JPS5992533A - 樹脂封止形半導体装置の製造方法 - Google Patents
樹脂封止形半導体装置の製造方法Info
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- JPS5992533A JPS5992533A JP20279882A JP20279882A JPS5992533A JP S5992533 A JPS5992533 A JP S5992533A JP 20279882 A JP20279882 A JP 20279882A JP 20279882 A JP20279882 A JP 20279882A JP S5992533 A JPS5992533 A JP S5992533A
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- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
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- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
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- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は樹脂封止形半導体装置の製造方法に関する。
従来例の構成とその問題点
樹脂封止形半導体装置は、樹脂ならびに樹脂封止成型技
術の進歩によって、最近、急速に増加し、多様化されて
いる。とりわけ、比較的大きな電力を取り扱うことので
きる電力用半導体装置の分野27、ジ にも、放熱体を兼ねる半導体片支持体の裏面に極く薄い
絶縁性樹脂層を設けたものが実用されるようになってい
る。
術の進歩によって、最近、急速に増加し、多様化されて
いる。とりわけ、比較的大きな電力を取り扱うことので
きる電力用半導体装置の分野27、ジ にも、放熱体を兼ねる半導体片支持体の裏面に極く薄い
絶縁性樹脂層を設けたものが実用されるようになってい
る。
ところが、電力用半導体装置のように、半導体片を載置
する支持体が大きく、しかも、表側には厚い樹脂層をも
ち、裏側には極端に薄い樹脂層を設けたものでは、樹脂
の硬化過程、樹脂中の充填材の配向性、さらKFi成型
条件などにより、樹脂の厚い部分の収縮率と薄い部分の
収縮率が異なり、薄い樹脂側に反り変形がみられ、支持
体自身にも彎曲の変形が起こる。
する支持体が大きく、しかも、表側には厚い樹脂層をも
ち、裏側には極端に薄い樹脂層を設けたものでは、樹脂
の硬化過程、樹脂中の充填材の配向性、さらKFi成型
条件などにより、樹脂の厚い部分の収縮率と薄い部分の
収縮率が異なり、薄い樹脂側に反り変形がみられ、支持
体自身にも彎曲の変形が起こる。
第1図はこの種の樹脂封止形半導体装置(絶縁型パッケ
ージ)の平面図(IL)と、同装置のX方向断面図(b
)々らびにY方向断面図(C)とにより、その反り変形
の状態を示したものである。経験によると、絶縁型パッ
ケージの標準的仕様で、支持体1の裏面側樹脂層の厚さ
aを0.4ffの一様な厚さにすると、X方向断面にみ
られる反り量すは0.05闘にも達し、外観上も、実用
上も好ましくないことがわかった。また、このように大
きく彎曲すると、3ページ 半導体片2へも応力が加えられることになり、性能劣化
の原因に々る。なお図中、3は接続用細線、4は樹脂層
である。そして、この例では、樹脂層発明の目的 本発明は上述の従来例にみられる樹脂成型体の反りをな
くするだめの樹脂封止形半導体装置の製造方法を提供す
るものである。
ージ)の平面図(IL)と、同装置のX方向断面図(b
)々らびにY方向断面図(C)とにより、その反り変形
の状態を示したものである。経験によると、絶縁型パッ
ケージの標準的仕様で、支持体1の裏面側樹脂層の厚さ
aを0.4ffの一様な厚さにすると、X方向断面にみ
られる反り量すは0.05闘にも達し、外観上も、実用
上も好ましくないことがわかった。また、このように大
きく彎曲すると、3ページ 半導体片2へも応力が加えられることになり、性能劣化
の原因に々る。なお図中、3は接続用細線、4は樹脂層
である。そして、この例では、樹脂層発明の目的 本発明は上述の従来例にみられる樹脂成型体の反りをな
くするだめの樹脂封止形半導体装置の製造方法を提供す
るものである。
発明の構成
本発明は、要約するに、半導体片を載置する支持体を包
囲して、前記半導体片側に厚く、同支持体の裏面側に薄
く樹脂層を形成するだめの成型用金型面に、前記支持体
の裏面側樹脂層を中央部で肉薄く、周辺部で肉厚くなる
ように、彎曲状ないしは山形状の勾配を設け、この金型
空間内に前記支持体を配して形成することを特徴とする
樹脂封止形半導体装置の製造方法であり、これKよれば
成型後の製品における反りをなくすことができる。
囲して、前記半導体片側に厚く、同支持体の裏面側に薄
く樹脂層を形成するだめの成型用金型面に、前記支持体
の裏面側樹脂層を中央部で肉薄く、周辺部で肉厚くなる
ように、彎曲状ないしは山形状の勾配を設け、この金型
空間内に前記支持体を配して形成することを特徴とする
樹脂封止形半導体装置の製造方法であり、これKよれば
成型後の製品における反りをなくすことができる。
実施例の説明
第2図は本発明の実施例によって形成される設計構造の
X方向断面図模型であり、支持体1の裏面側を、周辺部
において、その樹脂層が0.02MM厚くなるように設
計した成型用金型を用いて樹脂成型することを表わした
ものである。本実施例によれば、金型面の中央部をX方
向の両端部よりα(0,02Jに〈山形状になしたこと
により、樹脂のトランスファ封止後の外形で支持体1の
裏面側の反り量は零であり、はとんど反シの現象が防止
された。
X方向断面図模型であり、支持体1の裏面側を、周辺部
