3の内部配線
や外部への電極取り出し端子の役割を果している。従っ
て電極配線層5には、必要に応じてリード線6がボンデ
ィングされている。このような圧力変換基板10は例え
ばシリコンからなる固定台7に接着剤9により接着固定
される。固定台7には貫通孔8が設けられている。
体単結晶板の一部に肉薄のダイヤフラムな設け、このダ
イヤフラム上に感圧素子として拡散抵抗層を形成して、
そのピエゾ抵抗効果を利用した圧力センサーが実用化し
ている。その概略構造を示すと、第1図のようになって
いる。図において、1は例えばn型のシリコン単結晶板
であシ、その中央部に肉薄のダイヤフラム2を設け、こ
のダイヤフラム2にPmの拡散抵抗層3(3,,32・
・・)を形成している。表面は絶縁層4で覆われ、その
上に届等からなる電極配線層5が配置されている。電極
配線層5は絶縁層4に設けたコンタクトホールを介して
拡散抵抗層3に端部で接触し、拡散抵抗層3の内部配線
や外部への電極取り出し端子の役割を果している。従っ
て電極配線層5には、必要に応じてリード線6がボンデ
ィングされている。このような圧力変換基板10は例え
ばシリコンからなる固定台7に接着剤9により接着固定
される。固定台7には貫通孔8が設けられている。
センサハウジング11は、ステム部11□とキャップ部
11.とで構成されていて、ステム部11.とキャップ
ill、は気密接着されている。ステム部111は例え
ば金属であり、中央部に貫通孔12が設けられていて、
このステム部11.の貫通孔12と、固定台7の貫通孔
8とが一致するようにステム部111と固定台7は接着
剤13で接着固定されている。また、このステム部11
1にはリード端子14が例えばガラス15により絶縁気
密封止されている。ステム部11.とキャップ部11.
にはそれぞれパイプ161と16.が設けられている。
11.とで構成されていて、ステム部11.とキャップ
ill、は気密接着されている。ステム部111は例え
ば金属であり、中央部に貫通孔12が設けられていて、
このステム部11.の貫通孔12と、固定台7の貫通孔
8とが一致するようにステム部111と固定台7は接着
剤13で接着固定されている。また、このステム部11
1にはリード端子14が例えばガラス15により絶縁気
密封止されている。ステム部11.とキャップ部11.
にはそれぞれパイプ161と16.が設けられている。
このパイプ16.に流入する流体の圧力P1、またはパ
イプ16.に流入する流体の圧力P2がダイヤフラム2
の変形をもたらし、拡散抵抗層3の抵抗変化をもたらす
。圧力P1 と圧力P、は完全に分離されなければなら
ない。
イプ16.に流入する流体の圧力P2がダイヤフラム2
の変形をもたらし、拡散抵抗層3の抵抗変化をもたらす
。圧力P1 と圧力P、は完全に分離されなければなら
ない。
このようなセンサーは一般に流体の圧力測定に供される
が、装置の片方側に真空のリファレンスを持ってくれば
絶対圧を測定できる。従来は気体や液体の圧力あるいは
流量測定は工業計測などの特殊な部門に限られていた。
が、装置の片方側に真空のリファレンスを持ってくれば
絶対圧を測定できる。従来は気体や液体の圧力あるいは
流量測定は工業計測などの特殊な部門に限られていた。
しかし最近はマイクロコンピュータの普及によって、圧
力や流量をセンサーで計測し、各種の機構を制御する機
器が一般の生活にまで必要不可欠になって来た。例えば
自動車のガソリン流量の制御や家庭用掃除機の負圧制御
にまで各種のセンサーが使われるようになった。これら
負圧の計測は絶対圧計で求めた値が必要であり、上述し
たシリコンダイヤフラム形の絶対圧形センサーが特性的
にも好適である。
力や流量をセンサーで計測し、各種の機構を制御する機
器が一般の生活にまで必要不可欠になって来た。例えば
自動車のガソリン流量の制御や家庭用掃除機の負圧制御
にまで各種のセンサーが使われるようになった。これら
負圧の計測は絶対圧計で求めた値が必要であり、上述し
たシリコンダイヤフラム形の絶対圧形センサーが特性的
にも好適である。
このようなシリコンダイヤフラム形の絶対圧センサーは
従来、第1図における圧力導入口のいづれかの一方、例
えば16.を真空排気装置に接続し、ハウジング11の
