JPS5984449A - 厚膜混成集積回路の製造方法 - Google Patents
厚膜混成集積回路の製造方法Info
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- JPS5984449A JPS5984449A JP57193403A JP19340382A JPS5984449A JP S5984449 A JPS5984449 A JP S5984449A JP 57193403 A JP57193403 A JP 57193403A JP 19340382 A JP19340382 A JP 19340382A JP S5984449 A JPS5984449 A JP S5984449A
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、量産するに適し、集積度が高い厚膜混成集積
回路の製造方法に関する。
回路の製造方法に関する。
厚膜混成集積回路は、絶縁基板上に、スクリーン印刷に
よシ、電極、抵抗体などを印刷し、トランジスタ、コン
デンサなどの搭載部品を半田付けして形成されるもので
あるが、一般に、1個の厚膜混成集積回路は非常に小さ
いために数個ないし数十個の厚膜混成集積回路に相当す
る大きな絶縁基板に、夫々の厚膜混成集積回路に対1゛
る印刷および塔載部品の取付けを同時に行なうようにす
ることが効率的である。
よシ、電極、抵抗体などを印刷し、トランジスタ、コン
デンサなどの搭載部品を半田付けして形成されるもので
あるが、一般に、1個の厚膜混成集積回路は非常に小さ
いために数個ないし数十個の厚膜混成集積回路に相当す
る大きな絶縁基板に、夫々の厚膜混成集積回路に対1゛
る印刷および塔載部品の取付けを同時に行なうようにす
ることが効率的である。
そこで、大きな絶縁基板上に、各厚膜混成集積回路を区
分するスリットを予じめ設けておき、夫々の区分につい
て印刷および塔載部品の取付けを行ない、その後、上記
スリットに沿って絶縁基板を分割して個々の厚膜混成集
積回路を得るようにしておシ、厚膜混成集積回路が効率
的に量産され得ることになる。
分するスリットを予じめ設けておき、夫々の区分につい
て印刷および塔載部品の取付けを行ない、その後、上記
スリットに沿って絶縁基板を分割して個々の厚膜混成集
積回路を得るようにしておシ、厚膜混成集積回路が効率
的に量産され得ることになる。
以下、かかる従来の厚膜混成集積回路の製造方法の一例
を、第1図ないし第5図を用いて説明する。
を、第1図ないし第5図を用いて説明する。
第1図は、電極パターン、抵抗体パターンなどが形成さ
れ、塔載部品が半田付けされた絶縁基板を示す平面図で
あって、1は絶縁基板、2はスリット、3は外部リード
取付用電極ノ(ターン、4は塔載部品である。
れ、塔載部品が半田付けされた絶縁基板を示す平面図で
あって、1は絶縁基板、2はスリット、3は外部リード
取付用電極ノ(ターン、4は塔載部品である。
第2図は外部リードが取刊けられた各厚1模混成集積回
路を示′す平面図であって、5は外部リードであシ、第
1図に対応する部分には同一符号をつけ℃いる。
路を示′す平面図であって、5は外部リードであシ、第
1図に対応する部分には同一符号をつけ℃いる。
第3図は全製造工程を示すプロセスチャートであって、
Aは絶縁基板製造工程、Bは電極)くターン、抵抗体パ
ターンの形成工程、Cは半田ペースト印刷工程、Dは塔
載部品取付は工程、Eは半田リフロ一工程、Fは絶縁基
板分割工程、Gは外部リード取付は工程、Rは外部リー
ド部分半田付は工程、Iは外部リード切断工程である。
Aは絶縁基板製造工程、Bは電極)くターン、抵抗体パ
ターンの形成工程、Cは半田ペースト印刷工程、Dは塔
載部品取付は工程、Eは半田リフロ一工程、Fは絶縁基
板分割工程、Gは外部リード取付は工程、Rは外部リー
ド部分半田付は工程、Iは外部リード切断工程である。
この従来技術においては、1枚の絶縁基板から4個の厚
膜混成集積回路を得る場合について説明する。
膜混成集積回路を得る場合について説明する。
第1図に示す絶縁基板は、第5図の工程Aないし工程E
を経て得られたものである。そこで。