において、その樹脂層が0.02MM厚くなるように設
計した成型用金型を用いて樹脂成型することを表わした
ものである。本実施例によれば、金型面の中央部をX方
向の両端部よりα(0,02Jに〈山形状になしたこと
により、樹脂のトランスファ封止後の外形で支持体1の
裏面側の反り量は零であり、はとんど反シの現象が防止
された。
第3図は本発明の他の実施例によって形成されるトラン
ジスタアレイ型半導体装置の封止外形平面図(a)とそ
の長手X方向断面図(b)の概要であり、この場合にも
、長手方向の外形寸法aを約21朋とし、中央部と両端
部とでの膜厚差すを0−04MMとし、金型面を空間部
に突出させるような勾配に々しておけば、成型後の外形
上の反りは全く見られず、裏面側が平坦になった。
ジスタアレイ型半導体装置の封止外形平面図(a)とそ
の長手X方向断面図(b)の概要であり、この場合にも
、長手方向の外形寸法aを約21朋とし、中央部と両端
部とでの膜厚差すを0−04MMとし、金型面を空間部
に突出させるような勾配に々しておけば、成型後の外形
上の反りは全く見られず、裏面側が平坦になった。
なお、X方向と直角のY方向に関しても、X方向と同程
度の勾配を設けておけば、同方向の反り6ページ をなくすことができ、薄い樹脂層側の平坦性を保持する
ことができるものである。
度の勾配を設けておけば、同方向の反り6ページ をなくすことができ、薄い樹脂層側の平坦性を保持する
ことができるものである。
発明の効果
本発明によれば、樹脂封止用の金型面に、中央部で高く
、周辺部において低くなる勾配を設けたことにより、樹
脂成型後の形状として、支持体裏面側を平坦になすこと
ができ、樹脂封止形半導体装置の安定性、信頼性が高め
られ、品質向上を達成することができる。また、この方
法で得られた装置は電子機器に装着して長期安定性が確
認され、実用上も有効である。
、周辺部において低くなる勾配を設けたことにより、樹
脂成型後の形状として、支持体裏面側を平坦になすこと
ができ、樹脂封止形半導体装置の安定性、信頼性が高め
られ、品質向上を達成することができる。また、この方
法で得られた装置は電子機器に装着して長期安定性が確
認され、実用上も有効である。
第1図(a)(b)(0)は、それぞれ従来例の絶縁型
パッケージ構造の樹脂封止形半導体装置の平面図、X−
X断面図及びY −Y断面図、第2図は本発明実施例概
要を説明する断面図、第3図(a)(b)はそれぞれ本
発明の他の実施例概要を説明する平面図、X−X断面図
である。 1・・・・・・支持体、2・・・・・・半導体片、3・
・・・・・接続用細線、4・・・・−・樹脂層。
パッケージ構造の樹脂封止形半導体装置の平面図、X−
X断面図及びY −Y断面図、第2図は本発明実施例概
要を説明する断面図、第3図(a)(b)はそれぞれ本
発明の他の実施例概要を説明する平面図、X−X断面図
である。 1・・・・・・支持体、2・・・・・・半導体片、3・
・・・・・接続用細線、4・・・・−・樹脂層。
Claims (1)
- 半導体片を載置する支持体を包囲して、前記半導体片側
に厚く、同支持体の裏面側に薄く樹脂層を形成するだめ
の成形用金型面に、前記支持体の裏面側樹脂層を中央部
で肉薄く、周辺部で肉厚くなるように、彎曲状々いしは
山形状の勾配を設け、この金型空間内に前記支持体を配
して成形することを特徴とする樹脂封止形半導体装置の
製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20279882A JPS5992533A (ja) | 1982-11-17 | 1982-11-17 | 樹脂封止形半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20279882A JPS5992533A (ja) | 1982-11-17 | 1982-11-17 | 樹脂封止形半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5992533A true JPS5992533A (ja) | 1984-05-28 |
JPH0373141B2 JPH0373141B2 (ja) | 1991-11-20 |
Family
ID=16463362
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20279882A Granted JPS5992533A (ja) | 1982-11-17 | 1982-11-17 | 樹脂封止形半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5992533A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011108699A (ja) * | 2009-11-13 | 2011-06-02 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | 半導体装置製造用金型、半導体装置の製造方法、および半導体装置 |
-
1982
- 1982-11-17 JP JP20279882A patent/JPS5992533A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011108699A (ja) * | 2009-11-13 | 2011-06-02 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | 半導体装置製造用金型、半導体装置の製造方法、および半導体装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0373141B2 (ja) | 1991-11-20 |
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