内側を高真空に排気した後、第2図に示す如く、封じ材
32.で封じる。第1図のハウジング内の圧力は真空リ
ファレンス(第2図の18′)となって絶対圧計が完成
するっ第1図において、センサーからの出力は常に圧力
P、とP。
従来、第1図における圧力導入口のいづれかの一方、例
えば16.を真空排気装置に接続し、ハウジング11の
内側を高真空に排気した後、第2図に示す如く、封じ材
32.で封じる。第1図のハウジング内の圧力は真空リ
ファレンス(第2図の18′)となって絶対圧計が完成
するっ第1図において、センサーからの出力は常に圧力
P、とP。
の差で現われるが、第2図においては、PIは常に真空
に対する圧力出力となる。例えばP、が大気の場合は、
現在の気圧を測定することになり、負圧を測定すれば、
真空度を直接測定することができる。
に対する圧力出力となる。例えばP、が大気の場合は、
現在の気圧を測定することになり、負圧を測定すれば、
真空度を直接測定することができる。
原理的には上記手法によって、絶対圧センサーを製作す
ることが可能であるが、工業的に低コスト化、i炭化に
むかない方法である。その主な理由はセンサーの排気工
程にある。第1図、第2図の方法では、従来の真空管の
排気処理と同じく、排気前のセンサーを一個づつ排気装
置に装着、排気完了後、第2図のように片側の圧力導入
口を封じ切って完成する。第1図、第2図の圧力変換基
板10は一般のICやトランジスタと同一の半導体拡散
工程で作られ、量産化が実現されているにも拘らず、上
述の排気工程で極端に量産化を阻まれている。
ることが可能であるが、工業的に低コスト化、i炭化に
むかない方法である。その主な理由はセンサーの排気工
程にある。第1図、第2図の方法では、従来の真空管の
排気処理と同じく、排気前のセンサーを一個づつ排気装
置に装着、排気完了後、第2図のように片側の圧力導入
口を封じ切って完成する。第1図、第2図の圧力変換基
板10は一般のICやトランジスタと同一の半導体拡散
工程で作られ、量産化が実現されているにも拘らず、上
述の排気工程で極端に量産化を阻まれている。
第1図、第2図の圧力変換基板10.固定台7および両
者の接着に関する限り、量産化の方法が確立されている
。その製法の一例を示したのが第3図(a) 、 (b
) 、 (C)である。第1図、第2図に示す圧力変換
基板1と固定台7とをシリコン拡散プロセスを導入して
量産可能にしたものである。第3図(a)において圧力
変換基板を多数マトリクス状に配列形成したウェハー1
7は、この圧力変換基板と対応して、中央部に貫通孔1
6を有する土台ウェハー18と対向して、接着される圧
力変換基板は例えば4順 で形成され、2吋径のシリコ
ンウェハーを用いるとすれば、1枚のウェハーから約8
0個の圧力変換基板が得られることになる。土台用のウ
ェハーは圧力変換基板に流体圧力以外の力が加わること
を防ぐだめのものであるから、できるだけ厚い方が好ま
しい。しかし、加工技術の制約と必要最小限の要求から
500μt〜l tm tが用いられでいる。ウェハー
17.18の接着には従来がら低融点ソルダガラスが用
いられている。例えば東北ソルダガラス#509をエチ
ルアルコールに対し、重量比で5チとし、表面から5m
の位置にウェハー18を浸種、約10分間沈澱させる。
者の接着に関する限り、量産化の方法が確立されている
。その製法の一例を示したのが第3図(a) 、 (b
) 、 (C)である。第1図、第2図に示す圧力変換
基板1と固定台7とをシリコン拡散プロセスを導入して
量産可能にしたものである。第3図(a)において圧力
変換基板を多数マトリクス状に配列形成したウェハー1
7は、この圧力変換基板と対応して、中央部に貫通孔1
6を有する土台ウェハー18と対向して、接着される圧
力変換基板は例えば4順 で形成され、2吋径のシリコ
ンウェハーを用いるとすれば、1枚のウェハーから約8
0個の圧力変換基板が得られることになる。土台用のウ
ェハーは圧力変換基板に流体圧力以外の力が加わること
を防ぐだめのものであるから、できるだけ厚い方が好ま
しい。しかし、加工技術の制約と必要最小限の要求から
500μt〜l tm tが用いられでいる。ウェハー