を経て得られたものである。そこで。
まず、かかる工程を第1図を参照して説明する。
まず、セラミック基板などの絶縁基板1が形成される(
第6図の工程A)。絶縁基板1には十文字のスリット2
が設けられ、スリット2により、絶縁基板1は4つの領
域に区分されている。次に、絶縁基板1上に、外部リー
ド取付用電極5を含む電極パターン、抵抗体パターンな
どをスクリーン印刷により形成しく第6図の工程B0な
お、第1図では、外部リード取付用電極6以外の電極パ
ターン、抵抗体パターンなどは省略した。)、電極パタ
ーンの塔載部品を取付ける部分にペースト状の半田を印
刷して(第3図の工程C)その部分に搭載部品を取付け
(第3図の工程D)、赤外線リフローなどによシ塔載部
品を絶縁基板1の電極パターンに半田付けする(第5図
の工程E)。このようにして、第1図に示す絶縁基板1
が得られる。
第6図の工程A)。絶縁基板1には十文字のスリット2
が設けられ、スリット2により、絶縁基板1は4つの領
域に区分されている。次に、絶縁基板1上に、外部リー
ド取付用電極5を含む電極パターン、抵抗体パターンな
どをスクリーン印刷により形成しく第6図の工程B0な
お、第1図では、外部リード取付用電極6以外の電極パ
ターン、抵抗体パターンなどは省略した。)、電極パタ
ーンの塔載部品を取付ける部分にペースト状の半田を印
刷して(第3図の工程C)その部分に搭載部品を取付け
(第3図の工程D)、赤外線リフローなどによシ塔載部
品を絶縁基板1の電極パターンに半田付けする(第5図
の工程E)。このようにして、第1図に示す絶縁基板1
が得られる。
かかる絶縁基板1はスリット2に沿って4つに分割され
(第5図の工程F)、夫々分割された絶縁基板1には、
第2図に示゛すように、一体となった外部リード5が取
付けられる(第3図の工程G)。すなわち、外部リード
5の各挾持部が、夫々外部リード取付用電極3に当接す
るように、絶縁基板1を挾持して取付けられる。
(第5図の工程F)、夫々分割された絶縁基板1には、
第2図に示゛すように、一体となった外部リード5が取
付けられる(第3図の工程G)。すなわち、外部リード
5の各挾持部が、夫々外部リード取付用電極3に当接す
るように、絶縁基板1を挾持して取付けられる。
そして1、外部リードの挟持部、すなわち、外部リード
取付用@極6に当接したリード部まで外部IJ −1’
5が半田液に浸されるように、半田ディツプを行なっ
てリード部と外部リード取材用1伐瓶とを半田付けしく
第6図の工程R)、外部リード5を点線a−hに1“行
って切断(第3図の工程I)して厚膜混成集積回路を完
成する。
取付用@極6に当接したリード部まで外部IJ −1’
5が半田液に浸されるように、半田ディツプを行なっ
てリード部と外部リード取材用1伐瓶とを半田付けしく
第6図の工程R)、外部リード5を点線a−hに1“行
って切断(第3図の工程I)して厚膜混成集積回路を完
成する。
以上のようにして、所望の厚膜混成集積回路を得ること
ができる。しかしながら、上記従来技術においては、塔
載部品の半田伺けと外部リードの半田付けとを、リフロ
ーとディップという異なる方法で行なっておシ、このた
めに、1つの厚膜混成集積回路を得るために、2つの異
なる半田付装置を必要として設備が大型化し、また、半
田付は工程を2つに分けていることから、製造工程数が
多いという欠点があった。
ができる。しかしながら、上記従来技術においては、塔
載部品の半田伺けと外部リードの半田付けとを、リフロ
ーとディップという異なる方法で行なっておシ、このた
めに、1つの厚膜混成集積回路を得るために、2つの異
なる半田付装置を必要として設備が大型化し、また、半
田付は工程を2つに分けていることから、製造工程数が
多いという欠点があった。
かかる欠点を除くために、従来、塔載部品と外部リード
の半田付は工程と共通にする厚膜混成集積回路の製造方
法が提案された。
の半田付は工程と共通にする厚膜混成集積回路の製造方
法が提案された。
第4図はかかる従来の厚膜混成集積回路の製造方法の一
例を示すプロセスチャートであって、第3図の工程に対
応する工程は同一符号をつけている。
例を示すプロセスチャートであって、第3図の工程に対