17.18の接着には従来がら低融点ソルダガラスが用
いられている。例えば東北ソルダガラス#509をエチ
ルアルコールに対し、重量比で5チとし、表面から5m
の位置にウェハー18を浸種、約10分間沈澱させる。
ウェハー18の表面には約50μmのソルダガラス粉末
の沈澱層が形成される。このウェハー18と圧力変換基
板用ウェハー17とを対向させ、約5gAの加重下、N
2ガス雰囲気中にて、約530Gの温度で溶着される。
の沈澱層が形成される。このウェハー18と圧力変換基
板用ウェハー17とを対向させ、約5gAの加重下、N
2ガス雰囲気中にて、約530Gの温度で溶着される。
接着層のウェハーは第3図(b)の過程を経て、−個一
個の素子に切断される。(b)図における15けガラス
接着層である。第3図(C)は切断後の素子の断面図で
ある。
個の素子に切断される。(b)図における15けガラス
接着層である。第3図(C)は切断後の素子の断面図で
ある。
第3図に示した量産化の方法で真空リファレンスを持つ
素子が形成できれば、絶対圧センサーの低コスト化、量
産化が可能である。例えば、第3図において、土台用ウ
ェハー16に貫通孔の無いウェハーを用いて、真空装置
内でガラス接着するという考えは否定される。低融点ソ
ルダーガラスには必ずPbO,、す20g 、 T i
on 、 Fe203 、 ZnOなどの釜属の酸化物
が含まれているため、真空中又は壌元雰朋気中で溶着す
ると金属が析出し、接着力を失ってしまうためである。
素子が形成できれば、絶対圧センサーの低コスト化、量
産化が可能である。例えば、第3図において、土台用ウ
ェハー16に貫通孔の無いウェハーを用いて、真空装置
内でガラス接着するという考えは否定される。低融点ソ
ルダーガラスには必ずPbO,、す20g 、 T i
on 、 Fe203 、 ZnOなどの釜属の酸化物
が含まれているため、真空中又は壌元雰朋気中で溶着す
ると金属が析出し、接着力を失ってしまうためである。
真空内でシリコンウェハーを接着する手法として、P
b+ S n、 Znなどの合金ハンダが考えられる。
b+ S n、 Znなどの合金ハンダが考えられる。
この場合、ハンダだけではシリコン素地への濡れ性を示
さないため、シリコンの表面にN1の下地金属層が必要
になる。Nlの下地層はダイヤフラム形成後の圧力変換
基板および土台(貫通孔なし)表面に蒸着又は電解メッ
キ法によって形成される。
さないため、シリコンの表面にN1の下地金属層が必要
になる。Nlの下地層はダイヤフラム形成後の圧力変換
基板および土台(貫通孔なし)表面に蒸着又は電解メッ
キ法によって形成される。
N1層は容易に形成され得るが、ダイヤフラムの内面、
および側壁(第3図(C))にも同時に形成されてしま
う。一端、Ni下地層が形成されると、ノ1ンダの濡れ
性は極度に向上し、ノ・ンダ接着時に余分の溶融ハンダ
がダイヤフラムの側壁を這い上り、ダイヤフラムに到達
して、圧力特性を劣化させてしまう欠点がある。ノ・/
ダの這い上りを防ぐ手法は種々検討されてきたが、い咬
だに決め手となる解決策が無く、真空内でのノ・ンダ接
着による方法は極めて困難とされていた。
および側壁(第3図(C))にも同時に形成されてしま
う。一端、Ni下地層が形成されると、ノ1ンダの濡れ
性は極度に向上し、ノ・ンダ接着時に余分の溶融ハンダ
がダイヤフラムの側壁を這い上り、ダイヤフラムに到達
して、圧力特性を劣化させてしまう欠点がある。ノ・/
ダの這い上りを防ぐ手法は種々検討されてきたが、い咬
だに決め手となる解決策が無く、真空内でのノ・ンダ接
着による方法は極めて困難とされていた。
本発明は上記の従来技術の有する棟々の問題を解決し、
ハンダ接着時にハンダのダイヤフラムへの這い上りがな
くかつ量産化、低コスト化が可能なシリコン圧力センサ
ーを提供することを目的とする。
ハンダ接着時にハンダのダイヤフラムへの這い上りがな
くかつ量産化、低コスト化が可能なシリコン圧力センサ
ーを提供することを目的とする。
発明者等の実験により従来の電解法によるNiメッキに
替って、以下に述べる無電解メッキ法を用いると、シリ
コンの下地の表面粗さによって、メッキの付着を制御で
きることが判った。すなわち鏡面状態ではNIJ鱒が付
着せず、約+ 2000ラツプ以下の粗面では極めて良
好にN1層が付着することが確認された。
替って、以下に述べる無電解メッキ法を用いると、シリ
コンの下地の表面粗さによって、メッキの付着を制御で
きることが判った。すなわち鏡面状態ではNIJ鱒が付
着せず、約+ 2000ラツプ以下の粗面では極めて良
好にN1層が付着することが確認された。
これに基づき本発明の圧力センサーは圧力変換基板のダ
イヤフラム面とこれに連なる周辺側壁面を鏡面とし、か
つ固定台との対向接着面のみを+ 2000ラツプ以下
の粗面として、さらにN1の中間層を介して接着固定す
ることを特徴とする。
イヤフラム面とこれに連なる周辺側壁面を鏡面とし、か
つ固定台との対向接着面のみを+ 2000ラツプ以下
の粗面として、さらにN1の中間層を介して接着固定す
ることを特徴とする。
本発明によれば絶対圧センサーの信頼性向上と量産化、
低コスト化が可能となる。
低コスト化が可能となる。
し発明の実施例〕
以干、第4図を用いて本発明の一実施例を説明する。第
4図(a)において、17は圧力変換基板用のウェハー
であり、13が拡散抵抗層であるみダイヤフラム12は
あらかじめオートリングラフ、法で必要個所のみ設けら
れた81.IN、膜15′を保饅膜として、KOH溶液
によりアルカリエツチング法で形成される。この際、シ
リコン基板をエツチングされて出来上った面12及び側
壁12′は鏡面に仕上る。一方、18は土台用のウェハ
ーであるが、第3図で示した場合と異なり、ダイヤプラ
ムに対応して貫通孔を必要としない。特徴は接着表面1
8ζ18“に#20002ツブ以下の粗面をとすること
である。同じく、接着面15′も粗面とする。なお、2
1は次の工程において素子を保膿するためのワックス膜
である。用意した2種類のウエノ・−は以下の3段階を
経て、(b)図のように約1μmtのNlメッキが形成
される。
4図(a)において、17は圧力変換基板用のウェハー
であり、13が拡散抵抗層であるみダイヤフラム12は
あらかじめオートリングラフ、法で必要個所のみ設けら
れた81.IN、膜15′を保饅膜として、KOH溶液
によりアルカリエツチング法で形成される。この際、シ
リコン基板をエツチングされて出来上った面12及び側
壁12′は鏡面に仕上る。一方、18は土台用のウェハ
ーであるが、第3図で示した場合と異なり、ダイヤプラ
ムに対応して貫通孔を必要としない。特徴は接着表面1
8ζ18“に#20002ツブ以下の粗面をとすること
である。同じく、接着面15′も粗面とする。なお、2
1は次の工程において素子を保膿するためのワックス膜
である。用意した2種類のウエノ・−は以下の3段階を
経て、(b)図のように約1μmtのNlメッキが形成
される。
■ 10チ塩化スズ溶液で約30秒表面を活性化。
■ 30悌塩化パラジウム溶液に約30秒表面、表面に
加速剤として被膜を形成。
加速剤として被膜を形成。
■ 20チベルニツケル溶液(52C)に約15分授精
、表面にNlメッキ層を形成。
、表面にNlメッキ層を形成。
本発明で提示した手法を用いると、第3図(b)におい
て示すように、15’、1s’、1s“面のみNlメッ
キ層が形成されて、12’、N2面には全く形成されな
い。
て示すように、15’、1s’、1s“面のみNlメッ
キ層が形成されて、12’、N2面には全く形成されな
い。
つまり、上記無電解メッキ法を用いると、粗面にはNi
層が形成されるが、鏡面のシリコンには形成されない特
徴が出せることである。
層が形成されるが、鏡面のシリコンには形成されない特
徴が出せることである。
第4図(c)において層22α接着用のハンダ層である
。この層を形成する方法には例えばスフ1フーン印刷が
用いられる。例えば粉末のPb+ S n (99:1
)をペースト例えば酢酸ブチルとイソプロピルアルコ
ールの5=95混合液に溶解式せたものである。
。この層を形成する方法には例えばスフ1フーン印刷が
用いられる。例えば粉末のPb+ S n (99:1
)をペースト例えば酢酸ブチルとイソプロピルアルコ
ールの5=95混合液に溶解式せたものである。
ハンダ層形成後に(d)図の如く、ウェハー17と18