応する工程は同一符号をつけている。
この従来技術では、電極パターン、抵抗体パターンが印
刷形成された絶縁基板を分割し、分割された各絶縁基板
毎にペースト状半田の印刷(工程C)、搭載部品の取付
け(工程D)、外部リードの取付け(工程G)が行なわ
れ、次に。
刷形成された絶縁基板を分割し、分割された各絶縁基板
毎にペースト状半田の印刷(工程C)、搭載部品の取付
け(工程D)、外部リードの取付け(工程G)が行なわ
れ、次に。
リフローによシ、塔載部品と外部リードとが絶縁基板の
電極に半田付けされるものであって、塔載部品と外部リ
ードとの半田付けを同時に行なうことができる。しかし
ながら、この従来技術によると、半田ペーストの印刷が
、上記分割された絶縁基板毎に行なわれることになり、
製造効率が低下するという欠点があった。
電極に半田付けされるものであって、塔載部品と外部リ
ードとの半田付けを同時に行なうことができる。しかし
ながら、この従来技術によると、半田ペーストの印刷が
、上記分割された絶縁基板毎に行なわれることになり、
製造効率が低下するという欠点があった。
第5図は搭載部品と外部リードの半田付は工程を共通に
イ′る従来の厚膜混成集積回路の製造方法の他の例を示
すプロセスチャートであって、Jは絶縁基板並ベニ程で
あシ、第3図の工程に対応する工程には同−狛号をつけ
ている。
イ′る従来の厚膜混成集積回路の製造方法の他の例を示
すプロセスチャートであって、Jは絶縁基板並ベニ程で
あシ、第3図の工程に対応する工程には同−狛号をつけ
ている。
この従来技術では、工程下において分割された絶縁基板
をいくつか並べて(工程J)、それらに同時に半田ペー
ストを印刷しく工8C)、以降の工程は第4図の従来技
術と同様にするものであって、絶縁基板上への半田ペー
ストの印刷工程Cが短縮されることになる。しかしなが
ら、この従来技術によると、絶縁基板を並べる工程Jが
必要となシ、半田ペーストの印刷工程Cが短縮されたと
しても、製造効率を高めるには至らない。
をいくつか並べて(工程J)、それらに同時に半田ペー
ストを印刷しく工8C)、以降の工程は第4図の従来技
術と同様にするものであって、絶縁基板上への半田ペー
ストの印刷工程Cが短縮されることになる。しかしなが
ら、この従来技術によると、絶縁基板を並べる工程Jが
必要となシ、半田ペーストの印刷工程Cが短縮されたと
しても、製造効率を高めるには至らない。
また1以上述べた従来技術において、絶縁基板の両面に
塔載部品を半田付けする場合には、半田リフロー中、絶
縁基板に取付けられた搭載部品がりフロー炉のベルトに
接触しないように、たとえば、第6図に示すように、絶
縁基板1はリフロー用治具6に載置され、搭載部品4が
ベルト(図示せず)から浮いているようになされねばな
らない。しかしながら、このように、絶縁基板1をリフ
ロー用治具6に載置すると、絶縁基板1のリフロー用治
具6に接触する部分には塔載部品を取付けることができ
ず、厚膜混成集積回路の集積度が低下するという欠点が
あった。
塔載部品を半田付けする場合には、半田リフロー中、絶
縁基板に取付けられた搭載部品がりフロー炉のベルトに
接触しないように、たとえば、第6図に示すように、絶
縁基板1はリフロー用治具6に載置され、搭載部品4が
ベルト(図示せず)から浮いているようになされねばな
らない。しかしながら、このように、絶縁基板1をリフ
ロー用治具6に載置すると、絶縁基板1のリフロー用治
具6に接触する部分には塔載部品を取付けることができ
ず、厚膜混成集積回路の集積度が低下するという欠点が
あった。
本発明の目的は、上記従来技術の欠点を除き集積度を高
め、製造工程数を低減化して製造効率が向上した厚膜混
成集積回路の製造方法を提供するにある。
め、製造工程数を低減化して製造効率が向上した厚膜混
成集積回路の製造方法を提供するにある。
この目的を達成するために、本発明は、絶縁基板の分割
前に、搭載部品と外部リードの電極パターンへの半田付
けを行なうようにした点を特徴とする。
前に、搭載部品と外部リードの電極パターンへの半田付
けを行なうようにした点を特徴とする。
以下、本発明の実施例を図面について説明する。
第7図は本発明による厚j膜混成集)貴回路の製造方法
によシ塔載部品、外部リードが半田付けさnた絶縁基板
の一具体例を示す平面図であって、第1図、第2図に対
応′す゛る部分に1・1同一符号をつけている。
によシ塔載部品、外部リードが半田付けさnた絶縁基板
の一具体例を示す平面図であって、第1図、第2図に対
応′す゛る部分に1・1同一符号をつけている。
第8図は本発明による厚膜混成集積回路の製造方法の一
実IFaレリを示すプロにスチャートであって、第6図
の工程に対応する工程には同一符号をつけCいる。
実IFaレリを示すプロにスチャートであって、第6図
の工程に対応する工程には同一符号をつけCいる。
この実施例では、一つの絶豚ぷ板ン;ハリ4つの厚膜混
成集積回路を得る場合についこ説明するが、これでもっ
て、本発明を1我定するものではない。
成集積回路を得る場合についこ説明するが、これでもっ
て、本発明を1我定するものではない。
第7図、第8図において、゛まず、第3図の従来技術と
同様にして、セラミック基板などの絶縁基板1が形成さ
れ(工程A)、次に、外部リード取付用電極3を含む電
極パターン、抵抗体パターンなどがスクリーン印刷など
により形成される(工程B)。この場合、外部リード取
付用電極3は、絶縁基板1の両端に配列して形成される
。なお、外部リード取付用電極3以外の電極パターン、
抵抗体パターンなどは、第7図において、省略している
。
同様にして、セラミック基板などの絶縁基板1が形成さ
れ(工程A)、次に、外部リード取付用電極3を含む電
極パターン、抵抗体パターンなどがスクリーン印刷など
により形成される(工程B)。この場合、外部リード取
付用電極3は、絶縁基板1の両端に配列して形成される
。なお、外部リード取付用電極3以外の電極パターン、
抵抗体パターンなどは、第7図において、省略している
。
次いで、絶縁基板1の電極パターンの所定部分と外部リ
ード取付用電極3にペースト状の半田を印刷しく工程C
)、上記電極パターンのペースト状半田の印刷部分に搭
載部品4を取付け(工程D)、また、外部リード取付用
電極3に第2図で説明したように、外部リード5を取付
ける(工8G)。この場合、外部リード5は、第7図に
示すように、絶縁基板10両端に取付けられる0そして
、半田リフローによシ、塔載部品4と外部リード5とが
絶縁基板1上に半田付けされ(工程E)、絶縁基板1の
両端の外部リード5を点線α−す1点線c−dに沼って
切断し、スリット2に沿って絶縁基板1を分割して4つ
の厚膜混成集積回路が得られる。
ード取付用電極3にペースト状の半田を印刷しく工程C
)、上記電極パターンのペースト状半田の印刷部分に搭
載部品4を取付け(工程D)、また、外部リード取付用
電極3に第2図で説明したように、外部リード5を取付
ける(工8G)。この場合、外部リード5は、第7図に
示すように、絶縁基板10両端に取付けられる0そして
、半田リフローによシ、塔載部品4と外部リード5とが
絶縁基板1上に半田付けされ(工程E)、絶縁基板1の
両端の外部リード5を点線α−す1点線c−dに沼って
切断し、スリット2に沿って絶縁基板1を分割して4つ
の厚膜混成集積回路が得られる。
この実施例によると、外部リード取付用電極6が絶縁基
板1の両側に形成されており、絶縁基板1のスリット2
に沿う分割前に、得られる厚膜混成集積回路に必要な外
部リード5を全て取付けることができ、このために、塔
載部品4と外部リード5との半田付けを同時に行なうこ
とかで6.また、かかる半田付けのための半田ペースト
の印刷も、絶縁基板1上の電極パターン、抵抗体パター
ンの印刷形成後、直ちに行なうことができることになシ
、製造工程数の低減化による製造効率の向上と、製造設
備の縮小化がはかれ、また、厚膜混成集積回路のコスト
の低減化が可能となる。
板1の両側に形成されており、絶縁基板1のスリット2
に沿う分割前に、得られる厚膜混成集積回路に必要な外
部リード5を全て取付けることができ、このために、塔
載部品4と外部リード5との半田付けを同時に行なうこ
とかで6.また、かかる半田付けのための半田ペースト
の印刷も、絶縁基板1上の電極パターン、抵抗体パター