を対向させ、真空装置内に設定する。真空度が約10−
’torr程度の状態で、350Cに加熱することによ
って、両者は真空気密23を保持したまま気密接着され
る。上述したように、ダイヤフラム面12.側壁12′
にはN1層が無く、鏡面のシリコン下地が露出している
ため、ハンダ22が這い上る欠点はない。接着完了後の
ウェハーは、第3図(b)の切断工程を経て、真空リフ
ァレンスを持つ感圧素子に仕上げられる。これらの感圧
素子は第1図で示した如きパッケージにマウントされて
、絶対圧センサーが完成する。
を対向させ、真空装置内に設定する。真空度が約10−
’torr程度の状態で、350Cに加熱することによ
って、両者は真空気密23を保持したまま気密接着され
る。上述したように、ダイヤフラム面12.側壁12′
にはN1層が無く、鏡面のシリコン下地が露出している
ため、ハンダ22が這い上る欠点はない。接着完了後の
ウェハーは、第3図(b)の切断工程を経て、真空リフ
ァレンスを持つ感圧素子に仕上げられる。これらの感圧
素子は第1図で示した如きパッケージにマウントされて
、絶対圧センサーが完成する。
以上詳述したように、本発明に係る手法を用いれば、真
空室を持つ絶対圧センサーの量産化と低コスト化が可能
である。しかし、ここで提示した接着法は、特に真空リ
ファレンスを持つ絶対圧センサーに限らず、従来形の圧
力又は差圧センサー作製に際しても適用できることは明
らかである。
空室を持つ絶対圧センサーの量産化と低コスト化が可能
である。しかし、ここで提示した接着法は、特に真空リ
ファレンスを持つ絶対圧センサーに限らず、従来形の圧
力又は差圧センサー作製に際しても適用できることは明
らかである。
第1図は従来の半導体圧力センサーの概略の構造を示す
断面図、第2図は第1図で示した圧力変換装置の片側の
入力面から真空排気処理を施して、内部に真空リファレ
ンスを設けた従来の絶対圧形圧カセンサーの概略断面図
、第3図は半導体圧力センサーの圧力変換基板を量産化
、低コスト化するための従来の手法を示す工程図、第4
図は本発明に係る絶対圧形センサーの圧力変換基板部分
を作成する場合の工程図である。 12・・・ダイヤフラム、13・・・拡散抵抗層、15
’・・・81.N、膜、17・・・基板用ウェハー、1
8・・・土台用ウェハー、18118“・・・接着表面
、21・・・ワックス膜、22・・・ハンダ層。 第 1 図 ! 第2図 第3図 7 ltt
断面図、第2図は第1図で示した圧力変換装置の片側の
入力面から真空排気処理を施して、内部に真空リファレ
ンスを設けた従来の絶対圧形圧カセンサーの概略断面図
、第3図は半導体圧力センサーの圧力変換基板を量産化
、低コスト化するための従来の手法を示す工程図、第4
図は本発明に係る絶対圧形センサーの圧力変換基板部分
を作成する場合の工程図である。 12・・・ダイヤフラム、13・・・拡散抵抗層、15
’・・・81.N、膜、17・・・基板用ウェハー、1
8・・・土台用ウェハー、18118“・・・接着表面
、21・・・ワックス膜、22・・・ハンダ層。 第 1 図 ! 第2図 第3図 7 ltt
Claims (1)
- 半導体単結晶板の中央部に外界の圧力を受けて変形する
肉薄のダイヤフラムを設け、このダイヤフラムないしは
同一面上に拡散抵抗層およびその出力特性を調整する半
導体素子が形成されてなる圧力変換基板と、この圧力変
換基板のダイヤプラム周辺肉厚部と対向接着せしめ内部
に真空気密室を形成するだめの固定台とから構成され、
前記圧力変換基板のダイヤスラム面とこれに連なる周辺
側壁面が鏡面であり、前記固定台との対向接着面のみが
#2000ラップ以下の粗面でかつNiの中間層を介し
て接着固定されたことを特徴とする絶対圧形半導体圧力
センサー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11840082A JPS599976A (ja) | 1982-07-09 | 1982-07-09 | 絶対圧形半導体圧力センサーの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11840082A JPS599976A (ja) | 1982-07-09 | 1982-07-09 | 絶対圧形半導体圧力センサーの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS599976A true JPS599976A (ja) | 1984-01-19 |