ンの印刷形成後、直ちに行なうことができることになシ
、製造工程数の低減化による製造効率の向上と、製造設
備の縮小化がはかれ、また、厚膜混成集積回路のコスト
の低減化が可能となる。
なお、第8図のプロセスチャートにおいて、塔載部品取
付工程りと外部リード取付は工程Gとが、図示とは逆の
順序であってもよ吟ことは明らかである。
付工程りと外部リード取付は工程Gとが、図示とは逆の
順序であってもよ吟ことは明らかである。
ところで、この実施例においては、絶縁基板1上には、
第7図に示すように、その両側に外部リード5が取付け
られ、しかも、外部リード5のリード部は外部リード取
付用電極3に当接し゛C絶縁基板1を挾持しているもの
であって、半田リフロ一工程E(第8図)に2いては、
第9図に示すように、絶縁基板1を、外部リード5のみ
をリフロー用治具6に当接させて載置することができ、
絶縁基板10両面の塔載部品の取付は可能な面積が増大
して厚膜混成集積回路の集積度が向上する。
第7図に示すように、その両側に外部リード5が取付け
られ、しかも、外部リード5のリード部は外部リード取
付用電極3に当接し゛C絶縁基板1を挾持しているもの
であって、半田リフロ一工程E(第8図)に2いては、
第9図に示すように、絶縁基板1を、外部リード5のみ
をリフロー用治具6に当接させて載置することができ、
絶縁基板10両面の塔載部品の取付は可能な面積が増大
して厚膜混成集積回路の集積度が向上する。
以上説明したように、本発明によれば、塔載部品と外部
リードとを絶縁基板に取付け、半田リフローによシ、両
者の該絶縁基板−・の同時半田伺けを行なうことがてき
るものであるから。
リードとを絶縁基板に取付け、半田リフローによシ、両
者の該絶縁基板−・の同時半田伺けを行なうことがてき
るものであるから。
製造工程数の低減化による製造効率の向上と製造設備の
縮小化が可能となシ、さらに、厚膜混成集積回路の集積
度が向上するとともにコストの低減化が可能となって、
上記従来技術の欠点を除いて慶れた機能の厚膜混成集積
回路の製造方法を提供することができる。
縮小化が可能となシ、さらに、厚膜混成集積回路の集積
度が向上するとともにコストの低減化が可能となって、
上記従来技術の欠点を除いて慶れた機能の厚膜混成集積
回路の製造方法を提供することができる。
第1図は塔載部品が半田付けされた従来の絶縁基板の一
例を示す平面図、第2図は第1図の絶縁基板の分割され
た夫々の絶縁基板に外部リードが半田刊けされてなる厚
膜混成集積回路を示す平面図、第6図はその製造工程に
おいて第1図の絶縁基板と第2図の厚膜混成集積回路を
形成する従来の厚膜混成集積回路の製造方法の一例を示
すプロセスチャート、第4図は従来の厚膜混成集積回路
の製造方法の他の例を示1゛プロセスチャート、第5図
は従来の厚膜混成集積回路の製造方法のさらに他の例を
示すプロセスチャート、篤6図は半田リフロー中の絶縁
基板のりフロー用治具への従来の取付は状態を示す断面
図、第7図は本発明による厚膜混成集積回路の製造方法
により塔載部品、外部リードが半田伺けされた絶縁基板
の一員体例を示す平面図第8囮は本発明による厚膜混成
集積回路の製造方法の一実施例を示すプロセスチャート
、第9図は半田リフロー中の第7図の絶縁基板のりフロ
ー用治具への取付は状態を示す断面図である。 1・・・絶縁基板、 2・・・スリット、6・・
・外部リード取付用電極、 4・・・塔載部品、 5・・・外部リード、6・
・・リフロー用治具、A・・・絶縁基板製造工程、B・
・・成極パターン、抵抗体パターンの形成工。 程、 C・・・ノ(ンダペースト印刷工程。 D・・・塔載部品取付は工程、 E・・・半田リフロ一工程、 F・・・絶縁基板分割工程、 G・・・外部リード取付0工程、 I・・・外部リード切断工程。 第1区 第2区 才 4 口 才 5 ■ オ b 日 オフ0
例を示す平面図、第2図は第1図の絶縁基板の分割され
た夫々の絶縁基板に外部リードが半田刊けされてなる厚
膜混成集積回路を示す平面図、第6図はその製造工程に
おいて第1図の絶縁基板と第2図の厚膜混成集積回路を
形成する従来の厚膜混成集積回路の製造方法の一例を示
すプロセスチャート、第4図は従来の厚膜混成集積回路
の製造方法の他の例を示1゛プロセスチャート、第5図
は従来の厚膜混成集積回路の製造方法のさらに他の例を
示すプロセスチャート、篤6図は半田リフロー中の絶縁
基板のりフロー用治具への従来の取付は状態を示す断面
図、第7図は本発明による厚膜混成集積回路の製造方法
により塔載部品、外部リードが半田伺けされた絶縁基板
の一員体例を示す平面図第8囮は本発明による厚膜混成
集積回路の製造方法の一実施例を示すプロセスチャート
、第9図は半田リフロー中の第7図の絶縁基板のりフロ
ー用治具への取付は状態を示す断面図である。 1・・・絶縁基板、 2・・・スリット、6・・
・外部リード取付用電極、 4・・・塔載部品、 5・・・外部リード、6・
・・リフロー用治具、A・・・絶縁基板製造工程、B・
・・成極パターン、抵抗体パターンの形成工。 程、 C・・・ノ(ンダペースト印刷工程。 D・・・塔載部品取付は工程、 E・・・半田リフロ一工程、 F・・・絶縁基板分割工程、 G・・・外部リード取付0工程、 I・・・外部リード切断工程。 第1区 第2区 才 4 口 才 5 ■ オ b 日 オフ0
Claims (1)
- 絶#!基板上に、電極、抵抗体などが印刷形式され、塔
載部品と外部リードとが半田付けされてなる厚膜混成集
積回路の製造方法において、スリットが設けられ該スリ
ットによシ複数の領域に゛区分された絶縁基板に外部リ
ード取付用電極を含む電極パターンおよび抵抗パターン
を印刷形式する工程と、該電極パターンの搭載部品を地
付ける部分および前記外部リード取付電極にペースト状
半田を印刷する工程と、該ペースト状半田が印刷された
部分に夫々前記塔載部品と外部リードとを取付ける工程
と、前記塔載部品と該外部リードとを半田付けする工程
と、前記絶縁基板を前記スリットに沿って分割する工程
とからなフ、前記塔載部品と前記外部リードとを、リハ
ロー炉によシ、同時に半田付けすることができるように
植成したことを特徴とする厚膜混成集積回路の製造方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57193403A JPS5984449A (ja) | 1982-11-05 | 1982-11-05 | 厚膜混成集積回路の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57193403A JPS5984449A (ja) | 1982-11-05 | 1982-11-05 | 厚膜混成集積回路の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5984449A true JPS5984449A (ja) | 1984-05-16 |
Family
ID=16307364
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57193403A Pending JPS5984449A (ja) | 1982-11-05 | 1982-11-05 | 厚膜混成集積回路の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5984449A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6364349A (ja) * | 1986-09-04 | 1988-03-22 | Sharp Corp | 半導体装置の製造方法 |
-
1982
- 1982-11-05 JP JP57193403A patent/JPS5984449A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6364349A (ja) * | 1986-09-04 | 1988-03-22 | Sharp Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPH0365022B2 (ja) * | 1986-09-04 | 1991-10-09 |
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