JPH0467346B2 JPH0467346B2 (ja) | 1992-10-28 |
Family
ID=14735718
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11840082A Granted JPS599976A (ja) | 1982-07-09 | 1982-07-09 | 絶対圧形半導体圧力センサーの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS599976A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4929999A (en) * | 1988-04-08 | 1990-05-29 | U.S. Philips Corporation | Combination of a support and a semiconductor body and method of manufacturing such a combination |
JPH0376131A (ja) * | 1989-08-18 | 1991-04-02 | Toshiba Components Co Ltd | 半導体圧力センサー装置 |
KR20200061775A (ko) | 2018-11-26 | 2020-06-03 | 한국항공우주연구원 | 접이식 매커니즘 전개 시험을 위한 0g 시험 장치 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5365089A (en) * | 1976-11-24 | 1978-06-10 | Toshiba Corp | Semiconductor pressure transducer |
JPS5441395A (en) * | 1977-09-06 | 1979-04-02 | Ebios Pharma | Seasoning making method |
-
1982
- 1982-07-09 JP JP11840082A patent/JPS599976A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5365089A (en) * | 1976-11-24 | 1978-06-10 | Toshiba Corp | Semiconductor pressure transducer |
JPS5441395A (en) * | 1977-09-06 | 1979-04-02 | Ebios Pharma | Seasoning making method |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4929999A (en) * | 1988-04-08 | 1990-05-29 | U.S. Philips Corporation | Combination of a support and a semiconductor body and method of manufacturing such a combination |
JPH0376131A (ja) * | 1989-08-18 | 1991-04-02 | Toshiba Components Co Ltd | 半導体圧力センサー装置 |
KR20200061775A (ko) | 2018-11-26 | 2020-06-03 | 한국항공우주연구원 | 접이식 매커니즘 전개 시험을 위한 0g 시험 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0467346B2 (ja) | 1992-10-28 |
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